CN115684765A - 一种信号测试及优化装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种信号测试及优化装置和方法，信号测试及优化装置包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，信号分配模块用于获取第一信号，对第一信号进行克隆得到第二信号，并将第一信号传输至信号测试模块，将第二信号传输至信号优化模块，信号优化模块用于对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至信号测试模块，信号测试模块用于对第一信号和第二信号进行测试获得测试结果，从而可以在第二信号的测试结果满足要求但第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号的优化数据对第一信号进行优化，进而可以在获得测试结果的同时获得优化数据，进而可以提高信号的优化效率。

Description

一种信号测试及优化装置和方法

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，具体涉及一种信号测试及优化装置和方法。

背景技术

目前，通常都是通过对电子产品的信号进行完整性测试，来获知电子产品在工作时的信号传输情况，以免信号的过度损耗影响电子产品的工作性能。其中，完整性测试主要是通过对传输到末端的信号进行采样判定，来得出其是否符合相关标准的结果。但是，在得出不符合相关标准的结果之后，若想要对信号进行调整优化，就需要对信号进行多次调整、多次测试和验证，导致信号的优化效率较低。

发明内容

本发明提供一种信号测试及优化装置和方法，以提高信号的优化效率。

第一方面，本发明提供了一种信号测试及优化装置，包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，所述信号优化模块与所述信号分配模块连接，所述信号测试模块与所述信号分配模块和所述信号优化模块分别连接；

所述信号分配模块用于获取第一信号，对所述第一信号进行克隆得到第二信号，并将所述第一信号传输至所述信号测试模块，将所述第二信号传输至所述信号优化模块；

所述信号优化模块用于对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至所述信号测试模块；

所述信号测试模块用于对所述第一信号和所述第二信号进行测试，获得所述第一信号和所述第二信号的测试结果，以在所述第二信号的测试结果满足要求但所述第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

可选地，还包括信号处理模块；所述信号优化模块与所述信号分配模块通过所述信号处理模块连接；

所述信号处理模块用于对所述信号分配模块输出的第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据，并将模拟衰减处理后的第二信号传输至所述信号优化模块，以使所述信号优化模块对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据以及所述优化数据与所述衰减数据的对应关系，以根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号进行优化，根据所述模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据，对所述真实传输链路的性能进行评估和优化。

可选地，所述信号处理模块包括多个信号干扰单元和/或多个信号损耗单元；

所述信号干扰单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加干扰信号，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

所述信号损耗单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加介质传输损耗，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

其中，不同信号干扰单元施加的干扰信号不同，不同信号损耗单元施加的介质传输损耗不同，以对不同的第二信号进行不同的衰减处理，以获得不同衰减数据及其对应的优化数据。

可选地，所述信号分配模块还用于获取信号生成模块输出的所述第一信号；

所述信号优化模块还用于将所述优化数据反馈至所述信号生成模块；

所述信号测试模块还用于将所述第一信号和所述第二信号的测试结果反馈至所述信号生成模块；

所述信号生成模块还用于在所述第一信号的测试结果不满足要求但所述第二信号的测试结果满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

可选地，所述信号处理模块还用于将所述衰减数据反馈至所述信号生成装置；

所述信号生成装置还用于获得不同优化数据与衰减数据的对应关系，并根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号进行优化。

可选地，所述信号生成装置还用于在所述第二信号的测试结果不满足要求的情况下，触发所述信号优化模块调整优化处理的参数，重新获得所述第二信号的优化数据。

可选地，所述信号优化模块用于对所述第二信号进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项。

第二方面，本发明提供了一种信号测试及优化方法，包括：

获取第一信号，对所述第一信号进行克隆得到第二信号；

对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据；

对所述第一信号和所述第二信号进行测试，获得所述第一信号和所述第二信号的测试结果；

在所述第一信号的测试结果不满足要求但所述第二信号的测试结果满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

可选地，所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据之前，还包括：对所述第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据；

所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据包括：对所述模拟衰减处理后的第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据以及所述优化数据与所述衰减数据的对应关系；

所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据之后，还包括：根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的信号进行优化。

