CN115702355A - 使用触发生成的自动化测试设备和方法 - Google Patents

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Abstract

一种自动化测试设备包括主测试流程控件，该主测试流程控件被配置为在多个器件通信单元中操作测试流程和/或向本地计算单元提供触发配置信息。该自动化测试设备还包括器件通信单元，该器件通信单元包括被配置为生成触发信号的触发生成单元。所述触发生成单元还被配置为从接收自所述被测器件的基于协议的数据流提取有效载荷数据，并且响应于提取的有效载荷数据或者响应于一个或多个协议事件而生成所述触发信号。还公开了一种用于在自动化测试设备中测试一个或多个被测器件的方法和计算机程序。

Description

使用触发生成的自动化测试设备和方法
技术领域
根据本发明的实施例涉及自动化测试设备。
根据本发明的另一个实施例涉及用于测试被测器件的方法。
一般而言，根据本发明的实施例涉及响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号。
根据本发明的实施例涉及用于接近DUT接口的实时触发生成系统的自动化测试设备和方法。
背景技术
电子器件结构(包括例如微处理器、传感器、数字信号处理器等)的复杂性增加导致了测试电子器件的先进技术的发展。例如，自动化测试设备通常用于测试被测器件。
在自动化测试设备中，测试流程依赖于触发信号的生成，该触发信号导致测试执行中的变化。在触发结构中，通常在测试执行流程中发出特定事件的信号，并允许流程对该事件做出反应。换句话说，基于施加到触发生成单元的事件信号，生成触发信号。例如，对于取决于来自被测器件的结果的交互式测试流程，触发信号的生成是特别需要的，这相当于处理单元中的中断。
已经发现，在常规结构中，在一个方面，从被测器件到中央执行单元的数据传输和触发的集中生成方法通常导致不可接受的(即，高的)传输延迟。已经发现，中央数据总线(即中央数据接口或中央通信接口)可以例如提供标准化的传输容量，并且由此高数据量导致中央数据总线上的流量大以及数据交换速度慢。因此，已经发现，保持信号(例如时钟)的准确性变得困难或不可能，这导致实时性能有限和多站点效率有限。
在另一方面，通常使用直接基于PC的DUT连接方法。然而，已经发现这样的直接的PC使用导致有限的多站点可能性。此外，已经发现，直接基于PC的被测器件连接方法无法有效地控制测试器资源，例如电源。已经发现，由此，保持信号(例如时钟)的准确性变得困难或不可能，这导致实时性能有限和多站点效率有限。
在第三方面，通过简单匹配循环(即模式位序列的简单匹配)执行的实时模式比较方法通常用于现有ADV卡的常规解决方案中。然而，已经发现，由于位同步的困难，模式位的实时比较对于非确定性(例如，异步传输)接口是不可能的，并且对于协议感知(或协议感知通信)是不可能的。此外，由于有限的器件特定信息，内容感知的实现是不可能的。
已经提出了公开在从被测器件接收测试结果数据时触发生成或者直接在被测器件中触发生成的技术。例如，在US 20180372780A1中，公开了一种能够在接收到来自被测器件的信号时输出触发信号的测试和测量设备。US20190383873A1公开了一种测试和测量设备，该测试和测量设备仅在某些情况已经发生之后才从被测器件接收输入数据，由此通过模式比较来检测异常。在US20090072838A1中，公开了从被测器件得到的触发信号。US9164859B2公开了一种能够同时测试被测器件的方法。
鉴于以上所述，需要一种测试构思，其带来测试覆盖率、定时精度、延迟、实现工作量之间的改进的折衷。
发明内容
根据本发明的实施例提供了一种用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备，包括主测试流程控件，该主测试流程控件可以例如被配置为操作(或协调)多个器件通信单元中的测试流程和/或提供触发配置信息。自动化测试设备还包括器件通信单元，该器件通信单元经由测试器接口(例如，公共或共享的测试器接口，例如通信接口(总线))耦合到主测试流程控件，并且适合于与一个或多个被测器件对接。例如，器件通信单元可以经由一个或多个DUT接口与一个或多个被测器件耦合。
此外，器件通信单元包括触发生成器，该触发生成器被配置为响应于从被测器件接收的数据(例如，基于协议的数据流)而生成触发信号。例如，可以经由被测器件接口从被测器件接收数据。
此外，触发生成器被配置为从接收自被测器件的基于协议的数据流(例如，非确定性和/或协议感知的数据流)提取有效载荷数据，并且响应于所提取的有效载荷数据或响应于一个或多个协议事件而生成触发信号。
所述的自动化测试设备是基于这样的洞察：通过在器件通信单元上，即非常接近被测器件的地方，提供协议感知的触发生成，可以减少时延并且可以避免瓶颈。因此，可以实现对常规解决方案的显著改进，在常规解决方案中，实时触发生成单元可以不接近被测器件接口(或信道)，从而导致交互式测试流程期间的通信时延。因此，所述的实施例基于使用协议感知触发生成单元的思想，该协议感知触发生成单元是器件通信单元的一部分，并且仅经由被测器件接口耦合到被测器件。触发生成单元与被测器件接口的这样的紧密耦合使得通信时延能够缩短(因为不需要经由主测试流程控件和器件通信单元之间的测试器接口来转发完整的数据流)，由于短路径和实时性能(或处理)能力而实现了更好的定时预测(即，时间同步)。
所述实施例考虑了触发生成的实时要求，例如在事件本身和触发的通信或测试执行流程的反应之间保持最小的时延。换句话说，(协议感知的)触发生成单元是器件通信单元的一部分(不是主测试流程控件的一部分，由于主测试流程控件中的数据流量大，主测试流程控件可以生成具有高时延的触发数据)，以最小化通信时延。
此外，在一些情况下，时间确定性是触发生成的另一个实时要求。例如，通过允许用于触发生成和触发通信(或广播)的周期精确反向映射来实现时间确定性。例如，有限状态机考虑可预测的时钟周期数(反向映射或反向计算)来确定触发时间。然而，通过直接在器件通信单元上提供协议感知触发生成，可以避免通常由测试器总线上的拥塞引起的定时不准确。
因此，通过直接在器件通信单元上提供评估来自被测器件的基于协议的数据流的功能，并且基于对基于协议的数据流的评估(例如，基于从数据流提取的有效载荷数据或者基于协议事件(类似于某个协议状态，如果该协议可以被认为是状态机，或者协议错误)来提供触发，可以实现对一个或多个预定事件(例如，被测器件在数据流中提供预定数据，或者被测器件提供的数据流中的协议违反)的特别快速的反应，同时避免主测试流程控件和器件通信单元之间的测试器接口的时延。
此外，器件通信单元上的触发生成可以专用于(例如，直接地，例如，中间没有任何有源电路)耦合到器件通信单元的单个被测器件的测试，当与通常负责多个被测器件的并行测试的主测试流程控件中的处理(例如，触发生成)相比时，这进而允许更快的反应(使得处理能力必须在多个被测器件之间共享)。
此外，根据一个方面，由于具有协议接口的器件的简单位比较的不足，可以为触发定义指定更高级的要求。此外，实时触发生成可以例如处理器件特定信息(例如，加密、ID)、握手协议、器件参数、传感器读数、封装计数器、分组化协议和由于通信接口引起的非确定性。因此，通信接口可以例如向被测器件发送数据，并且可以例如从被测器件接收根据定义的协议而格式化的数据。
