CN115963553A - 硅质充填物来源的确定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种硅质充填物来源的确定方法,包括:从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品;获取所述硅质充填物样品所具备的产状,并检测不同产状的硅质充填物样品的指定参数的参数值;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的来源,将所述硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。有利于提高对硅质充填物样品的来源的判识准确度,从而有利于提高对目标储层中硅质充填物来源的判识准确度。
Description
技术领域
本发明涉及油气勘探开发技术领域,尤其涉及一种硅质充填物来源的确定方法。
背景技术
硅质岩作为一类特殊的沉积岩,其形成往往代表了特殊的沉积-成岩环境,隐含了特殊时期古气候、古地理、古构造、地质流体、物源和成岩成矿等多种地质信息,并且,特定环境下形成的硅质岩经常与矿藏伴生,因此,一直以来都备受广大专家和学者的关注。
目前,研究证实存在多种产状的硅质充填物,而如何准确判识硅质充填物的来源是亟需解决的问题。相关技术中,可以通过开展地球化学特征研究来进行硅质来源判识,主要包括主量元素分析、微量元素分析、稀土元素分析和硅氧同位素分析等四种测试手段。其中,主量元素分析可以包括K、Ca、Mn、Al、Ti等元素含量分析和Al-Fe-Mn三角图解法来判定硅质来源;微量元素分析主要包括Ba、Sr、U、Th元素含量测试分析,同时与经典成因模式中上述元素的含量对比来明确其硅质来源;稀土元素判定硅质来源主要通过稀土元素含量配分以及Eu和Ce异常来综合判定;通过对硅氧同位素测试分析,明确δ30Si‰值的分布范围,与前人已有δ30Si‰值的分布研究成果进行对比来判识硅质来源。
然而,相关技术中开展测试分析时并未考虑样品期次和产状,致使根据单一或几种元素的地球化学数据来解释硅质来源时具有多解性,并不能够准确判断出硅质来源。因此,亟需一种新的硅质充填物来源的确定方法。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种硅质充填物来源的确定方法,以准确确定目标储层中硅质充填物的来源。
本发明提供一种硅质充填物来源的确定方法,包括:从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品;获取硅质充填物样品所具备的产状,并检测不同产状的硅质充填物样品的指定参数的参数值;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
在一个实施例中,从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品,包括:从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,将同一期次形成的硅质充填物作为硅质充填物样品。
在一个实施例中,从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,包括:从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集充填物;检测充填物中硅元素的含量,筛选出硅元素含量大于或等于预设硅含量阈值的充填物作为硅质充填物。
在一个实施例中,检测充填物中硅元素的含量,包括:检测充填物中二氧化硅的含量,根据二氧化硅的含量确定充填物中硅元素的含量。
在一个实施例中,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,包括:将所采集的硅质充填物制成具有预设厚度的薄片试样;利用显微镜对薄片试样进行全景扫描,以对薄片试样的各个区域进行标记以区分各个区域;对薄片试样的各个区域进行阴极发光扫描,并根据阴极发光扫描结果,结合对薄片试样的各个区域的标记,在薄片试样中选取出同一期次形成的硅质充填物。
在一个实施例中,获取硅质充填物样品所具备的产状,包括:通过显微镜观察的方法获取硅质充填物样品所具备的产状。
在一个实施例中,指定参数的参数值,包括:多种元素的元素含量,其中,多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素。
在一个实施例中,还包括:根据不同产状的硅质充填物样品的多种元素的元素含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的元素组成配分曲线;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线及相应的产状;将硅质充填物样品的每种产状对应的元素组成配分曲线与预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线进行比对,根据比对结果并结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
在一个实施例中,指定参数的参数值,包括:硅氧同位素的含量。
