CN115985382A

CN115985382A - 一种闪存测试方法、装置、设备及存储介质

Info

Publication number: CN115985382A
Application number: CN202211662435.3A
Authority: CN
Inventors: 于海军
Original assignee: Shenzhen Neoway Technology Co Ltd
Current assignee: Shenzhen Neoway Technology Co Ltd
Priority date: 2022-12-23
Filing date: 2022-12-23
Publication date: 2023-04-18

Abstract

本申请实施例公开了一种闪存测试方法、装置、设备及存储介质，其中方法包括：接收来自测试设备的第一AT指令，第一AT指令用于指示启动闪存的擦写测试，第一AT指令包括待测试闪存块的标识以及测试次数N，N为正整数；响应于第一AT指令，对标识对应的待测试闪存块执行N次擦写测试；其中，在单次擦写测试中，对待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，且单次擦写测试所写入的字符与已执行的擦写测试的次数相关；向测试设备发送针对第一AT指令的第一回码，第一回码用于指示待测试闪存块的擦写测试的结果。本申请可以有效提高闪存擦写测试的效率。

Description

一种闪存测试方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种闪存测试方法、待测试装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

Flash存储器又称为闪存，是一种非易失性(Non-Volatile)内存。由于闪存在没有电流供应的条件下也能够长久地保持数据，因此可以适用于无线通讯模块等的数据存储，以使得这些模块在掉电重启后数据不会遗失。对于不同厂家生产的闪存而言，每一个闪存都具有一个对应的擦写次数限制，该擦写次数限制将决定无线通讯模块等的使用寿命。因此对于闪存的擦写次数的测试尤为重要。

目前，针对闪存的擦写次数的测试可以通过烧录更新文件的方式。然而，烧录更新文件的方式通常是直接从烧录芯片程序的方式迁移而来的，烧录过程中可能包含有与闪存擦写无关的操作，测试效率较低。因此，如何提高闪存擦写次数的测试效率成为一个亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种闪存测试方法、装置、设备及存储介质，可以有效提高闪存擦写测试的效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种闪存测试方法，该方法包括：

接收来自测试设备的第一AT指令，所述第一AT指令用于指示启动闪存的擦写测试，所述第一AT指令包括待测试闪存块的标识以及测试次数N，N为正整数；

响应于所述第一AT指令，对所述标识对应的待测试闪存块执行N次擦写测试；其中，在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，且所述单次擦写测试所写入的字符与已执行的擦写测试的次数相关；

向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第一回码，所述第一回码用于指示所述待测试闪存块的擦写测试的结果。

实施第一方面所描述的方法，通过接收测试设备发送的第一AT指令，即可根据第一AT指令对待测试闪存块执行N次擦写测试并确定出擦写测试的结果。由于AT指令是一种简单、高效且格式统一的标配命令行，且第一AT指令中包含的信息均与闪存的擦写测试相关，而不存在其余无关信息，因此基于AT指令可以直接控制闪存的擦写测试并使得整个测试过程不存在与闪存擦写无关的操作，从而有效提高闪存擦写测试的效率。

在一种可能实施方式中，所述在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，包括：

在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块执行字符擦除操作；

若向所述待测试闪存块执行字符擦除操作成功，则根据所述已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出所述单次擦写测试对应的目标字符；向所述待测试闪存块中写入所述目标字符；

若向所述待测试闪存块中写入所述目标字符成功，则从所述待测试闪存块中读取字符；

若从所述待测试闪存块中读取字符成功，则将读取到的字符与所述目标字符进行比较，确定所述单次擦写测试的比较结果，所述比较结果为有差异或无差异，所述第一回码还用于指示比较结果为有差异的擦写测试的次数。

基于该方式，可以在对待测试闪存块执行字符擦除操作成功之后再执行字符写入操作，并在执行字符写入操作成功之后再执行字符比较操作以及关联的读取操作。

在一种可能实施方式中，所述预设的字符集合包括T个字符，所述已执行的擦写测试的次数为M，T与M均为正整数，所述根据所述已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出所述单次擦写测试对应的目标字符，包括：

基于M+1的和以及T进行取模运算，得到余数S，S为整数；

若S等于0，则将所述T个字符中的第T个字符确定为所述单次擦写测试对应的目标字符；若S不等于0，则将所述T个字符中的第S个字符确定为所述单次擦写测试对应的目标字符。

