CN115686978B - 一种老化测试方法、系统以及pcb板 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电子检测的技术领域，尤其是涉及一种老化测试方法、系统以及PCB板，其方法包括：当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；判断配置文件是否为老化测试配置文件；若是，则解析老化测试配置文件，得到配置数据；根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果；基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

Description

一种老化测试方法、系统以及PCB板

技术领域

本申请涉及电子检测的技术领域，尤其是涉及一种老化测试方法、系统以及PCB板。

背景技术

老化测试是消费电子类产品生产中极重要的一环，利用老化测试可及时发现产品可能存在的问题或者缺陷，在控制产品良品率方面有非常重要的作用。具体的，老化测试为通过模拟产品的极端使用情况，测试产品稳定性以及持久性，其中，老化测试对象主要包括：CPU（Central Processing Unit，中央处理器）、GPU（Graphics Processing Unit, 图形处理器）、内存、flash（Flash Eerrom Memory，闪存）等以及相应软件系统。

针对消费电子类产品进行老化测试，现有技术通常是在产品组装完成后，通过播放视频或者运行特定游戏进行老化测试，并通过屏幕观察老化结果，然而，发明人发现，现有技术在进行老化测试时，首先需要将产品组装完成，才进行老化测试，对测试组件的齐备性要求比较严格，极大增加了配件的供货压力、增加生产工序和周转时间，老化测试工序较为复杂。

因此，如何摆脱老化测试对配件的依赖，以降低老化测试操作的复杂度为本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种老化测试方法、系统以及PCB板，用于解决以上至少一项技术问题。

本申请的上述发明目的是通过以下技术方案得以实现的：

第一方面，本申请提供一种老化测试方法，采用如下的技术方案：

一种老化测试方法，所述方法包括：

当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

判断所述配置文件是否为老化测试配置文件；

若是，则解析所述老化测试配置文件，得到配置数据，其中，所述配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果；

基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述显示状态用于表征老化测试结果。

通过采用上述技术方案，获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：当老化测试项目包括多个测试项目时，

所述根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果，包括：

根据所述配置数据，确定所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，所述测试属性包括以下一项或多项：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置；

按照所述测试顺序，根据所述测试属性，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。

通过采用上述技术方案，当老化测试项目包括多个测试项目时，根据所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。利用多个测试项目对PCB板进行老化测试，能够使得对PCB板的老化测试更加全面，且依次运行测试项目对应的测试程序，便于测试者实时跟踪测试进度。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：测试项目为视频测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试素材存储位置，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试素材存储位置，获取测试视频；

基于所述测试视频以及所述测试时长，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试；

在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况；

若存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试失败，若不存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试通过。

通过采用上述技术方案，当测试项目为视频测试项目，基于测试属性，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试，并在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况，根据监控情况确定视频测试项目对应的测试结果。在视频测试过程中，通过判断视频播放时是否存在异常情况，能够精准地确定PCB板的播放视频功能以及相应的模块是否存在缺陷。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：测试项目为休眠唤醒测试项目，测试属性包括：测试时长、测试次数以及测试方式，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试方式，确定测试方式为唤醒与休眠交替进行；

根据所述测试时长，确定唤醒时长以及休眠时长；

基于所述唤醒时长、所述休眠时长、所述测试方式以及所述测试次数运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理；

在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况；

若存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试失败，若不存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试通过。

通过采用上述技术方案，当测试项目为休眠唤醒测试项目，基于测试属性，运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理，并在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况，根据监控情况确定休眠唤醒测试项目对应的测试结果。通过判断休眠唤醒测试时是否存在异常情况，能够精准地确定PCB板的休眠唤醒功能以及相应的模块是否存在缺陷。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：测试项目为游戏测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试方式，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试方式，确定测试方式为游戏界面渲染；

基于所述测试时长以及所述测试方式，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染；

在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在异常情况；

若存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试失败，若不存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试通过。

通过采用上述技术方案，当测试项目为游戏测试项目，基于测试属性，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染，并在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在异常情况，根据监控情况确定游戏测试项目对应的测试结果。通过判断游戏测试过程时是否存在界面渲染异常情况，能够精准地确定PCB板的界面渲染功能以及相应的模块是否存在缺陷。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：TF卡小板上设置LED灯，

所述基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，包括：

当所述测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令，基于所述第一控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第一控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第一显示状态；

当所述测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于所述第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态；

和/或，

所述老化测试方法，还包括：

在进行老化测试项目的测试过程中，实时获取测试进度信息；

基于所述测试进度信息生成第三控制指令，基于所述第三控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第三控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第三显示状态。