可选地，所述对所述第二信号进行模拟衰减处理包括：通过对所述第二信号施加干扰信号和/或介质传输损耗，来对所述第二信号进行模拟衰减处理。

可选地，还包括：将所述模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据进行对比，来对所述真实传输链路的性能进行评估和优化。

可选地，所述对所述第二信号进行优化处理包括：

对所述第二信号进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项。

本发明提供的信号测试及优化装置和方法，信号分配模块获取第一信号，对第一信号进行克隆得到第二信号，并将第一信号传输至信号测试模块，将第二信号传输至信号优化模块；信号优化模块对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至信号测试模块；信号测试模块对第一信号和第二信号进行测试，获得第一信号和第二信号的测试结果，从而可以在第二信号的测试结果满足要求但第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号的优化数据对第一信号进行优化，进而可以在获得测试结果的同时获得优化数据，进而可以提高信号的优化效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或背景技术中的技术方案，下面将对本发明实施例或背景技术中所需要使用的附图进行说明。

图1为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的信号传输示意图；

图3为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的信号传输示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种信号测试及优化装置的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的一种信号测试及优化方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

作为本发明公开内容的一种可选实现，本发明实施例提供了一种信号测试及优化装置，如图1所示，图1为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的结构示意图，该信号测试及优化装置包括信号分配模块11、信号优化模块12和信号测试模块13，信号优化模块12与信号分配模块11连接，信号测试模块13与信号分配模块11和信号优化模块12分别连接。

其中，信号分配模块11用于获取第一信号Q1，对第一信号Q1进行克隆得到第二信号Q2，并将第一信号Q1传输至信号测试模块13，将第二信号Q2传输至信号优化模块12。信号优化模块12用于对第二信号Q2进行优化处理，获得第二信号Q2的优化数据，并将优化处理后的第二信号Q2传输至信号测试模块13。信号测试模块13用于对第一信号Q1和第二信号Q2进行测试，获得第一信号Q1和第二信号Q2的测试结果，以在第二信号Q2的测试结果满足要求但第一信号Q1的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号Q2的优化数据对第一信号Q1进行优化。

本发明实施例中，信号测试模块13不仅可以对第一信号Q1进行信号测试，还可以对优化后的第二信号Q2进行测试，从而可以在获得第一信号Q1的测试结果的同时，获得优化后的第二信号Q2的测试结果和优化数据，由于第二信号Q2是通过对第一信号Q1进行克隆得到的，因此，第二信号Q2为与第一信号Q1相同的信号，从而可以在第二信号Q2的测试结果满足要求，但第一信号Q1的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号Q2的优化数据对第一信号Q1进行优化，进而可以提高信号的优化效率。

本发明实施例中，第一信号Q1可以为数字电路系统中的高速信号，该高速信号可以为信号生成模块输出的信号，该信号生成模块可以是数字电路系统中的主控单元。当然，本发明并不仅限于此，在另一些实施例中，信号生成模块还可以是数字电路系统中的其他单元。

基于此，本发明一些实施例中，如图2所示，图2为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的信号传输示意图，信号分配模块11还用于获取信号生成模块10输出的第一信号Q1。但是，需要说明的是，信号分配模块11与信号生成模块10输出的第一信号Q1的传输末端连接，也就是说，信号分配模块11与信号生成模块10之间还具有传输链路，或者说，信号生成模块10输出的第一信号Q1经过数字电路系统中的传输链路传输后，进入信号分配模块11。

若第一信号Q1的损耗或衰减非常严重，则会导致损耗或衰减后的第一信号Q1不能满足要求或符合标准，进而导致传输链路末端的功能模块不能正常工作，导致数字电路系统的性能较差。因此，需要信号测试模块13对传输末端的第一信号Q1进行信号完整性(Signal integrity)测试，获得测试结果。当然，本发明中的信号测试模块13还可以通过对第一信号Q1和第二信号Q2进行其他测试如功能性测试，来获得测试结果，在此不再赘述。