在一个实施例中,还包括:根据不同产状的硅质充填物样品中的硅氧同位素的含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的硅氧同位素组成图;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图及相应的产状;将硅质充填物样品的每种产状对应的硅氧同位素组成图与预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图进行比对,根据比对结果并结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
在一个实施例中,指定参数的参数值,包括:多种元素的元素含量和硅氧同位素的含量,其中,多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的多种元素的元素含量及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的多种元素的元素含量,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的第一来源;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的硅氧同位素的含量及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的硅氧同位素的含量,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的第二来源;当第一来源与第二来源相同时,将该相同的来源作为硅质充填物样品的来源。
在一个实施例中,在确定出硅质充填物样品的来源之后,且在将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源之前,还包括:根据目标储层的地质条件,判断所确定出的硅质充填物样品的来源的置信度是否满足预设条件,当置信度满足预设条件时,再将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
在一个实施例中,在确定出目标储层中硅质充填物的来源之后,还包括:根据目标储层中硅质充填物的来源确定目标储层中硅质充填物的成因。
本发明的方法对硅质充填物样品进行检测,直接排除了围岩对检测结果的影响,而且,根据地球化学分析结果,并结合岩石特征,有利于提高对硅质充填物样品的来源的判识准确度,从而有利于提高对目标储层中硅质充填物来源的判识准确度。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定,在附图中:
图1为根据本申请一示例性实施方式的硅质充填物来源的确定方法的流程图;
图2为根据本申请一具体实施例的碳酸盐岩的硅质充填物的照片以及相应的薄片试样的显微镜下的扫描图;
图3为根据本申请一具体实施例的碳酸盐岩中硅质充填物的阴极发光扫描图;
图4为根据本申请一具体实施例的利用微钻原位取样设备在显微镜下进行硅质充填物样品收集的示意图;
图5为根据本申请一具体实施例的硅质充填物来源的确定方法的流程图;
图6A为根据本申请一具体实施例的富硅热液流体交代围岩成因的硅质充填物中稀土元素含量的配分曲线图;
图6B为根据本申请一具体实施例的机械作用成因的硅质充填物中稀土元素含量的配分曲线图;
图7为根据本申请一具体实施例的富硅热液流体交代围岩成因和机械作用成因的硅质充填物中的硅、氧同位素组成图。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
实施例一
本实施例提供一种硅质充填物来源的确定方法,图1为根据本申请一示例性实施方式的硅质充填物来源的确定方法的流程图。如图1所示,本实施例的方法可以包括:
S100:从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品。
S200:获取硅质充填物样品所具备的产状,并检测不同产状的硅质充填物样品的指定参数的参数值。
S300:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
通过上述步骤,首先提取目标储层中的硅质充填物样品,然后获取硅质充填物样品的产状和指定参数的参数值,最后根据硅质充填物样品的指定参数的参数值并结合其产状,确定出目标储层中硅质充填物的来源。本实施例的方法仅仅对硅质充填物样品进行检测,能够排除围岩对检测结果的影响,根据多种因素来共同确定目标储层中硅质充填物的来源,有利于提高对目标储层中硅质充填物来源的判识准确度。
在上述步骤中,指定参数可以根据需要进行设定,例如,可以包括硅质充填物样品中所包含的元素种类以及相应的含量,还可以包括硅氧同位素的含量,等等,在此不做具体限定,只要能够根据该指定参数的参数值确定出硅质充填物样品的来源即可。预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,例如,可以包括前人总结出来的硅质充填物来源与指定参数的参数值以及产状之间的对应关系,当然,也可以是通过其他方式获得的对应关系,在此不作限定。
在S100中,从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品,可以包括:从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,将同一期次形成的硅质充填物作为硅质充填物样品。