基于该方式，可以根据预设的字符集合以及已执行的擦写测试的次数确定出目标字符。由于每个单次擦写测试所对应的已执行的擦写测试的次数不同，因此各个单次擦写测试确定出的对应的目标字符不完全相同。这种向待测试闪存块写入不同目标字符的方式，可以更为全面地测试待测试闪存块的写入能力，得到更为准确的闪存的测试结果。

在一种可能实施方式中，所述方法还包括：

若向所述待测试闪存块执行字符擦除操作失败，则向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第二回码，所述第二回码包括所述单次擦写测试的标识以及擦除操作失败的原因；所述单次擦写测试的测试标识等于所述已执行的擦写测试的次数加1；

若向所述待测试闪存块中写入所述目标字符失败，则向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第三回码，所述第三回码包括所述单次擦写测试的标识以及写入操作失败的原因；

若从所述待测试闪存块中读取字符失败，则向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第四回码，所述第四回码包括所述单次擦写测试的标识以及读取操作失败的原因。

基于该方式，当对待测试闪存块执行擦除操作或写入操作或读取操作失败时，可以主动向测试设备上传回码，以便测试设备可以根据回码中包含的信息对闪存的擦写能力进行分析。

在一种可能实施方式中，所述第一回码还用于指示所述测试次数N、擦写测试失败的次数、擦除操作失败的擦写测试次数、写入操作失败的擦写测试次数以及读取操作失败的擦写测试次数中的一种或多种。

基于该方式，可以使得第一回码中包含更多与闪存测试相关的信息，进而使得测试设备在后续处理时可根据第一回码对闪存的擦写能力进行更为全面的分析。

在一种可能实施方式中，所述方法还包括：

若所述已执行的擦写测试的次数小于N-1，且接收到来自测试设备的第二AT指令，所述第二AT指令用于查询闪存的擦写测试状态，则响应于所述第二AT指令，向所述测试设备发送针对所述第二AT指令的第五回码，所述第五回码包括N、所述已执行的擦写测试的次数以及测试状态码，所述测试状态码用于指示N次擦写测试是否均已完成。

基于该方式，可以在整个测试过程中，回复测试设备发起的闪存的擦写测试状态的查询，以便测试设备可以充分了解测试的进程。

第二方面，本申请实施例提供了一种待测试装置，所述待测试装置包括接收模块、发送模块和处理模块；

所述接收模块，用于接收来自测试设备的第一AT指令，所述第一AT指令用于指示启动闪存的擦写测试，所述第一AT指令包括待测试闪存块的标识以及测试次数N，N为正整数；

所述处理模块，用于响应于所述第一AT指令，对所述标识对应的待测试闪存块执行N次擦写测试；其中，在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，且所述单次擦写测试所写入的字符与已执行的擦写测试的次数相关；

所述发送模块，用于向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第一回码，所述第一回码用于指示所述待测试闪存块的擦写测试的结果。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器，处理器；所述存储器，用于存储计算机程序，所述计算机程序包括程序指令；所述处理器，用于从所述存储器调用所述程序指令，使得所述电子设备执行上述第一方面中任一项所述的方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被处理器执行时，使得所述处理器执行上述第一方面中任一项所述的方法。

第二方面至第四方面中各可能实施方式的有益效果可参见第一方面中的相应描述，在此不赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1是本申请实施例提供的一种闪存测试系统的示意图；

图2是本申请实施例提供的一种闪存测试方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的另一种闪存测试方法的流程示意图；

图4是本申请实施例提供的一种闪存测试的信息交互示意图；

图5是本申请实施例提供的一种待测试装置的结构示意图；

图6是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的说明书、权利要求书及附图中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

为了便于理解本申请实施例，下面先对本申请中涉及的专业术语进行解释：

AT指令：AT指令也即是attention，是一种高效、简单的通信指令，可用于设备之间的通信。AT指令包括多个字符，且AT指令所包括的字符中的头两个字符为字符“AT”，用于表示实际通信内容的字符拼接于字符“AT”之后。例如，本申请中的第一AT指令可以为“AT+FLASHTEST＝<flash num>，<count>”，其中“FLASHTEST＝<flash num>，<count>”用于指示启动闪存的擦写测试。同时，对于每一条AT指令，该AT指令执行成功与否都具有相应的返回信息，也即是回码。