在完整性测试的过程中，信号测试模块13会获取第一信号Q1和第二信号Q2的波形，并将获取的波形与标准波形进行对比，来获得波形是否满足要求的测试结果。可以理解的是，若测试结果不满足要求，表明信号的损耗或衰减过于严重，损耗或衰减后的信号不能满足数字电路系统的工作需求；若测试结果满足要求，表明信号的损耗或衰减在可接受的范围内，损耗或衰减后的信号能够满足数字电路系统的工作需求。

在上述实施例的基础上，本发明一些实施例中，如图3所示，图3为本发明实施例提供的一种信号测试及优化装置的信号传输示意图，信号优化模块12还用于将优化数据S1反馈至信号生成模块10，信号测试模块13还用于将第一信号Q1和第二信号Q2的测试结果S2反馈至信号生成模块10，信号生成模块10还用于在第一信号Q1的测试结果不满足要求但第二信号Q2的测试结果满足要求的情况下，根据第二信号Q2的优化数据对第一信号Q1进行优化。基于此，信号生成模块10不仅可以输出第一信号Q1，还可以对第一信号Q1的信号幅值等参数进行调节，输出优化后的第一信号Q1。

本发明一些实施例中，信号生成装置10还用于在第二信号Q2的测试结果不满足要求的情况下，触发信号优化模块12调整优化处理的参数，重新获得第二信号Q2的优化数据。

在一些实施例中，信号生成装置10接收到第二信号Q2的测试结果后，若测试结果不满足要求，则信号生成装置10自动发起第二次测试需求，触发信号优化模块12自动调整寄存器参数，即自动调整优化处理的参数，并将调整后的优化数据反馈给信号生成装置10，信号测试模块13也会将再次测试的结果反馈给信号生成装置10。若此次的测试结果满足要求，则信号生成装置10可以根据调整后的优化数据优化第一信号Q1。

可以理解的是，信号生成装置10可以在每次测试的过程中，无论测试结果是否满足要求都根据优化数据优化第一信号Q1，也可以在第二信号Q2的测试结果满足要求之后，再根据优化数据优化第一信号Q1，在此不再赘述。

本发明一些实施例中，信号分配模块11包括高速信号分立开关，该高速信号分立开关用于实现信号选通和分配功能，也就是说，该高速信号分立开关可以对第一信号Q1进行镜像克隆或复制得到第二信号Q2，并将第一信号Q1和第二信号Q2分别传输至信号测试模块13和信号优化模块12。当然，本发明并不仅限于此，在另一些实施例中，信号分配模块11还可以通过其他方式实现信号的克隆与分配功能。

本发明一些实施例中，信号优化模块12用于通过对第二信号Q2的进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项，来对第二信号Q2进行优化。其中，信号优化模块12会对接收到的第二信号Q2进行检测，确定第二信号Q2的信号阈值是否在正常范围内，如果在正常范围内，将直接将第二信号Q2传输至信号测试模块13，同时将当前第二信号Q2的幅值等相关数据作为优化数据反馈至信号产生模块10，如果不在正常范围内，则对幅值等参数进行调节，并将调节后的数据作为优化数据反馈至信号产生模块10。

其中，信号优化模块12可以检测第二信号Q2的幅值信息，并通过多个过渡差分信号数据通道以及时钟通道，对第二信号Q2补偿趋肤效应和介电损耗，以对第二信号Q2进行幅值补偿。其中，时钟通道可以针对时钟频率最高为225MHz的信号进行优化，并且，该时钟通道配有信号检测器，该信号检测器可以为可编程阈值的信号检测器，以最大限度地提高时钟通道的抗噪性。

信号优化模块12还可以根据输入数据速率自动切换为转接驱动器或重定时器，在数据速率低于1Gbps时可自动配置为转接驱动器，在超过该速率后可自动配置为重定时器。其中，信号优化模块12用作转接驱动器时，可以放大接收到的第二信号Q2；信号优化模块12用作重定时器时，可以通过内置的时钟和数据恢复(CDR)功能，清除输入端高频和信号源的随机抖动。