通过采用上述技术方案，当测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令并控制TF卡小板呈现第一显示状态，当测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令并控制TF卡小板呈现第二显示状态。且，在测试过程中，能够实时获取测试进度信息，并基于试进度信息生成第三控制指令并控制TF卡小板呈现第三显示状态。便于测试者能够基于TF卡小板上LED灯的显示状态，快速准确地得知当前老化测试的进度以及测试结果。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述当所述测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于所述第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态之后，还包括：

结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。

通过采用上述技术方案，当测试结果为测试项目失败时，生成第二控制指令且控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态之后，会结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。在检测到测试项目失败后，能够根据TF卡小板LED灯呈现第二显示状态确定测试项目失败情况，即表明PCB板存在缺陷，故结束老化测试程序，缩短了老化测试的时间，且在一定程度上避免了PCB板继续做较多老化测试项目。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态之后，还包括：

基于启动老化测试程序时刻以及当前时刻，确定老化测试程序的运行时长；

判断所述老化测试程序的运行时长是否小于测试总时长；

若小于，则继续运行老化测试程序，若不小于，则结束运行老化测试程序。

通过采用上述技术方案，根据老化测试程序的运行时长与测试总时长的关系，确定PCB板是继续运行老化测试程序还是结束运行老化测试程序，避免持续进行老化测试，造成对PCB板的测试结果不准确。

第二方面，本申请提供一种老化测试装置，采用如下的技术方案：

一种老化测试装置，包括，

获取配置文件模块，用于当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

判断模块，用于判断所述配置文件是否为老化测试配置文件；

文件解析模块，用于若是，则解析所述老化测试配置文件，得到配置数据，其中，所述配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

测试程序模块，用于根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果；

控制显示模块，用于基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述显示状态用于表征老化测试结果。

通过采用上述技术方案，获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

第三方面，本申请提供一种PCB板，采用如下的技术方案：

至少一个处理器；

存储器；

至少一个应用程序，其中至少一个应用程序被存储在存储器中并被配置为由至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行上述的方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机中执行时，令所述计算机执行上所述的方法。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

附图说明

图1是本申请其中一实施例的一种老化测试方法的流程示意图。

图2是本申请其中一实施例的一种老化测试装置的结构示意图。

图3是本申请其中一实施例的一种PCB板的结构示意图。

具体实施方式

以下结合图1至图3对本申请作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本申请的解释，其并不是对本申请的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的范围内都受到专利法的保护。

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

另外，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

下面结合说明书附图对本申请实施例作进一步详细描述。

老化测试是消费电子类产品生产中极重要的一环，利用老化测试可及时发现产品可能存在的问题或者缺陷，在控制产品良品率方面有非常重要的作用。具体的，老化测试为通过模拟产品的极端使用情况，测试产品稳定性以及持久性，其中，老化测试对象主要包括：CPU、GPU、内存、flash等以及相应软件系统。

针对消费电子类产品进行老化测试，现有技术通常是在产品组装完成后，通过播放视频或者运行特定游戏进行老化测试，并通过屏幕观察老化结果，然而，发明人发现，现有技术在进行老化测试时，首先需要将产品组装完成，才进行老化测试，对测试组件的齐备性要求比较严格，极大增加了配件的供货压力、增加生产工序和周转时间，老化测试工序较为复杂。

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种老化测试方法、系统以及PCB（PrintedCircuit Board，印制电路板）板，本申请中，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF（TransFLash，T-Flash卡）卡小板针对PCB板进行测试，其中，PCB板中包括CPU、GPU、内存、flash等组件，这些组件决定了电子类产品的性能。因而，利用这种方式进行老化测试，不仅降低的老化操作的复杂度，而且摆脱老化测试对配件的依赖，极大简化了老化测试工序。

本申请实施例提供了一种老化测试方法，由PCB板执行，如图1所示，该方法包括步骤S101、步骤S102、步骤S103、步骤S104以及步骤S105，其中：

步骤S101：当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

在本申请实施例中，由PCB板执行进行老化测试，当PCB板接通电源且插入TF卡小板后，PCB板能够检测到TF卡小板接入，并启动老化测试程序，即，在PCB板接通电源且插入TF卡小板后，PCB板会启动一次老化测试程序，后续能够通过判断配置文件确定是否执行测试程序。然后，获取TF卡小板中存储的配置文件，其中，配置文件是一种计算机文件，可以为计算机程序配置参数和初始设置。

步骤S102：判断配置文件是否为老化测试配置文件；

在本申请实施例中，老化测试配置文件是由老化测试程序确定的，即初始编写老化测试程序时就已确定老化测试配置文件。判断从TF卡小板中获取的配置文件是否为老化测试配置文件的方式有很多，本申请实施例不再进行限定，用户可根据实际情况进行设定。优选的，能够基于配置文件名称判断是否为老化测试配置文件，即将获取到的配置文件名称与老化测试配置文件的名称进行匹配，若匹配成功，则确定配置文件为老化测试配置文件；若匹配不成功，则确定配置文件非老化测试配置文件。

