CN115963335A

CN115963335A - 测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质

Info

Publication number: CN115963335A
Application number: CN202111184022.4A
Authority: CN
Inventors: 韦守龙; 杜浩; 刘石磊; 顾海洲; 赵如如
Original assignee: ZTE Corp
Current assignee: ZTE Corp
Priority date: 2021-10-11
Filing date: 2021-10-11
Publication date: 2023-04-14

Abstract

本发明实施例提供一种测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质，属于电磁屏蔽技术领域。该方法包括：在无源天线放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得待测机箱的目标屏蔽接收值；在无源天线未放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，以及控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得直通接收值；根据目标屏蔽接收值和直通接收值确定待测机箱的屏蔽效能。本发明实施例能够实现小型机箱屏蔽效能的自动化测试，提升测试效率和精度。

Description

测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质

技术领域

本发明涉及电磁屏蔽技术领域，尤其涉及一种测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质。

背景技术

机箱的屏蔽效能是衡量机箱EMC(电磁兼容)性能一项重要指标。在标准GJB5240、IEC61587-3中描述了机箱屏蔽效能的测试方法，均采用无源天线内置于机箱的方式。这种方式有两点不足：1)天线尺寸无法满足小型机箱的要求，因为连最小的无源天线-球形偶极子天线，尺寸也有100mm，而常用的2U服务器机箱高度87.6mm，使得天线无法内置于机箱中；2)天线采用的是用于高频(如1-6GHz)的偶极子天线，频率密度太低，通常是间隔250MHz有1个频点，这种频率间隔，无法观察到整个频段上的屏效规律。

为此，相关技术中采用在机箱内放置无源天线，通过外置信号源注入天线的方式测试机箱的屏蔽效能。然而，由于信号源扫频输出、接收机扫频输入，在两台设备非同步的条件下测试结果会不准确，如果采用逐个单点测试，测试效率则太低；该方式无源天线采用的是环天线，频率上限只到3GHz，测试精度不高。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提供一种测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质，旨在实现小型机箱屏蔽效能的自动化测试，提升测试效率和测试精度。

第一方面，本发明实施例提供一种测试系统，包括：

无源天线，设置在屏蔽室内，所述无源天线能够设置在待测机箱内；

接收天线，设置在所述屏蔽室内；

信号源，设置在控制室内，与所述无源天线连接，用于产生信号并通过所述无源天线发射；

接收机，设置在所述控制室内，与所述接收天线连接，用于接收所述接收天线接收到的信号；

测试设备，设置在所述控制室内，分别与所述信号源和所述接收机通信连接，

其中，所述测试设备用于根据所述无源天线未放置在所述待测机箱内的信号和所述无源天线放置在所述待测机箱内的信号，确定所述待测机箱的屏蔽效能。

第二方面，本发明实施例提供一种机箱屏蔽效能测试方法，应用于所述的测试系统，包括：

在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值；

在所述无源天线未放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得直通接收值；

根据所述目标屏蔽接收值和所述直通接收值确定所述待测机箱的屏蔽效能。

第三方面，本发明实施例还提供一种测试设备，所述测试设备包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如本发明说明书提供的任一项机箱屏蔽效能测试方法的步骤。

第四方面，本发明实施例还提供一种存储介质，用于计算机可读存储，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如本发明说明书提供的任一项机箱屏蔽效能测试方法的步骤。

本发明实施例提供一种测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质，本发明实施例通过测试系统，在无源天线放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，以及控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得待测机箱的目标屏蔽接收值；在无源天线未放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，以及控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得直通接收值；根据目标屏蔽接收值和直通接收值确定待测机箱的屏蔽效能。测试系统采用近场特性与屏效测试标准中的有源天线相同的无源天线，适用于高度小于2U的小型机箱，能够满足小型机箱的测试需求。在测试时信号源和接收机分别在预设测试频段扫频输出和扫频输入，保证了两台设备的同步，提升了测试效率，同时预设测试频段可以更为广泛，能够提升测试精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种单极子天线的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种机箱屏蔽效能测试方法的流程示意图；

