CN115775303A - 一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及计算机三维视觉技术领域,解决了现有技术在某些情况下需要拍摄多张照片,降低测量效率、增加硬件复杂性的技术问题,尤其涉及一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,包括以下步骤:S1、对测量系统进行系统标定完成参数优化得到优化后的测量系统;S2、采用优化后的测量系统对待测物体拍摄若干张曝光时间不同的多曝光图像,根据多曝光图像计算相机响应函数并获得传感器曝光量X与像素灰度值Z之间关系;S3、根据测量环境与待测物体的物理特性构建Blinn‑Phong光照模型;S4、构建高光反射光强剔除网络模型。本发明结合深度学习与光照模型,实现了高反光待测物体表面形貌信息的准确高效测量。
Description
技术领域
本发明涉及计算机三维视觉技术领域,尤其涉及一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法。
背景技术
结构光三维重建技术具有非接触、高精度等优势,可以在极短时间内获得待测物体精确的形貌信息,被广泛应用于三维视觉、缺陷检测、生物医学等领域中。面结构光作为结构光技术的一种,基于相位轮廓测量法,利用激光器将不同类型的光栅条纹图案投影至待测物体的表面,由相机拍摄经过待测物体高度信息调制之后的条纹图案,通过解算条纹图案中像素点灰度值的变化,经过相位提取、相位展开等过程获得待测物体空间位置,得到可以表示待测物体表面的点云数据。
结构光三维重建技术依赖图像中单个像素的信息,但是由于待测物体表面反射率变化范围较大及相机灰度范围有限等不足,处理包含有耀光导致的过饱和图像时仅可以获得靠近边缘轮廓部分的高度信息,得到的点云数据存在大面积的空洞,无法精确测量高反光表面的三维形貌。针对上述问题,可以使用三坐标测量机或喷涂薄粉末等方式,但上述方式存在效率低、精度差等问题,喷涂薄粉末则会导致测量的精度降低。此外,常用的方法有高动态范围技术,其通过多重曝光、调整投影图案强度、增加偏振片等方式获取高质量的光栅条纹图像,但是在某些情况下需要拍摄多张照片,降低测量效率、增加硬件复杂性等问题。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,解决了现有技术在某些情况下需要拍摄多张照片,降低测量效率、增加硬件复杂性的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明提供了如下技术方案:一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,包括以下步骤:
S1、对测量系统进行系统标定完成参数优化得到优化后的测量系统;
S2、采用优化后的测量系统对待测物体拍摄若干张曝光时间不同的多曝光图像,根据多曝光图像计算相机响应函数并获得传感器曝光量X与像素灰度值Z之间关系;
S3、根据测量环境与待测物体的物理特性构建Blinn-Phong光照模型;
S4、构建高光反射光强剔除网络模型;
S5、根据多曝光图像投影相移图案、格雷码图案与纯色背景获得初始图像数据;
S6、将初始图像数据输入高光反射光强剔除网络模型剔除图像中高光部分,完成对待测物体表面形貌信息的三维重建。
进一步地,在步骤S1中,具体过程包括以下步骤:
S105、使用测量过程的逆过程对测量系统的参数进行整体优化。
进一步地,测量系统由相机、投影仪、棋盘格和待测物体组成。
进一步地,在步骤S2中,具体过程包括以下步骤:
进一步地,在步骤S3中,具体过程包括以下步骤:
上式中,分别表示Blinn-Phong光照模型中的环境光照强度、漫反射光照强度与高光反射光照强度,表示在距离光源距离为单位1的圆上接收到光的强度,表示某一位置到光源的距离,即代表距光源距离为部位接收到光的强度,表示漫反射系数,表示高光反射系数;
S302、对步骤S301中Blinn-Phong光照模型进行转换。
