CN115792411A - 基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法 - Google Patents

基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法 Download PDF

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CN115792411A
CN115792411A CN202211279357.9A CN202211279357A CN115792411A CN 115792411 A CN115792411 A CN 115792411A CN 202211279357 A CN202211279357 A CN 202211279357A CN 115792411 A CN115792411 A CN 115792411A
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radio frequency
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陶成忠
乔兴旺
杨露
王春艳
盛永鑫
朱艳萍
张思敏
宋吟龄
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Abstract

本发明提供一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法,涉及有源相控阵雷达天线测试技术领域。本发明基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块分别通过相应总线连接时序控制模块和射频幅相分析模块,射频信号切换模块连接射频幅相分析模块。该装置占用的暗室资源少,且功能全面,测试效率高。

Description

基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及有源相控阵雷达天线测试技术领域,具体涉及一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法。
背景技术
随着有源相控阵雷达技术的发展和广泛应用,相控阵天线系统的规模越来越庞大,需要控制的数据量大,并且相控阵天线工作模式多,功能复杂。这些相控阵天线系统在投入正式使用前,不同天线的方向图都需要天线暗室测试系统来进行验证,需要测试的时间长,尤其是大口径的相控阵天线,控制复杂,需要验证的功能多,且在正式测试前,往往需要很长时间进行调试,这会占用暗室大量资源,造成暗室不够用,严重影响项目研制生产进度。所以亟需一种更科学、合理的方法来实现相控阵天线系统的性能测试。
现有相控阵天线测试系统大多数是基于暗室平面近场测试系统,不具有天线阵面工作状态检测功能;另外,现有相控阵天线测试系统无法实现在天线总装厂房完成总装后直接在现场对天线各种工作状态进行测试验证,暗室占用时间长;再者,现有相控阵天线测试系统由于测试功能设置不科学导致测试效率低下。
综上可知,现有的相控阵天线测试系统功能单一且测试效率低。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法,解决了现有的相控阵天线测试系统存在功能单一且测试效率低。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:
第一方面,本发明首先提出了一种基于校正通道的相控阵天线测试装置,所述装置包括:
控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块;
所述控制模块通过所述波束控制模块连接天线阵面,用于将参数控制命令通过所述波束控制模块发送给天线阵面;
所述时序控制模块分别连接所述射频信号切换模块、所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;所述控制模块连接所述时序控制模块,用于将控制信息通过所述时序控制模块产生信号切换所述射频信号切换模块的不同通道,以及同步所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;
所述控制模块通过网络接口连接所述射频幅相分析模块,用于将参数设置指令和测试指令发送至所述射频幅相分析模块;
所述射频信号切换模块分别连接所述时序控制模块和所述射频幅相分析模块,用于切换不同天线子阵射频信号。
优选的,所述控制模块包括控制计算机;所述时序控制模块包括时序控制器;所述射频幅相分析模块包括矢量网络分析仪;所述射频信号切换模块包括矩阵开关。
优选的,所述装置还包括:软件自验证模块,其通过相应总线分别与所述控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块相连,用于实现所述装置中各模块的工作状态自检。
优选的,所述控制模块通过CPCI总线分别与所述波束控制模块和所述时序控制模块连接;所述控制模块通过LAN网络接口与所述射频幅相分析模块网口连接。
优选的,所述波束控制模块包括遥测码字回读功能单元。
优选的,所述参数控制命令包括:天线工作模式、极化方式、重复频率、脉冲宽度、波控码。
