CN115664550B - 一种基站测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基站测试系统及测试方法，该测试系统包括：暗室，暗室设有进入孔，暗室内设有阵列式探测天线；输送机构，输送机构设有承载机构，承载机构用于承载待测件；输送机构用于将待测件通过进入孔输送至暗室中；控制机构，控制机构分别与输送机构、待测件以及阵列式探测天线通信连接；控制机构控制输送机构通过进入孔，将待测件送入暗室；控制机构还用于在待测件被传送至暗室内的情况下，控制阵列式探测天线基于可调发射参数发射合成波束，本发明能够在保证待测件测试全面的情况下，提高测试精度与测试效率。

Description

一种基站测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及天线技术领域，具体为一种基站测试系统及测试方法。

背景技术

目前，5G已进入了正式商用阶段，全球的运营商都在大规模的集采基站设备用于5G网络的建设。对于5G基站天线而言，天线与RRU（Radio Remote Unit，射频拉远单元）集成在一起，一方面电磁耦合、有源驻波等干扰因素不能完全消除；另一方面，有源天线的校准及幅相加权是通过各个射频通道上的一系列有源器件配合完成的，与无源天线阵列通过无源的功分网络来进行幅相加权的方式差别很大。所以对于采用了大规模MIMO（多输入，多输出）有源天线技术的5G基站而言，一体化空口测试方式才能有效反映其性能指标。

空口测试一般在暗室中进行，在基站测试过程中，需要改变待测件的测试方位来保证测试的全面性，需要通过移动机构承载待测件在暗室中移动，但是移动机构多为金属材质，金属材质会对测试造成干扰，影响测试精度。

发明内容

为了克服现有技术存在的缺点与不足，本发明公开一种基站测试系统及测试方法，能够在保证待测件测试全面的情况下，提高测试精度与测试效率。该测试系统包括：

暗室，所述暗室设有进入孔，所述暗室内设有阵列式探测天线；

输送机构，所述输送机构设有承载机构，所述承载机构用于承载待测件；所述输送机构用于将所述待测件通过所述进入孔输送至所述暗室中；

控制机构，所述控制机构分别与所述输送机构、所述待测件以及所述阵列式探测天线通信连接；

所述控制机构控制所述输送机构通过所述进入孔，将所述待测件送入所述暗室；所述控制机构还用于在所述待测件被传送至所述暗室内的情况下，控制所述阵列式探测天线基于可调发射参数发射合成波束。

更进一步地，所述输送机构包括滑动机构与顶升机构，所述顶升机构与所述滑动机构滑动连接；所述承载机构与所述顶升机构连接，所述滑动机构用于将所述待测件移至所述进入孔处，所述顶升机构用于将所述待测件通过所述进入孔送入所述暗室中。

更进一步地，所述承载机构包括绝缘板与限位模块，所述待测件放置在所述绝缘板上，所述绝缘板与所述限位模块连接，所述绝缘板的尺寸与所述进入孔的尺寸相匹配；

所述限位模块的尺寸大于所述绝缘板的尺寸，以使所述限位模块在与所述暗室接触时，所述绝缘板封闭所述进入孔。

更进一步地，所述基站测试系统还包括承载支架，所述承载支架用于固定所述暗室；

所述滑动机构与所述承载支架固定连接，以使所述顶升机构能够在所述滑动机构上移动。

更进一步地，所述滑动机构上设有多个顶升机构，所述多个顶升机构均与所述控制机构通信连接。

更进一步地，所述承载机构上还设有接插机构，所述接插机构与所述控制机构通信连接，所述接插机构用于所述控制机构与所述待测件进行信号传输；

所述接插机构包括驱动机构，所述驱动机构与所述控制机构通信连接，所述控制机构在所述待测件测试结束时，控制所述驱动机构驱动所述接插机构与所述待测件断开连接。

另一方面，本申请还公开一种基站测试方法，该方法是基于如上述所述的一种基站测试系统实现的，所述方法包括：

向所述阵列式探测天线发送包含目标发射参数的波束发射指令，以使所述阵列式探测天线基于所述目标发射参数发射目标合成波束；

接收所述待测件基于所述目标合成波束返回的测试数据；

基于与所述待测件对应的多项测试数据进行分析，得到对所述待测件的测试结果；所述多项测试数据与多种目标合成波束相匹配。

第三方面，本实施例还提供一种电子设备，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如上所述的一种基站测试方法。