本申请实施例提供了一种闪存测试方法，可以适用于图1所示的闪存测试系统。如图1所示，该闪存测试系统包括至少一个测试设备，如测试设备10，以及至少一个待测试设备，如待测试设备11和待测试设备12。测试设备与待测试设备可以建立通信连接，例如测试设备10与待测试设备11建立串口(universal asynchronous receiver/transmitter，UART)通信连接，测试设备10与待测试设备12建立通用串行总线(universal serial bus，USB)通信连接，等等。

下面以测试设备10和待测试设备11为例进行说明：其中，测试设备10可以向待测试设备11发送用于启动闪存的擦写测试的AT指令，该AT指令中包含有待测试闪存块的标识以及测试次数N，并且该AT指令通过已建立的UART通信连接进行发送。当待测试设备11接收到该AT指令时，可以根据该AT指令中包含的信息对闪存进行擦写测试。具体地，待测试设备11可以对标识所对应的待测试闪存块共执行N次擦写测试，且在每一次擦写测试过程中对待测试闪存块执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，待测试设备11执行字符写入操作时所写入的字符可以与已执行的擦写测试的次数相关。当待测试设备11执行完N次擦写测试之后，待测试设备11可以根据已执行的N次擦写测试向测试设备10发送AT指令的回码，该回码用于指示擦写测试的结果。由于上述过程中涉及的AT指令具有简单、高效的特性，且AT指令中包含的信息均与闪存擦写测试相关，不存在无关信息，因此整个测试过程不存在与闪存擦写无关的操作，从而可以有效提高闪存擦写测试的效率。

可选的，待测试设备11在执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作时，可以在执行字符擦除操作成功之后再执行字符写入操作，并在执行字符写入操作之后再执行字符比较操作，从而保证整个测试流程的稳定以及高效。

可选的，当待测试设备11在执行字符擦除操作或字符写入操作或字符比较操作失败时，待测试设备11可以将执行操作失败的原因等信息作为回码，并发送至测试设备10，以使得测试设备10可以根据回码进行对待测试设备11中的闪存进行分析。

可选的，在整个测试过程中，测试设备10可以在任意时刻向待测试设备11发送用于查询测试状态的AT指令，待测试设备11根据当前的测试状态对该AT指令进行回复，向测试设备10发送与当前的测试状态相关的回码。

需要说明的是，上述待测试设备11和待测试设备12可以是终端设备，该终端设备可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机、智能语音交互设备、智能家电、车载终端等，但并不局限于此。上述测试设备10可以是服务器，该服务器可以是独立的物理服务器，也可以是多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式系统，还可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、内容分发网络(content delivery network，CDN)、以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器。

以上对本申请实施例提供的闪存测试系统进行了简要介绍，下面将结合图2至图6对本申请实施例提供的闪存测试方法、待测试装置、电子设备及计算机可读存储介质等分别进行详细说明。

请参见图2，图2是本申请实施例提供的一种闪存测试方法的流程示意图，该方法包括步骤S201～S203，其执行主体可以为待测试设备，该待测试设备可以为终端设备。下面以终端设备为方法的执行主体为例进行说明，其中：

S201、终端设备接收来自测试设备的第一AT指令，第一AT指令用于指示启动闪存的擦写测试，第一AT指令包括待测试闪存块的标识以及测试次数N，N为正整数。

在本申请实施例中，第一AT指令用于指示闪存的擦写测试，该闪存可用于存储终端设备中一个或多个功能模块相关的数据，例如无线通讯模块运行时产生的数据等。并且，针对闪存而言，一个闪存包括多个闪存块(block)，每个闪存块对应一个存储空间，例如一个闪存块对应的存储空间的大小可以为16KB。第一AT指令中所包含的待测试闪存块的标识可以为多个闪存块中需要测试的闪存块的标识，测试次数N是针对该待测试闪存块的测试的总次数。例如，第一AT指令可以为“AT+FLASHTEST＝<flash num>，<count>”，其中，“flashnum”为待测试闪存块的标识，“count”为测试次数N。

可选的，待测试闪存块的标识的数量可以是一个或者多个。例如，无线通讯模块对应有5个block，这5个block中的第一个block至第五个block可分别采用字符0、1、2、3、4进行标识。当上述第一AT指令中的“flash num”取值为0，“count”取值为“1000”时，第一AT指令表示的含义为：启动对第一个block的擦写测试，且测试次数为1000次。当上述第一AT指令中的“flash num”取值为0、1、2，“count”取值为“1000”时，第一AT指令表示的含义为：同时启动对第一个block、第二个block和第三个block的擦写测试，且每个block的测试次数均为1000次。

