CN115827415B - 系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质 - Google Patents

Abstract

本公开的实施例公开了系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质。该方法的一具体实施方式包括：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。该实施方式可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。

Description

系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质

技术领域

本公开的实施例涉及计算机技术领域，具体涉及系统进程性能测试方法、装置、设备和计算机介质。

背景技术

目前，为了测试系统中CPU每个进程的占用率，通常采用的方式为：设定CPU所有核的占用率是100%。

然而，采用上述方式通常会存在以下技术问题：

第一，设定CPU所有核的占用率是100%，设定单一，测试的CPU占用率不准确，容易导致后续程序无法正常执行；

第二，无法动态调整CPU占用率，导致对系统运行测试的准确度不高，容易导致后续程序无法正常执行。

该背景技术部分中所公开的以上信息仅用于增强对本发明构思的背景的理解，并因此，其可包含并不形成本国的本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的内容部分用于以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。本公开的内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。

本公开的一些实施例提出了系统进程性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质，来解决以上背景技术部分提到的技术问题中的一项或多项。

第一方面，本公开的一些实施例提供了一种系统进程性能测试方法，该方法包括：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

第二方面，本公开的一些实施例提供了一种系统进程性能测试装置，装置包括：获取单元，被配置成获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；第一设定单元，被配置成根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行单元，被配置成运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；第二设定单元，被配置成根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；测试单元，被配置成根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否大于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率大于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；将上述当前中央处理器利用率与上述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；将上述第一利用率周期时长与上述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；根据上述第一设定工作时间与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。

可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否等于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率等于0，将上述进程的中央处理器工作时间设定为上述运行周期时长。

可选地，第二设定单元，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否小于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率小于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；根据上述第一利用率周期时长与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。

可选地，测试单元，被进一步配置成：根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，确定上述进程的休眠时间；重启上述进程，按照上述设定中央处理器工作时间，执行上述进程；停止上述进程，以及记录执行上述进程的起始时间与停止时间；确定上述起始时间与上述停止时间之间的运行时间；根据上述运行时间与上述运行周期时长，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。

可选地，测试单元，被进一步配置成：将上述运行周期时长与上述运行时间的差值确定为实际休眠时间；响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间不同，获取上述进程当前的中央处理器利用率，作为测试中央处理器利用率；根据上述测试中央处理器利用率、上述运行周期时长与上述运行时间，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。

可选地，系统进程性能测试装置，还包括：生成单元，被配置成响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间相同，生成上述进程测试完成的测试信息。

第三方面，本公开的一些实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，其上存储有一个或多个程序，当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现上述第一方面任一实现方式所描述的方法。

第四方面，本公开的一些实施例提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一实现方式所描述的方法。

本公开的上述各个实施例具有如下有益效果：通过本公开的一些实施例的系统进程性能测试方法，可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。具体来说，容易导致后续程序无法正常执行的原因在于：设定CPU所有核的占用率是100%，设定单一，测试的CPU占用率不准确。基于此，本公开的一些实施例的系统进程性能测试方法，首先，获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率。其次，根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率。由此，可以根据需求设定中央处理器利用率。接着，运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率。然后，根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。由此，可以根据设定的运行周期时长与设定中央处理器利用率，设定测试的进程的中央处理器工作时间。最后，根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。由此，可以自定义设定中央处理器工作时间，便于测试进程的中央处理器利用率（CPU占用率）。从而，可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。

附图说明

结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。

图1是根据本公开的系统进程性能测试方法的一些实施例的流程图；

图2是根据本公开的系统进程性能测试装置的一些实施例的结构示意图；

图3是适于用来实现本公开的一些实施例的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例。相反，提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。

另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要注意，本公开中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。

需要注意，本公开中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。

本公开实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本公开。

图1是根据本公开的系统进程性能测试方法的一些实施例的流程图。示出了根据本公开的系统进程性能测试方法的一些实施例的流程100。该系统进程性能测试方法，包括以下步骤：

步骤101，获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率。

在一些实施例中，系统进程性能测试方法的执行主体（例如服务器）可以通过有线连接或无线连接的方式获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率。这里，进程标识可以是指待测试系统中需要测试的进程的标识。设定中央处理器利用率可以是预先设定的该进程标识对应的进程的中央处理器利用率。

