CN115826481B - 一种状态检测设备以及状态检测方法 - Google Patents

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Abstract

本说明书公开了一种状态检测设备以及状态检测方法,通过作为电路结构的逻辑控制模块可以使得主模块仅需要发送包含有需要进行状态检测的子模块的地址的状态检测信号,即可以根据状态检测信号,从接收到的各子模块发送的在位信号中检测出是否存在与状态检测信号相对应的子模块的在位信号,从而可以确定出需要进行状态检测的子模块是否在位,以避免每个子模块直接与主模块所在的接插件的一个针脚相连,以降低主模块所在的接插件的体积以及针脚数,进而可以提高控制设备的集成度,并降低成本。

Description

一种状态检测设备以及状态检测方法
技术领域
本说明书涉及工业控制技术领域,尤其涉及一种状态检测设备以及状态检测方法。
背景技术
随着工业控制技术的发展,人们对工业控制系统的集成度的要求也越来越高。
目前所使用的工业控制系统中的控制设备(即通讯传感模块),通常由作为主模块的一个通信卡件和作为各子模块的若干个IO卡件组成,其中,主模块和子模块都通过接插件固定在共底板上,主模块往往需要通过主模块所在的接插件上的每个针脚与每个子模块相连,以感知每个子模块是否在位,从而使得子模块的数量增加时主模块也需要相应的使用针脚数更多的接插件,而使用针脚数更多的接插件就会导致控制设备整体的体积增大,并且成本增加。
因此,如何提高控制设备的集成度,并降低成本则是一个亟待解决的问题。
发明内容
本说明书提供一种状态检测设备以及状态检测方法,以部分的解决现有技术存在的上述问题。
本说明书采用下述技术方案:
本说明书提供了一种状态检测设备,所述状态检测设备包括:主模块、各子模块、逻辑控制模块,所述逻辑控制模块的一端通过各地址信号线与所述主模块所在的接插件的针脚相连,所述逻辑控制模块的另一端通过每个在位信号线与每个子模块所在的接插件的针脚相连,所述各地址信号线的数量少于所述各在位信号线的数量;
所述主模块用于通过所述各地址信号线向所述逻辑控制模块发送状态检测信号,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址;
所述子模块用于通过所述在位信号线向所述逻辑控制模块发送在位信号;
所述逻辑控制模块用于接收所述状态检测信号以及各所述在位信号,并根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号,若是,则向所述主模块发送子模块在位信号,若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块与所述各子模块之间还设有采样滤波模块;
所述采样滤波模块用于接收各在位信号,并对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将所述处理后在位信号发送给所述逻辑控制模块。
可选地,所述采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容;
滤波电容用于接收所述各在位信号,并对所述各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号;
所述电压放大电路用于对所述各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块由译码电路组成。
可选地,所述地址信号线的另一端与所述逻辑控制模块相连,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系。
可选地,所述状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,所述模拟开关控制模块的一端与所述逻辑控制模块相连,所述模拟开关控制模块的另一端与所述主模块相连;
所述模拟开关控制模块用于接收所述逻辑控制模块发送的第一控制信号,并根据接收到的第一控制信号,向所述主模块发送子模块在位信号;以及
接收所述逻辑控制模块发送的第二控制信号,并根据接收到的第二控制信号,向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述状态检测设备还包括:电源输入模块;
所述电源输入模块用于给所述逻辑控制模块供电。
可选地,所述主模块在接收到子模块在位信号或子模块未在位信号后,所述主模块还用于获取所述各子模块采集到的传感器数据,并根据所述传感器数据进行任务执行。
本说明书提供了一种状态检测方法,所述方法应用于状态检测设备中,所述状态检测设备包括:主模块、各子模块、逻辑控制模块,所述逻辑控制模块的一端通过各地址信号线与所述主模块所在的接插件的针脚相连,所述逻辑控制模块的另一端通过每个在位信号线与每个子模块所在的接插件的针脚相连,所述各地址信号线的数量少于所述各在位信号线的数量,所述方法包括:
所述逻辑控制模块接收状态检测信号以及各在位信号,所述状态检测信号是所述主模块通过所述各地址信号线发送的,所述各在位信号是所述各子模块通过所述在位信号线发送的,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址;
