CN115981941A - 芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备，其中，本申请实施例获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。

Description

芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，具体涉及一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

电子设备如智能手机、平板电脑等，其芯片在切换到不同的用户场景运行时，相关的时钟(clock)的频率会发生相应变化。其中，时钟寄存器是这种变化的控制开关。为了适应多种场景的使用需求，手机芯片的时钟寄存器的数量可以多达数千个，每个时钟寄存器的功能场景通常有十几种。

在芯片投片生产之前，在芯片测试(Chip Verification，CV)环节，需要确认这些时钟寄存器的功能是否符合预期。由于时钟寄存器的数量和功能场景的数量都非常大，常规的测试方案是，CV工程师根据经验选择少部分的时钟进行人工测试，不仅测试效率低，而且这种测试方式只能覆盖少部分的时钟，导致芯片的时钟不能得到充分验证，使得芯片流片埋下隐患。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备，能够提高电子设备的芯片时钟的测试效率和测试覆盖度。

第一方面，本申请实施例提供一种芯片时钟的测试方法，包括：

获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果。

第二方面，本申请实施例还提供一种芯片时钟的测试装置，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

第一生成模块，用于根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

测试模块，用于根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

第二生成模块，用于根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果。

第三方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如本申请任一实施例提供的芯片时钟的测试方法。

第四方面，本申请实施例还提供一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器有计算机程序，所述处理器通过调用所述计算机程序，用于执行如本申请任一实施例提供的芯片时钟的测试方法。

本申请实施例提供的技术方案，在对待测试芯片的时钟进行测试时，获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法的一种流程示意图。

图2为本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法的另一种流程示意图。

图3为本申请实施例提供的芯片时钟的测试装置的结构示意图。

图4为本申请实施例提供的电子设备的第一种结构示意图。

图5为本申请实施例提供的电子设备的第二种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请的保护范围。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请实施例提供一种芯片时钟的测试方法，该芯片时钟的测试方法的执行主体可以是本申请实施例提供的芯片时钟的测试装置，或者集成了该芯片时钟的测试装置的电子设备，其中该芯片时钟的测试装置可以采用硬件或者软件的方式实现。其中，电子设备可以是智能手机、平板电脑、掌上电脑、笔记本电脑、或者台式电脑等设备。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法的第一种流程示意图。本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法的具体流程可以如下：

101、获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件。

本申请实施例的方案可以对芯片的时钟进行验证，该芯片可以是应用于任何电子设备的芯片，例如手机芯片、笔记本电脑的芯片等。其中，随着芯片的使用场景的需要，一个芯片中的时钟的数量可能多达数千个，甚至有的芯片中的时钟可以多达上万个。以手机芯片为例，为了满足手机在各种用户场景的需要，手机芯片可以多达数千个。当手机芯片切换到不同的用户场景时，相关的时钟的工作频率会发生变化，时钟的寄存器是工作频率变化的控制开关，在芯片投产之前需要对时钟进行测试以判断其寄存器的功能是否符合预期。

本申请实施例提供一种自动化测试方案，对芯片中的时钟进行测试。其中，该测试方案可以是在芯片投产之前，例如在设计阶段进行的测试，这种情况下，可以通过仿真平台对芯片进行模拟以进行仿真测试。

其中，测试工程师可以根据芯片的时钟的设计逻辑，预先编辑好芯片中的时钟的时钟寄存器文件。测试工程师可以根据芯片中时钟的数量将芯片中的全部时钟进行分批测试。

例如，在一实施例中，可以将待测试芯片中的每一个时钟作为一个待测试时钟，全部的时钟构成一个待测试时钟集合，根据该待测试时钟集合中每一时钟的寄存器的相关信息生成该待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件。

或者，在另一实施例中，获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件的步骤包括：将待测试芯片的多个预设模块依次作为待测试模块；对于每一待测试模块，将待测试模块对应的多个时钟确定为一个待测试时钟集合；从多个预设时钟寄存器文件中获取待测试模块对应的时钟寄存器文件，作为待测试时钟集合的时钟寄存器文件。