步骤102，根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率。

在一些实施例中，上述执行主体可以根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率。即，可以将上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率设定为上述设定中央处理器利用率。即，设定中央处理器利用率可以是指上述进程的期望中央处理器利用率。

步骤103，运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率。

在一些实施例中，上述执行主体可以运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率。即，可以启动上述进程，以记录上述进程初始的中央处理器利用率。

步骤104，根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。

在一些实施例中，上述执行主体可以根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。中央处理器工作时间可以是指中央处理器在一个运行周期时长内的工作时长。

实践中，上述执行主体可以通过以下步骤设定上述进程的中央处理器工作时间：

第一步，确定上述当前中央处理器利用率是否大于0。

第二步，响应于确定上述当前中央处理器利用率大于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长。

第三步，将上述当前中央处理器利用率与上述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长。

第四步，将上述第一利用率周期时长与上述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间。

第五步，根据上述第一设定工作时间与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。即，可以将上述第一设定工作时间与上述运行周期时长中时长最短的参数设定为上述进程的中央处理器工作时间。

在一些实施例的一些可选的实现方式中，上述执行主体还可以通过以下步骤设定上述进程的中央处理器工作时间：

第一步，确定上述当前中央处理器利用率是否等于0。

第二步，响应于确定上述当前中央处理器利用率等于0，将上述进程的中央处理器工作时间设定为上述运行周期时长。

在一些实施例的一些可选的实现方式中，上述执行主体还可以通过以下步骤设定上述进程的中央处理器工作时间：

第一步，确定上述当前中央处理器利用率是否小于0。

第二步，响应于确定上述当前中央处理器利用率小于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长。

第三步，根据上述第一利用率周期时长与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。即，可以将上述第一利用率周期时长与上述运行周期时长中时长最短的参数设定为上述进程的中央处理器工作时间。

步骤105，根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

在一些实施例中，上述执行主体可以根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

实践中，上述执行主体可以通过以下步骤进行进程性能测试：

第一步，根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，确定上述进程的休眠时间。即，可以将上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间的差值确定为进程的休眠时间。

第二步，重启上述进程，按照上述设定中央处理器工作时间，执行上述进程。

第三步，停止上述进程，以及记录执行上述进程的起始时间与停止时间。

第四步，确定上述起始时间与上述停止时间之间的运行时间。即，运行时间可以是指运行时长。

第五步，根据上述运行时间与上述运行周期时长，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。

实践中，上述第五步，可以包括以下子步骤：

第一子步骤，将上述运行周期时长与上述运行时间的差值确定为实际休眠时间。实际休眠时间可以是指实际休眠时长。

第二子步骤，响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间不同，获取上述进程当前的中央处理器利用率，作为测试中央处理器利用率。

第三子步骤，根据上述测试中央处理器利用率、上述运行周期时长与上述运行时间，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。诸如，首先，可以确定测试中央处理器利用率是否大于0。其次，响应于确定上述测试中央处理器利用率大于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长。接着，将上述测试中央处理器利用率与上述运行时间的乘积确定为第二利用率周期时长。然后，将上述第一利用率周期时长与上述第二利用率周期时长的比值确定为目标设定工作时间。最后，根据上述目标设定工作时间与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。诸如，将上述目标设定工作时间与上述运行周期时长中时长最短的参数设定为上述进程的中央处理器工作时间。

可选地，响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间相同，生成上述进程测试完成的测试信息。

在一些实施例中，上述执行主体可以响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间相同，生成上述进程测试完成的测试信息。这里，测试信息可以表示进程测试完成。

上述相关内容作为本公开的一个发明点，解决了背景技术提及的技术问题二“容易导致后续程序无法正常执行。”。容易导致后续程序无法正常执行的因素往往如下：无法动态调整CPU占用率，导致对系统运行测试的准确度不高。如果解决了上述因素，就能达到后续程序正常执行的效果。为了达到这一效果，首先，根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，确定上述进程的休眠时间。其次，重启上述进程，按照上述设定中央处理器工作时间，执行上述进程。由此，便于对进程进行性能测试。接着，停止上述进程，以及记录执行上述进程的起始时间与停止时间。再接着，确定上述起始时间与上述停止时间之间的运行时间。由此，便于确定进程是否正常运行。然后，根据上述运行时间与上述运行周期时长，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。诸如，将上述运行周期时长与上述运行时间的差值确定为实际休眠时间；响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间不同，获取上述进程当前的中央处理器利用率，作为测试中央处理器利用率；根据上述测试中央处理器利用率、上述运行周期时长与上述运行时间，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。由此，可以在测试进程的过程中，动态调整进程的工作时间。从而，可以提升对CPU占用率测试的准确性，使得后续程序可以正常执行。