步骤S103：若是，则解析老化测试配置文件，得到配置数据，其中，配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

在本申请实施例中，若配置文件并非老化测试配置文件，则会结束运行老化测试程序，不再进行后续操作。若配置文件为老化测试配置文件，则会对配置文件进行解析操作，由于配置文件中配置数据的格式相同，解析操作即根据配置文件得到配置数据的过程，其中，配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息。具体的，老化测试项目包括但不限定于以下一种或多种：视频测试、游戏测试（包括：3D测试以及2D测试）、内存测试、休眠唤醒测试、重启测试；配置信息主要包括但不限定于以下一种或多种：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置。例如，配置数据中包括视频测试，针对视频测试的配置信息可以包括：测试素材存储位置为“/mnt/sdcard/runin/video”，测试时长为30分钟。

步骤S104：根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果；

在本申请实施例中，根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序可分为多种情况，在一种可实现的方式中，基于配置数据确定仅包括一个老化测试项目，根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到该老化测试项目的测试结果。在另一种可实现的方式中，基于配置数据确定老化测试项目包括多个测试项目，且，根据配置数据能够确定多个测试项目对应的执行顺序以及对应的配置信息，基于配置数据依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目的测试结果。其中，测试结果包括：任一测试项目通过、任一测试项目失败。

步骤S105：基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，显示状态用于表征老化测试结果。

在本申请实施例中，若仅有一项老化测试项目，则测试结果就为该项老化测试项目的测试结果，针对老化测试项目通过以及老化测试项目失败两种情况，分别生成两种控制指令，并基于两种控制指令，控制TF卡小板呈现两种不同的显示状态，便于通过TF卡小板上LED灯的显示状态得知老化测试结果。若老化测试项目包括多项测试项目，则测试结果包括多项测试项目的测试结果，针对每一项测试项目对应的测试结果，均会生成对应的控制指令，基于不同的控制指令控制TF卡小板呈现不同的显示状态，便于根据显示状态查看和跟踪测试情况。具体的，测试结果与控制指令的关系，控制指令与TF卡小板上LED灯的显示状态的关系均为预先设定的，具有一对一的对应关系，即，能够根据TF卡小板上LED灯的显示状态精准确定测试结果，以确定存在缺陷的PCB板。

针对包括多种测试项目的情况，PCB板在执行基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态的方式有很多，优选的，TF卡小板上设置有多个LED灯，每一LED灯用来表示一个二进制位， LED灯亮灭分别表示为1和0，基于多个LED灯对应表示的二进制数字确定老化测试结果，其中，每一二进制数字对应一种老化测试结果。例如，TF卡小板上设置有4个LED灯，针对4个LED灯的显示状态，每一LED灯亮灭分别表示为1和0，可以生成2⁴种二进制数字，对应表示16种老化测试结果。

当然还可以利用其它的方式，例如，若老化测试程序中包括3项测试项目时，TF卡小板上设置有3个LED灯，每一LED灯状态对应一项测试项目的测试结果，其中，LED灯闪烁表明测试项目正在进行，LED灯呈现绿色表示测试项目通过，LED灯呈现红色表示测试项目失败，故能够根据TF卡小板上LED灯的显示状态，明确地得知老化测试结果。例如，为每一测试项目设置两个LED灯，用于表征该测试项目的测试情况，若老化测试项目中包括3项测试项目，则在TF卡小板上设置有6个LED灯，每两个为一组，每组LED灯对应一项测试项目。每组中第一个LED灯代表是否正在执行该组LED灯对应的测试项目，每组中第二个LED灯代表该组LED灯对应的测试项目的测试结果，其中，可以将第二个LED灯呈现绿色表示测试项目通过，第二个LED灯呈现红色表示测试项目失败。基于测试结果控制TF卡小板上LED灯的显示状态的方式，本申请实施例不再进行限定，用户可根据实际情况进行限定。

可见，在本申请实施例中，获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

进一步的，为了对PCB板的老化测试更加全面，且依次运行测试项目对应的测试程序，便于测试者实时跟踪测试进度, 在本申请实施例中，当老化测试项目包括多个测试项目时，根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果，包括：

根据配置数据，确定所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，测试属性包括以下一项或多项：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置；

在本申请实施例中，当老化测试项目包括多个测试项目，PCB板能够基于配置数据确定测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，测试属性与配置数据中的配置信息相对应，测试顺序由各项测试项目在配置数据中所处的位置确定，即，各项测试项目在配置数据中编写的顺序就为测试项目的测试顺序。

按照测试顺序，根据测试属性，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。

在本申请实施例中，测试属性用于确定各项测试项目所需得知的信息，能够基于测试属性成功地执行测试项目对应的测试程序。PCB板在执行多个测试项目时，会依据所有测试项目的测试顺序依次执行，固定的测试顺序，便于管理人员能够根据测试结果较快确定各项测试项目的测试结果。