可选的，当需要对多个闪存块进行擦写测试时，待测试闪存块的标识还可以表示为一个标识范围，例如，若需要同时对第一个block、第二个block和第三个block进行擦写测试，则上述第一AT指令中的“flash num”可取值为“0～2”。

可选的，当需要对多个闪存块进行擦写测试时，针对每个待测试闪存块的次数的取值也可以不同。例如，当上述第一AT指令中的“flash num”取值为0、1、2，“count”取值为“1000、500、2000”时，第一AT指令表示的含义为：同时启动对第一个block、第二个block和第三个block的擦写测试，且第一个block的测试次数均为1000次、第二个block的测试次数均为500次、第三个block的测试次数均为2000次。

由此可见，本申请可以通过第一AT指令同时对多个待测试闪存块进行擦写测试，而不用逐个发送AT指令进行测试，可以有效提升测试的效率。

需要说明的是，上述标识以及测试次数还可以是其余表现形式，且可根据第一AT指令所支持的格式的不同而有所不同，本申请实施例对此不做限定。例如，针对两个闪存块的擦写测试的情况，第一AT指令可以为“AT+FLASHTEST＝<flash num1>，<count1>，<flashnum2>，<count2>”，其中，“flash num1”和“count1”为一个待测试闪存块的标识以及测试次数，“flash num2”和“count2”为另一个待测试闪存块的标识以及测试次数。

S202、终端设备响应于第一AT指令，对标识对应的待测试闪存块执行N次擦写测试；其中，在单次擦写测试中，对待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，且单次擦写测试所写入的字符与已执行的擦写测试的次数相关。

在本申请实施例中，终端设备可以先根据第一AT指令中的标识确定出待测试闪存块，再对待测试闪存块进行N次擦写测试。并且，终端设备在对待测试闪存块进行单次擦写测试时，终端设备依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，字符比较操作包括字符读取和字符比较。

在一种可能实施方式中，终端设备在单次擦写测试中，对待测试闪存块执行字符擦除操作；若向待测试闪存块执行字符擦除操作成功，则根据已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出单次擦写测试对应的目标字符；向待测试闪存块中写入目标字符；若向待测试闪存块中写入目标字符成功，则从待测试闪存块中读取字符；若从待测试闪存块中读取字符成功，则将读取到的字符与目标字符进行比较，确定单次擦写测试的比较结果，比较结果为有差异或无差异。

在本申请实施例中，终端设备执行字符擦除操作成功是指终端设备擦除待测试闪存块中的所有有效数据。终端设备向待测试闪存块中写入目标字符成功是指终端设备向待测试闪存块所对应的存储空间中执行了写入目标字符的操作，使得该存储空间中均已写入了目标字符对应的有效数据。终端设备从待测试闪存块中读取字符成功则是指终端设备从待测试闪存块中读取到字符。具体地，当终端设备擦除待测试闪存块中的有效数据之后，可以向待测试闪存块对应的存储空间中执行写入目标字符的操作，当终端设备已对整个存储空间写入目标字符对应的有效数据之后，可以从存储空间中再进行字符读取；进一步地，当终端设备读取到字符，则可以将读取到的字符与目标字符进行比较，确定出比较结果。

在一种可能实施方式中，预设的字符集合包括T个字符，已执行的擦写测试的次数为M，T与M均为正整数，上述终端设备根据已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出单次擦写测试对应的目标字符的方式，具体包括：基于M+1的和以及T进行取模运算，得到余数S，S为整数；若S等于0，则将T个字符中的第T个字符确定为单次擦写测试对应的目标字符；若S不等于0，则将T个字符中的第S个字符确定为单次擦写测试对应的目标字符。

其中，终端设备可以根据下述公式得到余数S：

(M+1)％T＝S

例如，若预设的字符集合包括字符“0”至“z”共36个字符，则T取值为36。若终端设备总共需要执行的测试次数N为1000次，且终端设备已执行510次擦写测试，则终端设备当前执行的单次擦写测试对应的次数为第511次，且M的取值为510，进而，余数S可以为(510+1)％36＝7，目标字符为字符“6”。若终端设备已执行359次擦写测试，则终端设备当前执行的单次擦写测试对应的次数为第360次，且M取值为359，进而，余数S可以为(359+1)％36＝0，目标字符为字符“z”。

