CN115752251A - 一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法，包括步骤：S1、设计加工光学底板；S2、在光学底板上钻打用于定位的销钉孔，利用销钉孔和光学底板确定基准轴；S3、调试光学组件的镜头；S4、将基准镜组件安装在光学底板上，并调整基准镜组件的安装角度和姿态，使基准镜组件的前表面法线平行于基准轴；S5、通过基准镜组件传递转移基准轴；S6、安装各光学组件，并基于转移后的基准轴调整各光学组件的姿态；S7、将组装完成的多光轴组件通过销钉孔安装至整星安装面，通过坐标换算得出各光学组件光轴的指向；上述方法提高了多光轴系统的指向精度，并在保证指向精度的前提下实现了安装简便，可重复拆装的功能。

Description

一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法

技术领域

本发明涉及光学测量领域，尤其涉及一种多光轴组件的高精度指向装配方法。

背景技术

随着航天技术和电子计算机技术的不断发展，激光基线测量技术也日趋成熟，激光基线测量技术主要用来完成基线的长度、倾角、偏航角以及天线姿态角的多参数的测量。采用激光干涉、激光自准直以及激光细光束位移探测原理等方式用来完成目标物理基线的长度、相对倾角、相对偏航角以及天线相对姿态信息(横滚角、俯仰角和偏航角)等信息的高精度测量时，涉及的关键技术有高精度激光单频干涉测长技术、高精度自准直仪测角技术和多自由度测量参数标定融合技术，上述方法具有原理简单、精度高和可靠性高的特点，而在这一过程中，就涉及到了多光轴高精度指向的实现。

目前在光轴标校和测定中采用的方法有两种：一种是将光轴通过立方镜引出后，经过多台经纬仪互瞄从而确定光轴的空间角度，但是采用这种方式需要多台经纬仪配合，测量精度难以保障；第二种通过高精度转台，将载荷安装在转台上来对光轴空间角度进行标校，而这种方式的测量精度和范围受限于测量转台精度和尺寸。

发明内容

本发明的目的是提供一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法，以解决目前技术中无法实现多光轴组件高精度指向的问题。

为实现上述目的，本发明提出了一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法，所述多光轴组件包含安装在光学底板上的多个光学组件，多个光学组件中包括有基准镜组件，各个光学组件的光轴相互平行，该装配方法包括以下步骤：

S1、设计加工光学底板；

S2、在光学底板上钻打用于定位的销钉孔，利用销钉孔和光学底板确定基准轴；

S3、调试光学组件的镜头；

S4、将基准镜组件安装在光学底板上，并调整基准镜组件的安装角度和姿态，使基准镜组件的前表面法线平行于基准轴；

S5、通过基准镜组件传递转移基准轴；

S6、安装各光学组件，并基于转移后的基准轴调整各光学组件的姿态；

S7、将组装完成的多光轴组件通过销钉孔安装至整星安装面，通过坐标换算得出各光学组件光轴的指向。

优选的，所述步骤S2进一步的包含以下步骤：

S21、在光学底板的四个角落分别钻打一个用于定位的销钉孔，其中相邻两个销钉孔的连线两两平行；

S22、将销钉孔及对应销钉所在的虚拟面与光学底板所在面相交确定两条互相平行的基准轴。

优选的，多个光学组件还包括四个细光束位移测量组件、两个激光干涉测长组件和两个自准直测角组件。

优选的，步骤S3进一步的包括以下步骤：

S31、调试各个细光束位移测量组件的发射准直镜头；

S32、调试各个激光干涉测长组件的准直镜头；

S33、调试各个自准直测角组件；

上述步骤S31、S32、S33之间无先后顺序。

优选的，所述步骤S31进一步的包括以下步骤：

S311、将细光束位移测量组件安装在三维调整架上，将光束质量分析仪放置在距离该细光束位移测量组件的发射准直镜头一段距离处的光学平台上；

S312、以细光束位移测量组件的发射准直镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使所述发射准直镜头的光轴与光束质量分析仪的光轴重合；

S313、通过调节所述发射准直镜头的光纤位置，调整该发射准直镜头的焦距及光纤光轴，同时在光束质量分析仪上读取细光束位移测量组件的发射准直镜头的发散角及成像光斑大小，使成像光斑达到最小；

S314、依次对每个细光束位移测量组件进行调试。

优选的，所述步骤S32进一步的包括以下步骤：

S321、将激光干涉测长组件安装在三维调整架上，将平行光管测试设备放置在激光干涉测长组件的准直镜头对面；

S322、以所述准直镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使激光干涉测长组件的准直镜头的光轴与平行光管测试设备的光轴重合；