例如，根据配置数据确定所有测试项目以及相应的测试顺序为：视频测试项目、休眠唤醒测试项目、游戏测试项目，其中，视频测试项目中测试属性以及对应的具体情况分别为：测试素材存储位置为“/mnt/sdcard/runin/video”，测试时长为30分钟；休眠唤醒测试项目中测试属性以及对应的具体情况分别为：测试方式为唤醒与休眠交替进行，唤醒时长为10秒、休眠时长为290秒，测试次数为12次；游戏测试项目中测试属性以及对应的具体情况分别为：测试方式为游戏界面渲染，测试时长为30分钟。按照测试顺序以及测试属性，依次运行视频测试项目的测试程序，即播放30分钟视频、休眠唤醒测试项目的测试程序，即唤醒10秒，休眠290秒交替进行12次，以及游戏测试项目的测试程序，即渲染游戏界面30分钟。在每一测试项目过程中，持续监控测试情况，若未出现异常情况，则确定该项测试结果为通过；若出现异常情况，则确定该项测试结果为失败。

可见，在本申请实施例中，当老化测试项目包括多个测试项目时，根据所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。利用多个测试项目对PCB板进行老化测试，能够使得对PCB板的老化测试更加全面，且依次运行测试项目对应的测试程序，便于测试者实时跟踪测试进度。

进一步的，为了精准地确定PCB板的播放视频功能以及相应的模块是否存在缺陷,在本申请实施例中，测试项目为视频测试项目，

测试属性包括：测试时长以及测试素材存储位置，

根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据测试素材存储位置，获取测试视频；

基于测试视频以及测试时长，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试；

在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况；

若存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试失败，若不存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试通过。

在本申请实施例中，PCB板基于测试素材存储位置，获取相应位置存储的测试视频，视频测试项目对应的测试程序能够基于测试视频以及测试时长进行视频测试。在进行视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况，判断是否存在异常情况有多种形式，在一种可实现的方式中，在进行视频测试的过程中，实时判断是否出现死机或者系统重启的情况。若出现死机或者系统重启的情况，则确定存在异常情况；若未出现死机或者系统重启的情况，则确定不存在异常情况。

在另一种可实现的方式中，在进行视频测试的过程中，持续监控测试视频是否存在数据异常的图像帧，判断监控测试视频存在数据异常的图像帧的方式有多种，在一种情况中，依据播放的测试视频图像，建立梯度信息值矩阵，其中，梯度信息值矩阵包括至少一个关键像素点的函数矩阵信息，依据梯度信息值矩阵中的各关键像素点的函数矩阵信息，检测测试视频是否出现马赛克，若测试视频出现马赛克，则表明测试视频存在数据异常的图像帧；若测试视频出现马赛克，则表明测试视频存在数据异常的图像帧；若测试视频未出现马赛克，则表明测试视频不存在数据异常的图像帧。在另一种情况中，针对测试视频图像进行色块抽取与灰度处理，得到多个色块内容，对各色块内容进行分析处理，得到各色块的色彩值与边界宽度，判断各色块的色彩值与边界宽度是否均在预设阈值内。若是，则判定当前测试视频图像帧合格，读取下一帧图像；若否，则判定当前测试视频图像帧不合格，确定测试视频存在数据异常的图像帧。基于对测试视频的监控结果，确定测试项目对应的测试结果。

可见，在本申请实施例中，当测试项目为视频测试项目，基于测试属性，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试，并在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况，根据监控情况确定视频测试项目对应的测试结果。在视频测试过程中，通过判断视频播放时是否存在异常情况，能够精准地确定PCB板的播放视频功能以及相应的模块是否存在缺陷。

进一步的，为了精准地确定PCB板的休眠唤醒功能以及相应的模块是否存在缺陷,在本申请实施例中，测试项目为休眠唤醒测试项目，测试属性包括：测试时长、测试次数以及测试方式，

根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据测试方式，确定测试方式为唤醒与休眠交替进行；

根据测试时长，确定唤醒时长以及休眠时长；

基于唤醒时长、休眠时长、测试方式以及测试次数运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理；

在本申请实施例中，由于测试方式为唤醒与休眠交替进行，因而，控制PCB板处于唤醒状态的时间为唤醒时长，当唤醒状态结束则进入休眠状态，并控制PCB板处于休眠状态的时间为休眠时长，当休眠状态结束则再次进入唤醒状态，每一次休眠状态以及唤醒状态进行完成，表征完成了一次唤醒与休眠交替处理，重复执行到测试次数后，才完成休眠唤醒测试项目。

在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况；

若存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试失败，若不存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试通过。