由于每个单次擦写测试所对应的已执行的擦写测试的次数不同，因此各个单次擦写测试确定出的对应的目标字符不完全相同。这种向待测试闪存块写入不同目标字符的方式，相较于每次均写入相同字符或复制相同文件的方式，可以更真实的模拟待测试闪存块的使用过程，更为全面地测试待测试闪存块的写入能力，得到更为准确的闪存的测试结果。同时，这种通过取模运算确定目标字符的方式，可以重复使用预设的字符集合中的字符，使得预设的字符集合无需存储大量的字符，从而有效减少处理量。

需要说明的是，在具体实施时，终端设备还可以根据其余规则从预设的字符集合中确定目标字符，例如随机采样等方式，本申请对此不作限制。

进一步地，终端设备可以在向待测试闪存块写入目标字符成功后，从待测试闪存块中读取字符。当终端设备读取到字符之后，可以将读取到的字符与目标字符进行比较，从而确定出比较结果。当比较结果无差异时，说明终端设备当前执行单次擦写测试时，待测试闪存块的擦写正常，该单次擦写测试成功；当比较结果有异常时，说明终端设备当前执行的单次擦写测试可能存在异常状况，待测试闪存块的擦写异常，该单次擦写测试失败。

需要说明的是，在本申请实施例中，终端设备需要在单次擦写测试中执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作成功的前提下，才能确定出单次擦写测试对应的比较结果。当终端设备执行上述操作失败时，终端设备将立刻结束当前执行的单次擦写测试。当终端设备执行完当前对应的单次擦写测试之后，或终端设备在执行当前对应的单次擦写测试出现操作失败之后，终端设备将执行下一次单次擦写测试等，直至执行完N次擦写测试。

S203、终端设备向测试设备发送针对第一AT指令的第一回码，第一回码用于指示待测试闪存块的擦写测试的结果。

在本申请实施例中，当终端设备执行完毕N次擦写测试之后，终端设备可以向测试设备发送第一回码，第一回码可指示待测试闪存块的擦写测试的结果。该结果可以表征待测试闪存块的擦写能力或该结果可以表征待测试闪存块目前所能支持的无障碍擦写次数等等。

在一种可能实施方式中，终端设备可以统计比较结果为无差异的测试次数，并根据比较结果为无差异的测试次数和N确定待测试闪存块的擦写能力。或者，终端设备可以统计比较结果为无差异的测试次数，将比较结果为无差异的测试次数作为待测试闪存块目前所能支持的无障碍擦写次数。

可选的，第一回码还用于指示测试次数N、擦写测试失败的次数、擦除操作失败的擦写测试次数、写入操作失败的擦写测试次数、读取操作失败的擦写测试次数以及比较结果有差异的擦写测试次数中的一种或多种。

在本申请实施例中，第一回码除了用于指示擦写测试的结果之外，还可以用于指示其余统计信息。其中，测试失败可以包括擦除操作失败、写入操作失败、读取操作失败、比较结果为有差异等，也即是说测试失败的次数可以等于擦除操作失败的擦写测试次数、写入操作失败的擦写测试次数、读取操作失败的擦写测试次数、比较结果为有差异的擦写测试次数这几者相加的总和，或者测试失败的次数可以为N与比较结果为无差异的测试次数的差。同时，擦除操作失败的擦写测试次数、写入操作失败的擦写测试次数、读取操作失败的擦写测试次数、比较结果为有差异的擦写测试次数为终端设备对擦除操作失败、写入操作失败、读取操作失败比较结果为有差异的单次擦写测试的次数统计量。

在一种可能的实施方式中，若终端设备已执行的擦写测试的次数小于N-1，且接收到来自测试设备的第二AT指令，则响应于第二AT指令，向测试设备发送针对第二AT指令的第五回码，第五回码包括N、已执行的擦写测试的次数以及测试状态码，测试状态码用于指示N次擦写测试是否均已完成。

其中，第二AT指令用于查询闪存的擦写测试状态。例如，第二AT指令可以为“AT+FLASHTEST？”。当终端设备在执行N次擦写测试的过程中接收到“AT+FLASHTEST？”时，终端设备回复的第五回码可以为“+FLASHTEST:<state>，<did>，<total>”。其中，“state”为当前是否处于测试中的状态码，“did”为已执行的测试次数，“total”为本次测试所要完成的测试次数，也即是N。例如，若终端设备回复的第五回码为“+FLASHTEST:<0>，<500>，<1000>”，“state”为0表示处于测试中，则第五回码表示共有1000次擦写测试，已执行500次擦写测试，当前正在执行第501次擦写测试。

