CN115934439A - 大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
Description
技术领域
本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质。
背景技术
目前，在芯片出厂前，会经过一系列的自动化测试，以保证产品的质量。在大批量的芯片自动化测试过程中，往往同时使用到多个机台，以提高测试效率。每个机台会有多个测试站点(Site)，机台会自动将芯片放置到不同的Site中，并将测试通过和不通过的芯片分开收集，同时，测试机台会与测试主机进行通信，收集每个Site对应的测试主机发送的测试结果数据和测试日志，保存每条测试结果，如图1所示。其中，测试站点编号(图1中的Site1，Site2，Site3)为索引。
然而每轮测试的结果数据往往相对独立，且每轮测试中的结果数据也相对无序，还会在测试主机卡死或者通信出现异常时，测试结果数据不完整，导致难以统计真实的测试情况。
现有的解决方案是由生产操作人员手动操作机台进行数据导出，或者批次测试结束时机台自动进行数据导出，此时该自动化机台会将在某个测试时间段内，测试的某个批次的芯片的测试结果数据进行简单的汇总和记录，并写在一个纯文本的统计文件中。
但是，现有解决方案只能统计一个机台某段时间内的测试结果，仅有一个统计维度，不能跨机台、测试时间段、测试程序版本、批次号和跨测试轮次等维度来进行统计。另外，现有解决方案只能根据机台获得的测试结果数据进行汇总，而未接收到测试结果时，统计将不完整。此外，现有解决方案仅能支持将结果直接写在一个纯文本的统计文件中，且信息繁杂，不是结构化的数据，不方便进行后续的数据分析。
发明内容
为了解决上述技术缺陷之一，本申请提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质。
本申请第一个方面，提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，方法包括：
建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；
进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入所述结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
存储存入数据的结构化数据表；
根据存储的结构化数据表进行统计分析。
可选地，所述结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
可选地，所述方法还包括：
将每轮测试的过程数据存储至日志中；
所述将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层，包括：
对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常；
若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入所述结构化数据表的底层。
可选地，所述确定该轮测试是否正常，包括：
解析该轮的测试记录；
若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常；
若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
可选地，所述存储存入数据的结构化数据表之后，还包括：
通过看板展示结构化数据表中的数据。
可选地，所述结构化数据表为散列表。
可选地，所述建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，包括：
创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层；
在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层；
在中间层下，以测试的索引为键，以对应测试的结果数据为值建立底层。
可选地，所述索引为测试站点编号。
本申请提供一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1为一种现有的测试结构图；
图2为本申请实施例提供的一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法的流程示意图；
图3为本申请实施例提供的一种结构化数据表的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请实施例中的技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图对本申请的示例性实施例进行进一步详细的说明，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是所有实施例的穷举。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在实现本申请的过程中，发明人发现，现有的解决方案是由生产操作人员手动操作机台进行数据导出，或者批次测试结束时机台自动进行数据导出，此时该自动化机台会将在某个测试时间段内，测试的某个批次的芯片的测试结果数据进行简单的汇总和记录，并写在一个纯文本的统计文件中。
但是，现有解决方案只能统计一个机台某段时间内的测试结果，仅有一个统计维度，不能跨机台、测试时间段、测试程序版本、批次号和跨测试轮次等维度来进行统计。另外，现有解决方案只能根据机台获得的测试结果数据进行汇总，而未接收到测试结果时，统计将不完整。此外，现有解决方案仅能支持将结果直接写在一个纯文本的统计文件中，且信息繁杂，不是结构化的数据，不方便进行后续的数据分析。
针对上述问题，本申请实施例中提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
参见图2，本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，实现过程如下：
201，建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表。
结构化数据表可以为散列表，或者其他形式的表。
下面以结构化数据表为散列表为例，介绍步骤201的实现过程：
散列表(Hash Table，也叫哈希表或词典)的数据结构，每个元素由一个个“键值对”组成，表中的“键”是唯一的，可通过“键”在表中查找“值”。本步骤嵌套使用了三层的散列表，以下使用层n代表当前“键-值对”的位置，例如图3所示。
1、创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层。
其中，结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
以图3为例，创建一个全局的散列表(位置为层1)。
2、在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层。
以图3为例，读取所有需要被统计的测试轮次数据到内存中，将每个SUM文件(每一轮测试后保存的测试记录文件)作为表的“键”，值为一个空的散列表(位置为层2)，即嵌套使用散列表，等待在新的表中填入内容。
3、在中间层下，以测试的索引为键，以对应的测试结果数据为值建立底层。
其中，索引为测试站点(Site)编号，如图3中的Site n。
在层2中，以Site编号为“键”，将每个Site测试数据建立一个个空的层3。
最后解析每条测试记录，往层3中填入每次测试结果的计数。当结果记录完整时直接进行填入并计数；当结果数据不完整时，通过Site号、开始测试时间和结束测试时间等内容，找到对应的过程数据，解析该过程数据来补全结果信息，以此完成层3中的内容。
如此，就在内存中构建了一组结构化的数据，最后可以将这些结构化的数据，使用数据看板(如网页、制表、制图等)进行展示，或者导出到便于统计的形式中(如数据库或者Excel)。
通过步骤201可以在计算机内存中建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，数据表的顶层大小等于要综合统计的多少轮的不同测试数据，内容初始化为空。
202，进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层。
其中，各轮测试的结果数据主要内容为某机台某轮测试中保留的记录，每一条记录一颗芯片的一次测试结果情况，当测试流程异常时，此信息会不完整。自动化机台还会额外记录批次号、机台号、测试程序版本、测试开始时间、测试结束时间、测试轮次等附加信息。
进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层。另外，还会将将每轮测试的过程数据存储至日志中。
其中，索引为测试站点编号，例如第一轮测试的索引为第一轮测试的测试站点编号。
附加信息如：记录批次号、机台号、测试程序版本、测试开始时间、测试结束时间、测试轮次等。
过程数据为保留了测试过程中，测试机台与测试主机之间的通信数据。
例如将附加信息和测试站点编号填入图3所示的散列表的层2，将结果数据填入图3所示的散列表的层3。
另外，在将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层过程中，对于任一轮测试，均会执行如下过程：
1、确定该轮测试是否正常。
例如，解析该轮的测试记录；若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常；若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
2、若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入结构化数据表的底层；
3、若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入结构化数据表的底层。
例如，1)从日志中获取不完整的测试记录所对应的过程数据。2)根据过程数据确定测试过程的内容。3)根据测试过程的内容确定测试的结果数据。4)将得到的结果数据存入结构化数据表的底层。
通过步骤203，可以解析每一条测试记录，如果记录完整，直接将其填入数据表的底层；如果记录不完整，找到对应的测试过程数据，解析该测试过程的内容，得出测试结果并填入到数据表的底层。
203，存储存入数据的结构化数据表。
存储存入数据的结构化数据表之后，还会通过看板展示结构化数据表中的数据。
204，根据存储的结构化数据表进行统计分析。
对于存入数据的结构化数据表，本实施例提供的方法会将结构化的数据表使用数据看板进行展示，或者保存为便于统计的文件。