优选的,所述控制计算机、所述时序控制器,以及所述波束控制模块集成在CPCI机箱中。
第二方面,本发明还提出了一种基于校正通道的相控阵天线测试方法,其利用如上述所述的装置实现相控阵天线测试,所述测试方法包括:
S1、测试装置自检;
S2、遥测天线阵面在不同工作场景下的工作情况;
S3、在天线阵面工作正常时,进行天线阵面自身的故障检测功能测试和/或天线阵面幅相测试;
S4、存储测试数据。
优选的,所述天线阵面自身的故障检测功能测试包括:
通过在控制计算机的测试界面设置故障模拟,由时序控制器、波束控制模块分别模拟包括过脉宽故障、时序组合故障、过脉宽+时序组合故障、数据校验错误功能,查看显控界面中是否出现相应的故障信息;
所述天线阵面幅相测试包括:
设置矢量网络分析仪单窗体、单条迹线,关闭矢量网络分析仪显示界面,时序控制器产生同步信号触发矢量网络分析仪,再由波束控制器逐个开启天线阵面T/R通道,控制计算机采集到仪表扫描结束标志信息,立刻采集矢量网络分析仪存储器中的原始数据,由计算机根据预设的公式计算出幅度和相位信息。
优选的,所述预设的公式包括公式一和公式二,利用公式一进行天线阵面幅度值测试:
Figure BDA0003898052430000031
利用公式二进行天线阵面相位值测试:
Figure BDA0003898052430000041
其中,x为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的实部,y为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的虚部。
(三)有益效果
本发明提供了一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法。与现有技术相比,具备以下有益效果:
1、本发明基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块分别通过相应总线连接时序控制模块和射频幅相分析模块,射频信号切换模块连接射频幅相分析模块,时序控制模块通过串行总线控制射频信号切换模块,为射频幅相分析模块切换不同天线子阵射频信号。该装置需要的暗室资源少,且其体积小,便于现场测试,大大降低了暗室占用时间;同时,该装置合理设置其测试功能和测试方法,测试功能全面且大大提高了该装置的测试效率。
2、本发明的测试装置可以在天线总装厂房完成总装后,就可以现场对天线各种工作状态进行验证和测试,大大降低了暗室占用时间。
3、本发明的测试装置采用时序同步和幅相算法,直接利用计算机按照公式一和公式二计算得出天线阵面各个通道的幅度和相位值,将天线测试效率提升50%以上。
4、本发明的测试装置在主控程序与波束控制软件之间设置一个标准化通信协议,提升控制程序的通用性,实际应用时普适性更强。
5、本发明的测试装置具备天线故障检测验证能力和实时保存天线工作状态信息能力,便于后期数据分析和指标挖掘,进一步提高了该装置的测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明基于校正通道的相控阵天线测试装置原理框图;
图2为本发明实施例中天线阵面通道设置标准通信协议示意图;
图3为本发明基于校正通道的相控阵天线测试方法的流程图;
图4为本发明实施例中基于校正通道的相控阵天线测试方法的实施例图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本申请实施例通过提供一种基于校正通道的相控阵天线测试装置及测试方法,解决了现有的相控阵天线测试系统存在功能单一且测试效率低的问题,实现了针对不同天线阵面产品均能进行灵活、高效测试的目的。
本申请实施例中的技术方案为解决上述技术问题,总体思路如下:
为了降低相控阵天线测试装置在测试时过分占用暗室时间,同时,丰富测试装置的测试功能,提高测试装置的测试效率,本技术方案提出的一种基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,用于将参数控制命令通过波束控制模块发送给天线阵面;时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块连接时序控制模块,用于将控制信息通过时序控制模块产生信号切换射频信号切换模块的不同通道,以及同步波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块通过网络接口连接射频幅相分析模块,用于将参数设置指令和测试指令发送至射频幅相分析模块;射频信号切换模块分别连接时序控制模块和所述射频幅相分析模块,用于切换不同天线子阵射频信号。本技术方案不仅解决了现有的相控阵天线测试系统存在功能单一且测试效率低的问题,还提高了测试装置的普适性。
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
实施例1:
第一方面,本发明还提供了一种基于校正通道的相控阵天线测试装置,参见图1,该装置包括:
控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块;
所述控制模块通过所述波束控制模块连接天线阵面,用于将参数控制命令通过所述波束控制模块发送给天线阵面;