基于该方式，终端设备可以在整个测试过程中，回复测试设备发起的闪存的擦写测试状态的查询，以便测试设备可以充分了解测试的进程。

基于图2所描述的实施例，终端设备通过接收测试设备发送的第一AT指令，即可根据第一AT指令对待测试闪存块执行N次擦写测试并确定出擦写测试的结果。由于AT指令是一种简单、高效且格式统一的标配命令行，且第一AT指令中包含的信息均与闪存的擦写测试相关，而不存在其余无关信息，因此基于AT指令可以直接控制闪存的擦写测试并使得整个测试过程不存在与闪存擦写无关的操作，从而有效提高闪存擦写测试的效率。

在本申请实施例中，终端设备需要在单次擦写测试中执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作成功的前提下，才能确定出单次擦写测试对应的比较结果。当终端设备执行上述操作失败时，终端设备将立刻结束当前执行的单次擦写测试。同时，终端设备还可以向测试设备发送执行上述操作失败的相关信息。下面通过图3对这种情况进行说明：

请参见图3，图3是本申请实施例提供的另一种闪存测试方法的流程示意图，该方法包括步骤S301～S308，其执行主体可以为待测试设备，该待测试设备可以为终端设备。下面以终端设备为方法的执行主体为例进行说明，其中：

S301、启动闪存测试。

其中，终端设备可以根据接收到测试设备发送的第一AT指令来启动闪存测试。

S302、判断是否达到测试次数。

在本申请实施例中，终端设备可以先根据第一AT指令确定出测试次数，再判断已执行的擦写测试的次数是否达到测试次数。若终端设备确定已执行的擦写测试的次数未达到测试次数，则执行步骤S303以及后续步骤，若终端设备确定已执行的擦写测试的次数达到测试次数，则执行步骤S308。

S303、擦除待测试闪存块。

其中，终端设备可以先根据第一AT指令确定出待测试闪存块，再擦除待测试闪存块，当终端设备擦除待测试闪存块成功时，可执行步骤S304以及后续步骤，当终端设备擦除待测试闪存块失败时，可执行步骤S307以及后续步骤。

S304、写入待测试闪存块。

其中，终端设备可以先根据已执行的擦写测试的次数确定出写入待测试闪存块的目标字符，再将目标字符写入待测试闪存块，确定目标字符的方式可以参照上述方法实施例中的描述，在此不赘述。若终端设备将目标字符写入待测试闪存块成功，则终端设备可以执行步骤S305以及后续步骤；若终端设备将目标字符写入待测试闪存块失败，则终端设备可以执行步骤S307以及后续步骤。

S305、读取待测试闪存块。

其中，终端设备可以对待测试闪存块中的字符进行读取，若终端设备读取待测试闪存块中的字符成功，则可以执行S306以及后续步骤；若终端设备读取待测试闪存块中的字符失败，则可以执行S307以及后续步骤。

S306、字符比较。

其中，终端设备在进行字符比较时，可以读取到的字符与目标字符进行比较，并确定出比较结果，该比较结果可为有差异或无差异。

S307、主动上报失败回码。

其中，当终端设备在执行上述步骤S303～S305中的任一步骤失败时，可以向测试设备上报失败回码，该失败回码可以包括执行步骤失败的原因以及当前测试的标识。

具体地，若终端设备在向待测试闪存块执行字符擦除操作失败，则向测试设备发送针对第一AT指令的第二回码，第二回码包括单次擦写测试的标识以及擦除操作失败的原因；单次擦写测试的测试标识等于已执行的擦写测试的次数加1；若终端设备向待测试闪存块中写入目标字符失败，则向测试设备发送针对第一AT指令的第三回码，第三回码包括单次擦写测试的标识以及写入操作失败的原因；若终端设备从待测试闪存块中读取字符失败，则向测试设备发送针对第一AT指令的第四回码，第四回码包括单次擦写测试的标识以及读取操作失败的原因。

其中，单次擦写测试也即是终端设备当前执行的这一次擦写测试，单次擦写测试的测试标识用于指示终端设备当前执行的这一次擦写测试是测试次数N中的第几次测试，该测试标识等于上述方法实施例中的M+1。例如，N为1000，M+1为50，则说明终端设备在第50次擦写测试时执行操作失败。同时，擦除操作失败的原因、写入操作失败的原因、读取操作失败的原因可以是终端设备初步分析得到的。基于该方式，可以使得测试设备可以根据失败回码中包含的内容，对闪存的擦写能力或质量进行分析。