其中,从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,可以包括:从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集充填物;检测充填物中硅元素的含量,筛选出硅元素含量大于或等于预设硅含量阈值的充填物作为硅质充填物。其中,检测充填物中硅元素的含量,可以包括:检测充填物中二氧化硅的含量,根据二氧化硅的含量确定充填物中硅元素的含量。
其中,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,可以包括:将所采集的硅质充填物制成具有预设厚度的薄片试样;利用显微镜对薄片试样进行全景扫描,以对薄片试样的各个区域进行标记以区分各个区域;对薄片试样的各个区域进行阴极发光扫描,并根据阴极发光扫描结果,结合对薄片试样的各个区域的标记,在薄片试样中选取出同一期次形成的硅质充填物。
在S200中,获取硅质充填物样品所具备的产状,可以包括:通过显微镜观察的方法获取硅质充填物样品所具备的产状。
在第一个示例中,指定参数的参数值,可以包括:多种元素的元素含量,其中,多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素。
在此基础上,该方法还可以包括:根据不同产状的硅质充填物样品的多种元素的元素含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的元素组成配分曲线。基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,可以包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线及相应的产状;将硅质充填物样品的每种产状对应的元素组成配分曲线与预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线进行比对,根据比对结果并结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
在第二个示例中,指定参数的参数值,可以包括:硅氧同位素的含量。
在此基础上,该方法还可以包括:根据不同产状的硅质充填物样品中的硅氧同位素的含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的硅氧同位素组成图。基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,可以包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图及相应的产状;将硅质充填物样品的每种产状对应的硅氧同位素组成图与预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图进行比对,根据比对结果并结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
在第三个示例中,指定参数的参数值,可以包括:多种元素的元素含量和硅氧同位素的含量,其中,多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素。基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源,可以包括:基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的多种元素的元素含量及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的多种元素的元素含量,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的第一来源;基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的硅氧同位素的含量及产状三者之间的对应关系,根据硅质充填物样品的硅氧同位素的含量,结合硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的第二来源;当第一来源与第二来源相同时,将该相同的来源作为硅质充填物样品的来源。
在确定出硅质充填物样品的来源之后,且在将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源之前,该方法还可以包括:根据目标储层的地质条件,判断所确定出的硅质充填物样品的来源的置信度是否满足预设条件,当置信度满足预设条件时,再将硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
在确定出目标储层中硅质充填物的来源之后,该方法还可以包括:根据目标储层中硅质充填物的来源确定目标储层中硅质充填物的成因。
在相关技术中,通过显微镜镜下观察来描述硅质充填物样品中硅质生物发育情况,直接确定硅质充填物是否为生物或生物化学成因。但镜下观察硅质生物(放射虫、海绵骨针等)发育情况的方法只能说明硅质充填物可能受硅质生物的影响,并不能确定硅质充填物的来源,更不能解释地质成因。例如,富硅质流体(热液)交代碳酸盐岩成因的硅质充填物,在交代不完全的情况下,会保留残余原岩结构组分,加之镜下观察尺度很小(微米尺度),如果在局部观察到硅质生物的存在即确定其生物来源,则出现了以偏概全的偏差,与其真正的成因富硅流体改造相去甚远。而且,单一或少数几种元素的地球化学数据在解释硅质来源及其成因时具有多解性。相关技术中,硅氧同位素测试的对象均为全岩测试,并未区分硅质和围岩,从而造成分析结果不准确。