在优选实施例中，器件通信单元被配置为将触发事件传送到主测试流程控件(其例如在多个器件通信单元中组织(例如，操作或协调)测试流程)或经由测试器接口(例如，通信接口(总线))传送到另一个器件通信单元。因此，可以例如使得主测试流程控件能够响应于触发事件的通信来调整测试流程，从而对触发事件做出反应。然而，通过仅将描述触发事件的检测的信息传送到主测试流程控件，当与完整的(基于协议的)DUT数据流将被发送到主测试流程控件(并且其中，主测试流程控件评估DUT数据流)的情况相比时，将被发送到主测试流程控件的数据量和主测试流程控件的处理负荷可以明显更小。因此，主测试流程控件可以“集中”在一个或多个测试流程的总体控制(和/或协调)上(例如，相对于多个DUT的并行测试)，而触发信息的(基于协议的)生成由器件通信单元以分散的方式执行。
在优选实施例中，测试器接口(例如，通信接口(总线))相对于数据传输所需的时间是确定的。换句话说，时间确定性(例如，同步传输)可以使得能够预测数据传输的每个特定持续时间的周期数，以保证数据传递而无需重新发送。因此，主测试流程控件可以在可较好预测的时间段内对由器件通信单元提供的关于触发事件的信息做出反应。因此，对触发事件的反应可以是时间确定的，即使触发生成是在与主测试流程控件分离的器件通信单元中的。
在优选实施例中，测试器接口被配置为允许在主测试流程控件和至少一个器件通信单元之间进行双向通信。换句话说，双向测试器接口被配置为向主测试流程控件发送(或提供)触发数据(例如，从器件通信单元)，并且被配置为接收例如来自主测试流程控件的触发配置信息。此外，双向测试器接口被配置为将触发配置信息传送到至少一个器件通信单元，并且被配置为从器件通信单元接收触发信号。因此，主测试流程控件可以设置由触发生成评估的触发条件，并且可以接收触发数据(例如，指示由触发生成检测到触发事件的信息或专用消息)，使得主测试流程控件可以对触发过程具有控制权。此外，主测试流程控件可以响应于触发信号(或专用触发消息)的接收来调整测试流程，并且可以例如响应于专用触发消息的接收来向一个或多个其他器件通信单元发送触发消息。
在优选实施例中，触发生成器被配置为从一个或多个引脚上的分组化数据流和/或顺序位流提取有效载荷数据。例如，这可能意味着包括某个协议(例如，IJTAG、JTAG、USB、以太网或SATA等)的数据和格式的分组化数据流在从分组化数据流(即，基于协议的数据流)提取有效载荷数据时被触发生成器读取。此外，由触发生成器读取可能的多个并行引脚上的顺序位流，以提取有效载荷数据。因此，触发生成器以非常直接的方式处理在DUT的引脚处提供的数据，这允许非常小的时延，并且避免了经由自动化测试设备的内部接口的数据传输(这可能导致延迟并构成瓶颈)。
在优选实施例中，触发生成器被配置为评估器件通信单元和被测器件之间的一个或多个协议感知(即，基于协议的)通信，并且基于一个或多个协议感知(例如，基于协议的)通信的有效载荷数据而生成触发信号。例如，协议感知通信可以包括传感器数据(或传感器数据本身)的响应，该响应可以包含(或可以允许检测)被测器件中的发热异常。在提取协议感知数据流时，触发生成单元可以生成触发信号。因此，触发生成器甚至可以评估和响应(例如，通过提供触发信号)被测器件的模拟特性(如DUT温度、或DUT电源电压、或DUT电源电流、或任何其他DUT参数)，这些模拟特性由被测器件经由基于数字协议的接口传送。换句话说，触发生成器可以响应于一个或多个DUT参数值，这些参数值在由DUT提供的基于协议的数据流中以数字形式表示。因此，可能不再需要评估表示器件通信单元中的DUT参数的模拟量，这些模拟量易于失真并且通常难以处理。
在优选实施例中，触发生成器被配置为从原始被测器件通信提取有效载荷数据，并且基于有效载荷生成触发信号。因此，触发生成器可以基于有效载荷数据而生成触发，该有效载荷数据可以例如由运行在DUT上的软件以明确定义的方式生成，或者可以由DUT的硬件单元生成。通过评估用于触发的基于协议的通信的有效载荷数据，创建了允许DUT(或在DUT上运行的软件)有效地确定(或修改)测试流程的机制。此外，通过评估有效载荷(例如，通过评估包括在有效载荷中的数字值的幅度)，可以根据由有效载荷表示的(多位)数字信息来进行触发。
在优选实施例中，触发生成器被配置为响应于经由JTAG接口、或经由IJTAG接口、或经由边界扫描接口、或经由USB接口、或经由以太网接口、或经由SATA接口、或经由调试接口、或经由根据例如IEEE 1149.10的高速IO接口、或根据例如IEEE 802.11、或3GPP LTE、或3GPP 5G的无线接口从被测器件接收的数据(例如有效载荷数据)而生成触发信号。此外，低级接口(例如，调试接口)使得能够对被测器件进行直接存取的硬件组件，另一方面，高带宽接口(高速IO或以太网接口等)使得能够以高速向被测器件传送大量程序代码或数据，或者从被测器件传送大量程序代码或数据。因此，使用不同的接口使得能够实现高效的数据交换架构。此外，已经发现，对这样的基于协议的接口的数据流的触发允许对测试流程的良好控制，并且可以帮助检测可能由DUT的缺陷导致的通信错误。
在优选实施例中，触发生成器被配置为生成比较信息(例如，比较序列)并且基于比较信息和所提取的有效载荷数据而生成触发信号(例如，使用比较信息和所提取的有效载荷数据的比较结果)。有效载荷数据的提取例如来自被测器件提供的直接数据。换句话说，有效载荷数据的提取使得能够从直接数据解包协议数据。此外，比较信息的生成允许以高速度和低计算工作量生成触发，该比较信息的生成例如可以预先执行(例如在测试执行之前)或者可以“及时”执行，例如在测试执行期间。例如，在从协议解包有效载荷数据之后，可以使用简单的数据比较，这可以用很小的硬件工作量以非常高的速度来执行。
在优选实施例中，触发生成器被配置为基于触发配置信息而生成比较信息，该触发配置信息例如可以由主测试流程控件提供，并且例如可以对于多个被测器件是相同的，并且基于被测器件特定信息，该被测器件特定信息例如可以特定于被测器件，并且包括被测器件标识符和/或加密信息。预定触发配置信息提供例如50°的传感器温度值和被测器件特定信息，例如标识第n个被测器件。因此，触发生成器被配置为生成指示具有大于50°的传感器温度值的第n个被测器件的比较信息。这样的构思允许保持一定数量的数据，这些数量的数据必须由主测试流程控件来分配并且数量相当小。将公共比较信息和相对少量的器件特定的(或器件单独的)信息分配给不同的触发生成器就足够了，而不需要向多个触发生成器(例如，不同器件通信单元的)提供大量不同的(DUT单独的)“完整的”比较信息。因此，可以减少在自动化测试设备内传送的数据量，这对于执行多个DUT的同时测试是很重要的。
在优选实施例中，触发生成器包括硬件电路(例如，可配置的硬件触发电路，其例如可以包括硬连线信号流程)，该硬件电路被配置为将比较信息(例如，本地计算的“比较序列”)与所提取的有效载荷数据进行比较。换句话说，硬件电路(例如，在现场可编程门阵列(FPGA)或专用集成电路(ASIC)中实现)被配置为将预期数据与所获取的提取的有效载荷数据进行比较，其中，有效载荷数据的提取是在由被测器件提供的直接数据之外的。使用硬件电路生成触发允许特别高的数据速率，并有助于保持较小的时延。此外，由于通常存在可较好预测的延迟，因此可以实现良好的定时行为。