芯片一般包括多个功能模块，例如CPU、GPU、摄像头模块等，该实施例中可以将待测试芯片的一个功能模块作为一个预测模块。在对待测试芯片的时钟进行测试时，将待测试芯片的多个预设模块依次作为待测试模块进行测试，对于每一个待测试模块，将该待测试模块对应的全部时钟确定为一个待测试时钟集合，例如，将摄像头模块的全部时钟确定为一个待测试时钟集合，测试工程师根据该待测试时钟集合中的时钟的寄存器相关信息，预先编写好每一个待测试模块对应的时钟寄存器文件，并将这些时钟寄存器文件作为预设时钟寄存器，将其与对应的待测试模块关联存储。当一个待测试芯片包括多个预设模块时，依次将这多个预设模块作为待测试模块进行测试，在对某一个待测试模块的时钟进行测试时，将待测试模块对应的多个时钟确定为一个待测试时钟集合，从多个预设时钟寄存器文件中获取待测试模块对应的时钟寄存器文件，作为待测试时钟集合的时钟寄存器文件。

102、根据时钟寄存器文件生成待测试时钟集合对应的测试代码，并根据时钟寄存器文件确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

在获取到时钟寄存器文件之后，对该时钟寄存器文件进行转换处理，生成测试代码。并且根据该时钟寄存器文件确定出待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

例如，在一实施例中，时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息。根据时钟寄存器文件生成待测试时钟集合对应的测试代码，并根据时钟寄存器文件确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，包括：按照预设的转换脚本对时钟寄存器文件进行转换处理，得到待测试时钟集合对应的测试代码；解析待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

该时钟寄存器文件中具有该待测试时钟集合中的待测试时钟的相关信息，包括但不限于待测试时钟的寄存器名称、寄存器地址信息以及寄存器描述信息等。其中，寄存器描述信息包括寄存器的频率档位信息、倍频信息、开关信息、默认频率等，例如，寄存器描述信息包括多个比特位，各个比特位表示特定的信息，例如，寄存器描述信息包括16个比特位，其中比特位0至1为开关位，比特位11至14为四个频率档位，每一个频率档位用于控制时钟切换到对应的工作频率，当表示某工作频率的比特位的值为1时，时钟切换到该工作频率。其中，每个时钟根据应用场景的不同，有不同数量的频率档位，例如，一时钟有三种不同的工作频率，则该时钟的寄存器有三个频率档位，另一时钟有四种不同的工作频率，则该时钟的寄存器有四个不同的工作频率。

其中，时钟寄存器文件的格式可以由测试工程师根据需求来确定，例如，在一实施例中，该文件的格式可以为文档格式，比如xlsx格式等。

在获取到时钟寄存器文件之后，可以按照预设的转换脚本对该时钟寄存器文件进行转换处理，得到测试代码。并且还可以通过预设的转换脚本对该时钟寄存器文件中的每一待测试时钟的寄存器描述信息的进行解析和转换处理，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

103、根据测试代码对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。

在得到测试代码后，可以基于该测试代码在仿真设备，例如Palladium Z1上对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一个待测试时钟的测试频率值。

例如，在一实施例中，根据测试代码对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：将测试代码编译为仿真设备的测试执行文件；调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。

该实施例中，将测试代码编译为仿真设备可以执行的测试执行文件，例如，测试代码为c代码文件，则将c代码文件编译为仿真设备可以执行的bin文件。然后，调用仿真设备，仿真设备根据该测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。例如，在一实施例中，调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的波形文件；对波形文件转换处理，生成值变转储文件，其中，值变转储文件中具有每一待测试时钟的测试频率值。

在将测试代码编译为仿真设备可以执行的测试执行文件之后，调用仿真设备执行待测试执行文件，以对待测试时钟集合执行仿真测试，得到对应的波形文件，该波形文件中包括每一待测试时钟对应的波形文件，例如每一个待测试时钟的一个工作频率对应于一个波形。然后触发预设的转换指令，将该的波形文件转换处理，生成值变转储文件(如vcd格式的文本文件)。该值变转储文件中包含待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。