本实施例的方法综合考虑硅质充填物的岩石学特征和地球化学特征,结合地质条件,能够更为准确的判断出硅质充填物的来源,从而推断其成因。对硅质充填物样品的多种元素进行分析,根据分析结果参考已有的硅质充填物的判断分析过程,有利于提高对硅质充填物来源的分析判断结果的准确性。而且,本实施例中硅氧同位素的测试对象为硅质充填物本身,直接排除了围岩成分对测试结果的影响,具有更准确的数据结果,从而提高硅质充填物来源及其成因的判识精度。
实施例二
超深层碳酸盐岩中硅质来源复杂多样,硅质充填物成因存在多种可能,比如生物及生物化学作用成因、化学沉积成因、机械作用成因和富硅质流体(热液)交代碳酸盐岩成因。为准确判识硅质来源,指导硅质充填物成因分析,本实施例提供一种硅质充填物来源的确定方法。
硅质充填物的形成有其独特的成因背景,不同成因背景的硅质充填物在岩石学特征和地球化学特征方面存在一定的差异性,因此,针对硅质充填物开展岩石学特征和地球化学特征分析,可以确定硅质充填物的来源及成因。换言之,在多种地球化学测试分析的基础上,结合岩石学特征分析以及地质背景,根据所得到的分析结果数据对硅质充填物的来源进行判识,并分析其成因。
本实施例的方法可以包括以下步骤:
1、系统观察取心井岩心样品,记录硅质充填物发育层段、分布特征和颜色产状等信息,采集不同类型储集空间(缝、洞、孔)中的充填物样品,对所采集的充填物样品进行XRD矿物成分测试分析,选取硅含量超过一定值的充填物作为硅质充填物样品;
2、将硅质充填物样品制成适用于原位颗粒元素测试(LA-LCP-MS)的微区薄片样品,利用扫描电镜对制成的微区薄片样品进行大薄片2D扫描,区分记录微区薄片样品中各个区域的硅质充填物样品;
3.利用阴极发光显微镜对微区薄片样品进行阴极发光扫描,以标定出同一期次的硅质充填物样品进行后续测试;
4、对微区薄片样品开展详细的显微镜下观察,明确所具备的产状和结构组分,尤其重点关注原始沉积硅质分布特征、放射虫、海绵骨针等硅质生物和与火山沉积相关的火山矿物发育情况,并按不同产状对硅质充填物样品进行详细记录;
5、对标定出的硅质充填物样品点位进行硅质充填物原位微区主量元素、微量元素和稀土元素测试分析,按照不同产状分别建立主量元素、微量元素和稀土元素组成配分图版,将所得到的数据结果与前人已有成果认识进行对比,可以判定出硅质充填物样品的来源;
6、另外,还可以利用微钻原位取样设备将进行主量元素、微量元素和稀土元素测试分析的硅质充填物样品钻出,通过吸泵收集后再进行硅质充填物的硅氧同位素测试分析。这里要注意两点:①要确保微钻取样的样品量满足硅氧同位素测试要求,尽可能多的钻取硅质样品,保障测试结果准确、可靠;②硅质样品主要成分为二氧化硅,质地较硬,微钻取样时应用大钻头,以免在钻取过程中出现断钻、卡钻等情况。可以根据硅氧同位素测试分析结果判定出硅质充填物样品的来源。
7、最后,还可以综合主量元素、微量元素、稀土元素和硅氧同位素测试分析结果,并通过对不同产状硅质充填物的岩石学特征分析,参考地质条件(例如断裂发育情况和沉积背景),判定硅质充填物的来源,根据硅质充填物的来源确定其成因。
本实施例的方法可以用于指导碳酸盐岩中硅质充填物来源及其成因的快速、准确判识。
实施例三
本实施例提供一个硅质充填物来源的确定方法的具体实施例。
图2为根据本申请一具体实施例的碳酸盐岩的硅质充填物的照片以及相应的薄片试样的显微镜下的扫描图,其中,该显微镜可以为扫描电子显微镜。
图3为根据本申请一具体实施例的碳酸盐岩中硅质充填物的阴极发光扫描图,在图3中,根据硅质形态、位置及阴极发光特征进行了测试点位的标定。从图3可以看到,硅质充填物分布特征和颜色产状等信息,对岩心薄片开展详细的显微镜下薄片鉴定,明确结构组分,尤其重点关注原始沉积硅质分布特征、放射虫、海绵骨针等硅质生物和与火山沉积相关的火山矿物发育情况,并对鉴定结果按不同产状硅质充填物进行详细记录。
图4为根据本申请一具体实施例的利用微钻原位取样设备在显微镜下进行硅质充填物样品收集的示意图。
图5为根据本申请一具体实施例的硅质充填物来源的确定方法的流程图,包括以下步骤:
S1:系统观察含硅质充填物岩心样品,记录硅质充填物发育层段、分布特征和颜色产状等信息,采集不同类型储集空间(缝、洞、孔)中的硅质充填物岩心样品,磨制厚度为30um微区探针薄片。
S2:利用扫描光学电子显微镜对薄片进行2D全景扫描,扫描照片按取样信息编号。
S3:运用阴极发光显微镜对硅质充填物进行阴极发光扫描,选取不同产状硅质充填物在2D全景扫描照片中标定位置。
S4:利用原位颗粒元素测试技术对标定的硅质充填物颗粒进行元素分析,运用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪获取不同产状硅质充填物元素配分组成;将所得到的数据结果与前人已有成果认识进行对比,寻找符合成熟理论的元素因子及其组合,初步判定硅质充填物的来源。
S5:针对同一块样品,利用微钻原位设备取样,获取满足硅氧同位素测试条件的硅质粉末样品,对粉末样品进行硅氧同位素分析,进一步判定硅质充填物的来源。
S6:综合主量元素、微量元素、稀土元素和硅氧同位素测试结果,结合不同产状硅质充填物的岩石学特征,结合断裂发育情况和沉积背景,分析硅质充填物的来源。根据硅质的来源认识,确定碳酸盐岩中硅质充填物的。