进一步参考图2，作为对上述各图所示方法的实现，本公开提供了一种系统进程性能测试装置的一些实施例，这些系统进程性能测试装置实施例与图1所示的那些方法实施例相对应，该系统进程性能测试装置具体可以应用于各种电子设备中。

如图2所示，一些实施例的系统进程性能测试装置200包括：获取单元201、第一设定单元202、运行单元203、第二设定单元204和测试单元205。其中，获取单元201，被配置成获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；第一设定单元202，被配置成根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行单元203，被配置成运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；第二设定单元204，被配置成根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；测试单元205，被配置成根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

可选地，第二设定单元204，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否大于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率大于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；将上述当前中央处理器利用率与上述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；将上述第一利用率周期时长与上述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；根据上述第一设定工作时间与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。

可选地，第二设定单元204，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否等于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率等于0，将上述进程的中央处理器工作时间设定为上述运行周期时长。

可选地，第二设定单元204，被进一步配置成：确定上述当前中央处理器利用率是否小于0；响应于确定上述当前中央处理器利用率小于0，将上述运行周期时长与上述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；根据上述第一利用率周期时长与上述运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间。

可选地，测试单元205，被进一步配置成：根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，确定上述进程的休眠时间；重启上述进程，按照上述设定中央处理器工作时间，执行上述进程；停止上述进程，以及记录执行上述进程的起始时间与停止时间；确定上述起始时间与上述停止时间之间的运行时间；根据上述运行时间与上述运行周期时长，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。

可选地，测试单元205，被进一步配置成：将上述运行周期时长与上述运行时间的差值确定为实际休眠时间；响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间不同，获取上述进程当前的中央处理器利用率，作为测试中央处理器利用率；根据上述测试中央处理器利用率、上述运行周期时长与上述运行时间，调整上述进程的设定中央处理器工作时间。

可选地，系统进程性能测试装置200，还包括：生成单元，被配置成响应于确定上述实际休眠时间与上述休眠时间相同，生成上述进程测试完成的测试信息。

可以理解的是，该系统进程性能测试装置200中记载的诸单元与参考图1描述的方法中的各个步骤相对应。由此，上文针对方法描述的操作、特征以及产生的有益效果同样适用于系统进程性能测试装置200及其中包含的单元，在此不再赘述。

下面参考图3，其示出了适于用来实现本公开的一些实施例的电子设备（例如，服务器）300的结构示意图。本公开的一些实施例中的电子设备可以包括但不限于诸如移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、PDA（个人数字助理）、PAD（平板电脑）、PMP（便携式多媒体播放器）、车载终端（例如车载导航终端）等等的移动终端以及诸如数字TV、台式计算机等等的固定终端。图3示出的电子设备仅仅是一个示例，不应对本公开的实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图3所示，电子设备300可以包括处理装置（例如中央处理器、图形处理器等）301，其可以根据存储在只读存储器（ROM）302中的程序或者从存储装置308加载到随机访问存储器（RAM）303中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM303中，还存储有电子设备300操作所需的各种程序和数据。处理装置301、ROM302以及RAM 303通过总线304彼此相连。输入/输出（I/O）接口305也连接至总线304。

通常，以下装置可以连接至I/O接口305：包括例如触摸屏、触摸板、键盘、鼠标、摄像头、麦克风、加速度计、陀螺仪等的输入装置306；包括例如液晶显示器（LCD）、扬声器、振动器等的输出装置307；包括例如磁带、硬盘等的存储装置308；以及通信装置309。通信装置309可以允许电子设备300与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。虽然图3示出了具有各种装置的电子设备300，但是应理解的是，并不要求实施或具备所有示出的装置。可以替代地实施或具备更多或更少的装置。图3中示出的每个方框可以代表一个装置，也可以根据需要代表多个装置。