S323、通过调节激光干涉测长组件的准直镜头的光纤位置，调整该准直镜头的焦距以及光纤光轴，在平行光管测试设备的CCD设备上读取激光干涉测长组件的准直镜头的发散角和成像光斑大小，使成像光斑达到最小；

S324、依次对各个激光干涉测长组件的准直镜头进行调试。

优选的，所述步骤S33进一步的包括以下步骤：

S331、将CCD放置在自准直测角组件镜头的平行位置；在自准直测角组件镜头前端放置平面反射镜，调整反射镜的角度，使自准直测角组件镜头发射的光束经过平面反射镜反射后的光束成像在CCD的像面上；

S332、通过前后调整CCD的像面位置，使CCD像面上的成像光斑最清晰；

S333、调整自准直测角组件镜头的光纤位置，使CCD像面上的成像光斑最小；

S334、依次对各个自准直测角组件镜头进行调试。

优选的，所述步骤S4进一步的包括以下步骤：

S41、将基准镜组件安装到光学底板上，使基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及光学底面平行：利用三坐标测量机分别测量基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差，调整基准镜组件的安装角度，将这两个偏差控制在规定范围以内；

S42、利用第一自准直仪和第二自准直仪，调整所述基准镜组件的姿态，使基准镜组件的前表面法线与基准轴平行。

优选的，所述步骤S42进一步的包括以下步骤：

S421、调整第一自准直仪和第二自准直仪的位置，使其光轴分别与高精度基准镜组件的两个表面的法线重合后，固定第一自准直仪和第二自准直仪；

S422、调整基准镜组件的姿态，使第一自准直仪和第二自准直仪测量的基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差与S41中三坐标测量机的测量偏差一致，之后固定基准镜组件，并利用三坐标测量机复测上述两个偏差，确保三坐标测量机的测量结果与第一自准直仪和第二自准直仪的测量结果之间的偏差小于规定值。

优选的，所述步骤S5进一步的包括以下步骤：

S51、将两个小口径平面反射镜分别放置在每台自准直仪和基准镜组件之间，分别调整两个小口径平面反射镜的姿态，使每台自准直仪的读数均为0，完成第一次基准轴转移；

S52、调整两台自准直仪的位置和姿态，使其不被基准镜组件遮挡，并对对应的小口径平面反射镜的测量读值为0时，固定两台自准直仪；

S53、撤掉两个所述小口径平面反射镜，在光学底板的另一侧放置大口径平面反射镜，调整大口径平面反射镜的姿态，使两个自准直仪的读数均为0，撤掉两台自准直仪，此时完成第二次基准轴转移，大口径平面反射镜的法线平行于基准轴。

本发明中，光电系统各部分组件间不存在相对运动，多光轴指向误差仅由机械加工、光轴调试等因素造成，因此可通过有效的设计机械基准并合理的将基准与光轴指向进行传递，从而提高系统多光轴的指向精度，并在保证指向精度的前提下实现安装简便，可重复拆装的功能。

附图说明

图1为本发明一种多光轴组件的示意图；

图2为本发明的多光轴组件的光轴示意图；

图3为本发明销钉孔与光学底板的示意图；

图4为本发明中利用自准直仪转移基准轴的位置示意图；

图5为本发明中利用平面反射镜转移基准轴的位置示意图；

图6为本发明一种多光轴组件高精度指向的装配方法流程图。

具体实施方式

以下将结合本发明实施例中的图1～图6，对本发明实施例中的技术方案、构造特征、所达成目的及功效予以详细说明。

需要说明的是，附图采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施方式的目的，并非用以限定本发明实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容能涵盖的范围内。

需要说明的是，在本发明中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括明确列出的要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

激光基线测量设备为多光轴组件，包含多个光学组件，如图1和图2所示，多个所述光学组件包括4个细光束位移测量组件1、2个自准直测角组件2、2个激光干涉测长组件3和1个高精度基准镜组件4；多个光学组件排列安装在光学底板5的安装平面上，其中细光束位移测量组件1的光轴11、自准直测角组件2的光轴21和激光干涉测长组件3的光轴31互相平行，并与高精度基准镜组件4前表面法线7′平行；所述高精度基准镜组件4安装在光学底板5的侧面中心；所述细光束位移测量组件1安装在所述光学底板5的四角，每个细光束位移测量组件1的镜头向外(“向外”的含义是镜头朝向光学底板5的四周)，其中4个细光束位移测量组件1形成两条平行的光轴直线，且这两条平行的光轴直线平行于高精度基准镜组件4的前表面法线7′；2个所述自准直测角组件2安装在所述细光束位移测量组件1的内侧，其两条光轴21位于4个细光束位移测量组件1形成的两条光轴11直线的内侧且与其平行；2个激光干涉测长组件3镜头向外地安装在两个自准直测角组件2之间，且两个激光干涉测长组件3的光轴31位于一条直线上，该直线也平行于细光束位移测量组件1的光轴11。