此外，信号优化模块12还可以具有信号源选择功能。信号优化模块12的运行和配置可通过引脚设置或I2C编程支持。为确保信号完整性，信号优化模块12还可以具有自适应和固定信道均衡功能，以消除电路板走线或电缆因带宽受限而引起的码间串扰(ISI)抖动或损耗。

本发明一些实施例中，信号优化模块12具有两种控制模式：GPIO(General-purpose input/output，通用输入与输出)模式和I2C模式，以支持采用I2C和GPIO配置，对均衡、增益、动态范围进行独立通道控制。GPIO和I2C这两种模式之间的选择可以通过EN端子进行，当EN端子连接至低电平时，激活GPIO模式；否则，I2C模式激活。

信号优化模块12通过信道均衡器实现信道均衡功能，该信道均衡器支持多个可编程级别的均衡提升，其特定控制引脚状态决定了如何控制升压设置。如果控制引脚保持高，则均衡器升压设置由引脚控制，在引脚上选择的提升设置，将应用于所有数据通道。如果控制引脚保持低，则均衡器升压设置由I2C总线控制，以通过适当的I2C总线寄存器进行访问。使用此方法，信道均衡器增压设置可以为每个通道单独编程。

当信号优化模块12使用I2C总线串行接口进行数字控制。信号优化模块12的SDA引脚和SCK引脚分别由微控制器的串行数据和串行时钟驱动。SDA引脚和SCK引脚需要外部电阻上拉至VCC。双线接口允许对内部内存映射进行写访问，以修改控制寄存器和读取控制和状态信号。

当信号优化模块12使用GPIO接口进行数字控制时，通过微控制器内部对当前的IO引脚进行高低电平输出配置，不同的IO组合对应不同的幅值调节、均衡等调节参数。

本发明一些实施例中，如图4所示，图4为本发明实施例提供的另一种信号测试及优化装置的结构示意图，信号测试及优化装置还包括信号处理模块14；信号优化模块12与信号分配模块11通过信号处理模块14连接；

信号处理模块14用于对信号分配模块11输出的第二信号Q2进行模拟衰减处理，获得衰减数据，并将模拟衰减处理后的第二信号Q2传输至信号优化模块12，以使信号优化模块12对第二信号Q2进行优化处理，获得第二信号Q2的优化数据以及优化数据与衰减数据的对应关系，以根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号Q1进行优化，根据模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据，对真实传输链路的性能进行评估和优化。

在一些实施例中，可以将模拟衰减处理的传输链路的衰减数据与真实的传输链路的衰减数据进行对比，来对真实的传输链路的介质损耗或干扰等衰减数据进行量化评估，以便根据评估结果对真实的传输链路进行优化，如设置信号优化单元或调整走线长度等，来减小真实的传输链路的介质损耗或干扰等。

在上述实施例的基础上，本发明一些实施例中，信号处理模块14包括多个信号干扰单元和/或多个信号损耗单元。信号干扰单元用于通过对信号分配模块11输出的第二信号Q2施加干扰信号，来对第二信号Q2进行模拟衰减处理；信号损耗单元用于通过对信号分配模块11输出的第二信号Q2施加介质传输损耗，来对第二信号Q2进行模拟衰减处理；其中，不同信号干扰单元施加的干扰信号不同，不同信号损耗单元施加的介质传输损耗不同，以对不同的第二信号Q2进行不同的衰减处理，以获得不同衰减数据及其对应的优化数据。

其中，信号干扰单元可以包括信号生成单元，其通过将信号生成单元生成的干扰信号输入至第二信号Q2的传输链路，来向第二信号Q2施加干扰信号。信号损耗单元通过在第二信号Q2的传输链路所在PCB板上设置一定长度的走线，来向第二信号Q2施加介质传输损耗。其中，不同的信号损耗单元设置的走线长度不同，以使施加的介质传输损耗不同。此外，具有不同干扰信号的传输链路以及具有不同介质传输损耗的传输链路可以通过交叠焊盘或高速信号分立开关与信号优化模块12连接。

本发明一些实施例中，信号处理模块14还用于将衰减数据反馈至信号生成装置10；信号生成装置10还用于获得不同优化数据与衰减数据的对应关系，并根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号Q1进行优化。