进一步地，当终端设备执行完步骤S307之后，可以跳转执行S302以及后续步骤。

S308、主动上报测试结果回码。

在本申请实施例中，当终端设备确定已执行的擦写测试的次数达到测试次数，则可以根据已执行的擦写测试向测试设备上传结果回码，结果回码可指示测试结果。

需要说明的是，图3对应的实施例中的具体实现方式可以参照上述方法实施例的相关描述，在此不作赘述。

基于图3所描述的实施例，终端设备可以通过接收测试设备发送的第一AT指令，即可根据第一AT指令对待测试闪存块执行N次擦写测试并确定出擦写测试的结果。由于AT指令是一种简单、高效且格式统一的标配命令行，且第一AT指令中包含的信息均与闪存的擦写测试相关，而不存在其余无关信息，因此可以有效提高闪存擦写测试的效率。同时，终端设备在每一次测试过程中，可以及时向测试设备上报执行擦除、写入、读取等操作失败的回码，以便测试设备可以根据回码中的信息对闪存的擦写能力以及闪存的指令进行全面分析。

下面通过图4对整个测试过程中，测试设备和待测试设备在不同场景下的信息交互进行补充说明，该测试设备可以为服务器，该待测试设备可以为终端设备。

具体地，如图4所示，在启动测试的场景下，服务器可以向终端设备发送启动指令，该启动指令也即是上述实施例中的第一AT指令，该启动指令为“AT+FLASHTEST＝<flashnum>，<count>”，其中“flash num”为待测试闪存块的标识，“count”为测试次数。当终端设备接收到该启动指令之后，可以向服务器发送响应回码，该响应回码用于指示终端设备已开始对待测试闪存块进行擦写测试，该响应回码为“+FLASHTEST:START OK”。可以理解的是，若终端设备因设备繁忙，待测试闪存块正在使用等原因而无法对待测试闪存块进行测试，则也可以回复响应回码告知服务器。

在查询测试场景下，服务器可以向终端设备发送查询指令，该查询指令也即是上述实施例中的第二AT指令，该查询指令可以为“AT+FLASHTEST？”。相应地，终端设备在接收到该查询指令之后，可以向服务器发送回码，该回码可以为上述实施中的第五回码，该回码可以为“+FLASHTEST:<state>，<did>，<total>”，其中“state”为当前是否处于测试中的状态码，“did”为当前已经执行的擦写测试的次数，“total”为测试次数，与上述“count”相等。

在测试过程中，若出现执行擦除操作失败、写入操作失败以及读取操作失败等测试失败场景，则终端设备可以主动向服务器上报回码，主动上报的回码也即是上述实施中的第二回码、第三回码或第四回码，该主动上报的回码为“+FLASHTEST:ERROR NUM”，其中“ERROR”为操作失败的原因，“NUM”为已执行的擦除测试的次数。

在测试完成场景下，终端设备可以向服务器发送测试结果回码result，该测试结果回码也即是上述的第一回码。可选的，还可以向服务器发送其余统计信息，该方式可以参照上述实施例中的描述，在此不赘述。

请参见图5，图5是本申请实施例提供的一种待测试装置的结构示意图，该待测试装置500包括接收模块501、处理模块502和发送模块503；其中：

所述接收模块501，用于接收来自测试设备的第一AT指令，所述第一AT指令用于指示启动闪存的擦写测试，所述第一AT指令包括待测试闪存块的标识以及测试次数N，N为正整数；

所述处理模块502，用于响应于所述第一AT指令，对所述标识对应的待测试闪存块执行N次擦写测试；其中，在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，且所述单次擦写测试所写入的字符与已执行的擦写测试的次数相关；

所述发送模块503，用于向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第一回码，所述第一回码用于指示所述待测试闪存块的擦写测试的结果。

在一种可能实施方式中，所述处理模块502在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作时，具体用于：在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块执行字符擦除操作；若向所述待测试闪存块执行字符擦除操作成功，则根据所述已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出所述单次擦写测试对应的目标字符；向所述待测试闪存块中写入所述目标字符；若向所述待测试闪存块中写入所述目标字符成功，则从所述待测试闪存块中读取字符；若从所述待测试闪存块中读取字符成功，则将读取到的字符与所述目标字符进行比较，确定所述单次擦写测试的比较结果，所述比较结果为有差异或无差异，所述第一回码还用于指示比较结果为有差异的擦写测试的次数。