进一步地,在步骤S4中,具体过程包括以下步骤:
S401、建立高光反射去除数据集,并将高光反射去除数据集按照6:3:1的比例划分为训练集、测试集与验证集;
S402、将高光反射去除数据集的文件目录结构转化为PASCAL VOC数据集文件目录结构;
S403、搭建高光反射光强剔除网络模型,高光反射光强剔除网络模型的主体部分由两个模块组成:映射图计算模块和光照模型参数计算模块,映射图计算模块用于获取输入与输出图像之间映射图像;光照模型参数计算模块用于计算法向量、高光反射系数、高光范围控制系数与所受到的光强;
进一步地,在步骤S401中,具体过程包括以下步骤:
S4011、在测量系统中增加偏振光滤片,利用起偏器和检偏器消除高光表面反射对相机系统的影响,获取无高光反射的图像数据;
S4012、使用无偏振光滤片的测量系统进行数据采集,获得包含有高光反射的图像数据;
S4013、将无高光反射的图像数据和包含有高光反射的图像数据合并为高光反射去除数据集。
进一步地,在步骤S6中,具体过程包括以下步骤:
S601、采用四步相移法将初始图像数据生成四幅相移图案得到经过高度调制的条纹图;
S602、将条纹图输入到高光反射光强剔除网络模型中进行高光剔除,获得仅包括环境光照强度、漫反射光照强度的条纹图像数据;
S603、计算条纹图像数据的的绝对相位;
S604、将绝对相位转换为高度值,获得可以表示待测物体表面形貌信息的点云数据,完成对待测物体的三维重建。
借由上述技术方案,本发明提供了一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,至少具备以下有益效果:
1、本发明适用于反射率在较大范围内变化的待测物表面,通过抑制图像过饱和现象,解决因其导致的点云数据空洞问题。同时,改善结构光重建中使用的高动态范围技术存在的效率低、硬件复杂等不足之处,提高光栅条纹投影结构光三维重建过程的稳定性。
2、本发明相比于多重曝光的HDR技术其在测量时需要拍摄较多张图像,降低了测量效率;使用偏振滤光片造成硬件设备的复杂,目前的方法均存在不同的不足之处。本发明通过结合深度学习与光照模型,通过深度学习网络模型确定光照模型,剔除图像中的高光反射光强,保留环境光强与漫反射光强,实现对高反光物体的快速、高精度重建。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本发明高反光物体三维重建方法的流程图;
图2为本发明Blinn-Phong光照模型的示意图;
图3为本发明高光反射光强剔除网络模型的结构示意图;
图4为本发明所用到的多步相移条纹图案的示意图;
图5为本发明所用到的互补格雷码图案的示意图;
图6为本发明格雷码解码过程将包裹相位展开为绝对相位的示意图。
实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。借此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
请参照图1-图6,示出了本实施例的一种具体实施方式,本实施例为了解决高反光物体测量问题,结合深度学习与光照模型,实现了高反光待测物体表面形貌信息的准确高效测量,适用于反射率在较大范围内变化的待测物表面,通过抑制图像过饱和现象,解决因其导致的点云数据空洞问题。同时,改善结构光重建中使用的高动态范围技术存在的效率低、硬件复杂等不足之处,提高光栅条纹投影结构光三维重建过程的稳定性。
请参照图1,本实施例提出了一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,该方法包括以下步骤:
S1、对测量系统进行系统标定完成参数优化得到优化后的测量系统。
在步骤S1中,具体过程包括以下步骤:
拍摄若干张包含有棋盘格的图像,本实施例中九宫格法采集若干张图片,即在每个角的不同角度拍摄3次图像,共拍摄27张图像;随后使用张正友标定法对相机进行标定,获得相机自身内参矩阵M与外参矩阵N,构建相机图像坐标系与世界坐标系之间的关系,同时获得畸变系数。