第四方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行上项所述的一种基站测试方法。

实施本发明，具有如下有益效果：

本申请通过承载机构承载待测件，运输机构与承载机构连接，输送机构将承载机构上的待测件通过进入孔送入暗室内部；在暗室内设置阵列式探测天线，控制机构控制阵列式探测天线发出合成波束，通过改变阵列式探测天线的发射参数来改变合成波束的方位，全方位的测试待测件，提高待测件测试的全面性；暗室内无需使用移动机构改变待测件的方位，减少金属材质对测试带来的干扰，另外，通过自动调整阵列式探测天线的发送参数，从而调整检测区域，相比于传统的通过移动机构移动待测件来改变测试区域，对于测试区域的调整更加准确，提高了待测件的测试精度；暗室内没有移动机构带动待测件移动，无需消耗待测件移动的时间，从而待测件在暗室内部停留时间减少，提高待测件的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为本发明实施例提供的基站测试系统结构简要示意图；

图2为本发明实施例提供的基站测试系统结构整体结构示意图；

图3为本发明实施例提供的基站测试系统结构内部结构示意图；

图4为本发明实施例提供的阵列式探测天线结构示意图；

图5为本发明实施例提供的基站测试系统结构的进入口位置示意图；

图6为本发明实施例提供的滑动机构结构示意图；

图7为本发明实施例提供的基站测试方流程图；

其中，图中附图标记对应为：1-暗室；1100-阵列式探测天线；1200-吸波体；1300-进入孔；2-顶升机构；3-承载机构；3100-绝缘板；3200-限位模块；4-滑动机构；4100-第一滑轨；4200-第二滑轨；5-控制机构；6-待测件；7-承载支架；8-接插机构；8100-驱动机构。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

实施例1

本实施例中，本发明所要解决的技术问题在于能够在保证待测件测试全面的情况下，提高测试精度与测试效率。参照图1-6，该测试系统包括：

暗室1，暗室1设有进入孔1300，暗室1内设有阵列式探测天线1100；

输送机构，输送机构包括顶升机构2与滑动机构4，顶升机构2设有承载机构3，承载机构3用于承载待测件6；

滑动机构4，滑动机构4与顶升机构2滑动连接；

控制机构5，控制机构5分别与顶升机构2、滑动机构4、待测件6以及阵列式探测天线1100通信连接；

控制机构5通过滑动机构4将顶升机构2送至进入孔1300处；控制机构5控制顶升机构2通过进入孔1300，将待测件6送入暗室1；控制机构5还用于在待测件6被传送至暗室1内的情况下，控制阵列式探测天线1100基于可调发射参数发射合成波束。

在本实施例中，暗室1可以是电波暗室，电波暗室是空中下载技术OTA（Over-the-Air Technology，测试所必需的环境），电波暗室内部包括吸波体1200。吸波体1200可以是尖劈形吸波材料，吸波材料布置在屏蔽体内部的六个面上，可以减小由于内壁的信号反射对测试结果造成的多径效应影响；阵列式探测天线1100基于可调发射参数可以是天线发射信号的相位、幅度等。

承载机构3承载待测件6，承载机构3由上到下依次是顶升机构2与滑动机构4，滑动机构4带动顶升机构2与承载机构3到达进入孔1300处，顶升机构2将承载机构3上的待测件6通过进入孔1300送入暗室1内部；在暗室1内设置阵列式探测天线1100，控制机构5控制阵列式探测天线1100发出合成波束，通过改变阵列式探测天线1100的发射参数来改变合成波束的方位，全方位的测试待测件6，提高待测件6测试的全面性；暗室1内无需使用基于干扰材质形成的移动机构改变待测件6的方位，减少干扰材质对测试带来的干扰，干扰材质包括金属材质，提高待测件6的测试精度，暗室内部不用设置移动机构，可以在一定程度上缩小暗室的尺寸，暗室小尺寸化便于运输，减少暗室的生产成本以及运输成本，另外，通过自动调整阵列式探测天线的发送参数，从而调整检测区域，相比于传统的通过移动机构移动待测件来改变测试区域，对于测试区域的调整更加准确，进一步提高测试精度；暗室1内没有移动机构带动待测件6移动，无需消耗待测件6移动的时间，从而待测件6在暗室1内部停留时间减少，提高待测件6的测试效率。

进入孔1300可以设在暗室1边壁的任意位置，阵列式探测可以设在暗室1内壁的任意位置，在本实施例中，参照图3，进入孔1300设在暗室1底部，阵列式探测天线1100设在暗室1的顶壁，待测件6的体积与质量均较大，将待测件6设在承载机构3上，进入孔1300设在暗室1底部，将待测件6通过进入孔1300送入暗室1中，在对待测件6进行测试的过程中，承载机构3承载着待测件6，无需通过其他装置承载待测件6，保证待测件6稳定放置在承载机构3上，在测试过程中，待测机构位于暗室1底部，阵列式探测天线1100位于暗室1的顶壁，阵列式探测天线1100发射的合成波束能够直接发射到待测件6上，能够对合成波束最大利于化。