图4为图1中的机箱屏蔽效能测试方法的子步骤流程示意图；

图5为实施本实施例提供的机箱屏蔽效能测试方法的一测试场景示意图；

图6为本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意框图；

主要元件及符号说明：

100、测试系统；10、无源天线；20、接收天线；30、信号源；40、接收机；50、测试设备；60、屏蔽室；70、待测机箱；71、旋转装置；80、控制室；90、同轴线缆。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。

应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

本发明实施例提供一种测试系统、机箱屏蔽效能测试方法、测试设备及存储介质。

下面结合附图，对本发明的一些实施例作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参阅图1，图1为本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图。

如图1所示，该测试系统100包括无源天线10、接收天线20、信号源30、接收机40和测试设备50。

无源天线10设置在屏蔽室60内，无源天线能够设置在待测机箱70内；接收天线20设置在屏蔽室60内；信号源30设置在控制室80内，与无源天线10连接，用于产生信号并通过无源天线10发射；接收机40设置在控制室80内，与接收天线20连接，用于接收接收天线20接收到的信号；测试设备50设置在控制室80内，分别与信号源30和接收机40通信连接，其中，测试设备50用于根据无源天线10未放置在待测机箱70内的信号和无源天线10放置在待测机箱70内的信号，确定待测机箱70的屏蔽效能。

其中，由于信号源30和接收机40本身都会对外发射干扰，为了使接收天线20只接收无源天线10发射的信号，将信号源30和接收机40设置在与屏蔽室60相邻的控制室80内，增强测试时的抗干扰能力。

在一实施例中，无源天线10与信号源30通过同轴线缆90连接，接收天线20和接收机40通过同轴线缆90连接。

无源天线10作为发射天线，用于接收信号源30产生的信号，并将接收到的信号发射至屏蔽室60内。无源天线10分为未放置在待测机箱70内和放置在待测机箱70内两种情形，当需要带机箱测试待测机箱70的屏蔽接收值时无源天线10放置在待测机箱70内，当需要无机箱测试直通接收值时无源天线10未放置在待测机箱70内。

在一实施例中，无源天线10包括单极子天线。相比于环天线，单极子天线的近场以电场为主，近场波阻抗属于高阻抗，而环天线近场以磁场为主，近场波阻抗属于低阻抗，由孔缝屏效理论可知，孔缝阻抗与波阻抗的匹配状态对电磁波的反射损耗影响很大，进而影响屏效，单极子天线的引入增加了屏效测试的一种辐射源状态，可以更全面的评价机箱屏效。

在一实施例中，如图2所示，图2为单极子天线的结构示意图，单极子天线通过剥去同轴线缆90的屏蔽层而保留内部的导体和绝缘层得到的，或者，单极子天线通过剥去同轴线缆90的屏蔽层和绝缘层而保留内部的导体得到的。

在一实施例中，为了满足小尺寸待测机箱的测试要求，确保单极子天线能够顺利放置在待测机箱70内，单极子天线的长度小于或等于30毫米。当然，在具体实施时可以根据待测机箱的尺寸选择单极子天线的尺寸。

接收天线20固定在屏蔽室60内，用于接收无源天线10发射在屏蔽室60内的信号，并将接收到的信号发送至接收机40。

考虑到信号源30扫频输出，接收机40扫频输入，假如在信号源30输出a频点时，接收机40在这一时刻可能在检测b频点的干扰信号，此时由于信号源30没有输出b频点的干扰，导致接收机40检测到b频点的干扰是底噪，如此在整个频段上，接收机40只能检测到无源天线发出的个别频点的信号，导致检测结果不准确。为了提升测试精度，以及实现同步地自动化测试，提升测试效率，对信号源30的参数和接收机40的参数进行合理设置。

示例性的，信号源30设有控制面板，测试人员可以通过控制面板预先对信号源30的参数进行设置。其中，信号源30的参数包括测试频段FL-FH、单个频点的驻留时间T_d、频点个数N和频率间隔F。