在本申请实施例中，在执行休眠处理时，除电源模块以外的其他外围模块以及主处理器均不工作，使得模块休眠，以达到低功耗的目的。可通过查看整个PCB板的功耗，来验证是否休眠成功。具体的，（1）主处理器通过IO口向安全处理器发送高电平信号，安全处理器接收到高电平信号时，安全处理器向安全处理器驱动发送休眠命令，然后，安全处理器进入休眠状态；（2）主处理器向模/数转换器发送功耗测试的启动命令。在执行休眠处理时，主处理器会同时执行上述两个步骤，在完成上述两个步骤后，主处理器进入休眠状态，以使得除电源模块外其余模块均进入休眠状态。然后，模/数转换器开始进行功耗测试操作，即，模/数转换器采集与电源负极连接的高精度电阻的端电压，计算电流I＝V₀/R；其中，V₀为高精度电阻的端电压，R为高精度电阻的电阻值。模/数转换器判断计算到的电流是否低于预设休眠电流值，如果低于，表明休眠成功；如果不低于，表明休眠失败；其中，预设休眠电流值是技术人员通过大量实验计算得出的。

当休眠处理到达休眠时长后，定时器会调用唤醒接口，通过唤醒接口唤醒主处理器，然后，同时执行下述两步骤，具体的，（1）主处理器通过IO口向安全处理器发送低电平信号，安全处理器接收到低电平信号时，安全处理器向安全处理器驱动发送唤醒命令，安全处理器进入唤醒状态；（2）主处理器向模/数转换器发送功耗测试的启动命令。进而，模/数转换器开始进行功耗测试操作，并判断计算到的电流是否高于预设唤醒电流值，如果高于，表明唤醒成功；如果不高于，表明唤醒失败；其中，预设唤醒电流值是技术人员通过大量实验计算得出的。

在进行休眠唤醒测试的过程中，实时监测系统是否出现死机或者系统重启的情况，在休眠唤醒测试中，若出现死机或者系统重启的情况，则确定测试异常；若未出现死机或者系统重启的情况，则确定测试正常。

在执行休眠唤醒测试过程中，若存在休眠失败、唤醒失败、测试异常中任意一项，则确定休眠唤醒存在异常情况。

可见，在本申请实施例中，当测试项目为休眠唤醒测试项目，基于测试属性，运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理，并在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况，根据监控情况确定休眠唤醒测试项目对应的测试结果。通过判断休眠唤醒测试时是否存在异常情况，能够精准地确定PCB板的休眠唤醒功能以及相应的模块是否存在缺陷。

进一步的，为了精准地确定PCB板的界面渲染功能以及相应的模块是否存在缺陷,在本申请实施例中，测试项目为游戏测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试方式，

根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据测试方式，确定测试方式为游戏界面渲染；

基于测试时长以及测试方式，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染；

在本申请实施例中，由于测试方式为游戏界面渲染，其中，游戏界面可以为2D界面，当然也可以为3D界面，用户可根据实际情况进行选择。然后，运行游戏测试项目对应的测试程序，持续进行游戏界面渲染，以达到测试时长后完成游戏测试项目。

在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在异常情况；

若存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试失败，若不存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试通过。

在本申请实施例中，游戏测试过程中，对游戏测试项目对应的测试程序调用的界面渲染接口进行监听，获取监听到的界面渲染接口传输的渲染数据信息，其中，渲染数据信息包括输入到图形处理器的纹理数据以及图形处理器输出的渲染图像数据。基于渲染数据信息，确定在游戏测试过程中是否存在界面渲染异常情况，具体的，将渲染数据信息与标准数据信息进行比对，其中，标准数据信息是测试程序正常运行且界面渲染正常时对应的渲染数据信息；若渲染数据信息与标准数据信息相同，则确定游戏测试不存在界面渲染异常情况；若渲染数据信息与标准数据信息不相同，则确定游戏测试存在界面渲染异常情况。

在进行游戏测试的过程中，实时判断是否出现死机或者系统重启的情况，若出现死机或者系统重启的情况，则确定存在测试异常；若未出现死机或者系统重启的情况，则确定存在测试正常。

在执行游戏测试过程中，若存在界面渲染异常、测试异常中任意一项，则确定游戏测试存在异常情况。

根据界面渲染情况，确定游戏测试项目的测试结果。

可见，在本申请实施例中，当测试项目为游戏测试项目，基于测试属性，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染，并在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在界面渲染异常情况，根据监控情况确定游戏测试项目对应的测试结果。通过判断游戏测试过程时是否存在异常情况，能够精准地确定PCB板的界面渲染功能以及相应的模块是否存在缺陷。

进一步的，为了便于测试者能够基于TF卡小板上LED灯的显示状态，快速准确地得知当前老化测试的进度以及测试结果, 在本申请实施例中，TF卡小板上设置LED灯，

基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，包括：

当测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令，基于第一控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第一控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第一显示状态；