根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号;
若是,则向所述主模块发送子模块在位信号;
若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块与所述各子模块之间还设有采样滤波模块;
所述逻辑控制模块接收各在位信号,具体包括:
所述逻辑控制模块通过所述采样滤波模块接收各在位信号,并对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将所述处理后在位信号返回给所述逻辑控制模块。
可选地,所述采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容;
对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,具体包括:
通过所述采样滤波模块中的所述各滤波电容,对接收到的各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号;以及
通过所述采样滤波模块中的所述电压放大电路,针对各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块由译码电路组成。
可选地,所述地址信号线的另一端与所述逻辑控制模块相连,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系。
可选地,所述状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,所述模拟开关控制模块的一端与所述逻辑控制模块相连,所述模拟开关控制模块的另一端与所述主模块相连;
若是,则向所述主模块发送子模块在位信号,具体包括:
向所述模拟开关模块发送第一控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块在位信号;
若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号,具体包括:
向所述模拟开关模块发送第二控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述子模块在位信号和所述子模块未在位信号用于使所述主模块获取所述各子模块采集到的传感器数据,并根据所述传感器数据进行任务执行。
本说明书提供了一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述状态检测方法。
本说明书提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现上述状态检测方法。
本说明书采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果:
在本说明书提供的状态检测方法,逻辑控制模块接收状态检测信号以及各在位信号,其中,状态检测信号是主模块通过各地址信号线发送的,各在位信号是各子模块通过在位信号线发送的,状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址,根据状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有目标子模块的在位信号,若是,则向主模块发送子模块在位信号,若否,则向主模块发送子模块未在位信号。
从上述方法中可以看出,通过作为电路结构的逻辑控制模块可以使得主模块仅需要发送包含有需要进行状态检测的子模块的地址的状态检测信号,即可以根据状态检测信号,从接收到的各子模块发送的在位信号中检测出是否存在与状态检测信号相对应的子模块的在位信号,以确定出需要进行状态检测的子模块是否在位,从而可以避免每个子模块直接与主模块所在的接插件的一个针脚相连,以降低主模块所在的接插件的体积以及针脚数,进而可以提高控制设备的集成度,并降低成本。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本说明书的进一步理解,构成本说明书的一部分,本说明书的示意性实施例及其说明用于解释本说明书,并不构成对本说明书的不当限定。在附图中:
图1为本说明书中提供的一种状态检测设备的结构示意图;
图2为本说明书提供的电源输入模块的示意图;
图3为本说明书中提供的一种状态检测方法的流程示意图;
图4为本说明书提供的一种状态检测装置的示意图;
图5为本说明书提供的一种对应于图3的电子设备的示意图。
具体实施方式
为使本说明书的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本说明书具体实施例及相应的附图对本说明书技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅是本说明书一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本说明书保护的范围。
以下结合附图,详细说明本说明书各实施例提供的技术方案。
在现有技术中,各子模块都通过在位信号线与主模块所在的接插件的一个针脚相连,从而使得主模块在需要对某个子模块进行状态检测时,可以通过主模块所在的接插件中与该子模块相连的针脚确定该子模块的状态,但是,随着子模块数量的增加,主板所在的接插件的针脚也需要相应的增加,从而导致成本的提高以及集成度的降低。