在使用上述多光轴的激光基线测量设备时，保证各光学组件的指向精度是非常重要的，因此本实施例公开一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法，如图6所示，包括以下步骤：

S1、设计加工高精度光学底板5；

选用铝基碳化硅作为光学底板5的材料，使用机器初步加工出一具有矩形平面的矩形光学底板5，机加工完成后对该光学底板5的安装平面进行研磨，使其安装平面的平面度达到0.002-0.003mm；

S2、确定基准轴；

S21、在研磨完成的光学底板5的四个角落分别钻打一个用于定位的销钉孔6；在将本实施例的多光轴组件装配完成后，通过所述销钉孔6以及对应的销钉将该多光轴组件安装在整星安装面上；利用高精度三坐标光学仪器根据安装需求测试销钉应处于的位置，从而确定销钉孔6应处于在光学底板5上的位置并钻孔，其中将销钉孔6的位置度公差控制在±0.01mm。

同时，在光学底板5上钻打用于安装固定各个光学组件的安装孔。

S22、将销钉虚拟面以及光学底面相交确定基准轴；

通过测试得到的销钉及销钉孔6的位置，解算获得销钉及销钉孔6所在虚拟面(以下简称销钉虚拟面)的位置；如图3所示，将销钉虚拟面以及光学底板5所在面(即光学底面)相交即可确定两条互相平行的基准轴7，该基准轴7为多光轴组件系统的光轴指向方向，也即两个销钉孔6的连线方向为光轴指向方向。

所述光学底板5为矩形，一般情况下，四个所述销钉孔6也围合构成一个矩形，且与光学底板5的矩形平行；一般情况下，考虑到各个光学组件大小及安装所需位置，所述基准轴7平行于矩形的短边，即距离较短的相邻两个销钉孔6的连线方向为光轴方向。

在其他实施例中，相邻两个销钉孔6的连线两两平行。

在另一些实施例中，也可以是距离较长的相邻两个销钉孔的连线方向为基准轴(光轴)方向。

S3、对各光学组件的镜头进行调试：在将细光束位移测量组件1、激光干涉测长组件3和自准直测角组件2安装在光学底板5上之前，需对其镜头进行调试，具体包括以下步骤：

S31、调试各个细光束位移测量组件1的发射准直镜头；

S311、将细光束位移测量组件1安装在三维调整架上，将光束质量分析仪放置在距离该细光束位移测量组件1的发射准直镜头20米处的光学平台上；

S312、以镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使所述发射准直镜头的光轴与光束质量分析仪的光轴重合；

在其他实施例中，还可采用光电耦合器件(CCD)代替光束质量分析仪，其起到的作用是一样的。

S313、通过调节所述发射准直镜头的光纤位置，调整该发射准直镜头的焦距及光纤光轴，同时在光束质量分析仪上读取细光束位移测量组件1的发射准直镜头的发散角及成像光斑大小，当成像光斑达到最小时即完成对细光束位移测量组件1的调试；

S314、依次对每个细光束位移测量组件1进行调试。

S32、调试各个激光干涉测长组件3的准直镜头；

S321、将激光干涉测长组件3安装在三维调整架上，将平行光管测试设备放置在激光干涉测长组件3的准直镜头对面；

S322、以该准直镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使激光干涉测长组件3的准直镜头的光轴与平行光管测试设备的光轴重合；

S323、通过调节激光干涉测长组件3的准直镜头的光纤位置，调整该准直镜头的焦距以及光纤光轴，在平行光管测试设备的CCD设备上读取激光干涉测长组件3的准直镜头的发散角和成像光斑大小，当成像光斑达到最小即完成对激光干涉测长组件3的准直镜头的调试；

S324、依次对各个激光干涉测长组件3的准直镜头进行调试。

S33、调试各个自准直测角组件2；

S331、将CCD放置在自准直测角组件2镜头的平行位置；在自准直测角组件2镜头前端放置平面反射镜，调整反射镜的角度，使自准直测角组件2镜头发射的光束经过平面反射镜反射后的光束成像在CCD的像面上；