在一种可能实施方式中，所述预设的字符集合包括T个字符，所述已执行的擦写测试的次数为M，T与M均为正整数，所述处理模块502在根据所述已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出所述单次擦写测试对应的目标字符时，具体用于：基于M+1的和以及T进行取模运算，得到余数S，S为整数；若S等于0，则将所述T个字符中的第T个字符确定为所述单次擦写测试对应的目标字符；若S不等于0，则将所述T个字符中的第S个字符确定为所述单次擦写测试对应的目标字符。

在一种可能实施方式中，若所述处理模块502向所述待测试闪存块执行字符擦除操作失败，则所述发送模块503向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第二回码，所述第二回码包括所述单次擦写测试的标识以及擦除操作失败的原因；所述单次擦写测试的测试标识等于所述已执行的擦写测试的次数加1；若所述处理模块502向所述待测试闪存块中写入所述目标字符失败，则所述发送模块503向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第三回码，所述第三回码包括所述单次擦写测试的标识以及写入操作失败的原因；若所述处理模块502从所述待测试闪存块中读取字符失败，则所述发送模块503向所述测试设备发送针对所述第一AT指令的第四回码，所述第四回码包括所述单次擦写测试的标识以及读取操作失败的原因。

在一种可能实施方式中，若所述已执行的擦写测试的次数小于N-1，且所述接收模块501接收到来自测试设备的第二AT指令，所述第二AT指令用于查询闪存的擦写测试状态，则所述发送模块503响应于所述第二AT指令，向所述测试设备发送针对所述第二AT指令的第五回码，所述第五回码包括N、所述已执行的擦写测试的次数以及测试状态码，所述测试状态码用于指示N次擦写测试是否均已完成。

需要说明的是，本申请实施例的待测试装置的各模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程及有益效果可以参照上述方法实施例的相关描述，在此不作赘述。

请参见图6，图6是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。该电子设备600可以包括：处理器601和存储器602，处理器601和存储器602的数量可以是一个或者多个。可选的，电子设备600还可以包括收发器603。上述处理器601、存储器602和收发器603可以通过总线604连接。存储器602用于存储计算机程序，该计算机程序包括程序指令，处理器601和收发器603用于执行存储器602存储的程序指令，执行如下操作：

应当理解，在一些可行的实施方式中，上述处理器601可以是中央处理单元(central processing unit，CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，DSP)、专用集成电路(application specific integratedcircuit，ASIC)、现成可编程门阵列(field programmable gate array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。该存储器602可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器601提供指令和数据。存储器602的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，存储器602还可以存储设备类型的信息。

具体实现中，上述电子设备可通过其内置的各个功能模块执行如上述图2-图4所提供的实现方式，具体实现过程及有益效果可参见上述方法实施例的具体内容，在此不再赘述。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，且计算机可读存储介质中存储有前文提及的待测试装置所执行的计算机程序，且该计算机程序包括程序指令，当处理器执行上述程序指令时，能够执行上述图2-图4中的内容，因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。作为示例，程序指令可以被部署在一个电子设备上，或者在位于一个地点的多个电子设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个电子设备上执行，分布在多个地点且通过通信网络互连的多个电子设备可以组成区块链系统。

根据本申请的一个方面，还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序存储在计算机可读存储介质中，包括程序指令。电子设备的处理器从计算机可读存储介质读取该程序指令，处理器执行该程序指令，使得该电子设备可以执行上述图2-图4中的内容，因此，在此不再进行赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，ROM)或随机存储记忆体(random access memory，RAM)等。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种闪存测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在单次擦写测试中，对所述待测试闪存块依次执行字符擦除操作、字符写入操作和字符比较操作，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设的字符集合包括T个字符，所述已执行的擦写测试的次数为M，T与M均为正整数，所述根据所述已执行的擦写测试的次数从预设的字符集合中确定出所述单次擦写测试对应的目标字符，包括：

基于M+1的和以及T进行取模运算，得到余数S，S为整数；

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一回码还用于指示所述测试次数N、擦写测试失败的次数、擦除操作失败的擦写测试次数、写入操作失败的擦写测试次数以及读取操作失败的擦写测试次数中的一种或多种。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.一种待测试装置，其特征在于，所述装置包括接收模块、发送模块和处理模块；

8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器，处理器；

所述存储器，用于存储计算机程序，所述计算机程序包括程序指令；

所述处理器，用于从所述存储器调用所述程序指令，使得所述电子设备执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。