基于此,本说明书提供了一种状态检测设备,该状态检测设备包括:主模块、各子模块、逻辑控制模块、模拟开关控制模块,其中,逻辑控制模块的一端与主模块相连接,逻辑控制模块的另一端与各子模块相连接,模拟开关控制模块一端与逻辑控制模块相连,模拟开关控制模块的另一端与主模块相连,如图1所示。
图1为本说明书中提供的一种状态检测设备的结构示意图。
从图1中可以看出,主模块与各子模块(即子模块1~子模块N)通过接插件连接在一块共底板上,逻辑控制模块为共底板上的一个电路部件。主模块通过共底板上的若干条地址信号线与逻辑控制模块相连,并通过若干条地址信号线将状态检测信号发送给逻辑控制模块。每个子模块都通过共底板上的一条在位信号线与逻辑控制模块相连,从而可以使每个子模块通过该子模块对应的在位信号线,将该子模块的在位信号发送给逻辑控制模块。
逻辑控制模块在接收到主模块发送的状态检测信号以及各子模块发送的各在位信号后,可以根据状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有目标子模块的在位信号,若是,则向主模块发送子模块在位信号,若否,则向主模块发送子模块未在位信号。
上述内容中,地址信号线和在位信号线可以是共底板上的印制线,可以用于信号的传输,其中,地址信号线的一端与主模块所在的接插件的针脚相连,地址信号线的另一端与逻辑控制模块相连。在位信号线的一端与子模块所在的接插件的针脚相连,在位信号线的另一端与逻辑控制模块相连。
逻辑控制模块可以由译码电路组成,即由多个逻辑门电路构成的电路。
子模块在通电时,即可向逻辑控制模块发送在位信号,因此,逻辑控制模块可以根据接收到的各子模块的在位信号判断出哪些子模块在位,哪些子模块不在位。
在实际应用场景中,每个子模块通常与各传感器相连,并可以采集传感器的数据,如:在某个工业控制场景下的传感器采集到的温度数据、传感器的开关数据等。而主模块将各子模块所采集到的传感器数据进行汇总,并将汇总后的传感器数据进行上传,如:上传给笔记本电脑、台式电脑等终端设备,以使终端设备将汇总后的数据显示给工作人员等。在此之前,主模块需要先确定每个子模块是否在位。
需要说明的是,每个子模块都对应有一个地址,主模块可以通过各地址信号线,以轮询的方式传递发送包含有需要进行查询的子模块对应的地址的状态检测信号。其中,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系,例如:假设存在四个地址信号线,当一个地址信号线上的电平为高电平时,即可以确定该地址信号线对应的值为1,反之为0,从而可以通过四个地址信号线产生
Figure SMS_1
个,也就是16个地址对应的状态检测信号,即0000、0001、0010、0011、……、1111,其中,每个地址都对应一个子模块。
从上述内容中可以看出,主模块只需要M个地址信号线就可以检测
Figure SMS_2
个子模块的状态,换句话说就是若需要检测N个子模块的状态,主模块只需要使用/>
Figure SMS_3
个地址信号线即可进行状态检测,从而可以极大的减少主模块所在接插件的针脚的数量,进而可以提升控制设备的集成度,并降低成本。
除此之外,由于子模块在通过接插件固定在共底板上时,可能会由于松动等原因,使得子模块发送的在位信号存在不稳定的情况,因此,在逻辑控制模块与各子模块之间还可以设有采样滤波模块,通过采样滤波模块可以对接收到的各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,并将处理后在位信号发送给逻辑控制模块。
具体地,采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容,通过采样滤波模块中的各滤波电容,对接收到的各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号。
另外,由于不同的子模块输入的在位信号的电压大小不同,因此,还可以通过采样滤波模块中的电压放大电路,对至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
进一步地,状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,其中,模拟开关控制模块的一端与逻辑控制模块相连,模拟开关控制模块的另一端与主模块相连,进而可以通过模拟开关控制模块接收逻辑控制模块发送的第一控制信号,并根据接收到的第一控制信号,向主模块发送子模块在位信号,以及可以接收逻辑控制模块发送的第二控制信号,并根据接收到的第二控制信号,向主模块发送子模块未在位信号。
需要说明的是,由于子模块输出的在位信号与主模块可以接受的信号之间的电平不同,因此,不能直接将子模块输出的在位信号发送给子模块,还需要通过模拟开关控制模块进行适配,也就是根据逻辑控制模块发送的控制信号,向主模块发送子模块在位信号或子模块不在位信号,以表征主模块需要进行状态检测的目标子模块的在位状态。
其中,在所述模拟开关控制模块与主模块之间还设有一根信号线,这根信号线用于使所述模拟开关控制模块通过该信号线将子模块在位信号或子模块不在位信号以高低电平的形式发送给主模块。
另外,状态检测设备还包括:电源输入模块,可以通过电源输入模块给逻辑控制模块、采样滤波模块、模拟开关模块供电,如图2所示。