当然，本发明并不仅限于此，在另一些实施例中，信号处理模块14可以存储不同的优化数据及其对应的衰减数据，并在接收到第二信号Q2后，将第二信号Q2的衰减数据与存储的衰减数据进行对比，若两个衰减数据相同，则可以根据该衰减数据对应的优化数据对第二信号Q2进行优化。

作为本发明公开内容的另一种可选实现，本发明实施例提供了一种信号测试及优化方法，如图5所示，图5为本发明实施例提供的一种信号测试及优化方法的流程图，该信号测试及优化方法包括：

S501：获取第一信号，对第一信号进行克隆得到第二信号；

参考图1，信号分配模块11获取信号生成模块10输出的第一信号Q1，信号分配模块11对第一信号Q1进行克隆得到第二信号Q2，并将第一信号Q1传输至信号测试模块13，将第二信号Q2传输至信号优化模块12。

S502：对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据；

参考图1，信号优化模块12对第二信号Q2进行优化处理，获得第二信号Q2的优化数据，并将优化处理后的第二信号Q2传输至信号测试模块13。

S503：对第一信号和第二信号进行测试，获得第一信号和第二信号的测试结果；

参考图1，信号测试模块13对第一信号Q1和第二信号Q2进行测试，获得第一信号Q1和第二信号Q2的测试结果。在一些实施例中，信号测试模块13会将测试结果反馈给信号产生模块10。

S504：在第一信号的测试结果不满足要求但第二信号的测试结果满足要求的情况下，根据第二信号的优化数据对第一信号进行优化。

在一些实施例中，信号测试模块13将测试结果反馈给信号产生模块10后，信号产生模块10会在第一信号Q1的测试结果不满足要求但第二信号Q2的测试结果满足要求的情况下，根据第二信号Q2的优化数据对第一信号Q1进行优化。

本发明实施例中，不仅可以对第一信号Q1进行信号测试，还可以对优化后的第二信号Q2进行测试，从而可以在获得第一信号Q1的测试结果的同时，获得优化后的第二信号Q2的测试结果和优化数据，由于第二信号Q2是通过对第一信号Q1进行克隆得到的，因此，第二信号Q2为与第一信号Q1相同的信号，从而可以在第二信号Q2的测试结果满足要求，但第一信号Q1的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号Q2的优化数据对第一信号Q1进行优化，进而可以提高信号的优化效率。

本发明一些实施例中，对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据之前，还包括：对第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据；对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据包括：对模拟衰减处理后的第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据以及优化数据与衰减数据的对应关系；对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据之后，还包括：根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的信号进行优化。

本发明一些实施例中，对第二信号进行模拟衰减处理包括：通过对第二信号施加干扰信号和/或介质传输损耗，来对第二信号进行模拟衰减处理。

在一些实施例中，可以通过信号干扰单元对第二信号施加干扰信号，来对第二信号进行模拟衰减处理；可以通过信号损耗单元对第二信号施加介质传输损耗，来对第二信号进行模拟衰减处理；其中，不同信号干扰单元施加的干扰信号不同，不同信号损耗单元施加的介质传输损耗不同，以对不同的第二信号进行不同的衰减处理，以获得不同衰减数据及其对应的优化数据。

本发明一些实施例中，信号测试及优化方法还包括：将模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据进行对比，来对真实传输链路的性能进行评估和优化。

在一些实施例中，可以将模拟衰减处理的传输链路的衰减数据与真实的传输链路的衰减数据进行对比，来对真实的传输链路的介质损耗或干扰等衰减数据进行量化评估，以便根据评估结果对真实的传输链路进行优化，如设置信号优化单元或调整走线长度等，来减小真实的传输链路的介质损耗或干扰等。

本发明一些实施例中，对第二信号进行优化处理包括：对第二信号进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项。其中，可以先对接收到的第二信号进行检测，确定第二信号的信号阈值是否在正常范围内，如果在正常范围内，将直接将第二信号传输至信号测试模块，同时将当前第二信号的幅值等相关数据作为优化数据反馈至信号产生模块，如果不在正常范围内，则对幅值等参数进行调节，并将调节后的数据作为优化数据反馈至信号产生模块。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本说明书的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本说明书构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本说明书的保护范围。因此，本说明书专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (12)