具体的,选择棋盘格标定板投影图案上的角点作为建立两个坐标系的桥梁,即相机图像坐标系与投影仪图像坐标系,可得,其中表示棋盘格某角点在投影仪图像坐标系下坐标,表示相机拍摄到的经投影仪投影后棋盘格对应角点在相机坐标系下坐标,表示两个坐标系之间的转换关系。
S105、使用测量过程的逆过程对测量系统的参数进行整体优化,即根据棋盘格标定板上角点的投影仪图像坐标系中的坐标,使用莱文贝格-马夸特非线性最小化方法对相机图像坐标系中的坐标与世界坐标系中的空间坐标涉及到的投影仪、相机内参矩阵进行参数优化。
其中,测量系统由相机、投影仪、棋盘格和待测物体组成。
S2、采用优化后的测量系统对待测物体拍摄若干张曝光时间不同的多曝光图像,根据多曝光图像计算相机响应函数并获得传感器曝光量X与像素灰度值Z之间关系。
在步骤S2中,具体过程包括以下步骤:
S3、根据测量环境与待测物体物理特性构建Blinn-Phong光照模型,确定测量场景中的环境光照强度、漫反射光照强度与高光反射光照强度对进入相机光线的光线强度的贡献度;
如图2所示,为Blinn-Phong光照模型的示意图,其中的向量均为单位向量,表示观察方向,表示待测物体在某一点的法线方向,表示光线方向,表示入射光经物体表面后反射光线方向。在本实施例中,表示单目结构光中的相机光轴方向,表示投影仪光轴所在方向。
在步骤S3中,具体过程包括以下步骤:
上式中,分别表示Blinn-Phong光照模型中的环境光照强度、漫反射光照强度与高光反射光照强度,表示在距离光源距离为单位1的圆上接收到光的强度,表示某一位置到光源的距离,即代表距光源距离为部位接收到光的强度。表示漫反射系数,表示高光反射系数,本实施例中将设为0.65,值用于控制高光反射面积的大小于可观测到的高光范围。
S302、对步骤S301中Blinn-Phong光照模型进行转换;
由于本实施例中使用的是单目结构光限制,上述由公式定量描述的Blinn-Phong光照模型中的投影仪光轴方向与物体表面法线方向、相机光轴方向与反射光线方向之间的夹角均小于90度,因此可将上述Blinn-Phong光照模型转换为:
S4、构建高光反射光强剔除网络模型,基于相机响应函数与Blinn-Phong光照模型剔除图像数据中的高光反射部分,保留环境光强与漫反射光强,利用相机响应函数将剔除高光反射光强的光强转换为图像像素值,即获得去除过饱和后的图像;
在步骤S4中,具体过程包括以下步骤:
S401、建立高光反射去除数据集,并将高光反射去除数据集按照6:3:1的比例划分为训练集、测试集与验证集;
在步骤S401中,具体过程包括以下步骤:
S4011、在测量系统中增加偏振光滤片,利用起偏器和检偏器消除高光表面反射对相机系统的影响,获取无高光反射的图像数据;
S4012、使用无偏振光滤片的测量系统进行数据采集,获得包含有高光反射的图像数据;
S4013、将无高光反射的图像数据和包含有高光反射的图像数据合并为高光反射去除数据集。
在本实施例中,分别采集3000张包含有高光反射的图像数据与无高光反射的图像数据。
S402、将高光反射去除数据集的文件目录结构转化为PASCAL VOC数据集文件目录结构;
S403、搭建高光反射光强剔除网络模型,高光反射光强剔除网络模型的主体部分由两个模块组成:映射图计算模块和光照模型参数计算模块,映射图计算模块用于获取输入与输出图像之间映射图像;光照模型参数计算模块用于计算法向量、高光反射系数、高光范围控制系数与所受到的光强;
S5、根据多曝光图像投影相移图案、格雷码图案与纯色背景获得初始图像数据。
S6、将初始图像数据输入高光反射光强剔除网络模型剔除图像中高光部分,完成对待测物体表面形貌信息的三维重建。
在步骤S6中,具体过程包括以下步骤:
S601、采用四步相移法将初始图像数据生成四幅相移图案得到经过高度调制的条纹图;
具体的,利用公式将初始图像数据生成相移图案,本实施例使用四步相移,因此其中N=4,即投影四幅相移图。其中,表示待测物表面上条纹图案的光强,表示相移图案背景光强大小,表示调制强度,表示待求解条纹图像的截断相位,投影如图5所示的格雷码图案并使用工业相机采集。