在优选实施例中，触发生成器被配置为提供包括一个或多个以下信息项的触发信号：
·描述检测到触发事件的时间的时间戳。触发信号的时间戳指示测得的与参考点(例如，全局参考点)相关的时钟周期的数量。
·关于触发类型的信息。触发类型考虑温度、和/或有效载荷数据、和/或协议事件、和/或触发ID。触发类型标识多个触发事件中的一个。
·关于触发源的信息(例如，多个DUT中的哪个DUT引起了触发事件的信息，或者是DUT有效载荷数据还是器件通信单元的组件引起了触发事件的信息)。换句话说，其指示关于引起触发事件的触发源的信息。
·关于有效载荷数据的信息(例如，在检测到触发事件之前的环境中，或者在检测到触发事件之后的环境中)。
·关于触发目标的信息(例如，指示自动化测试设备的哪个单元应对触发事件的检测做出反应的信息)。换句话说，该信息指示用于触发生成的自动化测试设备的目标单元。
·关于触发优先级的信息(例如，是否定义了具有不同优先级的多个触发条件)。例如，优先级可以由高级、中级或低级来定义，并且触发数据可以根据它们的触发优先级来逐一处理。
·关于年龄的信息(例如，关于触发事件的检测和发出触发事件的信号之间的时间的信息，例如，经由测试器接口)。关于触发年龄的信息可以通过触发事件检测的时间(例如，来自于有效载荷数据单元的提取)和发出触发事件信号(例如，来自于触发信号单元的生成)之间的时钟周期数来指定。
因此，触发信号非常有意义，并且允许对触发事件进行精确分析。
在优选实施例中，自动化测试设备包括中央触发信号分配器，该中央触发信号分配器被配置为从器件通信单元接收触发信号，并且将触发信号转发到另一个器件通信单元或另一个触发目标(例如，响应于触发信号执行动作的测试器设备，例如，改变提供给引起触发事件的DUT的信号的电压或信号参数)。此外，触发信号分配可以例如通过与测试器接口(即，通信接口(总线)或一般而言的数据接口)的通信以及监听测试器接口上的目标DCU来完成。通过以这样的方式分配触发信号或触发信息，可以实现多个器件协调单元之间的协调，这在多个器件通信单元合作测试单个DUT的情况下特别有帮助。另外，附加的测试器器可以响应于触发事件而进行时间同步或调整，这允许对不同的DUT反应做出响应的良好控制的测试。
在优选实施例中，自动化测试设备包括耦合到测试器接口(即，通信接口(总线))的一个或多个另外的器件通信单元，其中，一个或多个另外的器件通信单元中的至少一个(例如，目标器件通信单元)被配置为检测由源器件通信单元提供的测试器接口上的触发信号，并且对测试器接口上的触发信号的检测做出反应。因此，多个器件通信单元的操作(特别是对触发事件的反应)可以以有效的方式同步，其中，同步可以在不涉及主测试流程控件的情况下执行。因此，可以实现低时延，并且主测试流程控件的负荷可以保持较低。
在优选实施例中，自动化测试设备包括耦合到测试器接口(即，通信接口(总线))的一个或多个另外的器件通信单元，其中，一个或多个另外的器件通信单元中的至少一个(例如，目标器件通信单元)被配置为从源器件通信单元接收专用触发信号(例如，使用负荷板上的回送)，并且对专用触发信号的接收做出反应。换句话说，触发数据可以例如直接发送到目标器件通信单元，例如不通过测试器接口。因此，测试器接口的负荷可以保持非常小，并且时延可以减少到非常低的值，因为专用触发线可以用于专用触发信号的传输。
在优选实施例中，触发生成器被配置为根据完全匹配触发条件、和/或根据与通配符部分匹配的触发条件、和/或根据正则表达式触发条件来评估有效载荷数据(或位流)的匹配，以生成触发信号。具体而言，位流可以是提取的有效载荷数据，例如，有效载荷数据或协议事件信息的二进制表示。在触发比较过程中，位流可以具有例如完全或部分匹配触发条件或基于语法的条件，例如解析(例如，基于上下文的条件)。此外，触发比较过程可以例如包括不同的状态，例如如果激活条件匹配则通过(或用于)激发的触发的激活状态，或者通过不匹配激活条件(或在某个时间后去激活)的触发的禁用状态，或者通过(或用于)启用匹配激活条件的触发的启用状态(触发的先决条件(例如，中间状态，等待事件切换到激活状态))。因此，提供了灵活的触发构思。例如，有可能具有多步触发(例如，具有中间“激活状态”，其例如可以从“启用状态”到达)，这允许实现复杂的触发条件。此外，通过使用通配符(例如，无关项)和正则表达式(可以由触发生成器有效地评估)，当决定触发时，可以考虑数据流的实际有效载荷。
在优选实施例中，触发生成器被配置为根据参考后周期(cycle-after-reference)触发条件来评估有效载荷数据(或位流)的匹配，以生成触发信号。例如，这可能意味着被测器件和器件通信单元时间同步是通过使用全局同步参考(例如，来自诸如全局定位系统的全局导航卫星系统之一，或者来自公共同步信号)针对用于如果激活条件匹配则通过激发的触发的激活状态、或者通过不匹配激活条件(或者在某个时间后去激活)的触发的禁用状态、或者通过启用匹配激活条件(触发的先决条件(例如，中间状态，等待事件切换到激活状态))的触发的启用状态来实现的。因此，可以实现例如不同器件通信单元之间或不同测试器器之间的良好的定时同步。此外，可以实现确定性定时，这允许分析触发事件，例如当执行测试程序的调试或故障分析时。
在优选实施例中，触发生成器被配置为根据数值运算比较触发条件来评估有效载荷数据(或位流)的匹配，以生成触发信号。因此，有效载荷数据的数值可以例如用于决定触发。因此，可以根据DUT数据流的有效载荷数据是否指示某个数值来进行触发。
在优选实施例中，触发生成器被配置为根据最小匹配数触发条件或根据最大匹配数触发条件来评估有效载荷数据(或位流)的匹配，以生成触发信号。因此，触发可以非常灵活。
实施例提供了一种用于测试一个或多个被测器件的方法，包括响应于从被测器件(DUT)接收的数据(例如，有效载荷数据)(例如，经由DUT接口从DUT接收的数据)生成触发信号。此外，触发信号的生成包括从接收自被测器件的基于协议的数据流(例如，非确定性和/或协议感知的数据流)提取有效载荷数据，并且响应于所提取的有效载荷数据或响应于一个或多个协议事件而生成触发信号。该方法基于与上述装置相同的考虑。
然而，应注意，本文描述的方法可以可选地由本文公开的也是关于自动化测试设备的任何特征、功能和细节来补充。应注意，该方法可以可选地由这些特征、功能和细节补充，既可以单独补充也可以组合补充。
附图说明
随后将参考附图描述根据本发明的实施例，在附图中，：
图1示出了自动化测试设备的示意框图，该自动化测试设备用于响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号；
图2示出了自动化测试设备的模块的示意框图，该自动化测试设备的模块用于响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号；
图3示出了自动化测试设备的示意框图，该自动化测试设备用于响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号；
图4示出了触发生成块的示意框图，该触发生成块用于响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号。