示例性的，预设测试频段FL-FH可选为1-6GHz，也可以是其他任意能测试的更为广泛的频段；单个频点的驻留时间T_d可选为信号源30能设置的最小时间，一般小于2毫秒；预设频率间隔F可以根据实际需求灵活设置，比如1秒；频点个数N则可以根据预设频点个数计算公式N＝1+(FH-FL)/F计算的得到，其中，FH表示预设测试频段的上限截止频率，所述FL表示预设测试频段的下限截止频率。

示例性的，接收机40设有控制面板，测试人员可以通过控制面板预先对接收机40的参数进行设置。其中，接收机40的参数包括测试频段FH-FL(也就是接收机40的扫频频段，与信号源30的测试频段相同)、单个频点的驻留时间NTd或以上，单个频点的扫频次数设置为1次或以上。

示例性的，为了便于测试人员操作，控制面板可以为触控面板。

测试设备50可以是平板电脑、笔记本电脑、台式电脑等终端，测试设备50可以通过无线通信方式，分别与信号源30和接收机40进行通信。

在一实施例中，该测试系统还包括旋转装置71，旋转装置71设置在屏蔽室60内，用于搭载待测机箱70并调整待测机箱70的位置。示例性的，待测机箱70与接收天线20的距离可选为3米。

其中，旋转装置71可以带动待测机箱70绕待测机箱70的中轴线按照预设间隔角度进行旋转，旋转范围为0～360度，预设间隔角度可选为小于或等于1度，从而实现对待测机箱70的全面测试。

示例性的，测试设备50可以通过无线通信方式与旋转装置71进行通信，从而由测试设备50控制旋转装置71带动待测机箱70绕待测机箱70的中轴线按照预设间隔角度进行旋转。当然，也可以由测试人员操作旋转装置71带动待测机箱70进行旋转。

以下将结合上述测试系统对本发明实施例提供的机箱屏蔽效能测试方法进行详细介绍。

其中，该机箱屏蔽效能测试方法可应用于测试设备中。

请参照图3，图3为本发明实施例提供的一种机箱屏蔽效能测试方法的流程示意图。

如图3所示，该机箱屏蔽效能测试方法包括步骤S101至步骤S103。

步骤S101、在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值。

在无源天线放置在待测机箱内时，控制旋转装置带动待测机箱绕待测机箱的中轴线按照预设间隔角度进行旋转，使得待测机箱达到各个需要测试的角度，便于对待测机箱进行全面测试。

在调节待测机箱达到每个需要测试的角度后，测试设备向信号源发送控制指令，控制信号源产生预设测试频段FL-FH的扫频信号，并通过同轴线缆将扫频信号传输至无源天线，无源天线接收扫频信号并将接收到扫频信号向屏蔽室发射，以供接收天线接收。

与此同时，测试设备向接收机发送控制指令，控制接收机对预设测试频段进行扫频，以通过同轴线缆接收接收天线接收到的目标频点的信号，得到待测机箱在每个需要测试的角度所对应的屏蔽接收值。

可以理解的是，对待测机箱的屏蔽效能进行测试时，信号源产生的扫频信号包括目标频点的信号，接收机能够检测目标频点的信号。

将各个屏蔽接收值进行比对，选取最小的屏蔽接收值，作为待测机箱的目标屏蔽接收值。

在一实施例中，参照图4，步骤S101包括：子步骤S1011至子步骤S1012。

子步骤S1011，在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号并通过所述无源天线发射，其中，所述N个频点包括目标频点，单个频点的驻留时间设为T_d。

在调节待测机箱达到每个需要测试的角度后，测试设备向信号源发送控制指令，控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段FL-FH内的N个频点的扫频信号，并通过同轴线缆将扫频信号传输至无源天线，无源天线接收扫频信号并将接收到扫频信号向屏蔽室发射，以供接收天线接收。

在一实施例中，所述控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号，具体为：获取预设频点个数计算公式N＝1+(FH-FL)/F，其中，所述FH表示预设测试频段的上限截止频率，所述FL表示预设测试频段的下限截止频率，所述F表示预设频率间隔；将所述预设测试频段和所述预设频率间隔代入所述预设频点个数计算公式进行计算，得到频点个数N；控制所述信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号。

即，根据预设测试频段和预设频率间隔，结合预设频点个数计算公式N＝1+(FH-FL)/F，即可计算得到信号源的频点个数N，从而控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号。