当测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态；

在本申请实施例中，根据不同的测试结果，对应生成控制指令，并基于控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，测试结果与控制指令存在着对应关系，同时，控制指令与TF卡小板上LED灯的显示状态存在着对应关系，因而，测试结果与TF卡小板上LED灯的显示状态也存在着对应关系，以使得能够基于TF卡小板上LED灯的显示状态清楚地得知该PCB板的测试结果。

进一步的，当老化测试项目包括多个测试项目时，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，包括：

当测试结果为测试项目通过时，根据测试项目，生成对应的通过控制指令，基于通过控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态；

当测试结果为测试项目失败时，根据测试项目，生成对应的失败控制指令，基于失败控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态。

在本申请实施例中，当老化测试项目包括多个测试项目时，倘若每一测试项目通过均生成第一控制指令，每一测试项目失败均生成第二控制指令，当某一测试项目失败时，通过TF卡小板LED灯的显示状态，不能快速地确认哪个测试项目失败。因而，结合测试结果以及测试项目，生成与测试项目以及测试结果均对应的控制指令，以使得针对每一测试项目的通过以及失败状态都存在唯一的TF卡小板上LED灯的显示状态，便于测试者能够通过TF卡小板上LED灯的显示状态，得知每一项测试项目的测试结果。

老化测试方法，还包括：在进行老化测试项目的测试过程中，实时获取测试进度信息；基于测试进度信息生成第三控制指令，基于第三控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第三控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第三显示状态。

在本申请实施例中，为了便于测试者能够实时查看并跟踪测试结果，在测试过程中，实时获取测试进度信息，即当前正在进行哪项测试项目，并基于测试进度信息生成第三控制指令，控制TF卡小板LED灯呈现第三显示状态。便于测试者基于TF卡小板LED灯的第三显示状态，准确地得知当前测试进度。

当然，还可以在测试项目通过时，根据测试项目，生成对应的通过控制指令，基于通过控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态；在测试项目失败时，根据测试项目，生成对应的失败控制指令，基于失败控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态；在进行老化测试项目的测试过程中，实时获取测试进度信息；基于测试进度信息生成第三控制指令，基于第三控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态。

可见，在本申请实施例中，当测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令并控制TF卡小板呈现第一显示状态，当测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令并控制TF卡小板呈现第二显示状态。且，在测试过程中，能够实时获取测试进度信息，并基于试进度信息生成第三控制指令并控制TF卡小板呈现第三显示状态。便于测试者能够基于TF卡小板上LED灯的显示状态，快速准确地得知当前老化测试的进度以及测试结果。

进一步的，为了缩短老化测试的时间，且在一定程度上避免PCB板继续做较多老化测试项目, 在本申请实施例中，当测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态之后，还包括：

结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。

在本申请实施例中，若检测到第二控制指令，则表明存在测试失败的测试项目，在现实情况中，若PCB中任意一项测试项目未通过，则表明该PCB板存在缺陷必须进行相关检修。故在进行老化测试项目时，若某一测试结果为测试项目失败时，表征该PCB板存在缺陷，为不良PCB板，因而，不再进行后续测试项目，结束老化测试程序，保持F卡小板LED灯呈现第二显示状态，能够便于测试者确定PCB板在进行哪项测试项目时失败，同时，也能够得知该项测试项目后的其余测试项目并未进行，以使得测试者能够针对此种情况精准进行后续检测。

可见，在本申请实施例中，当测试结果为测试项目失败时，生成第二控制指令且控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态之后，会结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。在检测到测试项目失败后，能够根据TF卡小板LED灯呈现第二显示状态确定测试项目失败情况，即表明PCB板存在缺陷，故结束老化测试程序，缩短了老化测试的时间，且在一定程度上避免了PCB板继续做较多老化测试项目。

进一步的，为了避免持续进行老化测试，造成对PCB板的测试结果不准确, 在本申请实施例中，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态之后，还包括：

基于启动老化测试程序时刻以及当前时刻，确定老化测试程序的运行时长；

判断老化测试程序的运行时长是否小于测试总时长；

若小于，则继续运行老化测试程序，若不小于，则结束运行老化测试程序。

在本申请实施例中，老化测试程序在初始就已经确定测试总时长，即测试总时长是基于老化测试程序确定的，在测试总时长内，PCB板在持续运行老化测试程序，以测试产品稳定性以及持久性。当PCB板接通电源且插入TF卡小板后，PCB板能够检测到TF卡小板接入，则启动老化测试程序，并记录启动老化测试程序时刻。基于启动老化测试程序时刻以及当前时刻，确定老化测试程序的运行时长，若运行时长小于测试总时长，表明还未到达老化测试时长，则继续运行老化测试程序；若运行时长不小于测试总时长，表明已到达老化测试时长，则结束运行老化测试程序，能够避免持续进行老化测试，对PCB板产生影响，以造成PCB板的测试结果不准确。