具体实施方式
1.根据图1的自动化测试设备
图1示出了根据本发明的实施例的自动化测试设备100的示意框图。
自动化测试设备100包括主测试流程控件110，其中，主测试流程控件被配置为操作(例如，协调)到所有站点的测试流程(即，操作或控制整个测试流程以测试被测器件或同时测试多个被测器件)。自动化测试设备100包括器件通信单元120，该器件通信单元120还包括触发生成器122。触发生成器122包括有效载荷数据的提取124，其中，有效载荷数据的提取124例如被配置为提供所提取的有效载荷数据124a和/或协议事件信息124b，它们基于由被测器件130提供的数据(或数据流、或DUT数据或DUT数据流)130c。触发生成器122还包括触发信号的生成126，其中，触发信号的生成126被配置为生成触发信号126a，并且可以例如被配置为经由测试器接口112向主测试流程控件110发送(例如，输出或传送)触发信号126a。
此外，自动化测试设备100可选地被配置为向被测器件提供测试用例数据130a(例如，上传到被测器件的适当测试代码)和监视数据130b(例如，用于上传和/或开始和/或中断测试执行的监视程序)，并且从被测器件130接收数据130c(例如，响应数据)。
因此，在自动化测试设备100中，作为器件通信单元120的一部分的触发生成单元122例如直接耦合到被测器件，例如仅通过被测器件接口(图1中未明确示出)。触发生成单元122与DUT接口的紧密耦合通常提供了更好的定时预测，这是因为路径更短且时延更少，从而提供了连续的实时性能(或处理)能力。
总之，自动化测试设备100允许分散的和协议感知的触发生成，其中，不需要将完整的DUT数据转发到主测试流程控件。相反，触发生成发生在“分散的”触发生成单元122中，该触发生成单元122是器件通信单元的一部分。例如，触发生成单元可以“以其原始形式”接收DUT数据(例如，没有通过如测试器接口等自动化测试设备内部接口的中间传输)，并且可以考虑DUT数据为基础的通信协议来评估DUT数据130。因此，触发生成器126可以基于从(基于协议的)DUT数据提取的有效载荷和/或基于(或响应于)对一个或多个协议事件的检测而生成触发信号126a。因此，在器件通信单元中以分散的方式提供了能够评估DUT数据130c为基础的通信协议的精细评估功能，这允许快速(例如，能够实时)的触发生成，同时保持通过测试器接口122传输的数据量和主测试流程控件的处理负荷较低。
此外，应注意，自动化测试设备100可以可选地由本文公开的任何特征、功能和细节来补充，既可以单独补充也可以组合补充。
2.根据图2的参考示例
图2示出了根据本发明的实施例的自动化测试设备的模块200的示意框图。
自动化测试设备200的模块(例如，一部分)包括有限状态机(FSM)210，其中，有限状态机210例如可以是主控制块，即控制自动化测试设备200的模块的架构的功能。在这点上，应注意，与自动化测试设备100的触发信号的生成126相比，有限状态机210可以具有更广泛的功能。
此外，有限状态机210可以例如在硬件(例如，使用FPGA或ASIC)或软件(例如，使用CPU)中实现。
自动化测试设备的模块200还包括测试器IF(接口)220，其中，测试器IF 220被配置为接收触发信号212。此外，自动化测试设备的模块200包括随机存取存储器(例如，动态随机存取存储器(例如，DRAM)230或静态随机存取存储器)，该随机存取存储器还包括例如监视器232和测试用例234。监视器232例如可以是可以经由调试接口(例如低级接口或硬件接口)(例如JTAG)被提供(例如在有限状态机210的控制下)给被测器件250的监视器程序。例如，当由DUT 250的处理器或CPU执行时，监视器232用于控制DUT 250侧的测试执行。例如，监视器可以控制测试用例到DUT的上传和/或测试用例在DUT上的执行。换句话说，监视器可以例如支持经由高速IO接口216向被测器件250发送测试用例234。换句话说，监视程序用于上传和/或启动和/或中断测试执行。同样，监视器232可以例如能够评估(或预评估)在DUT上的测试执行的结果。
此外，测试用例可以用于将适当的测试程序或适当的测试数据上传到被测器件250。例如，测试用例可以包括测试程序和/或测试数据的定义。此外，测试用例234可以可选地包括配置信息，该配置信息用于从被测器件250接收有效载荷数据(例如，响应数据)，以及用于将响应数据转发给有限状态机210。
应注意，测试用例234可以例如被配置为提供测试用例程序，其中，测试用例程序可以例如包括要在被测器件250上处理或执行的测试数据或测试程序，以及要由自动化测试设备或自动化测试设备的有限状态机210执行的程序代码。
可选地，自动化测试设备的模块200还包括计算单元240，该计算单元240向有限状态机(FSM)210提供config或配置242(例如，触发配置信息)。换句话说，计算单元240可以是配置FSM 210的引擎。计算单元可以例如基于由主测试流程控件提供的数据来提供配置信息，该配置信息可以定义触发功能，该主测试流程控件可以例如临时存储在随机存取存储器或DRAM 230中。自动化测试设备的模块200可以例如通过高速IO接口216与被测器件250(即，外部设备)通信(例如，除了经由如JTAG、iJTAG等测试接口的通信之外)。
此外，有限状态机210可以例如从一个状态切换到另一个状态，以控制DUT的测试。在一些情况下，响应于有效载荷数据218(或USB有效载荷数据或JTAG有效载荷数据或IJTAG有效载荷数据等)，可以发生状态之间的切换。例如，状态可以在以下两者之间变化：
0)有效载荷到控件(其中，例如，数据可以从主测试流程控件提供给模块或器件通信单元200)
1)负荷监视(例如，监视程序232可以从随机存取存储器或DRAM230上传到DUT250)
2)负荷测试用例(其中，例如，测试用例234可以从随机存取存储器或DRAM 230上传到DUT 250)
3)执行测试用例(其中，例如，测试用例234可以被执行，例如在监视程序的控制下或由监视程序启动)
在下文中，将结合应用场景更详细地描述有限状态机210的状态流程转换。
被测器件250上的一个或多个传感器252(例如，片上传感器)可以例如被配置为通过测量平均温度来捕捉片上结构的即将发生的异常。在一个应用场景中，有限状态机(FSM)210可以例如最初在状态0中控制有效载荷的传输(例如，从主测试流程控件到模块200)。在状态1中，可以将监视程序上传到DUT，在状态2中，可以将测试用例数据上传到DUT，并且可以在状态3中执行测试，例如，直到片上传感器数据达到预定温度值。当满足触发条件时(例如，在某个触发事件时)(例如，当由传感器252测量并编码在基于协议的DUT数据流中的温度值达到预定值时)，(例如，当通过高速IO接口216从被测器件250接收(或获取)的传感器数据流所表示的传感器数据与由触发配置信息242定义的触发条件匹配时)，FSM 210可以触发序列(或状态转换)。