在一种实施方式中，承载机构3包括绝缘板3100与限位模块3200，待测件6放置在绝缘板3100上，绝缘板3100与限位模块3200连接，绝缘板3100的尺寸与进入孔1300的尺寸相匹配，在这种情况下绝缘板3100能够将进入孔1300填满，密封暗室1；另外，限位模块3200的尺寸大于绝缘板3100的尺寸，以使限位模块3200在与暗室1接触时，绝缘板3100封闭进入孔1300。在本实施例中，待测件6需在密闭环境下进行测试，在待测件6进入暗室1后，绝缘板3100到达进入孔1300，充当屏蔽门，待测件6进入暗室1前，进入孔1300为开启状态，待测件6可直接通过进入孔1300进入暗室1后，绝缘板3100充当屏蔽门，进入孔1300为关闭状态，测试结束后，顶升机构2带动承载机构3向下方运动，进而带动待测件6与绝缘板3100从暗室1中取出；另外，操作人员可通过进入孔1300进入暗室1进行设备维护，本实施例无需额外设计屏蔽门以及屏蔽门的控制策略，结构简单，避免屏蔽门故障而影响待测件进出暗室1。

在一种实施方式中，基站测试系统还包括承载支架7，承载支架7用于固定暗室1，承载支架7具有一定的高度，将暗室1抬高，便于待测件6通过暗室1下方的进入孔1300进入暗室1，另外，滑动机构4包括第一滑轨4100与第二滑轨4200，第一滑轨4100与承载支架7固定连接，顶升机构2通过第二滑轨4200与滑动机构4连接，具体的，第二滑轨4200的长度与顶升机构2的长度相适配，第一滑轨4100固定，通过第二滑轨4200在第一滑轨4100上移动，以使承载机构3带动待测件6水平移动，控制机构5控制滑动机构4将待测件6移动至进入孔1300处，为后续顶升待测件6进入暗室1做准备。

在一种实施方式中，顶升机构2与控制机构5通信连接，控制机构5通过顶升机构2控制承载机构3轴向移动，将待测件6向上移动，直到绝缘板3100将暗室1封闭；对控制机构5预先输入顶升机构2的顶升参数，顶升机构2基于顶升参数每次均能将绝缘板3100和待测件6顶在一个固定位置，在顶升机构2能够基于顶升参数每次均能将绝缘板3100和待测件6顶在一个固定位置的情况下，可以不在承载机构3上设置限位模块3200，若在流水线式测试多个待测件6时，为防止顶升失误，在绝缘板3100下方设置限位模块3200，限位模块3200与暗室1外部接触时，绝缘板3100刚好将进入孔1300封闭，在测试多个待测件6的情况下，依然能将绝缘板3100和待测件6顶在一个固定位置，能够适用于流水线操作的生产线。

在一种实施方式中，滑轨组件上设有多个顶升机构2，多个顶升机构2均与控制机构5通信连接，每个顶升机构2上均连接有承载机构3，承载机构3上承载有待测件6，适用于流水线式大批量测试待测件6；另外，暗室1内还设有接插机构8，接插机构8与控制机构5通信连接，待测件6与控制机构5通过接插机构8进行信号传输；接插机构8用于在待测件6与控制机构5之间传输电信号，电信号可以是控制阵列式探测天线1100的发射参数的信号，控制机构5通过接插机构8向待测件6发送的信号包含了待测件6的射频信号、光信号和强弱电信号等。

接插机构8包括驱动机构8100，驱动机构8100与控制机构5通信连接，控制机构5在待测件6测试结束时，控制驱动机构8100驱动接插机构8与待测件6断开连接；在本实施方式中，滑动机构4上设有多个顶升机构2，在顶升机构2上方的待测件6进入暗室1之前，控制机构5控制驱动机构8100接插机构8与待测件6连接，对待测件6测试预热，提高待测件6测试时的响应速度，在测试结束后，控制机构5控制驱动机构8100接插机构8与待测件6断开连接，本说明书实施例中，由控制机构5自动地将接插机构8连接/断开待测件6，实现自动化测试，无需人工干预，效率高，可以解决现有测试系统的测试效率较低的技术问题。