可见，在本申请实施例中，根据老化测试程序的运行时长与测试总时长的关系，确定PCB板是继续运行老化测试程序还是结束运行老化测试程序，避免持续进行老化测试，造成对PCB板的测试结果不准确。

上述实施例从方法流程的角度介绍一种老化测试方法，下述实施例从虚拟模块或者虚拟单元的角度介绍了一种老化测试装置，具体详见下述实施例。

本申请实施例提供一种老化测试装置200，如图2所示，该老化测试装置200具体可以包括：

获取配置文件模块210，用于当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

判断模块220，用于判断配置文件是否为老化测试配置文件；

文件解析模块230，用于若是，则解析老化测试配置文件，得到配置数据，其中，配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

测试程序模块240，用于根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果；

控制显示模块250，用于基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，显示状态用于表征老化测试结果。

对于本申请实施例，获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

本申请实施例的一种可能的实现方式，当老化测试项目包括多个测试项目时，

测试程序模块240在执行根据配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果时，用于：

根据配置数据，确定所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，测试属性包括以下一项或多项：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置；

按照测试顺序，根据测试属性，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。

本申请实施例的一种可能的实现方式，测试项目为视频测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试素材存储位置，

测试程序模块240在执行根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果时，用于：

根据测试素材存储位置，获取测试视频；

基于测试视频以及测试时长，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试；

在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况；

若存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试失败，若不存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试通过。

本申请实施例的一种可能的实现方式，测试项目为休眠唤醒测试项目，测试属性包括：测试时长、测试次数以及测试方式，

测试程序模块240在执行根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果时，用于：

根据测试方式，确定测试方式为唤醒与休眠交替进行；

根据测试时长，确定唤醒时长以及休眠时长；

基于唤醒时长、休眠时长、测试方式以及测试次数运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理；

在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况；

若存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试失败，若不存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试通过。

本申请实施例的一种可能的实现方式，测试项目为游戏测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试方式，

测试程序模块240在执行根据测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果时，用于：

根据测试方式，确定测试方式为游戏界面渲染；

基于测试时长以及测试方式，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染；

在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在异常情况；

若存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试失败，若不存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试通过。

本申请实施例的一种可能的实现方式，TF卡小板上设置LED灯，

控制显示模块250在执行基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态时，用于：

当测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令，基于第一控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第一控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第一显示状态；

当测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态；

和/或，

老化测试装置200，还包括：

在进行老化测试项目的测试过程中，实时获取测试进度信息；

基于测试进度信息生成第三控制指令，基于第三控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，第三控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第三显示状态。

本申请实施例的一种可能的实现方式，老化测试装置200，还包括：

测试结束模块，用于结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。

本申请实施例的一种可能的实现方式，老化测试装置200，还包括：

运行时长判断模块，用于基于启动老化测试程序时刻以及当前时刻，确定老化测试程序的运行时长；

判断老化测试程序的运行时长是否小于测试总时长；

若小于，则继续运行老化测试程序，若不小于，则结束运行老化测试程序。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的一种老化测试装置200的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本申请实施例中提供了一种PCB板，如图3所示，图3所示的PCB板300包括：处理器301和存储器303。其中，处理器301和存储器303相连，如通过总线302相连。可选地，PCB板300还可以包括收发器304，其中，收发器具体为TF卡槽。需要说明的是，实际应用中收发器304不限于一个，该PCB板300的结构并不构成对本申请实施例的限定。

处理器301可以是CPU（Central Processing Unit，中央处理器），通用处理器，DSP（Digital Signal Processor，数据信号处理器），ASIC（Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路），FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器301也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。

总线302可包括一通路，在上述组件之间传送信息。总线302可以是PCI（Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准）总线或EISA（ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构）总线等。总线302可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图3中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一型的总线。

存储器303可以是ROM（Read Only Memory，只读存储器）或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM（Random Access Memory，随机存取存储器）或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM（Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器）、CD-ROM（Compact DiscRead Only Memory，只读光盘）或其他光盘存储、光碟存储（包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等）、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。

存储器303用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器301来控制执行。处理器301用于执行存储器303中存储的应用程序代码，以实现前述方法实施例所示的内容。

本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机可以执行前述方法实施例中相应内容。与相关技术相比，本申请实施例，获取TF卡小板中存储的配置文件并判断是否为老化测试配置文件，若为老化测试配置文件，则解析老化测试配置文件并运行老化测试项目对应的测试程序，基于测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态。在进行老化测试时，不是针对组装完成的电子类产品进行整机测试，而是，在组装之前利用TF卡小板对PCB板进行测试，通过TF卡小板上LED灯的显示状态来精准确定老化测试结果，摆脱了老化测试对配件的依赖，降低了老化测试操作的复杂度。

