CN115981281A - 一种测试系统、方法及控制设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例涉及一种测试系统、方法及控制设备，包括：转接设备、PXI测控设备和测试转接线缆；转接设备包括：电源模块、单元电路板，单元电路板上设置有多个连接器和测试模块；PXI测控设备包括：控制器模块、多个被测模块和多路选择器；每个被测模块通过测试转接线缆与对应的连接器连接；多路选择器与多个连接器连接，用于控制每个连接器和对应的被测模块的通断；控制器模块与电源模块连接，用于控制电源模块输出目标信号，以通过目标信号控制测试模块对被测模块进行测试。由此可以实现PXI测控设备的并行测试，以及测试项目的自由选择，可以对单个项目的自动测试，还能完成多个项目的自动切换及连续测试，提高了测试效率和测试多样性。

Description

一种测试系统、方法及控制设备

5技术领域

本发明实施例涉及自动化测试技术领域，尤其涉及一种测试系统、方法及控制设备。

背景技术

0随着电子设备的发展，目前的PXI测控设备的测试手段还尚不成熟，

往往需要人工搭建平台对PXI测控设备进行逐一测试，无法实现在测试时对多个设备进行切换，因此现有的测试手段在安全性和可靠性等方面都有很大缺陷，且逐一测试需要花费大量时间，效率低。

因此，如何提高PIX测控设备的测试效率成为亟待解决的问题。

发明内容

鉴于此，为解决上述技术问题或部分技术问题，本发明实施例提供一种测试系统、方法及控制设备。

第一方面，本发明实施例提供一种测试系统，包括：转接设备、PXI0测控设备和测试转接线缆；

所述转接设备包括：电源模块、单元电路板，所述单元电路板上设置有多个连接器和测试模块；

所述PXI测控设备包括：控制器模块、多个被测模块和多路选择器；

每个所述被测模块通过所述测试转接线缆与对应的连接器连接；5所述多路选择器与多个所述连接器连接，用于控制每个所述连接器和

对应的被测模块的通断；

所述控制器模块与所述电源模块连接，用于控制所述电源模块输出目标信号，以通过所述目标信号控制所述测试模块对所述被测模块进行测试。

在一个可能的实施方式中，所述测试模块包括：自检单元；

所述自检单元，用于完成串口通讯板卡和1553通讯板卡的自检功能，以及完成通道间发送数据测试和接收数据测试。

在一个可能的实施方式中，所述测试模块还包括：AD采集单元、开关转换单元、脉冲发生单元；

所述开关转换单元，用于将所述目标信号划分成第一目标信号和第二目标信号，将所述第一目标信号转换成数字信号后发送至AD采集单元，以及将所述第二目标信号发送至脉冲发生单元；

所述AD采集单元，用于对基于所述数字信号对所述被测模块中的AD模块进行采集；

所述脉冲发生单元，用于基于所述第二目标信号控制所述被测模块中的时序测量模块对所述被测模块进行测试。

在一个可能的实施方式中，所述控制器模块通过所述PXI测控设备的背板总线与每个所述被测模块连接，以及接收每个所述被测模块生成的测试数据。

在一个可能的实施方式中，所述控制器模块通过所述PXI测控设备的背板总线与所述多路选择器连接；

通过所述背板总线向所述多路选择器发送控制信号；

所述多路选择器根据所述控制信号控制每个所述连接器和对应的被测模块的通断。

在一个可能的实施方式中，所述控制器模块通过RS232接口与所述电源模块连接，通过RS232通信方式控制所述电源模块输出激励源信号作为所述目标信号。

第二方面，本发明实施例提供一种测试方法，包括：

PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号；

基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；

所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

所述控制器模块向所述PXI测控设备中的多路选择器发送控制信号；

通过所述控制信号控制所述多路选择器调节多个所述被测模块的通断；

控制所述测试模块对被测模块进行测试；

接收所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

控制所述测试模块中的自检单元完成所述PXI测控设备和转接设备的通道间的发送数据测试和接收数据测试。

第三方面，本发明实施例提供一种控制设备，包括：处理器和存储器，所述处理器用于执行所述存储器中存储的测试程序，以实现上述第二方面中任一项所述测试方法。

本发明实施例提供的测试系统，包括：转接设备、PXI测控设备和测试转接线缆；所述转接设备包括：电源模块、单元电路板，所述单元电路板上设置有多个连接器和测试模块；所述PXI测控设备包括：控制器模块、多个被测模块和多路选择器；每个所述被测模块通过所述测试转接线缆与对应的连接器连接；所述多路选择器与多个所述连接器连接，用于控制每个所述连接器和对应的被测模块的通断；所述控制器模块与所述电源模块连接，用于控制所述电源模块输出目标信号，以通过所述目标信号控制所述测试模块对所述被测模块进行测试。由此可以实现PXI测控设备的并行测试测试项目的自由选择以及搭配组合，不仅可以单个测试项目的自动测试，还能完成多个测试项目的自动切换及连续测试，提高了测试效率和测试多样性。