所述时序控制模块分别连接所述射频信号切换模块、所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;所述控制模块连接所述时序控制模块,用于将控制信息通过所述时序控制模块产生信号切换所述射频信号切换模块的不同通道,以及同步所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;
所述控制模块通过网络接口连接所述射频幅相分析模块,用于将参数设置指令和测试指令发送至所述射频幅相分析模块;
所述射频信号切换模块分别连接所述时序控制模块和所述射频幅相分析模块,用于切换不同天线子阵射频信号。
可见,本实施例基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块分别通过相应总线连接时序控制模块和射频幅相分析模块,射频信号切换模块连接射频幅相分析模块,时序控制模块通过串行总线控制射频信号切换模块,为射频幅相分析模块切换不同天线子阵射频信号。该装置需要的暗室资源少,且其体积小,便于现场测试,大大降低了暗室占用时间;同时,该装置合理设置其测试功能和测试方法,测试功能全面且大大提高了该装置的测试效率。
下面结合附图1-2,以及对具体模块以及各模块之间连接关系的解释,来详细说明本发明一个实施例的实现过程。
本实施例出的一种基于校正通道的相控阵天线测试装置包括:控制模块、射频幅相分析模块、时序控制模块、波束控制模块,以及射频信号切换模块。其中,上述控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,用于将参数控制命令通过上述波束控制模块发送给天线阵面;时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块连接时序控制模块,用于将控制信息通过时序控制模块产生的电平信号(TTL信号)切换射频信号切换模块的不同通道,以及产生TRT控制信号同步波束控制模块和所述射频幅相分析模块。控制模块通过网络接口连接射频幅相分析模块,用于将参数设置指令和测试指令发送至射频幅相分析模块;射频信号切换模块分别连接时序控制模块和射频幅相分析模块,用于切换不同天线子阵射频信号。
另外,为了解决测试装置的通用性问题,本实施例一种优选的方式是:在控制软件主控程序与波束控制软件之间通过LAN口交互,实现标准的通信协议,这样就可以确保主控程序无需修改即可实现通用,从而使得仅通过修改波束控制的配置文件即可满足不同产品的测试需求。
同时,为了实现天线阵面工作状态的遥测,在本实施例中,一种优选的方式是:在波束控制模块中增加了遥测码字回读功能单元,使波束控制模块具备遥测码字回读功能,这样就可以将天线阵面各种状态码通过数据线回传到波控模块,进行串并转换,写入状态字寄存器,从而完成天线阵面状态遥测。
此外,本装置还包括:软件自验证模块,该模块分别与控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块连接,用于实现该装置中各模块的自检功能。具体的,在软件设计中增加了软件自验证设计,增强装置故障诊断能力。控制软件增加了发出数据和接收原始数据的显示功能、波控单元发送到天线阵面的数据与经过天线阵面波控单元截断后转发回来的数据是否一致,一致则表明波控单元时序工作正常,不一致则表示通讯存在异常,须要进一步分析排查测试台或者通讯电缆、再或者波控单元的故障。另外控制软件发出的数据和接收到的天线工作状态数据均实时保存,便于故障查询和故障复现。
本实施例在具体实施时,一种优选的方式是:控制模块选择为控制计算机,射频幅相分析模块采用矢量网络分析仪,时序控制模块为时序控制器,以及射频信号切换模块选用矩阵开关。然而在实际应用中,各个模块具体选用的控制装置和仪器等包括但不限于上述所列举的内容,只要能对应实现其各自功能即可。下面,我们以上述列举的各模块的具体硬件为例,来详细说明本实施例中基于校正通道的相控阵天线测试装置的具体连接关系和功能实现原理。
控制模块,即控制计算机,作为控制整个相控阵天线测试装置的计算机和显控界面,能够设置天线阵面中天线的工作模式、极化方式、重复频率、脉冲宽度、波控码等相关参数。具体的,
控制计算机通过波束控制模块连接天线阵面,按照标准协议格式发送天线工作模式、极化方式、重复频率、脉冲宽度、波控码等相关参数控制命令给波束控制模块,波束控制模块按协议解析后计算出波束控制码发送给天线阵面,完成波束扫描控制;同时该控制计算机接收来自波束控制模块的遥测回馈命令,并将对应参数值进行显示;
控制计算机通过CPCI总线连接时序控制器,给时序控制器发送控制信息,然后由时序控制器产生时序信号触发矢量网络分析仪和波束控制模块;
控制计算机还可以通过LAN网络发送各种控制指令,如向射频幅相分析模块(即矢量网络分析仪)发送参数设置指令和测试指令,以及从矢量网络分析仪读取采集数据,实现天线阵面测试。
射频幅相分析模块,即矢量网络分析仪,用于接收控制计算机发出的各项参数设置指令,测量天线阵面各个通道的幅度和相位值。具体的,在测量天线阵面各个通道的幅度和相位值时,直接采集矢量网络分析仪测量结果的原始数据,然后在计算机中进行数据分析,采用如下公式一和公式二计算出相应参数的幅度和相位值,这种方式可以将测量速度提高1倍以上,大大节约了测试的时间。具体来说,在两个方面节约了时间,一个方面,无需矢量网络分析仪处理原始数据和显示测量结果,同样扫描一个窗体,能节约5%-10%左右时间;另一方面,一般单次扫描,只能在矢量网络分析仪中获得各个频点的幅度值或者相位值,但不能同时获得,而本方案能够同时获得,节约了50%时间,综合以上两个方面原因,可以将测量速度提高1倍以上。