图2为本说明书提供的电源输入模块的示意图。
从图2中可以看出,可以通过电源输入模块为逻辑控制模块、采样滤波模块、模拟开关模块供电。
需要说明的是,上述的状态检测设备不仅可以用于进行子模块的在位状态检测,还可以用于子模块所连接的传感器采集到的信息的传输,例如:子模块可以将所连接的传感器的开关信息通过状态检测设备传递给主模块。再例如:子模块可以将所连接的传感器是否异常的异常信息通过状态检测设备传递给主模块等。
进一步地,主模块在接收到子模块在位信号或子模块未在位信号后,可以获取各子模块采集到的传感器数据,并根据传感器数据进行任务执行。这里的任务执行可以是将获取到的传感器数据上传给终端设备,以使终端设备将汇总后的数据显示给工作人员等。
从上述内容中可以看出,可以通过共底板上的电路设计,将原本需要连接在主模块所在的接插件的针脚上的子模块连接到共底板上的逻辑控制模块中,进而可以使主模块仅需要通过主模块所在的接插件上的较少的针脚与地址信号线相连,并通过地址信号线,以轮询的方式,确定出每个子模块的状态,进而可以提高控制设备的集成度,并降低成本。
为了对上述内容进行详细说明,本说明书还提供了一种通过上述的状态检测设备进行状态检测的方法,如图3所示。
图3为本说明书中提供的一种状态检测方法的流程示意图,包括以下步骤:
S301:所述逻辑控制模块接收状态检测信号以及各在位信号,所述状态检测信号是所述主模块发送的,所述各在位信号是所述各子模块发送的,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址。
在本说明书中,逻辑控制模块可以接收状态检测信号以及各在位信号,其中,状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址。
上述内容中,各在位信号可以是各子模块可以通过在位信号线发送的,状态检测信号可以是主模块通过地址信号线发送的。
另外,逻辑控制模块还可以通过采样滤波模块接收各在位信号,并对接收到的各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将处理后在位信号返回给逻辑控制模块。
具体地,逻辑控制器可以通过采样滤波模块中的各滤波电容,对接收到的各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号,以及通过采样滤波模块中的电压放大电路,针对各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
S302:根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号。
S303:若是,则向所述主模块发送子模块在位信号。
S304:若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
逻辑控制模块可以根据状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有目标子模块的在位信号,若是,则向主模块发送子模块在位信号,若否,则向主模块发送子模块未在位信号。
具体地,逻辑控制模块可以在确定接收到的各在位信号中包含有目标子模块的在位信号后,可以向模拟开关模块发送第一控制信号,以使模拟开关控制模块向主模块发送子模块在位信号,还可以在确定接收到的各在位信号中不包含有目标子模块的在位信号后,向模拟开关模块发送第二控制信号,以使模拟开关控制模块向主模块发送子模块未在位信号。
从上述内容中可以看出,通过作为电路结构的逻辑控制模块可以使得主模块仅需要发送包含有需要进行状态检测的子模块的地址的状态检测信号,即可以根据状态检测信号,从接收到的各子模块发送的在位信号中检测出是否存在与状态检测信号相对应的子模块的在位信号,从而可以确定出需要进行状态检测的子模块是否在位,从而可以避免每个子模块直接与主模块所在的接插件的一个针脚相连,以降低主模块所在的接插件的体积以及针脚数,进而可以提高控制设备的集成度,并降低成本。
以上为本说明书的一个或多个实施例提供的状态检测方法,基于同样的思路,本说明书还提供了相应的状态检测装置,如图4所示。
图4为本说明书提供的一种状态检测装置的示意图,包括:
获取模块401,用于接收状态检测信号以及各在位信号,所述状态检测信号是所述主模块通过所述各地址信号线发送的,所述各在位信号是所述各子模块通过所述在位信号线发送的,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址;
检测模块402,用于根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号;
第一返回模块403,用于在确定接收到的各在位信号中包含有目标子模块的在位信号后,则向所述主模块发送子模块在位信号;
第二返回模块404,用于在确定接收到的各在位信号中不包含有目标子模块的在位信号后,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块与所述各子模块之间还设有采样滤波模块;
所述获取模块401具体用于,所述逻辑控制模块通过所述采样滤波模块接收各在位信号,并对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将所述处理后在位信号返回给所述逻辑控制模块。