附图说明

图1为本发明实施例中一种测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种单元电路板结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图4为本发明实施例提供的一种控制设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为便于对本发明实施例的理解，下面将结合附图以具体实施例做进一步的解释说明，实施例并不构成对本发明实施例的限定。

图1为本发明实施例中一种测试系统的结构示意图，如图1所示，该系统具体包括：

转接设备1、PXI测控设备2和测试转接线缆3；

所述转接设备包括：电源模块4、单元电路板5，所述单元电路板上设置有多个连接器6和测试模块；

所述PXI测控设备包括：控制器模块7、多个被测模块8和多路选择器9。

每个被测模块通过测试转接线缆与对应的连接器连接，多路选择器与多个连接器连接，多路选择器可以包括但不限于多路开关，用于控制每个连接器和对应的被测模块的通断，具体可以通过多路选择器控制被测模块的通断以实现选择需要被测模块进行测试；

控制器模块与所述电源模块连接，用于控制电源模块输出目标信号，以通过目标信号控制测试模块对被测模块进行测试，其中，控制器可以是嵌入式控制器，电源模块可以是程控电源。

具体的，本实施例中，转接设备中可以设置有多个连接被测模块的连接器，以及多个连接多路选择器的连接器；多路选择器与转接设备上的工装模块的连接器连接，根据控制器模块发送的控制信号，控制多路选择器，以通过多路选择器控制每个连接被测模块的连接器的通断。多路选择器可以插入到PXI测控设备中。单元电路板和电源模块放置在转接设备的固定区域中。转接设备通过测试转接线缆与PXI测控设备中各个功能模块连接，控制器模块通过背板总线与各个被测模块进行数据交互，通过背板总线连接多路选择器，控制器通过RS232接口与电源模块连接，通过RS232方式控制电源模块输出激励源信号提供测量手段，为接口响应测量通道提供激励源，实现与转接设备的数据通信、数据采集、开关控制、时序测量等测试内容。通过更换单元电路板和测试转接线缆可以实现不同PXI测控设备的综合检测。

图2为本发明实施例提供的一种单元电路板结构示意图，如图2所述，该单元电路板包括：测试模块；

测试模块可以是将原本在PIX测控设备中的用于测试的模块设置在转接设备中，用于接收电源模块发送的目标信号，并基于目标信号对被测模块进行测试，测试模块中可以包括但不限于：自检单元、AD采集单元、开关转换单元、脉冲发生单元。其中，自检单元，用于完成串口通讯板卡和1553通讯板卡的自检功能，以及完成通道间发送数据测试和接收数据测试。开关转换单元，用于将目标信号划分成第一目标信号和第二目标信号，将第一目标信号转换成数字信号后发送至AD采集单元，以及将第二目标信号发送至脉冲发生单元；AD采集单元，用于对基于数字信号对被测模块中的AD模块进行采集；脉冲发生单元，用于基于第二目标信号控制被测模块中的时序测量模块对被测模块进行测试。

具体的，自检单元主要是通过差分电路组成，用于完成串口通讯板卡、1553通讯板卡自检功能，差分电路通过通道间的相互发送和接收直连，完成通道间发送数据测试和接收数据测试。

电源模块通过RS232协议进行远程控制，可编程控制输出不同的电压信号。电源模块将电源信号作为目标信号发送至开关转换单元，通过开关转换单元将目标信号分为两路目标信号，包括：第一目标信号和第二目标信号，第一目标信号首先发送至数字量输出模块，作为数字量输出模块的输入信号，通过数字量输出模块可以对第一目标信号进行配置后转换后输出数字信号，数字信号通过开关转换单元控制后进行分路后发送至AD采集单元，AD采集单元将数字信号发送至被测模块中的AD模块进行采集、判读。电源模块通过开关转换单元的转换后，输出动态电压信号作为第二目标信号，发送至脉冲发生单元，通过脉冲发生单元输入到被测模块的时序测量模块，模块根据第二目标信号中的电压的变化，配置状态。