特别地，根据本公开的一些实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本公开的一些实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的一些实施例中，该计算机程序可以通过通信装置309从网络上被下载和安装，或者从存储装置308被安装，或者从ROM302被安装。在该计算机程序被处理装置301执行时，执行本公开的一些实施例的方法中限定的上述功能。

需要说明的是，本公开的一些实施例中记载的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦式可编程只读存储器（EPROM或闪存）、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器（CD-ROM）、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开的一些实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本公开的一些实施例中，计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：电线、光缆、RF（射频）等等，或者上述的任意合适的组合。

在一些实施方式中，客户端、服务器可以利用诸如HTTP（HyperText TransferProtocol，超文本传输协议）之类的任何当前已知或未来研发的网络协议进行通信，并且可以与任意形式或介质的数字数据通信（例如，通信网络）互连。通信网络的示例包括局域网（“LAN”），广域网（“WAN”），网际网（例如，互联网）以及端对端网络（例如，ad hoc端对端网络），以及任何当前已知或未来研发的网络。

上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该电子设备中。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被该电子设备执行时，使得该电子设备：获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率；根据上述设定中央处理器利用率，设定上述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；运行上述进程，以初始化上述进程当前的中央处理器利用率；根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定上述进程的中央处理器工作时间；根据上述运行周期时长与上述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本公开的一些实施例的操作的计算机程序代码，上述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网（LAN）或广域网（WAN）——连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机（例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接）。

附图中的流程图和框图，图示了按照本公开各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本公开的一些实施例中的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。所描述的单元也可以设置在处理器中，例如，可以描述为：一种处理器包括获取单元、第一设定单元、运行单元、第二设定单元和测试单元。其中，这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定，例如，获取单元还可以被描述为“获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应上述待测试系统的设定中央处理器利用率的单元”。

本文中以上描述的功能可以至少部分地由一个或多个硬件逻辑部件来执行。例如，非限制性地，可以使用的示范类型的硬件逻辑部件包括：现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、专用标准产品（ASSP）、片上系统（SOC）、复杂可编程逻辑设备（CPLD）等等。

以上描述仅为本公开的一些较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开的实施例中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开的实施例中公开的（但不限于）具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (5)

1.一种系统进程性能测试方法，包括：

获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应所述待测试系统的设定中央处理器利用率；

根据所述设定中央处理器利用率，设定所述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；

运行所述进程，以初始化所述进程当前的中央处理器利用率；

根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间；

根据所述运行周期时长与所述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试；

其中，所述根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间，包括：

确定所述当前中央处理器利用率是否大于0；

响应于确定所述当前中央处理器利用率大于0，将所述运行周期时长与所述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；

将所述当前中央处理器利用率与所述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；

将所述第一利用率周期时长与所述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；

根据所述第一设定工作时间与所述运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间，包括：

确定所述当前中央处理器利用率是否等于0；

响应于确定所述当前中央处理器利用率等于0，将所述进程的中央处理器工作时间设定为所述运行周期时长。

3.一种系统进程性能测试装置，包括：

获取单元，被配置成获取待测试系统中需要设置的进程标识，以及获取对应所述待测试系统的设定中央处理器利用率；

第一设定单元，被配置成根据所述设定中央处理器利用率，设定所述进程标识对应的进程的中央处理器利用率；

运行单元，被配置成运行所述进程，以初始化所述进程当前的中央处理器利用率；

第二设定单元，被配置成根据当前中央处理器利用率和设定的运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间；第二设定单元，被进一步配置成：

确定所述当前中央处理器利用率是否大于0；

响应于确定所述当前中央处理器利用率大于0，将所述运行周期时长与所述设定中央处理器利用率的乘积确定为第一利用率周期时长；

将所述当前中央处理器利用率与所述进程的实际工作时长的乘积确定为第二利用率周期时长；

将所述第一利用率周期时长与所述第二利用率周期时长的比值确定为第一设定工作时间；

根据所述第一设定工作时间与所述运行周期时长，设定所述进程的中央处理器工作时间；

测试单元，被配置成根据所述运行周期时长与所述进程的设定中央处理器工作时间，进行进程性能测试。

4.一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，其上存储有一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-2中任一所述的方法。

5.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-2中任一所述的方法。

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