应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

以上仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (9)

1.一种老化测试方法，其特征在于，由PCB板执行，包括：

当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

判断所述配置文件是否为老化测试配置文件；

若是，则解析所述老化测试配置文件，得到配置数据，其中，所述配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果，其中，所述老化测试项目包括以下一种或多种：视频测试、游戏测试、内存测试、休眠唤醒测试、重启测试；

基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述显示状态用于表征老化测试结果；

当老化测试项目包括多个测试项目时，

所述根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果，包括：

根据所述配置数据，确定所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，所述测试属性包括以下一项或多项：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置，所述测试顺序为各项测试项目在配置数据中编写的顺序；

按照所述测试顺序，根据所述测试属性，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。

2.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，测试项目为视频测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试素材存储位置，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试素材存储位置，获取测试视频；

基于所述测试视频以及所述测试时长，运行视频测试项目对应的测试程序，以进行视频测试；

在视频测试过程中，持续监控测试视频是否存在异常情况；

若存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试失败，若不存在，则确定视频测试项目对应的测试结果为视频测试通过。

3.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，测试项目为休眠唤醒测试项目，测试属性包括：测试时长、测试次数以及测试方式，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试方式，确定测试方式为唤醒与休眠交替进行；

根据所述测试时长，确定唤醒时长以及休眠时长；

基于所述唤醒时长、所述休眠时长、所述测试方式以及所述测试次数运行休眠唤醒测试项目对应的测试程序，以进行唤醒与休眠交替处理；

在休眠唤醒测试过程中，持续监控休眠唤醒是否存在异常情况；

若存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试失败，若不存在，则确定休眠唤醒测试对应的测试结果为休眠唤醒测试通过。

4.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，测试项目为游戏测试项目，测试属性包括：测试时长以及测试方式，

根据所述测试属性，运行测试项目对应的测试程序，得到测试项目对应的测试结果，包括：

根据所述测试方式，确定测试方式为游戏界面渲染；

基于所述测试时长以及所述测试方式，运行游戏测试项目对应的测试程序，以进行游戏界面渲染；

在游戏测试过程中，持续监控游戏测试是否存在异常情况；

若存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试失败，若不存在，则确定游戏测试项目对应的测试结果为游戏测试通过。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的老化测试方法，其特征在于，TF卡小板上设置LED灯，

所述基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，包括：

当所述测试结果为测试项目通过时，则生成第一控制指令，基于所述第一控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第一控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第一显示状态；

当所述测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于所述第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态；

和/或，

所述老化测试方法，还包括：

在进行老化测试项目的测试过程中，实时获取测试进度信息；

基于所述测试进度信息生成第三控制指令，基于所述第三控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第三控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第三显示状态。

6.根据权利要求5所述的老化测试方法，其特征在于，所述当所述测试结果为测试项目失败时，则生成第二控制指令，基于所述第二控制指令控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述第二控制指令用于控制TF卡小板LED灯呈现第二显示状态之后，还包括：

结束老化测试程序，并保持TF卡小板LED灯呈现第二显示状态。

7.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态之后，还包括：

基于启动老化测试程序时刻以及当前时刻，确定老化测试程序的运行时长；

判断所述老化测试程序的运行时长是否小于测试总时长；

若小于，则继续运行老化测试程序，若不小于，则结束运行老化测试程序。

8.一种PCB板，其特征在于，包括：

至少一个处理器；

存储器；

至少一个应用程序，其中至少一个应用程序被存储在存储器中并被配置为由至少一个处理器执行，所述至少一个应用程序配置用于：执行权利要求1～7任一项所述的方法。

9.一种老化测试系统，其特征在于，包括：

TF卡小板，用于存储配置文件并显示老化测试结果；

PCB板，用于当检测到TF卡小板接入，获取TF卡小板中存储的配置文件；

判断所述配置文件是否为老化测试配置文件；

若是，则解析所述老化测试配置文件，得到配置数据，其中，所述配置数据包括老化测试项目和对应的配置信息；

根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果，其中，所述老化测试项目包括以下一种或多种：视频测试、游戏测试、内存测试、休眠唤醒测试、重启测试；

基于所述测试结果，控制TF卡小板上LED灯的显示状态，其中，所述显示状态用于表征老化测试结果；

当老化测试项目包括多个测试项目时，

所述PCB板在执行根据所述配置数据运行老化测试项目对应的测试程序，得到测试结果时，用于：

根据所述配置数据，确定所有测试项目的测试属性以及所有测试项目的测试顺序，其中，所述测试属性包括以下一项或多项：测试时长、测试次数、测试方式、测试素材存储位置，所述测试顺序为各项测试项目在配置数据中编写的顺序；

按照所述测试顺序，根据所述测试属性，依次运行测试项目对应的测试程序，得到每一测试项目对应的测试结果。

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