在一实施例中，时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：解析待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的频率档位数量；根据每一待测试时钟的频率档位数量，确定待测试时钟集合中的待测试时钟的频率档位数量的最大值；调用仿真设备，根据测试执行文件，以及不少于最大值的测试次数，对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的各个频率档位的测试频率值。

对于一个待测试时钟来说，需要对其每一个频率档位进行测试。而对于一个待测试时钟集合来说，该集合中的不同的待测试时钟的频率档位的数量可能是不同的，为了使得对待测试时钟集合的仿真测试能够尽可能地覆盖全部时钟的全部频率档位，该实施例中，解析待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的频率档位数量，并且根据每一待测试时钟的频率档位数量，确定待测试时钟集合中的待测试时钟的频率档位数量的最大值，然后，将该最大值设置为该待测试时钟集合的测试次数。例如，该待测试时钟集合中有的时钟有3个频率档位，有的时钟有四个频率档位，有的时钟有2个频率档位。经过统计，其中频率档位的最大值为6，即某时钟有6个频率档位，则将测试次数设置为6。对该测试时钟集合中的时钟执行6次测试，第一次测试时，将待测试时钟集合中的全部时钟的工作频率均调节至第一档，第二次测试时，将待测试时钟集合中的全部时钟的工作频率均调节至第二档，依次类推，在第六次测试时，将待测试时钟集合中的全部时钟的工作频率均调节至第六档。可以理解的是，对于那些频率档位数量小6的时钟来说，则在缺少的集合档位可以调节至默认频率或者任意一个频率运行。例如，某个时钟只有3个高频率档位，则在第4至6次测试中，可以调节至默认频率。在得到值变转储文件之后，舍弃其中多于频率档位数量的测试频率，而只选取前几位有效的测试频率来确定测试结果。

104、根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。

按照上述实施例的方案，对待测试模块中的每一时钟进行测试，可以得到该时钟的各个频率档位对应的测试频率。而如前文，已经通过时钟寄存器文件进行分析得到了待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值，即可得到待测试时钟集合的测试结果。例如，在一实施例中，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果，包括：对于待测试时钟集合中的每一待测试时钟，对比待测试时钟的预测频率值和预期频率值，得到每一待测试时钟的测试结果；根据每一待测试时钟的测试结果，生成待测试时钟集合的测试结果。

对于每一个待测试时钟来说，将其各个频率档位的测试频率值与预期频率值进行对比分析，得到该待测试时钟的每一个频率档位的测试结果，其中，若某个频率档位的测试频率值与预期频率值一致，则该频率档位的测试结果为pass，反之，若某个频率档位的测试频率值与预期频率值不一致，则该频率档位的测试结果为fail。待测试时钟集合中的全部时钟的各个频率档位的测试结果构成该待测试时钟集合的测试结果。

根据前面实施例所描述的方法，以下将举例作进一步详细说明。如图2所示，图2为本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法的另一种流程示意图。其中，ClockReg.xlsx为测试工程师输出的时钟寄存器文件，该文件与芯片的时钟设计逻辑向对应，其中，芯片的一个功能模块可以对应于一个ClockReg.xlsx文件。通过预设的转换脚本对该文件转换处理，得到测试代码ClockConfig.c，该测试代码为c文件，此外，还可以通过预设的转换脚本对ClockReg.xlsx转换处理，得到ClockStd.json，其中，JSON(JavaScript Object Notation)是一种轻量级的数据交换格式，易于机器解析和生成，在其他实施例中也可以替换为db文件(数据库文件)或其他文件格式。该文件中具有待测试时钟集合中的各个待测试时钟的预期频率值。然后，将c文件编译为仿真设备可以执行的Clock.bin文件。接下来，调用仿真设备基于该Clock.bin文件执行仿真测试，得到Clock.shm波形文件。之后，执行仿真设备提供的文件转换指令，将shm格式的波形文件转换为vcd格式的文本文件，即值变转储文件。最后，从Clock.vcd解析得待测试时钟的测试频率值，将其与ClockStd.json中的预期频率值进行对比，得到pass或fail的测试结果，记录测试结果生成ClockReport.xlsx文件。经过测试，得到芯片的每一个功能模块的ClockReport.xlsx文件，或者，在其他实施例中，记录测试结果的文件格式也可以为html、txt等其他可读的文件格式。此外，在一些实施例中，还可以按照上述方案对一个芯片进行多轮测试。