自动化测试设备的模块200还包括使得能够实现比典型的专用接口(例如专用测试接口)更快的片上测试的高速IO接口216(例如，通用串行总线(USB)、内部JTAG(IJTAG)、以太网、串行高级技术附件(SATA)等)。高速IO接口216可以例如用于向被测器件250发送(即，输出或传输)测试用例数据，或者从DUT接收根据协议嵌入在DUT数据流中的有效载荷数据218(例如，USB有效载荷数据或JTAG有效载荷数据或IJTAG有效载荷数据)并且将有效载荷数据提供给FSM 210，或者从随机存取存储器或DRAM 230接收数据并且根据(通信)协议将其转发给DUT 250。
在一个示例中，高速IO接口可以使用SATA协议或任何其他协议，这些协议例如可以包括器件特定信息(例如，加密、ID)和/或握手协议和/或封装计数器和/或分组化协议等。因此，高速IO接口216可以向被测器件250发送根据SATA协议或根据任何其他协议而格式化的数据。通过使用这样的协议，可以处理器件特定信息(例如，加密、ID)和由于通信接口引起的非确定性。
此外，随机存取存储器(例如，动态随机存取存储器(DRAM)230)可以例如通过处理器接口(PIF)与处理器(例如，中央处理单元(CPU))通信。
自动化测试设备的模块200还包括测试器接口(IF)220，该测试器接口200例如耦合到有限状态机(FSM)210和主测试流程控件110。测试器接口220例如被配置为使得能够以低延迟进行快速通信(例如，发送数据或接收数据)。此外，考虑到每次数据传输所需的周期数，测试器接口220优选但非必须是时间确定的。换句话说，在一些实施例中，保证了没有重发和/或在固定时间段内的数据传递。
总之，模块200可以例如允许测试DUT，该DUT可以例如是片上系统。高速IO可以例如使用基于协议的数据流将测试用例数据传送到DUT250，并且可以从DUT 250接收基于协议的数据流。高速IO 216可以例如接管有效载荷数据的提取124的功能，并且可以可选地能够发出一个或多个协议事件(例如，数据传输或数据分组的开始或结束、协议错误、预定义的协议状态等)的信号。因此，FSM或图2中未示出的专用触发生成例如可以响应于所提取的有效载荷和/或响应于一个或多个协议事件而生成触发信号。触发信号可以例如由有限状态机210使用，以控制测试的执行(例如，以触发状态转换)，和/或可以被转发到主测试流程控件和/或另一个器件通信单元和/或另一个测试仪器。
此外，应注意，自动化测试设备的模块200可以可选地由本文公开的任何特征、功能和细节来补充，既可以单独补充也可以组合补充。
3.根据图3的示例
图3示出了根据本发明的另一个实施例的自动化测试设备300的示意框图。
自动化测试设备300包括主测试流程控件310(其可以例如对应于主测试流程控件110)，其中，主测试流程控件310被配置为操作(协调)到所有站点(或至少多个站点)的测试流。自动化测试设备300还包括至少一个器件通信单元(DCU)320a至320n(其可以例如对应于器件通信单元120)，该器件通信单元包括触发生成器322(其可以例如对应于触发生成器122)和至少一个被测器件接口324a至324n。例如，自动化测试设备300可以通过向被测器件330a至330n提供测试用例数据(即，测试数据)以及通过从多个被测器件330a至330n中的每一个接收响应数据(即，测试响应)来并行测试多个被测器件330a至330n。例如，器件通信单元可以包括一个或多个DUT接口324a至324n，以建立与被测器件330a的一个或多个接口334a至334n的连接。然而，替代地，不同的DUT接口324a至324n也可以耦合到不同的被测器件，使得单个器件通信单元320a可以同时测试多个被测器件。替代地，可以使用多个器件通信单元来测试单个被测器件。
触发生成单元322被配置为经由测试器接口312(例如，用于器件通信单元与主测试流程控件通信的通信接口(总线))与主测试流程控件310通信(例如，向主测试流程控件310发送触发数据或从主测试流程控件310接收控制数据)，其中，测试器接口312例如被配置为在主测试流程控件310和至少一个DCU 320a至320n之间建立双向通信。此外，测试器接口312例如被配置为使得能够实现具有低时延的快速通信。所述测试器接口312可以例如在数据传输所需的周期数上是时间确定的。换句话说，可以保证没有重发的数据传递，或者在预定时间内的数据传递(即，由于可靠的传输，相同数据的重传不是必需的)。
此外，触发生成器322例如可以是(或包括)对来自被测器件330a的数据输入做出反应的可配置逻辑。换句话说，触发生成器322被配置为从被测器件(即，外部设备)接收(或读取)传入数据(例如，数据、或响应数据、或有效载荷数据、或测试结果数据、或传感器数据)。来自被测器件的传入数据例如可以是可能的多个并行引脚上的顺序位流或者分组化数据(例如，协议数据或者分组化协议)。触发生成器322可以被配置为生成触发信号并且将触发信号发送到测试器接口312。此外，触发生成器322可以生成多个触发。然而，触发生成器可以替代地或附加地被配置为向器件通信单元的另一个子单元提供触发信号。
在下文中，将解释触发生成器322的实现变体(例如，软件和可配置的硬件)。
软件触发生成可以例如在中央处理单元(CPU)上运行。例如，基于CPU的方法用于比较传入数据流，并且通过软件指令生成触发。通过使用这样的方法，可以在DCU上生成本地触发。如果应用适当的软件构思，该方法可以是时间确定的，例如，如果该方法在不使用例如缓存的情况下实现。然而，与硬件解决方案相比，这种方法可能较慢，而硬件解决方案可以用作另一个替代方案。
此外，应注意，自动化测试设备300可以可选地由本文公开的任何特征、功能和细节来补充，既可以单独补充也可以组合补充。
4.根据图4的示例
图4示出了触发生成块400的示意框图，该触发生成块400用于响应于从被测器件接收的数据而生成触发信号426。例如，图4所示的触发生成块400可以是本文公开的器件通信单元的一部分。
触发生成块400包括触发生成器420。触发生成器420可以例如对应于触发生成器122或322。
触发生成器420包括单元422(也用“A”表示)以及硬件(HW)比较(例如，FPGA、ASIC)单元424，单元422例如可以根据触发配置信息来适配硬件比较单元424，硬件比较单元424被配置为向主测试流程控件110、310提供(即，生成)触发信号426。
在可配置的硬件触发生成方法中，本地计算单元410可以使用触发配置(或触发配置信息)412和DUT特定信息414的组合而生成预先计算的信息或信号412a(例如，比较序列)。触发生成器420可以经由DUT接口430从本地计算单元410接收预先计算的信息或信号412a，并且从被测器件接收有效载荷数据430a。与有效载荷数据430a一起，至少一个协议事件信息可以可选地由DUT接口430提供。
例如，DUT接口430可以包括协议包装器432，该协议包装器432被配置为从DUT通信提取有效载荷数据430a。因此，有效载荷包装器可以例如被配置为使用器件特定数据(如解密密钥等)，以从DUT通信440提取“纯文本”有效载荷表示，该DUT通信440可以例如经由器件通信单元或自动化测试设备的DUT接口从DUT接收。此外，协议映射器还可以可选地向触发生成器420提供描述(或发出信号通知)一个或多个协议事件(例如，一个或多个预定义的协议状态，如帧的开始或结束，或一个或多个协议错误(如成帧错误、或奇偶错误、或分组丢失等)的信息(或信号)。