本实施例中涉及的硅质充填物阴极发光扫描,具体是指利用最大视域倍数的镜头(一般5倍),选取不同产状硅质样品的一处端点颗粒位置,通过2D全景扫描照片与阴极发光透射光视域颗粒形态、大小及相对位置的判断对比,点对点找到准确位置后进行阴极发光测试。视域转换时让镜头顺着硅质充填物排列方向顺序移动,直至将整个硅质充填物阴极发光特征测试完毕;
本实施例中涉及的不同产状硅质充填物在2D全景扫描照片中的标定,具体是指将2D全景扫描照片与阴极发光显微镜视域对应,进而利用圆圈、方块等标记工具在电子版扫描照片中标定点位;
本实施例中涉及的原位颗粒元素测试技术,激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪采用New Ware UP193SS型准分子激光器的Agilent 7500a型电感賴合等离子质谱(ICP-MS)完成。激光波长193nm,束斑直径为35um,激光能量密度为2.6J/cm2,频率10Hz。
本实施例涉及的微钻原位取样,具体是指将微区取样设备钻头对准标定的测试点位位置,利用钻头将硅质充填物磨成粉末,同时利用吸管泵收集样品粉末。微区原位取样设备采用MSSⅥ微区取样仪(斜式型)。变倍范围≥6.3X~80X;可选6.3X~135X;物镜1X平场复消色差物镜;电动台移动范围:X≥120mm,Y≥100mm,Z≥45mm,移动分辨率≤1um;斜式取样仪带三维操作器可作X、Y、Z定位;彩色300万像素数码摄像系统;收集样品的采用真空吸附系统。
将本实施例的方法应用于塔里木盆地某地区超深层碳酸盐岩储层中。该区碳酸盐岩储层中通过岩心观察存在硅质充填物,且镜下观察不同类型储集空间中硅质充填物分布特征、产状和颜色等岩石学特征差异明显,推断可能存在不同硅质来源及成因。
常规的全岩地球化学测试分析难以区分硅质来源的差异。运用本实施例的方法可以按照硅质充填物的不同产状建立元素配分-同位素组成图版,结合放射虫、海绵骨针等硅质生物和与火山沉积相关的火山矿物发育情况、断裂发育情况以及沉积背景,综合指导碳酸盐岩中硅质充填物来源及其成因的快速、准确判识。
结果表明,该地区存在两种硅质来源,分别为富硅热液流体交代围岩成因和机械作用成因(如表1所示)。微量元素原位LA-ICP-MS测试结果如表2所示。
表1碳酸盐岩中硅质充填物来源及其成因判识图版
表2微量元素原位LA-ICP-MS测试结果
其中,富硅热液流体交代围岩成因表现为放射虫、海绵骨针等硅质生物和与火山沉积相关的火山矿物不发育,镜下观察有明显交代现象,稀土元素总量较低,轻稀土富集,重稀土亏损,两者分异明显且具有明显正Eu异常,且Ni/Co值、U/Th值和Fe/Mn值较高,硅同位素值较高等特点,如图6A所示。机械作用成因表现为放射虫、海绵骨针等硅质生物和与火山沉积相关的火山矿物不发育,硅质充填物破碎,镜下观察无明显交代现象,稀土元素总量低,且Ni/Co值、U/Th值和Fe/Mn值比富硅热液流体交代围岩成因低,硅同位素值比富硅热液流体交代围岩成因低等特点,如图6B所示。图7为根据本申请一具体实施例的富硅热液流体交代围岩成因和机械作用成因的硅质充填物中的硅、氧同位素组成图。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施方式例如能够除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
应当理解的是,本说明书中的示例性实施方式可以由多种不同的形式来实施,并且不应当被解释为只限于这里所阐述的实施方式。提供这些实施方式是为了使得本申请的公开彻底且完整,并且将这些示例性实施方式的构思充分传达给本领域普通技术人员,而不应当理解为对本发明的限制。
Claims (13)
1.一种硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,包括:
从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品;
获取所述硅质充填物样品所具备的产状,并检测不同产状的硅质充填物样品的指定参数的参数值;
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的来源,将所述硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
2.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,从目标储层的岩心样品中采集硅质充填物样品,包括:
从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,将所述同一期次形成的硅质充填物作为硅质充填物样品。
3.根据权利要求2所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集硅质充填物,包括:
从目标储层岩心样品的不同类型储集空间中采集充填物;
检测所述充填物中硅元素的含量,筛选出硅元素含量大于或等于预设硅含量阈值的充填物作为硅质充填物。
4.根据权利要求3所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,检测所述充填物中硅元素的含量,包括:
检测所述充填物中二氧化硅的含量,根据二氧化硅的含量确定充填物中硅元素的含量。