Figure BDA0003898052430000091
Figure BDA0003898052430000092
其中,x为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的实部,y为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的虚部。
时序控制模块,即时序控制器,通过接收控制计算机发送的控制信息产生TRT控制信号触发矢量网络分析仪和波束控制模块,实现天线收发组件工作状态与矢量网络分析仪同步;同时,时序控制器还能够接收仪表的Ready信号。另外,时序控制器产生TTL信号用于控制矩阵开关,切换不同天线子阵射频信号,实现天线阵面一体化测试。
波束控制模块,接收来自控制计算机的控制命令,经协议解析后计算波束控制码并发送给天线阵面,完成波束扫描控制,同时可以接收天线多路遥测数据,并传输给控制计算机。
射频信号切换模块,即矩阵开关,切换射频信号,实现多子阵的一体化测试能力。
进一步地,在实际设计时,将控制计算机、时序控制器和波束控制模块集成在CPCI机箱中,用于缩小测试装置的体积,便于现场测试。
实施例2:
第二方面,本发明还提供了一种基于校正通道的相控阵天线测试方法,其利用如上述所述的装置实现相控阵天线测试,参见图3,该方法包括:
S1、测试装置自检;
S2、遥测天线阵面在不同工作场景下的工作情况以确保天线阵面工作正常;
S3、在天线阵面工作正常时,进行天线阵面自身的故障检测功能测试和/或天线阵面幅相测试;
S4、存储测试数据。
下面结合附图3-4,以及对具体步骤的解释来详细说明本发明中实施例2的实现过程。
S1、首先对测试装置进行自检。
控制计算机对网络分析仪、波束控制单元、时序控制器进行通信功能验证,实现测试装置的自检。具体的,在软件设计中增加了软件自验证设计,增强装置故障诊断能力。控制计算机软件中增加了发出数据和接收原始数据的显示功能、波控单元发送到天线阵面的数据与经过天线阵面波控单元截断后转发回来的数据是否一致,一致则表明波控单元时序工作正常,不一致则表示通讯存在异常,须要进一步分析排查测试台或者通讯电缆、再或者波控单元的故障。另外控制软件发出的数据和接收到的天线工作状态数据均实时保存,便于故障查询和故障复现。测试装置自检通过后进入下一步。
S2、遥测天线阵面在不同工作场景下的工作情况以确保天线阵面工作正常。
控制计算机通过波束控制器发送波束控制码,使天线分别工作在不同模式、不同极化方式下,在波束控制器中增加了遥测码字回读功能单元,将天线阵面各种状态码通过数据线回传到波束控制器,进行串并转换,写入状态字寄存器,从而完成天线阵面状态遥测。遥测的具体内容包括每个通道的各种电源电压、各通道的工作温度以及工作状态等信息,确保天线阵面工作正常。当天线工作状态正常后进入下一步。
S3、在天线阵面工作正常时,进行天线阵面自身的故障检测功能测试和/或天线阵面幅相测试。
在天线阵面工作正常时,基于校正通道实现相控阵天线的测试。具体的,根据实际需要,测试包括天线阵面自身的故障检测功能测试和/或天线阵面幅相测试。
验证天线阵面自身的故障检测能力。
通过在控制计算机的测试界面设置故障模拟,由时序控制器、波束控制模块分别模拟过脉宽故障、时序组合故障、过脉宽+时序组合故障、数据校验错误等功能,查看显控界面中是否出现相应的故障信息。
天线阵面幅相测试。
首先,设置矢量网络分析仪单窗体、单条迹线,关闭矢量网络分析仪显示界面,时序控制器产生同步信号触发矢量网络分析仪,再由波束控制器逐个开启天线阵面T/R通道,控制计算机采集到仪表扫描结束标志信息,立刻采集仪表存储器中原始数据,由计算机根据上述公式一和公式二计算出幅度和相位信息。
S4、存储测试数据。
在测试完成之后,规范天线阵面状态信息和天线阵面各个通道的测试数据存储格式对测试数据进行存储。具体的,
将天线阵面分块,循环遥测各个区域,将每个区域的T/R组件编号,按时间+通道号+状态信息实时存储,通道测试数据按时间+通道+组合态+f1(幅度)+f1(相位)+...+...+fn(幅度)+fn(相位),天线状态信息与通道测试数据分文档存储,便于后期数据分析和指标挖掘。
可理解的是,本发明实施例提供的基于校正通道的相控阵天线测试方法与上述基于校正通道的相控阵天线测试装置相对应,其有关内容的解释、举例、有益效果等部分可以参照基于校正通道的相控阵天线测试装置中的相应内容,此处不再赘述。
综上所述,与现有技术相比,具备以下有益效果:
1、本发明基于校正通道的相控阵天线测试装置包括控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块,其中,控制模块通过波束控制模块连接天线阵面,时序控制模块分别连接射频信号切换模块、波束控制模块和射频幅相分析模块;控制模块分别通过相应总线连接时序控制模块和射频幅相分析模块,射频信号切换模块连接射频幅相分析模块,时序控制模块通过串行总线控制射频信号切换模块,为射频幅相分析模块切换不同天线子阵射频信号。该装置需要的暗室资源少,且其体积小,便于现场测试,大大降低了暗室占用时间;同时,该装置合理设置其测试功能和测试方法,测试功能全面且大大提高了该装置的测试效率。