本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，针对现有技术只能单独统计一个机台某段时间内的结果，不能跨机台、测试时间段、产品批次和测试版本等维度进行汇总的问题，综合不同的机台(甚至是不同型号的机台)、不同时间段、不同测试版本、不同批次、不同测试轮次的测试数据，将它们都统计在内，达成多维度的统计效果，使用人员可以按需进行过滤、合并所需的数据。
另外，本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，针对现有技术只能根据最终获得的测试结果数据进行汇总，无法利用测试过程数据，导致当最终无法收到测试结果时，统计将不完整的问题，充分利用过程数据来补充缺失的结果数据，使得统计变得完整。
此外，本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，针对现有技术仅能支持将结果直接写在一个纯文本的统计文件中，且信息繁杂，不是结构化的数据，不方便进行后续的数据分析的问题。汇总成结构化的数据，再使用数据看板进行演示、绘图和制表等，或者保存为便于统计分析的文件，方便后续进行大规模的数据分析，对指导生产有了更大的帮助。
本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，将测试机台保存的测试结果记录，和对应的测试过程数据相结合，得到更精准、更全面、结构化的数据，并使用数据看板将结果进行更精细展示的方法。本实施例提供的大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法具有使用方便，统计迅速的特点，可极大提升生产人员了解产品测试整体情况的速度。
本实施例提供一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本实施例提供的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
基于大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法的同一发明构思，本实施例提供一种电子设备，该电子设备包括：存储器，处理器，以及计算机程序。
其中，计算机程序存储在存储器中，并被配置为由处理器执行以实现上述大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法。
具体的，
建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表。
进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层。
存储存入数据的结构化数据表。
根据存储的结构化数据表进行统计分析。
可选地，结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
可选地，方法还包括：
将每轮测试的过程数据存储至日志中。
将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，包括：
对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常。
若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入结构化数据表的底层；
若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入结构化数据表的底层。
可选地，确定该轮测试是否正常，包括：
解析该轮的测试记录。
若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常。
若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
可选地，存储存入数据的结构化数据表之后，还包括：
通过看板展示结构化数据表中的数据。
可选地，结构化数据表为散列表。
可选地，建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，包括：
创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层。
在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层。
在中间层下，以测试的索引为键，以对应测试的结果数据为值建立底层。
可选地，索引为测试站点编号。
本实施例提供的电子设备，其上计算机程序被处理器执行以建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
基于大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法的同一发明构思，本实施例提供一种计算机，且其上存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行以实现上述大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法。
具体的，
建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表。
进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层。
存储存入数据的结构化数据表。
根据存储的结构化数据表进行统计分析。
可选地，结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
可选地，方法还包括：
将每轮测试的过程数据存储至日志中。
将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，包括：
对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常。
若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入结构化数据表的底层；
若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入结构化数据表的底层。
可选地，确定该轮测试是否正常，包括：
解析该轮的测试记录。
若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常。
若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
可选地，存储存入数据的结构化数据表之后，还包括：
通过看板展示结构化数据表中的数据。
可选地，结构化数据表为散列表。
可选地，建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，包括：
创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层。
在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层。
在中间层下，以测试的索引为键，以对应测试的结果数据为值建立底层。
可选地，索引为测试站点编号。
本实施例提供的计算机可读存储介质，其上的计算机程序被处理器执行以建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。本申请实施例中的方案可以采用各种计算机语言实现，例如，面向对象的程序设计语言Java和直译式脚本语言JavaScript等。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，其特征在于，所述方法包括：
建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；
进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入所述结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
存储存入数据的结构化数据表；
根据存储的结构化数据表进行统计分析。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
将每轮测试的过程数据存储至日志中；
所述将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层，包括：
对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常；
若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入所述结构化数据表的底层。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定该轮测试是否正常，包括：
解析该轮的测试记录；
若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常；
若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储存入数据的结构化数据表之后，还包括：
通过看板展示结构化数据表中的数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述结构化数据表为散列表。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，包括：
创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层；
在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层；
在中间层下，以测试的索引为键，以对应测试的结果数据为值建立底层。
8.根据权利要求1或7所述的方法，其特征在于，所述索引为测试站点编号。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器；
处理器；以及
计算机程序；
其中，所述计算机程序存储在所述存储器中，并被配置为由所述处理器执行以实现如权利要求1-8任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序；所述计算机程序被处理器执行以实现如权利要求1-8任一项所述的方法。
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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