1.一种信号测试及优化装置，其特征在于，包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，所述信号优化模块与所述信号分配模块连接，所述信号测试模块与所述信号分配模块和所述信号优化模块分别连接；

所述信号分配模块用于获取第一信号，对所述第一信号进行克隆得到第二信号，并将所述第一信号传输至所述信号测试模块，将所述第二信号传输至所述信号优化模块；

所述信号优化模块用于对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至所述信号测试模块；

所述信号测试模块用于对所述第一信号和所述第二信号进行测试，获得所述第一信号和所述第二信号的测试结果，以在所述第二信号的测试结果满足要求但所述第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

2.根据权利要求1所述的信号测试及优化装置，其特征在于，还包括信号处理模块；所述信号优化模块与所述信号分配模块通过所述信号处理模块连接；

所述信号处理模块用于对所述信号分配模块输出的第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据，并将模拟衰减处理后的第二信号传输至所述信号优化模块，以使所述信号优化模块对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据以及所述优化数据与所述衰减数据的对应关系，以根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号进行优化，根据所述模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据，对所述真实传输链路的性能进行评估和优化。

3.根据权利要求2所述的信号测试及优化装置，其特征在于，所述信号处理模块包括多个信号干扰单元和/或多个信号损耗单元；

所述信号干扰单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加干扰信号，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

所述信号损耗单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加介质传输损耗，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

其中，不同信号干扰单元施加的干扰信号不同，不同信号损耗单元施加的介质传输损耗不同，以对不同的第二信号进行不同的衰减处理，以获得不同衰减数据及其对应的优化数据。

4.根据权利要求2或3所述的信号测试及优化装置，其特征在于，所述信号分配模块还用于获取信号生成模块输出的所述第一信号；

所述信号优化模块还用于将所述优化数据反馈至所述信号生成模块；

所述信号测试模块还用于将所述第一信号和所述第二信号的测试结果反馈至所述信号生成模块；

所述信号生成模块还用于在所述第一信号的测试结果不满足要求但所述第二信号的测试结果满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

5.根据权利要求4所述的信号测试及优化装置，其特征在于，所述信号处理模块还用于将所述衰减数据反馈至所述信号生成装置；

所述信号生成装置还用于获得不同优化数据与衰减数据的对应关系，并根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号进行优化。

6.根据权利要求4所述的信号测试及优化装置，其特征在于，所述信号生成装置还用于在所述第二信号的测试结果不满足要求的情况下，触发所述信号优化模块调整优化处理的参数，重新获得所述第二信号的优化数据。

7.根据权利要求1所述的信号测试及优化装置，其特征在于，所述信号优化模块用于对所述第二信号进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项。

8.一种信号测试及优化方法，其特征在于，包括：

获取第一信号，对所述第一信号进行克隆得到第二信号；

对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据；

对所述第一信号和所述第二信号进行测试，获得所述第一信号和所述第二信号的测试结果；

在所述第一信号的测试结果不满足要求但所述第二信号的测试结果满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

9.根据权利要求8所述的信号测试及优化方法，其特征在于，所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据之前，还包括：对所述第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据；

所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据包括：对所述模拟衰减处理后的第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据以及所述优化数据与所述衰减数据的对应关系；

所述对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据之后，还包括：根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的信号进行优化。

10.根据权利要求9所述的信号测试及优化方法，其特征在于，所述对所述第二信号进行模拟衰减处理包括：通过对所述第二信号施加干扰信号和/或介质传输损耗，来对所述第二信号进行模拟衰减处理。

11.根据权利要求9所述的信号测试及优化方法，其特征在于，还包括：将所述模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据进行对比，来对所述真实传输链路的性能进行评估和优化。

12.根据权利要求8所述的信号测试及优化方法，其特征在于，所述对所述第二信号进行优化处理包括：

对所述第二信号进行幅值补偿、信道均衡和相位补偿中的至少一项。

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