本发明提供的测试系统解决了PXI测控设备的综合检测问题，提供一种小型化、多功能、便携式的自动化测试转接设备，该设备将需要测试的被测模块与其他PXI模块相结合，组成一个集成系统，对PXI测控设备进行联合测试，通过软面板对系统进行控制，实时监控测试数据并对数据进行保存。该系统实现了PXI测控设备测试的并行进行，减少线缆等测试资源的使用，实现了多模块自动切换通道，解放了人力资源，提供了一个相对可靠、稳定的测试环境，可以大大提高测试效率，缩短生产周期。

图3为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图，如图3所示，该方法具体包括：

S31、PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号。

本实施例提供的测试方法，应用于PXI测控设备中的控制器模块，该控制器模块为嵌入式控制器，控制器模块通过PXI测控设备中的背板总线与被测模块连接，并进行数据交互。控制模块通过RS232方式控制电源模块输出激励源信号，将输出的信号作为目标信号发送至转接设备中的测试模块，实现与转接设备的数据通信、数据采集、开关控制、时序测量。通过更换单元电路板和测试转接线缆可以实现不同PXI测控设备的综合检测。

S32、基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果。

在本实施例中，控制器模块对电源模块通过RS232协议进行远程控制，可编程控制电源模块输出不同的电压信号作为目标信号。目标信号通过开关转换单元(多路开关)被分为两路，第一路为第一目标信号，为数字量输出模块提供输入信号，数字量输出模块对输入的第一目标信号进行配置后转换成数字信号并返回给开关转换单元，数字信号通过开关转换单元控制后进行分路，进入AD采集单元，AD采集单元主要通过信号源输出电压信号或电流信号，通过AD采集单元对AD模块进行采集、判读。另一方面电源模块通过开关转换单元的配置后，输出一路动态电压信号作为第二目标信号，输入到时序测量模块，模块根据电压的变化，配置状态。

在一个可能的实施方式中，控制器模块向PXI测控设备中的多路选择器发送控制信号；通过控制信号控制多路选择器调节多个被测模块的通断；控制测试模块对被测模块进行测试；接收被测模块返回的测试结果。

具体的，被测模块设置于PXI测控设备中，转接设备上设置有多组连接被测对象的连接器以及多个连接多路选择器的连接器；多路选择器与转接设备上的工装模块的连接器连接，多路选择器插入到PXI测控设备中。单元电路板和电源模块放置在转接设备的固定区域中。转接设备通过测试转接线缆与PXI测控设备中各个模块连接，控制器模块通过背板总线与各个模块进行数据交互，通过RS232方式控制程控电源输出激励源信号提供测量手段，为接口响应测量通道提供激励源，控制器模块根据需要测试的被测模块生成控制信号，根据控制信号控制连接被测模块的连接器的通断，以实现对被测模块进行测试。控制器模块接收对被测模块的测试结果并进行存储分析。

在一个可能的实施方式中，控制测试模块中的自检单元完成PXI测控设备和转接设备的通道间的发送数据测试和接收数据测试。其中自检单元主要是通过差分电路组成，完成串口通讯板卡、1553通讯板卡等自检功能，电路通过通道间的相互发送和接收直连，完成通道间发送接收数据测试。

本发明实施例提供的测试方法，通过PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号；基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果；以实现解决了测试过程中对每种单独板卡不方便操作测试的问题。测试过程无需人工记录数据，减少测试过程中人为因素的影响，可自动生成测试记录。

图4为本发明实施例提供的一种控制设备的结构示意图，图4所示的控制设备400包括：至少一个处理器401、存储器402、至少一个网络接口404和其他用户接口403。控制设备400中的各个组件通过总线系统405耦合在一起。可理解，总线系统405用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统405除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图4中将各种总线都标为总线系统405。

其中，用户接口403可以包括显示器、键盘或者点击设备(例如，鼠标，轨迹球(trackball)、触感板或者触摸屏等。

可以理解，本发明实施例中的存储器402可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synch link DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRambus RAM，DRRAM)。本文描述的存储器402旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。

在一些实施方式中，存储器402存储了如下的元素，可执行单元或者数据结构，或者他们的子集，或者他们的扩展集：操作系统4021和应用程序4022。

其中，操作系统4021，包含各种系统程序，例如框架层、核心库层、驱动层等，用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。应用程序4022，包含各种应用程序，例如媒体播放器(Media Player)、浏览器(Browser)等，用于实现各种应用业务。实现本发明实施例方法的程序可以包含在应用程序4022中。

在本发明实施例中，通过调用存储器402存储的程序或指令，具体的，可以是应用程序4022中存储的程序或指令，处理器401用于执行各方法实施例所提供的方法步骤，例如包括：

PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号；

基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；

所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

所述控制器模块向所述PXI测控设备中的多路选择器发送控制信号；

通过所述控制信号控制所述多路选择器调节多个所述被测模块的通断；

控制所述测试模块对被测模块进行测试；

接收所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

控制所述测试模块中的自检单元完成所述PXI测控设备和转接设备的通道间的发送数据测试和接收数据测试。

上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器401中，或者由处理器401实现。处理器401可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器401中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器401可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件单元组合执行完成。软件单元可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器402，处理器401读取存储器402中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

可以理解的是，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuits，ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processing，DSP)、数字信号处理设备(DSPDevice，DSPD)、可编程逻辑设备(Programmable LogicDevice，PLD)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本申请所述功能的其它电子单元或其组合中。

对于软件实现，可通过执行本文所述功能的单元来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在处理器外部实现。

本实施例提供的控制设备可以是如图4中所示的控制设备，可执行如图3中测试方法的所有步骤，进而实现图3所示测试方法的技术效果，具体请参照图3相关描述，为简洁描述，在此不作赘述。

本发明实施例还提供了一种存储介质(计算机可读存储介质)。这里的存储介质存储有一个或者多个程序。其中，存储介质可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器；存储器也可以包括非易失性存储器，例如只读存储器、快闪存储器、硬盘或固态硬盘；存储器还可以包括上述种类的存储器的组合。

当存储介质中一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述在控制设备侧执行的测试方法。

所述处理器用于执行存储器中存储的测试程序，以实现以下在控制设备侧执行的测试方法的步骤：

PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号；

基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；

所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

所述控制器模块向所述PXI测控设备中的多路选择器发送控制信号；

通过所述控制信号控制所述多路选择器调节多个所述被测模块的通断；

控制所述测试模块对被测模块进行测试；

接收所述被测模块返回的测试结果。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

控制所述测试模块中的自检单元完成所述PXI测控设备和转接设备的通道间的发送数据测试和接收数据测试。

专业人员应该还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，包括：转接设备、PXI测控设备和测试转接线缆；

所述转接设备包括：电源模块、单元电路板，所述单元电路板上设置有多个连接器和测试模块；

所述PXI测控设备包括：控制器模块、多个被测模块和多路选择器；

每个所述被测模块通过所述测试转接线缆与对应的连接器连接；

所述多路选择器与多个所述连接器连接，用于控制每个所述连接器和对应的被测模块的通断；

所述控制器模块与所述电源模块连接，用于控制所述电源模块输出目标信号，以通过所述目标信号控制所述测试模块对所述被测模块进行测试。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试模块包括：自检单元；

所述自检单元，用于完成串口通讯板卡和1553通讯板卡的自检功能，以及完成通道间发送数据测试和接收数据测试。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试模块还包括：AD采集单元、开关转换单元、脉冲发生单元；

所述开关转换单元，用于将所述目标信号划分成第一目标信号和第二目标信号，将所述第一目标信号转换成数字信号后发送至AD采集单元，以及将所述第二目标信号发送至脉冲发生单元；

所述AD采集单元，用于对基于所述数字信号对所述被测模块中的AD模块进行采集；

所述脉冲发生单元，用于基于所述第二目标信号控制所述被测模块中的时序测量模块对所述被测模块进行测试。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制器模块通过所述PXI测控设备的背板总线与每个所述被测模块连接，以及接收每个所述被测模块生成的测试数据。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制器模块通过所述PXI测控设备的背板总线与所述多路选择器连接；

通过所述背板总线向所述多路选择器发送控制信号；

所述多路选择器根据所述控制信号控制每个所述连接器和对应的被测模块的通断。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制器模块通过RS232接口与所述电源模块连接，通过RS232通信方式控制所述电源模块输出激励源信号作为所述目标信号。

7.一种测试方法，其特征在于，包括：

PXI测控设备中的控制器模块向转接设备中的测试模块发送目标信号；

基于所述目标信号控制所述测试模块，对所述PXI测控设备中的多个被测模块进行测试；

所述控制器模块接收多个所述被测模块返回的测试结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述控制器模块向所述PXI测控设备中的多路选择器发送控制信号；

通过所述控制信号控制所述多路选择器调节多个所述被测模块的通断；

控制所述测试模块对被测模块进行测试；

接收所述被测模块返回的测试结果。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制所述测试模块中的自检单元完成所述PXI测控设备和转接设备的通道间的发送数据测试和接收数据测试。

10.一种控制设备，其特征在于，包括：处理器和存储器，所述处理器用于执行所述存储器中存储的测试程序，以实现权利要求7-9中任一项所述的测试方法。

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