通过该实施例提供的自动化测试方案，大幅提升了芯片时钟的测试覆盖度，降低了芯片流片的风险。常规技术中，人工测试的覆盖度仅约30％，此方案可以将测试覆盖提升至90+％。

具体实施时，本申请不受所描述的各个步骤的执行顺序的限制，在不产生冲突的情况下，某些步骤还可以采用其它顺序进行或者同时进行。

由上可知，本申请实施例提供的芯片时钟的测试方法，在对待测试芯片的时钟进行测试时，获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。

在一实施例中还提供一种芯片时钟的测试装置。请参阅图3，图3为本申请实施例提供的芯片时钟的测试装置300的结构示意图。其中该芯片时钟的测试装置300应用于电子设备，该芯片时钟的测试装置300包括：

获取模块301，用于获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

第一生成模块302，用于根据时钟寄存器文件生成待测试时钟集合对应的测试代码，并根据时钟寄存器文件确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

测试模块303，用于根据测试代码对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

第二生成模块304，用于根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。

在一些实施例中，获取模块301，用于将待测试芯片的多个预设模块依次作为待测试模块；对于每一待测试模块，将待测试模块对应的多个时钟确定为一个待测试时钟集合；从多个预设时钟寄存器文件中获取待测试模块对应的时钟寄存器文件，作为待测试时钟集合的时钟寄存器文件。

在一些实施例中，时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；第一生成模块302，用于按照预设的转换脚本对时钟寄存器文件进行转换处理，得到待测试时钟集合对应的测试代码；解析待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

在一些实施例中，测试模块303，用于将测试代码编译为仿真设备的测试执行文件；调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。

在一些实施例中，测试模块303，用于调用仿真设备，根据测试执行文件对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的波形文件；对波形文件转换处理，生成值变转储文件，其中，值变转储文件中具有每一待测试时钟的测试频率值。

在一些实施例中，时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；测试模块303，用于解析待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的频率档位数量；根据每一待测试时钟的频率档位数量，确定待测试时钟集合中的待测试时钟的频率档位数量的最大值；调用仿真设备，根据测试执行文件，以及不少于最大值的测试次数，对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的各个频率档位的测试频率值。

在一些实施例中，第二生成模块304用于对于待测试时钟集合中的每一待测试时钟，对比待测试时钟的预测频率值和预期频率值，得到每一待测试时钟的测试结果；根据每一待测试时钟的测试结果，生成待测试时钟集合的测试结果。

应当说明的是，本申请实施例提供的芯片时钟的测试装置与上文实施例中的芯片时钟的测试方法属于同一构思，通过该芯片时钟的测试装置可以实现芯片时钟的测试方法实施例中提供的任一方法，其具体实现过程详见芯片时钟的测试方法实施例，此处不再赘述。

由上可知，本申请实施例提出的芯片时钟的测试装置，在对待测试芯片的时钟进行测试时，获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。

本申请实施例还提供一种电子设备。电子设备可以是智能手机、平板电脑等设备。请参阅图4，图4为本申请实施例提供的电子设备的第一种结构示意图。电子设备400包括处理器401和存储器402。其中，处理器401与存储器402电性连接。

处理器401是电子设备400的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或调用存储在存储器402内的计算机程序，以及调用存储在存储器402内的数据，执行电子设备的各种功能和处理数据，从而对电子设备进行整体监控。

存储器402可用于存储计算机程序和数据。存储器402存储的计算机程序中包含有可在处理器中执行的指令。计算机程序可以组成各种功能模块。处理器401通过调用存储在存储器402的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。