S602、将条纹图输入到高光反射光强剔除网络模型中进行高光剔除,获得仅包括环境光照强度、漫反射光照强度的条纹图像数据;
S603、计算条纹图像数据的的绝对相位;
具体的,基于公式对处理后的四幅受高度调制的条纹图计算绝对相位,即计算条纹图像数据的的绝对相位,基于如图6所示的格雷码解码过程将包裹相位展开为绝对相位,绝对相位表达式,表示绝对相位,表示相位主值,表示各类码解码相位级次。
S604、将绝对相位转换为高度值,获得可以表示待测物体表面形貌信息的点云数据,完成对待测物体的三维重建。
具体的,利用下述公式将绝对相位转换为高度值(相对于标定平面),获得可以表示待测物表面形貌信息的点云数据,完成对待测物的三维重建。
其中,、为测量系统的固有参数(通过相机标定、投影仪标定与测量系统标定获得),表示条纹图案中条纹的像素周期长度,表示测量系统与参考平面间距离,表示相机与投影仪之间距离,表示上述步骤S503中的绝对相位。
以上实施方式对本发明进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (8)
1.一种基于深度学习与光照模型的高反光物体三维重建方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、对测量系统进行系统标定完成参数优化得到优化后的测量系统;
S2、采用优化后的测量系统对待测物体拍摄若干张曝光时间不同的多曝光图像,根据多曝光图像计算相机响应函数并获得传感器曝光量X与像素灰度值Z之间关系;
S3、根据测量环境与待测物体的物理特性构建Blinn-Phong光照模型;
S4、构建高光反射光强剔除网络模型;
S5、根据多曝光图像投影相移图案、格雷码图案与纯色背景获得初始图像数据;
S6、将初始图像数据输入高光反射光强剔除网络模型剔除图像中高光部分,完成对待测物体表面形貌信息的三维重建。
2.根据权利要求1所述的高反光物体三维重建方法,其特征在于:在步骤S1中,具体过程包括以下步骤:
S105、使用测量过程的逆过程对测量系统的参数进行整体优化。
3.根据权利要求1所述的高反光物体三维重建方法,其特征在于:测量系统由相机、投影仪、棋盘格和待测物体组成。
6.根据权利要求1所述的高反光物体三维重建方法,其特征在于:在步骤S4中,具体过程包括以下步骤:
S401、建立高光反射去除数据集,并将高光反射去除数据集按照6:3:1的比例划分为训练集、测试集与验证集;
S402、将高光反射去除数据集的文件目录结构转化为PASCAL VOC数据集文件目录结构;
S403、搭建高光反射光强剔除网络模型,高光反射光强剔除网络模型的主体部分由两个模块组成:映射图计算模块和光照模型参数计算模块,映射图计算模块用于获取输入与输出图像之间映射图像;光照模型参数计算模块用于计算法向量、高光反射系数、高光范围控制系数与所受到的光强;
7.根据权利要求6所述的高反光物体三维重建方法,其特征在于:在步骤S401中,具体过程包括以下步骤:
S4011、在测量系统中增加偏振光滤片,利用起偏器和检偏器消除高光表面反射对相机系统的影响,获取无高光反射的图像数据;
S4012、使用无偏振光滤片的测量系统进行数据采集,获得包含有高光反射的图像数据;
S4013、将无高光反射的图像数据和包含有高光反射的图像数据合并为高光反射去除数据集。
8.根据权利要求1所述的高反光物体三维重建方法,其特征在于:在步骤S6中,具体过程包括以下步骤:
S601、采用四步相移法将初始图像数据生成四幅相移图案得到经过高度调制的条纹图;
S602、将条纹图输入到高光反射光强剔除网络模型中进行高光剔除,获得仅包括环境光照强度、漫反射光照强度的条纹图像数据;
S603、计算条纹图像数据的的绝对相位;
S604、将绝对相位转换为高度值,获得可以表示待测物体表面形貌信息的点云数据,完成对待测物体的三维重建。
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