因此，触发生成器可以例如在由DUT接口430的协议包装器432提供的提取的有效载荷数据430a和由本地计算单元提供的预先计算的比较序列412a之间执行比较，其中，触发生成器可以考虑“通配符”或“无关项”，并且可以例如仅考虑用于触发生成的提取的有效载荷的一部分。如果比较满足预定条件，则可以激活或提供触发信号。触发配置信息412可以例如确定在比较中考虑提取的有效载荷430a的哪个部分，以及哪个比较标准用于激活(或提供)触发信号。
替代地或附加地，当决定触发信号的激活时，触发生成器可以考虑一个或多个协议事件，这些协议事件由协议包装器使用适当的信号或信息来报告。例如，触发信号可以响应于预定义的协议错误，或者响应于预定义的协议错误组合，或者响应于另一个协议事件(例如，响应于数据帧的结束)而被激活或提供。
总之，触发生成块400可以在DUT附近以灵活可配置的方式生成触发信号。
此外，应注意，触发生成块400可以可选地由本文公开的任何特征、功能和细节来补充，既可以单独补充也可以组合补充。
5.应用
在一个应用场景中，本文公开的涉及被测器件的测试的所述自动化测试设备可以特别地通过被测器件的片上传感器来控制测试执行。在测试过程期间，测试执行可以例如运行，直到由于DUT电路的发热(例如，芯片上的自发热)而达到某个传感器温度值(例如，50°的温度值)。换句话说，触发信号涉及测试执行，并且是在通过使用不同类型的传感器(例如，温度传感器)检测到被测器件中的片上自发热(或其他异常)之后生成的。
另一个应用场景可以涉及通过生成其他类型的触发信号来控制电源(例如，在不同的器件通信单元上，或者在不同的自动化测试模块中，或者在不同的自动化测试设备仪器中)在测试过程期间的电压降。
6.结论
在下文中，将提供一些结论。
在用于测试DUT的测试构思中，测试流程可能依赖于触发信号的生成，这导致整个测试执行中的变化。特别是对于基于来自被测器件的结果的交互式测试流程，需要生成触发信号。
应注意，根据本发明的所述的实施例提供了具有短通信时延的更好的定时预测(即，由于DUT接口和触发生成单元之间的短路径而导致的触发生成的时间同步)，从而提供了优于常规构思的更好的实时性能(或处理)能力和多站点效率。
根据本发明的实施例可以不被用作例如主测试流程控件的一部分，由于主测试流程控件中的数据通信流量大，主测试流程控件可以生成具有通信时延的触发数据。相反，根据本发明的一个方面，触发生成单元(或触发生成块)是器件通信单元的一部分，以最小化通信时延。具体而言，所述的自动化测试设备基于这样的洞察：实时触发生成单元应接近DUT接口(或通信信道)，以在交互式测试流程期间实现短的通信时延。
总之，所述实施例考虑了触发生成的实时要求，以在事件本身、触发的通信或测试执行流程的反应之间保持最小的时延。
总之，根据本发明的实施例可以用于以有效的方式测试被测器件，因此优于其他常规构思。
其他方面和实施例
在下文中，将描述根据本发明的其他方面和实施例。这些方面可以单独或组合使用，并且可以可选地单独或组合地引入本文公开的任何实施例中。
根据一个方面，根据本发明的实施例创建了一种用于接近DUT接口的实时触发生成系统的装置。
根据一个方面，根据本发明的实施例涉及接近信道的实时触发生成。
根据一个方面，测试流程可以依赖于触发的生成。例如，(一个或多个)触发可以向测试执行流程发出特定事件的信号。此外，(一个或多个)触发可以允许流程(或测试流程)对其做出反应(例如，对触发或触发信号或特定事件做出反应)。例如，交互式测试流可能需要生成触发，这取决于来自DUT的结果。根据一个方面，触发可以相当于处理单元中的中断。
根据一个方面，可以存在一个或多个质量要求(例如，相对于触发生成或实时触发生成)：
·事件本身和触发的通信/测试执行流程的反应之间的最小时延
·允许周期精确反向映射的时间确定性
○触发生成
○触发通信/广播
·触发定义的灵活性
○简单的位比较对于具有协议接口和更高级要求的器件是不够的·协议感知
○需要处理器件特定信息和由于通信接口而产生的非确定性
○握手、器件参数、传感器读数、封装计数器、分组化协议等
根据本发明的一个方面，在本发明的实施例中可以满足这些要求中的一个或多个甚至全部。
在下文中，将讨论在根据本发明的实施例中使用的一些构建块。
主测试流程控件可以耦合到器件通信单元(DCU)，其中，该器件通信单元是连接到DUT的本地处理单元。
主测试流程控件可以是为所有站点协调测试流程的主执行单元。
此外，可以有测试器接口，其可以是用于器件通信单元与主测试流程(或主测试流程控件)通信的通信接口(总线)。例如，测试器接口可以耦合在主测试流程控件和器件通信单元之间。
此外，可以存在触发生成，该触发生成是对来自DUT的数据(或数据流)输入做出反应的可配置逻辑，以生成触发信号并将其传送到测试器接口。可选地，可以生成多个触发。例如，触发生成可以是器件通信单元的一部分。
此外，还存在DUT接口，该DUT接口使得能够在器件通信单元和DUT之间进行通信。
此外，被测器件有时被表示为DUT或dut。
例如，在图3中示出了构建块的布置和相互作用的示例。
在下文中，将描述通用底层架构的一些(可选)细节和方面以及一些要求。
测试器接口优选地被设计成允许低时延的快速通信。此外，测试器接口优选地在数据传输所需的周期数和/或时间方面是确定的。优选地，测试器接口允许有保证的数据传递而无需重新发送。此外，优选地，测试器接口允许1..N DCS和主测试流程控件之间的双向通信。
触发生成可以例如从器件读取传入数据，例如
-可能的多个并行引脚上的顺序位流；
-分组化数据。
换句话说，例如，来自器件的输入数据可以是在一个引脚上或者并行地在多个引脚上的分组化顺序位流的形式。
触发生成有不同的可能实现变体：
可以使用软件触发生成(例如，在CPU上)。例如，基于CPU的方法可以比较传入数据流，并且通过软件指令生成触发(或触发信号)。例如，基于CPU的方法可以在DCU本地实现。在一些情况下，基于CPU的方法只有在不使用缓存的情况下才具有确定性。在一些情况下，基于CPU的方法比硬件解决方案要慢。
替代地或附加地，触发生成可以使用(或作为)可配置的硬件触发来实现。例如，可配置的硬件触发可以包括比较序列的本地生成，例如使用配置和DUT特定信息的组合。例如，可配置的硬件触发可以使用序列(例如，比较序列)与来自DUT的有效载荷(或提取的有效载荷)的本地比较。根据一个方面，可配置的硬件触发可以包括(或执行)从来自DUT的直接数据中提取有效载荷。根据一个方面，可配置的硬件触发可以解包协议数据。根据一个方面，可配置的硬件触发可以将触发传送到例如主测试器接口。根据另一方面，可配置的硬件触发可以将触发传送到(例如本地传输到)(一个或多个)不同的器件通信单元(DCU)，这些器件通信单元例如可以连接到相同的器件(或相同的DUT)。
图4示出了触发生成(或触发生成块)的示例。
在下文中，将提供关于触发(或触发信号)的一些可选方面和细节。根据一个方面，触发(或触发信号)由一个或多个以下项组成(或包括一个或多个以下项)：
·时间戳(例如从参考点开始的时钟周期)
·触发类型
·触发源
○DUT、DCU
·有效载荷数据
·触发目标
·优先级
·年龄
在下文中，将提供关于触发分配的一些可选方面和细节。例如，可以使用中央分配器来执行触发分配，例如从DCU到中央(或中央分配器)，以及从中央(或中央分配器)到DCU。作为另一个示例，可以使用总线通信和使用对总线上的目标DCU的监听来执行触发分配。根据另一个示例，可以存在到目标DCU的直接触发通信，例如使用例如负荷板上的回送。