可选地,所述采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容;
所述获取模块401具体用于,通过所述采样滤波模块中的所述各滤波电容,对接收到的各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号;以及通过所述采样滤波模块中的所述电压放大电路,针对各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
可选地,所述逻辑控制模块由译码电路组成。
可选地,所述地址信号线的另一端与所述逻辑控制模块相连,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系。
可选地,所述状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,所述模拟开关控制模块的一端与所述逻辑控制模块相连,所述模拟开关控制模块的另一端与所述主模块相连;
所述第一返回模块403具体用于,向所述模拟开关模块发送第一控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块在位信号;
所述第二返回模块404具体用于,向所述模拟开关模块发送第二控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块未在位信号。
可选地,所述子模块在位信号和所述子模块未在位信号用于使所述主模块获取所述各子模块采集到的传感器数据,并根据所述传感器数据进行任务执行。
本说明书还提供了一种计算机可读存储介质,该存储介质存储有计算机程序,计算机程序可用于执行上述图3提供的一种的方法。
本说明书还提供了图5所示的一种对应于图3的电子设备的示意结构图。如图5所示,在硬件层面,该电子设备包括处理器、内部总线、网络接口、内存以及非易失性存储器,当然还可能包括其他业务所需要的硬件。处理器从非易失性存储器中读取对应的计算机程序到内存中然后运行,以实现上述图3所述的方法。
当然,除了软件实现方式之外,本说明书并不排除其他实现方式,比如逻辑器件抑或软硬件结合的方式等等,也就是说以下处理流程的执行主体并不限定于各个逻辑单元,也可以是硬件或逻辑器件。
在20世纪90年代,对于一个技术的改进可以很明显地区分是硬件上的改进(例如,对二极管、晶体管、开关等电路结构的改进)还是软件上的改进(对于方法流程的改进)。然而,随着技术的发展,当今的很多方法流程的改进已经可以视为硬件电路结构的直接改进。设计人员几乎都通过将改进的方法流程编程到硬件电路中来得到相应的硬件电路结构。因此,不能说一个方法流程的改进就不能用硬件实体模块来实现。例如,可编程逻辑器件(Programmable Logic Device, PLD)(例如现场可编程门阵列(Field Programmable GateArray,FPGA))就是这样一种集成电路,其逻辑功能由用户对器件编程来确定。由设计人员自行编程来把一个数字系统“集成”在一片PLD上,而不需要请芯片制造厂商来设计和制作专用的集成电路芯片。而且,如今,取代手工地制作集成电路芯片,这种编程也多半改用“逻辑编译器(logic compiler)”软件来实现,它与程序开发撰写时所用的软件编译器相类似,而要编译之前的原始代码也得用特定的编程语言来撰写,此称之为硬件描述语言(Hardware Description Language,HDL),而HDL也并非仅有一种,而是有许多种,如ABEL(Advanced Boolean Expression Language)、AHDL(Altera Hardware DescriptionLanguage)、Confluence、CUPL(Cornell University Programming Language)、HDCal、JHDL(Java Hardware Description Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(RubyHardware Description Language)等,目前最普遍使用的是VHDL(Very-High-SpeedIntegrated Circuit Hardware Description Language)与Verilog。本领域技术人员也应该清楚,只需要将方法流程用上述几种硬件描述语言稍作逻辑编程并编程到集成电路中,就可以很容易得到实现该逻辑方法流程的硬件电路。
控制器可以按任何适当的方式实现,例如,控制器可以采取例如微处理器或处理器以及存储可由该(微)处理器执行的计算机可读程序代码(例如软件或固件)的计算机可读介质、逻辑门、开关、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器的形式,控制器的例子包括但不限于以下微控制器:ARC 625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20 以及Silicone Labs C8051F320,存储器控制器还可以被实现为存储器的控制逻辑的一部分。本领域技术人员也知道,除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外,完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件,而对其内包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至,可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的,计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。