子步骤S1012、控制所述接收机在NT_d的时间段内对所述预设测试频段进行扫频，以接收所述目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值。

与此同时，为了确保接收机接收到接收天线接收到的目标频点的信号，测试设备向接收机发送控制指令，控制接收机在NT_d的时间段内对预设测试频段FL-FH进行扫频，从而通过同轴线缆接收接收天线接收到的目标频点的信号，得到待测机箱在每个需要测试的角度所对应的屏蔽接收值。

为更好理解上述实施例，举例进行说明。比如在1-6GHz频段测试待测机箱的屏蔽效能，信号源扫频输出，按照1GHz的间隔产生1-6GHz频段内的6个频点1GHz、2GHz、3GHz、4GHz、5GHz、6GHz的扫频信号，所谓扫频输出，可以简单理解为，随着时间步进输出，比如3点输出1GHz，3点1分输出2GHz，3点2分输出3GHz，3点3分输出4GHz，3点4分输出5GHz，3点54分输出5GHz。这样就存在一个问题，当信号源输出1GHz时，此刻接收机只能接收目标频点2GHz的干扰，这样信号源输出的信号就接收机检测不到了，如果信号源在1-6GHz频段扫频输出时，在信号源输出一个周期的时间段内，接收机一直在某一个频点等待，则一定等收到这个频点的干扰，比如信号源在1GHz、2GHz、3GHz、4GHz、5GHz、6GHz这6个频点，每个频点停留的时间是Td，6个频点是6Td，接收机在6Td的时间段内一直在2GHz的频点扫描，那一定能扫到信号源发出的2GHz信号。可以理解的是，这些频点只是举例，实际上可以有上万个频点。

步骤S102、在所述无源天线未放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得直通接收值。

在无源天线未放置在待测机箱内时，测试设备向信号源发送控制指令，控制信号源产生预设测试频段FL-FH的扫频信号，并通过同轴线缆将扫频信号传输至无源天线，无源天线接收扫频信号并将接收到扫频信号向屏蔽室发射，以供接收天线接收。与此同时，测试设备向接收机发送控制指令，控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的扫频信号，得到直通接收值。

步骤S103、根据所述目标屏蔽接收值和所述直通接收值确定所述待测机箱的屏蔽效能。

最终，根据待测机箱的目标屏蔽接收值和直通接收值，即可确定待测机箱的屏蔽效能。

在一实施例中，步骤S103具体为：计算所述直通接收值与所述目标屏蔽接收值的差值，得到所述待测机箱的屏蔽效能。

即，计算直通接收值与目标屏蔽接收值的差值，即可得到待测机箱的屏蔽效能。例如，直通接收值为B1，目标屏蔽接收值为A1，那么待测机箱的屏蔽效能SE＝B1-A1。

请参照图5，图5为实施本实施例提供的机箱屏蔽效能测试方法的一测试场景示意图，如图5所示，在完成无源天线的制造以及测试系统的搭建后，为了提升精度，以及实现同步地自动化测试，分别对信号源的参数和接收机的参数进行合理设置，在设置完参数后，即可利用上述测试系统带机箱测试机箱的目标屏蔽接收值，以及不带机箱测试直通接收值，对目标屏蔽接收值和直通接收值进行处理，即可确定机箱的屏蔽效能。

上述实施例提供的机箱屏蔽效能测试方法，通过测试系统，在无源天线放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，以及控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得待测机箱的目标屏蔽接收值；在无源天线未放置在待测机箱内时，控制信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过无源天线发射，以及控制接收机对预设测试频段进行扫频，以接收接收天线接收到的目标频点的信号获得直通接收值；根据目标屏蔽接收值和直通接收值确定待测机箱的屏蔽效能。测试系统采用近场特性与屏效测试标准中的有源天线相同的无源天线，适用于高度小于2U的小型机箱，能够满足小型机箱的测试需求。在测试时信号源和接收机分别在预设测试频段扫频输出和扫频输入，保证了两台设备的同步，提升了测试效率，同时预设测试频段可以更为广泛，能够提升测试精度。