在下文中，将描述关于触发比较的一些可选方面和细节。
例如，可以有以下一种、两种或多种状态：
·激活：激活条件匹配时激发
·禁用：激活条件不匹配
·启用：启用匹配激活条件
例如，当满足第一条件时或者当通过DCU的控制启用触发机制时，可以存在从禁用状态到启用状态的转换，并且当满足第二条件时，可以存在从启用状态到激活状态的转换，并且当满足激活条件时，可以提供(或激活)触发信号。然而，不同的功能也是可能的。
此外，例如，可以使用以下条件类型中的一个或多个：
-位流的匹配(例如，提取的有效载荷与预先计算的参考流的匹配)
·完全匹配
·使用通配符的部分匹配
·正则表达式
-参考后周期条件
·全局同步参考、激活、禁用、启用
-数值运算比较
-最小/最大匹配数
-对直接命令做出反应(例如，从DUT、从测试器接口)
在下文中，将描述关于DUT接口的一些可选方面和细节。根据一个方面，DUT接口允许DCU和DUT之间的协议感知通信。根据一个方面，DUT接口可以从原始器件通信执行有效载荷的解包。
根据一个方面，可以使用以下通信接口(或通信接口类型)中的一个或多个(例如，作为DUT接口，或作为多个DUT接口)：
-JTAG(IEEE 1149.x)
-IJTAG(IEEE 1687.x)
-边界扫描(IEEE 1500)
-高速IO测试存取
-IEEE 1149.10
·“通过USB”或利用一个或多个USB功能
·“通过以太网”或利用一个或多个以太网功能
·“通过SATA”或利用一个或多个SATA功能
-以太网
-USB
-SATA
-调试接口，例如TAP
应注意，IEEE 1149.10是用于对DUT的通用高速测试存取的标准，其利用了现有HSIO接口(例如USB、以太网、SATA)的部分(例如PHY、(去)串行化器、位和字对齐单元)。它不使用现有的控制器作为一个整体。
下面将描述一些可能的应用。
根据一个方面，根据本发明的实施例可以用于实现片上传感器控制的测试流程。
根据一个方面，可以执行芯片上传感器信息的读出。例如，可以执行测试执行，直到片上传感器发出50度的信号。作为另一个示例，可以执行对(例如，在不同的DCU上的)电源的电压降的控制。
在下文中，将讨论根据本发明的实施例相对于现有技术的可能改进。
根据一个方面，可以避免由于数据传输(例如，到中央执行单元)和由于触发的集中生成(例如，因为在实施例中使用了分散的触发生成)而导致的延迟(例如，触发的延迟)。
此外，当使用根据本发明的实施例时，避免了中央数据总线(例如，测试器接口)上的大流量。
此外，使用根据本发明的实施例，可以保持周期精度。
此外，根据本发明的实施例显示了良好的实时性能和良好的多站点效率。
此外，根据本发明的实施例具有良好的多站点可能性。
此外，使用根据本发明的实施例，可以有效地控制测试器资源，例如电源。
根据本发明的实施例可以处理非确定性接口，并且适合于协议感知(或协议感知通信)。
根据本发明的实施例允许内容感知的实现。
根据本发明的实施例可以考虑(或考虑)器件特定信息。
根据本发明的实施例可以允许位序列的简单匹配。
因此，根据本发明的实施例可以提供优于常规方法的大量优点。
实现替代方案
尽管已经在装置的上下文中描述了一些方面，但是清楚的是，这些方面也表示对应方法的描述，其中，块或器件对应于方法步骤或方法步骤的特征。类似地，在方法步骤的上下文中描述的方面也表示对应装置的对应块或项或特征的描述。部分或全部方法步骤可以通过(或使用)硬件装置来执行，例如微处理器、可编程计算机或电子电路。在一些实施例中，一个或多个最重要的方法步骤可以由这样的装置执行。
根据某些实现要求，本发明的实施例可以用硬件或软件来实现。可以使用其上存储有电子可读控制信号的数字存储介质(例如软盘、DVD、蓝光、CD、ROM、PROM、EPROM、EEPROM或闪存存储器)来执行该实现，该数字存储介质与可编程计算机系统协作(或能够协作)，从而执行相应方法。因此，数字存储介质可以是计算机可读的。
根据本发明的一些实施例包括具有电子可读控制信号的数据载体，该数据载体能够与可编程计算机系统协作，从而执行本文描述的方法之一。
通常，本发明的实施例可以被实现为具有程序代码的计算机程序产品，当该计算机程序产品在计算机上运行时，该程序代码可操作用于执行所述方法之一。程序代码可以例如存储在机器可读载体上。
其他实施例包括存储在机器可读载体上的用于执行本文描述的方法之一的计算机程序。
换句话说，因此，本发明方法的一个实施例是一种计算机程序，该计算机程序具有程序代码，当该计算机程序在计算机上运行时，该程序代码用于执行本文描述的方法之一。
因此，本发明方法的另一个实施例是一种数据载体(或数字存储介质，或计算机可读介质)，该数据载体包括记录在其上的用于执行本文描述的方法之一的计算机程序。数据载体、数字存储介质或记录介质通常是有形的和/或非变迁的。
因此，本发明方法的另一个实施例是表示用于执行本文描述的方法之一的计算机程序的数据流或信号序列。数据流或信号序列可以例如被配置为经由数据通信连接(例如经由互联网)来传输。
另一个实施例包括处理装置，例如计算机或可编程逻辑器件，其被配置为或适合于执行本文描述的方法之一。
另一个实施例包括计算机，其上安装有用于执行本文描述的方法之一的计算机程序。
根据本发明的另一个实施例包括一种装置或系统，其被配置为将用于执行本文描述的方法之一的计算机程序传输(例如，电子地或光学地传输)到接收器。例如，接收器可以是计算机、移动设备、存储器设备等。该装置或系统可以例如包括用于将计算机程序传输到接收器的文件服务器。
在一些实施例中，可编程逻辑器件(例如现场可编程门阵列)可以用于执行本文描述的方法的一些或全部功能。在一些实施例中，现场可编程门阵列可以与微处理器协作，以执行本文描述的方法之一。通常，这些方法优选地由任何硬件装置来执行。
本文描述的装置可以使用硬件装置、或使用计算机、或使用硬件装置和计算机的组合来实现。
本文描述的装置或本文描述的装置的任何组件可以至少部分地用硬件和/或软件来实现。
本文描述的方法可以使用硬件装置、或使用计算机、或使用硬件装置和计算机的组合来执行。
本文描述的方法或本文描述的装置的任何组件可以至少部分地由硬件和/或软件来执行。
上述实施例仅仅是对本发明原理的说明。应理解，对本文描述的布置和细节的修改和变化对于本领域的其他技术人员来说是显而易见的。因此，本文旨在仅受所附的专利权利要求的范围的限制，而不受通过描述和解释本文的实施例而呈现的具体细节的限制。

Claims (22)

1.一种自动化测试设备(100；200)，用于测试一个或多个被测器件(130；250；330a至330n)，所述自动化测试设备(100；200)包括：
主测试流程控件(110；310)；
器件通信单元(120；320a至320n)，其经由测试器接口(112；220；312)耦合到所述主测试流程控件(110；310)并且适合于与一个或多个被测器件(130；250；330a至330n)对接；
其中，所述器件通信单元(120；320a至320n)包括触发生成器(122；322；420)，所述触发生成器被配置为响应于从被测器件(130；250；330a至330n)接收的数据而生成触发信号；