2、本发明的测试装置可以在天线总装厂房完成总装后,就可以现场对天线各种工作状态进行验证和测试,大大降低了暗室占用时间。
3、本发明的测试装置采用时序同步和幅相算法,直接利用计算机按照公式一和公式二计算得出天线阵面各个通道的幅度和相位值,将天线测试效率提升50%以上。
4、本发明的测试装置在主控程序与波束控制软件之间设置一个标准化通信协议,提升控制程序的通用性,实际应用时普适性更强。
5、本发明的测试装置具备天线故障检测验证能力和实时保存天线工作状态信息能力,便于后期数据分析和指标挖掘,进一步提高了该装置的测试效率。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种基于校正通道的相控阵天线测试装置,其特征在于,所述装置包括:
控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块;
所述控制模块通过所述波束控制模块连接天线阵面,用于将参数控制命令通过所述波束控制模块发送给天线阵面;
所述时序控制模块分别连接所述射频信号切换模块、所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;所述控制模块连接所述时序控制模块,用于将控制信息通过所述时序控制模块产生信号切换所述射频信号切换模块的不同通道,以及同步所述波束控制模块和所述射频幅相分析模块;
所述控制模块通过网络接口连接所述射频幅相分析模块,用于将参数设置指令和测试指令发送至所述射频幅相分析模块;
所述射频信号切换模块分别连接所述时序控制模块和所述射频幅相分析模块,用于切换不同天线子阵射频信号。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制模块包括控制计算机;所述时序控制模块包括时序控制器;所述射频幅相分析模块包括矢量网络分析仪;所述射频信号切换模块包括矩阵开关。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:软件自验证模块,其通过相应总线分别与所述控制模块、波束控制模块、时序控制模块、射频幅相分析模块,以及射频信号切换模块相连,用于实现所述装置中各模块的工作状态自检。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制模块通过CPCI总线分别与所述波束控制模块和所述时序控制模块连接;所述控制模块通过LAN网络接口与所述射频幅相分析模块网口连接。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述波束控制模块包括遥测码字回读功能单元。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述参数控制命令包括:天线工作模式、极化方式、重复频率、脉冲宽度、波控码。
7.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述控制计算机、所述时序控制器,以及所述波束控制模块集成在CPCI机箱中。
8.一种基于校正通道的相控阵天线测试方法,其利用如权利要求1-7任意一项所述的装置实现相控阵天线测试,其特征在于,所述测试方法包括:
S1、测试装置自检;
S2、遥测天线阵面在不同工作场景下的工作情况;
S3、在天线阵面工作正常时,进行天线阵面自身的故障检测功能测试和/或天线阵面幅相测试;
S4、存储测试数据。
9.如权利要求8所述的测试方法,其特征在于,所述天线阵面自身的故障检测功能测试包括:
通过在控制计算机的测试界面设置故障模拟,由时序控制器、波束控制模块分别模拟包括过脉宽故障、时序组合故障、过脉宽+时序组合故障、数据校验错误功能,查看显控界面中是否出现相应的故障信息;
所述天线阵面幅相测试包括:
设置矢量网络分析仪单窗体、单条迹线,关闭矢量网络分析仪显示界面,时序控制器产生同步信号触发矢量网络分析仪,再由波束控制器逐个开启天线阵面T/R通道,控制计算机采集到仪表扫描结束标志信息,立刻采集矢量网络分析仪存储器中的原始数据,由计算机根据预设的公式计算出幅度和相位信息。
10.如权利要求9所述的测试方法,其特征在于,所述预设的公式包括公式一和公式二,利用公式一进行天线阵面幅度值测试:
Figure FDA0003898052420000031
利用公式二进行天线阵面相位值测试:
Figure FDA0003898052420000032
其中,x为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的实部,y为矢量网络分析仪测量结果的原始数据的虚部。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN117728905A (zh) * 2023-12-20 2024-03-19 中国人民解放军海军士官学校 一种多通道数字波束相控阵天线校准系统及方法

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