为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然,在实施本说明书时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域内的技术人员应明白,本说明书的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本说明书可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本说明书可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本说明书是参照根据本说明书实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白,本说明书的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此,本说明书可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本说明书可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本说明书可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本说明书,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本说明书的实施例而已,并不用于限制本说明书。对于本领域技术人员来说,本说明书可以有各种更改和变化。凡在本说明书的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本说明书的权利要求范围之内。

Claims (15)

1.一种状态检测设备,其特征在于,所述状态检测设备包括:主模块、各子模块、逻辑控制模块,所述逻辑控制模块的一端通过各地址信号线与所述主模块所在的接插件的针脚相连,所述逻辑控制模块的另一端通过每个在位信号线与每个子模块所在的接插件的针脚相连,所述各地址信号线的数量少于各在位信号线的数量,所述地址信号线的另一端与所述逻辑控制模块相连,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系;
所述主模块用于通过所述各地址信号线向所述逻辑控制模块发送状态检测信号,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址,所述状态检测信号是基于各地址信号线输出的信号值组合而成;
所述子模块用于通过所述在位信号线向所述逻辑控制模块发送在位信号;
所述逻辑控制模块用于接收所述状态检测信号以及各所述在位信号,并根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号,若是,则向所述主模块发送子模块在位信号,若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
2.如权利要求1所述的状态检测设备,其特征在于,所述逻辑控制模块与所述各子模块之间还设有采样滤波模块;
所述采样滤波模块用于接收各在位信号,并对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将所述处理后在位信号发送给所述逻辑控制模块。
3.如权利要求2所述的状态检测设备,其特征在于,所述采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容;
滤波电容用于接收所述各在位信号,并对所述各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号;
所述电压放大电路用于对所述各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
4.如权利要求1所述的状态检测设备,其特征在于,所述逻辑控制模块由译码电路组成。
5.如权利要求1所述的状态检测设备,其特征在于,所述状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,所述模拟开关控制模块的一端与所述逻辑控制模块相连,所述模拟开关控制模块的另一端与所述主模块相连;
所述模拟开关控制模块用于接收所述逻辑控制模块发送的第一控制信号,并根据接收到的第一控制信号,向所述主模块发送子模块在位信号;以及
接收所述逻辑控制模块发送的第二控制信号,并根据接收到的第二控制信号,向所述主模块发送子模块未在位信号。
6.如权利要求1所述的状态检测设备,其特征在于,所述状态检测设备还包括:电源输入模块;
所述电源输入模块用于给所述逻辑控制模块供电。