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为从接收自所述被测器件(130；250；330a至330n)的基于协议的数据流提取有效载荷数据，并且响应于所提取的有效载荷数据或响应于一个或多个协议事件而生成所述触发信号。
2.根据权利要求1所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述器件通信单元(120；320a至320n)被配置为经由所述测试器接口(112；220；312)将触发事件传送到所述主测试流程控件(110；310)或另一个器件通信单元(120；320a至320n)。
3.根据权利要求1或2所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述测试器接口(112；220；312)在数据传输所需的时间方面是确定性的。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述测试器接口(112；220；312)被配置为允许所述主测试流程控件(110；310)和所述器件通信单元(120；320a至320n)之间的双向通信。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为从一个或多个引脚上的分组化数据流和/或顺序位流提取所述有效载荷数据。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为评估所述器件通信单元(120；320a至320n)和所述被测器件(130；250；330a至330n)之间的一个或多个协议感知通信，并且基于所述一个或多个协议感知通信的有效载荷数据而生成所述触发信号。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为从原始被测器件通信提取有效载荷数据，并且基于所述有效载荷生成所述触发信号。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为响应于经由JTAG接口、或经由IJTAG接口、或经由边界扫描接口、或经由USB接口、或经由以太网接口、或经由SATA接口、或经由调试接口、或经由根据诸如IEEE 1149.10之类的高速IO接口、或根据诸如IEEE 802.11或3GPPLTE或3GPP 5G之类的无线接口从被测器件(130；250；330a至330n)接收的数据，生成所述触发信号。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为生成诸如比较序列之类的比较信息并且基于所述比较信息和所提取的有效载荷数据而生成所述触发信号。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为基于触发配置信息和基于DUT特定信息而生成所述比较信息。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)包括被配置为将所述比较信息与所提取的有效载荷数据进行比较的硬件电路。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为提供包括一个或多个以下信息项的触发信号：
描述检测到触发事件的时间的时间戳，
关于触发类型的信息，
关于触发源的信息，
关于有效载荷数据的信息，
关于触发目标的信息，
关于触发优先级的信息，
关于年龄的信息。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述自动化测试设备包括中央触发信号分配器，所述中央触发信号分配器被配置为从器件通信单元(120；320a至320n)接收触发信号，并且将所述触发信号转发到另一个器件通信单元(120；320a至320n)或另一个触发目标。
14.根据权利要求1至13中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述自动化测试设备包括耦合到所述测试器接口(112；220；312)的一个或多个另外的器件通信单元(120；320a至320n)，其中，所述一个或多个另外的器件通信单元(120；320a至320n)中的至少一个被配置为检测所述测试器接口(112；220；312)上由源器件通信单元(120；320a至320n)提供的触发信号，并且对所述测试器接口(112；220；312)上的触发信号的检测做出反应。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述自动化测试设备包括耦合到所述测试器接口(112；220；312)的一个或多个另外的器件通信单元(120；320a至320n)，其中，所述一个或多个另外的器件通信单元(120；320a至320n)中的至少一个被配置为从源器件通信单元(120；320a至320n)接收专用触发信号，并且对所述专用触发信号的接收做出反应。
16.根据权利要求1至15中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为根据完全匹配触发条件、和/或根据与通配符部分匹配的触发条件、和/或根据正则表达式触发条件来评估有效载荷数据的匹配，以生成所述触发信号。
17.根据权利要求1至16中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为根据参考后周期触发条件来评估有效载荷数据的匹配，以生成所述触发信号。
18.根据权利要求1至17中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为根据数值运算比较触发条件来评估有效载荷数据的匹配，以生成所述触发信号。
19.根据权利要求1至18中任一项所述的自动化测试设备(100；200)，
其中，所述触发生成器(122；322；420)被配置为根据最小匹配数触发条件或根据最大匹配数触发条件来评估有效载荷数据的匹配，以生成所述触发信号。
20.一种用于测试一个或多个被测器件(130；250；330a至330n)的方法，所述方法包括：
其中，所述方法包括响应于从被测器件(130；250；330a至330n)接收的数据，生成触发信号；
其中，所述触发信号的生成包括从接收自所述被测器件(130；250；330a至330n)的基于协议的数据流提取有效载荷数据，并且响应于所提取的有效载荷数据或响应于一个或多个协议事件而生成所述触发信号。
21.根据权利要求20所述的方法，
其中，所述方法在包括主测试流程控件(110；310)和器件通信单元(120；320a至320n)的装置中执行，
其中，所述器件通信单元(120；320a至320n)耦合到所述主测试流程控件(110；310)，并且其中，所述器件通信单元(120；320a至320n)与一个或多个被测器件(130；250；330a至330n)对接，
其中，所述触发信号的生成在所述器件通信单元(120；320a至320n)中执行。
22.一种计算机程序，所述计算机程序当在计算机上运行时，用于执行根据权利要求20或21所述的方法。
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