S332、通过前后调整CCD的像面位置，使CCD像面上的成像光斑最清晰；

S333、调整自准直测角组件2镜头的光纤位置，当CCD像面上的成像光斑最小的时候即完成对自准直测角组件2镜头的调试；

S334、依次对各个自准直测角组件2镜头进行调试。

通过上述步骤完成对各个光学组件的镜头的调试，上述步骤S31、S32、S33不分先后。

S4、将高精度基准镜组件4安装在光学底板5上，并利用三坐标测量机和自准直仪调整其安装角度和姿态；

S41、将高精度基准镜组件4安装到光学底板5上，使高精度基准镜组件4的前表面法线7′与销钉虚拟面以及光学底面平行：利用三坐标测量机分别测量高精度基准镜组件4的前表面法线7′与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差，调整高精度基准镜组件4的安装角度，将这两个偏差控制在0.1°以内。

S42、利用第一自准直仪81和第二自准直仪82，调整所述高精度基准镜组件4的姿态；

S421、如图4所示，调整第一自准直仪81和第二自准直仪82的位置，使其光轴分别与高精度基准镜组件4的两个表面的法线重合后，固定第一自准直仪81和第二自准直仪82；其中第一自准直仪81的光轴与高精度基准镜组件4的侧表面法线重合，第二自准直仪82的光轴与高精度基准镜组件4的前表面法线7′重合。

S422、调整高精度基准镜组件4的姿态，使第一自准直仪81和第二自准直仪82测量的高精度基准镜组件4的前表面法线7′与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差与S41中三坐标测量机的测量偏差一致，之后固定高精度基准镜组件4，并利用三坐标测量机复测上述两个偏差，确保三坐标测量机的测量结果与第一自准直仪82和第二自准直仪83的测量结果之间的偏差小于1”，若该偏差大于1”，则重复步骤S4，直至该偏差小于1”。

S5、通过高精度基准镜组件4传递转移基准轴；

经过S4，高精度基准镜组件4的前表面法线7′与基准轴7平行，传递转移高精度基准镜组件4的前表面法线7′即为传递转移基准轴，具体包括以下步骤：

S51、将两个小口径平面反射镜91分别放置在每台自准直仪和高精度基准镜组件4之间，分别调整两个小口径平面反射镜91的姿态，使每台自准直仪的读数均为0，完成第一次基准轴转移，采用反射镜调整自准仪读数的精度为0.25”，即第一次基准轴转移的精度为0.25”；

其中，小口径平面反射镜91的口径为Φ100mm。

S52、调整两台自准直仪的位置和姿态，使其不被基准镜组件4遮挡，并对对应的小口径平面反射镜91的测量读值为0时，固定两台自准直仪；

S53、撤掉两个所述小口径平面反射镜91，在光学底板5的另一侧(相对自准直仪的一侧)放置大口径平面反射镜92，如图5所示，调整大口径平面反射镜92的姿态，使两个自准直仪的读数均为0，撤掉两台自准直仪，此时完成第二次基准轴转移，精度也为0.25”。

经过两次基准轴转移，大口径平面反射镜92的法线平行于基准轴7，转移精度累积达到0.5”。

其中，大口径平面反射镜92的口径为Φ400mm。

S6、安装各光学组件，并基于转移后的基准轴调整各光学组件的姿态；

通过光学底板5上的安装孔将各光学组件(4个细光束位移测量组件1、2个自准直测角组件2、2个激光干涉测长组件3)安装在光学底板上；基于大口径平面反射镜92的法线，对各光学组件的光轴进行高精度调整，使各光学组件的光轴平行于大口径平面反射镜92的法线，从而与基准镜组件4的前表面法线7′平行，即平行于基准轴，完成装调，撤掉大口径平面反射镜92。

S7、整机装调完成后，将组装完成的多光轴组件安装至整星安装面，通过4个销钉孔6安装固定；通过坐标换算得出各光学组件光轴的指向，无需另行对各组件的光轴进行标定，同时在保证光轴精度的前提下可以快速准确的反复拆装。

尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种实现多光轴组件高精度指向的装配方法，所述多光轴组件包含安装在光学底板上的多个光学组件，多个光学组件中包括有基准镜组件，各个光学组件的光轴相互平行，其特征在于，包括以下步骤：

S1、设计加工光学底板；

S2、在光学底板上钻打用于定位的销钉孔，利用销钉孔和光学底板确定基准轴；

S3、调试光学组件的镜头；

S4、将基准镜组件安装在光学底板上，并调整基准镜组件的安装角度和姿态，使基准镜组件的前表面法线平行于基准轴；

S5、通过基准镜组件传递转移基准轴；

S6、安装各光学组件，并基于转移后的基准轴调整各光学组件的姿态；

S7、将组装完成的多光轴组件通过销钉孔安装至整星安装面，通过坐标换算得出各光学组件光轴的指向。

2.如权利要求1所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S2进一步的包含以下步骤：

S21、在光学底板的四个角落分别钻打一个用于定位的销钉孔，其中相邻两个销钉孔的连线两两平行；

S22、将销钉孔及对应销钉所在的虚拟面与光学底板所在面相交确定两条互相平行的基准轴。

3.如权利要求1所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，多个光学组件还包括四个细光束位移测量组件、两个激光干涉测长组件和两个自准直测角组件。