在本实施例中，电子设备400中的处理器401会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器402中，并由处理器401来运行存储在存储器402中的计算机程序，从而实现各种功能：

获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

根据时钟寄存器文件生成待测试时钟集合对应的测试代码，并根据时钟寄存器文件确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

根据测试代码对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。

在一些实施例中，请参阅图5，图5为本申请实施例提供的电子设备的第二种结构示意图。电子设备400还包括：射频电路403、显示屏404、控制电路405、输入单元406、音频电路407、传感器408以及电源409。其中，处理器401分别与射频电路403、显示屏404、控制电路405、输入单元406、音频电路407、传感器408以及电源409电性连接。

射频电路403用于收发射频信号，以通过无线通信与网络设备或其他电子设备进行通信。

显示屏404可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及电子设备的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图像、文本、图标、视频和其任意组合来构成。

控制电路405与显示屏404电性连接，用于控制显示屏404显示信息。

输入单元406可用于接收输入的数字、字符信息或用户特征信息(例如指纹)，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。其中，输入单元406可以包括指纹识别模组。

音频电路407可通过扬声器、传声器提供用户与电子设备之间的音频接口。其中，音频电路407包括麦克风。麦克风与处理器401电性连接。麦克风用于接收用户输入的语音信息。

传感器408用于采集外部环境信息。传感器408可以包括环境亮度传感器、加速度传感器、陀螺仪等传感器中的一种或多种。

电源409用于给电子设备400的各个部件供电。在一些实施例中，电源409可以通过电源管理系统与处理器401逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。

虽然图中未示出，电子设备400还可以包括摄像头、蓝牙模块等，在此不再赘述。

在本实施例中，电子设备400中的处理器401会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器402中，并由处理器401来运行存储在存储器402中的计算机程序，从而实现各种功能：

获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

根据时钟寄存器文件生成待测试时钟集合对应的测试代码，并根据时钟寄存器文件确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

根据测试代码对待测试时钟集合执行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。

由上可知，本申请实施例提供了一种电子设备，电子设备在对待测试芯片的时钟进行测试时，获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当计算机程序在计算机上运行时，计算机执行上述任一实施例的芯片时钟的测试方法。

需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可以存储于计算机可读存储介质中，计算机可读存储介质可以包括但不限于：只读存储器(ROM，Read OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

此外，本申请中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或模块，而是某些实施例还包括没有列出的步骤或模块，或某些实施例还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。

以上对本申请实施例所提供的芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种芯片时钟的测试方法，其特征在于，包括：

获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，包括：

将待测试芯片的多个预设模块依次作为待测试模块；

对于每一所述待测试模块，将所述待测试模块对应的多个时钟确定为一个待测试时钟集合；

从多个预设时钟寄存器文件中获取所述待测试模块对应的时钟寄存器文件，作为所述待测试时钟集合的时钟寄存器文件。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；

所述根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，包括：

按照预设的转换脚本对所述时钟寄存器文件进行转换处理，得到所述待测试时钟集合对应的测试代码；

解析所述待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：

将所述测试代码编译为仿真设备的测试执行文件；

调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：

调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的波形文件；

对所述波形文件转换处理，生成值变转储文件，其中，所述值变转储文件中具有每一待测试时钟的测试频率值。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；

所述调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：

解析所述待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的频率档位数量；

根据每一待测试时钟的所述频率档位数量，确定所述待测试时钟集合中的待测试时钟的频率档位数量的最大值；

调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件，以及不少于所述最大值的测试次数，对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的各个频率档位的测试频率值。

7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果，包括：

对于所述待测试时钟集合中的每一待测试时钟，对比所述待测试时钟的预测频率值和所述预期频率值，得到每一待测试时钟的测试结果；

根据每一待测试时钟的测试结果，生成所述待测试时钟集合的测试结果。

8.一种芯片时钟的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；

第一生成模块，用于根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；

测试模块，用于根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；

第二生成模块，用于根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1至7任一项所述的芯片时钟的测试方法。

10.一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器通过调用所述计算机程序，用于执行如权利要求1至7任一项所述的芯片时钟的测试方法。

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