5.根据权利要求2所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,从所采集的硅质充填物中选取出同一期次形成的硅质充填物,包括:
将所采集的硅质充填物制成具有预设厚度的薄片试样;
利用显微镜对所述薄片试样进行全景扫描,以对薄片试样的各个区域进行标记以区分所述各个区域;
对所述薄片试样的各个区域进行阴极发光扫描,并根据阴极发光扫描结果,结合对所述薄片试样的各个区域的标记,在所述薄片试样中选取出同一期次形成的硅质充填物。
6.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,获取所述硅质充填物样品所具备的产状,包括:
通过显微镜观察的方法获取所述硅质充填物样品所具备的产状。
7.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,所述指定参数的参数值,包括:
多种元素的元素含量,其中,所述多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素。
8.根据权利要求7所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,还包括:
根据不同产状的硅质充填物样品的多种元素的元素含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的元素组成配分曲线;
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的来源,包括:
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线及相应的产状;
将硅质充填物样品的每种产状对应的元素组成配分曲线与预设的硅质充填物的来源所对应的元素组成配分曲线进行比对,根据比对结果并结合所述硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
9.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,所述指定参数的参数值,包括:
硅氧同位素的含量。
10.根据权利要求9所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,还包括:
根据不同产状的硅质充填物样品中的硅氧同位素的含量,制定与硅质充填物样品的不同产状分别对应的硅氧同位素组成图;
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的来源,包括:
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,确定预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图及相应的产状;
将硅质充填物样品的每种产状对应的硅氧同位素组成图与预设的硅质充填物的来源所对应的硅氧同位素组成图进行比对,根据比对结果并结合所述硅质充填物样品的产状,确定硅质充填物样品的来源。
11.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,所述指定参数的参数值,包括:
多种元素的元素含量和硅氧同位素的含量,其中,所述多种元素包括主量元素、微量元素和稀土元素;
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的指定参数的参数值及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的指定参数的参数值,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的来源,包括:
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的多种元素的元素含量及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的多种元素的元素含量,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的第一来源;
基于预设的硅质充填物的来源与硅质充填物的硅氧同位素的含量及产状三者之间的对应关系,根据所述硅质充填物样品的硅氧同位素的含量,结合所述硅质充填物样品的产状,确定所述硅质充填物样品的第二来源;
当所述第一来源与所述第二来源相同时,将该相同的来源作为所述硅质充填物样品的来源。
12.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,在确定出所述硅质充填物样品的来源之后,且在将所述硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源之前,还包括:
根据目标储层的地质条件,判断所确定出的硅质充填物样品的来源的置信度是否满足预设条件,当所述置信度满足预设条件时,再将所述硅质充填物样品的来源作为目标储层中硅质充填物的来源。
13.根据权利要求1所述的硅质充填物来源的确定方法,其特征在于,在确定出目标储层中硅质充填物的来源之后,还包括:
根据目标储层中硅质充填物的来源确定目标储层中硅质充填物的成因。
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