CN115963136A - 基于x射线荧光技术的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了基于X射线荧光技术的检测方法，所述基于X射线荧光技术的检测方法：在X射线源和待测品之间设置观察板，所述观察板的正面具有荧光物质层；所述观察板的正面具有第一标记点，反面具有第二标记点，所述第一标记点、第二标记点和待测品上的激发点共线；X射线源工作，发出的X射线入射到所述荧光物质层，所述荧光物质层将X射线转换为可见光，获得X射线在所述正面上的光斑位置；调节所述X射线源，使得光斑移动到所述第一标记点；撤除所述观察板，所述X射线源发出的X射线入射到所述激发点。本发明具有检测成本低、效率高等优点。
Description
技术领域
本发明涉及XRF技术，特别涉及基于X射线荧光技术的检测方法。
背景技术
X射线荧光分析仪中经常需要用到小点检测模式检测细小部件，对于远小于仪器检测窗口范围的X射线小光斑，肉眼无法直接观察光斑的形状、大小及位置。
传统测量X射线光斑的方法是：在实验暗室内取一张用黑纸包裹的X射线光斑测试黄纸，将其放入需要确定X射线光斑位置的区域，实验人员退出实验暗室、关灯、开机，X射线射向黄纸一定时间后，关机，开灯，实验人员进入实验室，打开包裹的黑纸，在黄纸上寻找受X射线照射部位显示的黑点，此方法费时费工，实验人员不能实时观察X射线光斑。
为了解决上述不足，使用X射线照相机，X射线照相机一般包括X射线图像增强器和CMOS图像传感器，虽然这种利用X射线照相机测量X射线光斑的方法准确快速，但是不足在于：
价格太高，导致使用成本增加。
发明内容
为解决上述现有技术方案中的不足，本发明提供了一种基于X射线荧光技术的检测方法。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
基于X射线荧光技术的检测方法，所述基于X射线荧光技术的检测方法：
在X射线源和待测品之间设置观察板，所述观察板的正面具有荧光物质层；所述观察板的正面具有第一标记点，反面具有第二标记点，所述第一标记点、第二标记点和待测品上的激发点共线；
X射线源工作，发出的X射线入射到所述荧光物质层，所述荧光物质层将X射线转换为可见光，获得X射线在所述正面上的光斑位置；
调节所述X射线源，使得光斑移动到所述第一标记点；
撤除所述观察板，所述X射线源发出的X射线入射到所述激发点。
与现有技术相比，本发明具有的有益效果为：
1.检测成本低；
利用设置的(具有荧光物质层、第一标记点和第二标记点)观察板，准确地获得小X射线光斑在观察板上的位置，为光斑位置的调整打下坚实基础，观察板面积小、成本低，与X射线照相机相比，显著地降低了检测成本；
2.检测效率高；
利用观察板获得X射线光斑位置，从而快速地将光斑调节到第一标记点位置，从而准确地入射到待测品的激发点，特别适应与小体积待测品(如电路焊接点、细钢丝、戒指、项链等)的检测中；
观察板正面刻线的存在，有助于快速、准确地调节光斑位置，进一步地提高了总体检测效率；
3.准确性高；
通过光斑位置识别和调节，使得光斑准确地入射到待测品的激发点，提高了检测的准确性。
附图说明
参照附图，本发明的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本发明的技术方案，而并非意在对本发明的保护范围构成限制。图中：
图1是根据本发明实施例1的基于X射线荧光技术的检测方法的示意图。
具体实施方式
图1和以下说明描述了本发明的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本发明。为了解释本发明技术方案，已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本发明的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本发明的多个变型。由此，本发明并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。
实施例1：
本发明实施例的基于X射线荧光技术的检测方法，如图1所示，所述基于X射线荧光技术的检测方法为：
在X射线源和电路焊接点之间设置观察板，观察板临着电路焊接点设置，所述观察板的正面具有荧光物质层，如磷、铂氰化钡、硫化锌镉或钨酸钙中的至少一种；所述观察板的正面中心具有第一标记点，反面中心具有第二标记点，所述第一标记点、第二标记点和电路焊接点上的激发点共线；
X射线源工作，发出的X射线入射到所述荧光物质层，所述荧光物质层将X射线转换为可见光，获得X射线在所述正面上的光斑位置；
调节所述X射线源，如直接调节X射线源的位置，使得光斑移动到所述第一标记点；
撤除所述观察板，所述X射线源发出的X射线入射到所述激发点。
实施例2：
根据本发明实施例的基于X射线荧光技术的检测方法，与实施例1不同的是：
1.在正面具有横纵二个维度的刻线，形成网格状刻线，其中，横纵二个刻线分别穿过第一标记点；在背面，仅具有横纵二个刻线，该二个刻线分别穿过第二标记点。
2.在检测中，待测品是戒指，根据光斑在观察板正面网格状刻线中的位置，获得光斑和第一标记点间的偏差，包括距离和方向偏差，有助于快速调整X射线源的位置，从而光斑快速、准确地入射到所述第一标记点。
实施例3：
根据本发明实施例的基于X射线荧光技术的检测方法，与实施例2不同的是：
待测品是项链，调整X射线荧光分析仪的位置，从而调整光斑在观察板上的位置。
Claims (4)
1.基于X射线荧光技术的检测方法，所述基于X射线荧光技术的检测方法：
在X射线源和待测品之间设置观察板，所述观察板的正面具有荧光物质层；所述观察板的正面具有第一标记点，反面具有第二标记点，所述第一标记点、第二标记点和待测品上的激发点共线；
X射线源工作，发出的X射线入射到所述荧光物质层，所述荧光物质层将X射线转换为可见光，获得X射线在所述正面上的光斑位置；
调节所述X射线源，使得光斑移动到所述第一标记点；
撤除所述观察板，所述X射线源发出的X射线入射到所述激发点。
2.根据权利要求1所述的基于X射线荧光技术的检测方法，其特征在于，所述荧光物质包括磷、铂氰化钡、硫化锌镉或钨酸钙。
3.根据权利要求1所述的基于X射线荧光技术的检测方法，其特征在于，所述正面具有横纵二个维度的刻线。
4.根据权利要求2所述的基于X射线荧光技术的检测方法，其特征在于，所述调节的方式为：
直接调节X射线源的位置或者X射线荧光分析仪的位置。
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2022
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