4.如权利要求3所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，步骤S3进一步的包括以下步骤：

S31、调试各个细光束位移测量组件的发射准直镜头；

S32、调试各个激光干涉测长组件的准直镜头；

S33、调试各个自准直测角组件；

上述步骤S31、S32、S33之间无先后顺序。

5.如权利要求4所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S31进一步的包括以下步骤：

S311、将细光束位移测量组件安装在三维调整架上，将光束质量分析仪放置在距离该细光束位移测量组件的发射准直镜头一段距离处的光学平台上；

S312、以细光束位移测量组件的发射准直镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使所述发射准直镜头的光轴与光束质量分析仪的光轴重合；

S313、通过调节所述发射准直镜头的光纤位置，调整该发射准直镜头的焦距及光纤光轴，同时在光束质量分析仪上读取细光束位移测量组件的发射准直镜头的发散角及成像光斑大小，使成像光斑达到最小；

S314、依次对每个细光束位移测量组件进行调试。

6.如权利要求4所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S32进一步的包括以下步骤：

S321、将激光干涉测长组件安装在三维调整架上，将平行光管测试设备放置在激光干涉测长组件的准直镜头对面；

S322、以所述准直镜头前端表面结构为基准面，调整三维调整架，使激光干涉测长组件的准直镜头的光轴与平行光管测试设备的光轴重合；

S323、通过调节激光干涉测长组件的准直镜头的光纤位置，调整该准直镜头的焦距以及光纤光轴，在平行光管测试设备的CCD设备上读取激光干涉测长组件的准直镜头的发散角和成像光斑大小，使成像光斑达到最小；

S324、依次对各个激光干涉测长组件的准直镜头进行调试。

7.如权利要求4所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S33进一步的包括以下步骤：

S331、将CCD放置在自准直测角组件镜头的平行位置；在自准直测角组件镜头前端放置平面反射镜，调整反射镜的角度，使自准直测角组件镜头发射的光束经过平面反射镜反射后的光束成像在CCD的像面上；

S332、通过前后调整CCD的像面位置，使CCD像面上的成像光斑最清晰；

S333、调整自准直测角组件镜头的光纤位置，使CCD像面上的成像光斑最小；

S334、依次对各个自准直测角组件镜头进行调试。

8.如权利要求2所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S4进一步的包括以下步骤：

S41、将基准镜组件安装到光学底板上，使基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及光学底面平行：利用三坐标测量机分别测量基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差，调整基准镜组件的安装角度，将这两个偏差控制在规定范围以内；

S42、利用第一自准直仪和第二自准直仪，调整所述基准镜组件的姿态，使基准镜组件的前表面法线与基准轴平行。

9.如权利要求8所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S42进一步的包括以下步骤：

S421、调整第一自准直仪和第二自准直仪的位置，使其光轴分别与高精度基准镜组件的两个表面的法线重合后，固定第一自准直仪和第二自准直仪；

S422、调整基准镜组件的姿态，使第一自准直仪和第二自准直仪测量的基准镜组件的前表面法线与销钉虚拟面以及与光学底面的偏差与S41中三坐标测量机的测量偏差一致，之后固定基准镜组件，并利用三坐标测量机复测上述两个偏差，确保三坐标测量机的测量结果与第一自准直仪和第二自准直仪的测量结果之间的偏差小于规定值。

10.如权利要求4所述的实现多光轴组件高精度指向的装配方法，其特征在于，所述步骤S5进一步的包括以下步骤：

S51、将两个小口径平面反射镜分别放置在每台自准直仪和基准镜组件之间，分别调整两个小口径平面反射镜的姿态，使每台自准直仪的读数均为0，完成第一次基准轴转移；

S52、调整两台自准直仪的位置和姿态，使其不被基准镜组件遮挡，并对对应的小口径平面反射镜的测量读值为0时，固定两台自准直仪；

S53、撤掉两个所述小口径平面反射镜，在光学底板的另一侧放置大口径平面反射镜，调整大口径平面反射镜的姿态，使两个自准直仪的读数均为0，撤掉两台自准直仪，此时完成第二次基准轴转移，大口径平面反射镜的法线平行于基准轴。

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