请参阅图6，图6为本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意性框图。

如图6所示，测试设备50包括处理器501和存储器502，处理器501和存储器502通过总线503连接，该总线比如为I2C(Inter-integrated Circuit)总线。

具体地，处理器501用于提供计算和控制能力，支撑整个测试设备的运行。处理器501可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器501还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

具体地，存储器502可以是Flash芯片、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)磁盘、光盘、U盘或移动硬盘等。

本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本发明实施例方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明实施例方案所应用于其上的测试设备的限定，具体的服务器可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

其中，所述处理器用于运行存储在存储器中的计算机程序，并在执行所述计算机程序时实现本发明实施例提供的任意一种所述的机箱屏蔽效能测试方法。

在一实施例中，所述处理器用于运行存储在存储器中的计算机程序，并在执行所述计算机程序时实现如下步骤：

在一实施例中，所述处理器在实现所述在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值时，用于实现：

在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号并通过所述无源天线发射，其中，所述N个频点包括目标频点，单个频点的驻留时间设为T_d；以及

控制所述接收机在NT_d的时间段内对所述预设测试频段进行扫频，以接收所述目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值。

在一实施例中，所述处理器在实现所述根据所述目标屏蔽接收值和所述直通接收值确定所述待测机箱的屏蔽效能时，用于实现：

计算所述直通接收值与所述目标屏蔽接收值的差值，得到所述待测机箱的屏蔽效能。

在一实施例中，所述处理器在实现所述控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号时，用于实现：

获取预设频点个数计算公式N＝1+(FH-FL)/F，其中，所述FH表示预设测试频段的上限截止频率，所述FL表示预设测试频段的下限截止频率，所述F表示预设频率间隔；

将所述预设测试频段和所述预设频率间隔代入所述预设频点个数计算公式进行计算，得到频点个数N；

控制所述信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号。

需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的测试设备的具体工作过程，可以参考前述机箱屏蔽效能测试方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本发明实施例还提供一种存储介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如本发明实施例说明书提供的任一项机箱屏蔽效能测试方法的步骤。

其中，所述存储介质可以是前述实施例所述的测试设备的内部存储单元，例如所述测试设备的硬盘或内存。所述存储介质也可以是所述测试设备的外部存储设备，例如所述测试设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(SecureDigital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施例中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

应当理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。以上所述，仅为本发明的具体实施例，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种测试系统，其特征在于，包括：

接收天线，设置在所述屏蔽室内；

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

旋转装置，所述旋转装置设置在所述屏蔽室内，所述旋转装置用于搭载所述待测机箱并调整所述待测机箱的位置。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述无源天线与所述信号源通过同轴线缆连接，所述接收天线和所述接收机通过同轴线缆连接。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述无源天线包括单极子天线，所述单极子天线通过剥去同轴线缆的屏蔽层而保留内部的导体和绝缘层得到的，或者，所述单极子天线通过剥去同轴线缆的屏蔽层和绝缘层而保留内部的导体得到的。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述单极子天线的长度小于或等于30毫米。

6.一种机箱屏蔽效能测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至5中所述的测试系统，包括：

7.根据权利要求6所述的机箱屏蔽效能测试方法，其特征在于，所述在所述无源天线放置在所述待测机箱内时，控制所述信号源产生预设测试频段内的扫频信号并通过所述无源天线发射，以及控制所述接收机对预设测试频段进行扫频，以接收所述接收天线接收到的目标频点的信号获得所述待测机箱的目标屏蔽接收值，包括：

8.根据权利要求6中所述的机箱屏蔽效能测试方法，其特征在于，所述根据所述目标屏蔽接收值和所述直通接收值确定所述待测机箱的屏蔽效能，包括：

9.根据权利要求7所述的机箱屏蔽效能测试方法，其特征在于，所述控制信号源按照预设频率间隔产生预设测试频段内的N个频点的扫频信号，包括：

10.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求6至9中任一项所述机箱屏蔽效能测试方法的步骤。

11.一种存储介质，用于计算机可读存储，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现权利要求6至9中任一项所述的机箱屏蔽效能测试的方法的步骤。