7.如权利要求1所述的状态检测设备,其特征在于,所述主模块在接收到子模块在位信号或子模块未在位信号后,所述主模块还用于获取所述各子模块采集到的传感器数据,并根据所述传感器数据进行任务执行。
8.一种状态检测方法,其特征在于,所述方法应用于状态检测设备中,所述状态检测设备包括:主模块、各子模块、逻辑控制模块,所述逻辑控制模块的一端通过各地址信号线与所述主模块所在的接插件的针脚相连,所述逻辑控制模块的另一端通过每个在位信号线与每个子模块所在的接插件的针脚相连,所述各地址信号线的数量少于各在位信号线的数量,所述地址信号线的另一端与所述逻辑控制模块相连,所述地址信号线的数量M与所述子模块数量N之间的关系为对数关系,所述方法包括:
所述逻辑控制模块接收状态检测信号以及各在位信号,所述状态检测信号是所述主模块通过所述各地址信号线发送的,所述各在位信号是所述各子模块通过所述在位信号线发送的,所述状态检测信号中包含需要进行状态检测的子模块的地址,所述状态检测信号是基于各地址信号线输出的信号值组合而成;
根据所述状态检测信号确定需要进行状态检测的子模块,作为目标子模块,判断接收到的各在位信号中是否包含有所述目标子模块的在位信号;
若是,则向所述主模块发送子模块在位信号;
若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述逻辑控制模块与所述各子模块之间还设有采样滤波模块;
所述逻辑控制模块接收各在位信号,具体包括:
所述逻辑控制模块通过所述采样滤波模块接收各在位信号,并对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,将所述处理后在位信号返回给所述逻辑控制模块。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述采样滤波模块包括:各滤波电容、电压放大电路,其中,每个子模块对应有一个滤波电容;
对接收到的所述各在位信号进行处理,得到处理后在位信号,具体包括:
通过所述采样滤波模块中的所述各滤波电容,对接收到的各在位信号进行滤波处理,得到各滤波后在位信号;以及
通过所述采样滤波模块中的所述电压放大电路,针对各子模块中的至少部分子模块对应的滤波后在位信号进行放大处理,得到放大后在位信号。
11.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述逻辑控制模块由译码电路组成。
12.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述状态检测设备还包括:模拟开关控制模块,所述模拟开关控制模块的一端与所述逻辑控制模块相连,所述模拟开关控制模块的另一端与所述主模块相连;
若是,则向所述主模块发送子模块在位信号,具体包括:
向所述模拟开关模块发送第一控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块在位信号;
若否,则向所述主模块发送子模块未在位信号,具体包括:
向所述模拟开关模块发送第二控制信号,以使所述模拟开关控制模块向所述主模块发送子模块未在位信号。
13.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述子模块在位信号和所述子模块未在位信号用于使所述主模块获取所述各子模块采集到的传感器数据,并根据所述传感器数据进行任务执行。
14.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述权利要求8~13任一项所述的方法。
15.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现上述权利要求8~13任一项所述的方法。
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111008166A (zh) * 2019-11-15 2020-04-14 深圳震有科技股份有限公司 一种通信方法、通信系统及存储介质

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1719363A (zh) * 2005-07-27 2006-01-11 艾默生网络能源有限公司 可编程逻辑控制器硬件扩展方法
CN101102421B (zh) * 2007-07-27 2010-06-02 北京工业大学 一体机式智能型页面检测仪
CN101963935B (zh) * 2010-09-27 2012-11-07 深圳市理邦精密仪器股份有限公司 检测功能模块在位状态的装置、医疗设备及检测方法
CN111930576B (zh) * 2020-07-09 2023-04-28 苏州浪潮智能科技有限公司 一种硬盘状态检测装置及方法
CN113966153B (zh) * 2021-10-29 2022-11-29 苏州浪潮智能科技有限公司 一种交换机散热控制系统及控制方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111008166A (zh) * 2019-11-15 2020-04-14 深圳震有科技股份有限公司 一种通信方法、通信系统及存储介质

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