实施例2

本实施例与实施例1不同在于，进入孔1300设在暗室1的顶部，作为一种最优的实施方式，阵列式探测天线设在暗室1的内底壁，滑动机构4与支撑机构7连接，支撑机构将滑动机构4升高，以使待测件能够通过滑动机构4到达进入孔1300处，滑动机构4将待测件滑动至进入孔1300处后，控制机构5控制顶升机构将承载机构3向下顶升，将待测件6通过进入孔1300送入暗室1中，其中，待测件6固定安装在承载机构3上，承载机构3在待测件6的上方，承载机构3包括绝缘板3100，在待测件6被送入暗室1时，顺带绝缘板3100将进入孔1300封闭，绝缘板3100起到封闭门的作用，无需另外安装封闭门。

实施例3

本实施例与实施例1和2的不同点在于，进入孔1300设在暗室1的侧面，作为一种最优的实施方式，阵列式探测天线1100与进入孔1300的相对面，能够实现合成波束的最大利用化，滑动机构4与承载支架7连接，承载支架7将滑动机构4升高一定的高度，具体高度与进入孔1300的高度相适配，以使待测件6能够通过滑动机构4到达进入孔1300处，滑动机构4将待测件6滑动至进入孔1300处后，控制机构5控制顶升机构2将承载机构3向左/右（进入孔方向）顶升，将待测件6通过进入孔1300送入暗室1中，其中，待测件6固定安装在承载机构3上，承载机构3包括绝缘板3100，在待测件6被送入暗室1时，顺带绝缘板3100将进入孔1300封闭，绝缘板3100起到封闭门的作用，无需另外安装封闭门。

实施例4

本实施例与实施例1、2不同点在于，在暗室1的内部设置移动结构，在暗室1的左右侧壁开设进入孔与送出孔，作为优选的，阵列式探测天线1100设在暗室1的内顶壁，分别用于将待测件6送入暗室1中和送出暗室1，承载结构设置绝缘板3100但不设置限位模块，通过移动机构将待测件6送入暗室1中，顺带将绝缘板送至进入孔处，充当进入孔的屏蔽门，待检测结束后，移动机构将待测件6送至送出孔，在送出孔处设置屏蔽门，在屏蔽门上设置光电开关，光电开关识别待测件后，打开屏蔽门，将待测件送出，本实施例的输送装置仅有用于水平移动的移动机构，无需另外设置顶升机构，将待测件顶升至暗室1中。

在另一种实施方式中，在移动机构上包括多个承载机构3，每个承载机构均固定有待测件6，承载机构3设有绝缘板3100，绝缘板3100设在待测件6的侧面，在上一个待测件6测试结束后，通过移动机构将待测件送至送出孔出处，绝缘板3100将送出孔覆盖，待测件6保持位置一段时间，在本次待测件6进入暗室1后，本次待测件6所连接的绝缘板3100将进入孔封闭，上一次检测的待测件6所连接的绝缘板3100将送出孔封闭，可以保证在待测件测试时，进入孔与送出孔均被封住，使暗室1形成封闭空间，提高待测件的测试精度。

本实施例还提供一种基站测试方法，该方法是基于如上所述的一种基站测试系统实现的，如图7所示，方法包括：

S110：向阵列式探测天线发送包含目标发射参数的波束发射指令，以使阵列式探测天线基于目标发射参数发射目标合成波束；

本实施例的执行主体为控制机构，控制机构可预先设置多个参数，以对应不同的基站测试方位；从而在进行基站测试时，可依次发送与对个目标发射参数对应的波束发送指令，对控制机构预先设定阵列式天线的发射参数，基于待测件测试方位的先后测试顺序确定可调发射参数的调整顺序，基于当前测试方位确定目标发射参数，在控制机构控制接插机构与待测件连接后，控制机构对阵列式探测天线发射包含目标发射参数的波束发射指令，以使阵列式探测天线基于目标发射参数发射目标合成波束，在对待测件测试过程中，可对阵列式探测天线发送多个波束发射指令，每个波束发射指令中包括的目标发射参数不同。

S120：接收待测件基于目标合成波束返回的测试数据；

待测件与控制机构通信连接，具体为待测件与接插机构通信连接，接插结构与控制机构通信连接，待测件通过接插机构向控制机构发送测试数据。

S130：基于与待测件对应的多项测试数据进行分析，得到对待测件的测试结果；多项测试数据与多种目标合成波束相匹配。

通过控制机构对阵列式探测天线发送多项波束发射指令，控制机构能够接收多项测试数据，对多项测试数据进行分析，得到对待测件的测试结果。本实施例中，通过改变阵列式探测天线的发射参数来改变合成波束的方位，全方位的测试待测件，提高待测件测试的全面性；暗室内无需使用移动机构改变待测件的方位，减少如金属的干扰材质对测试带来的干扰，提高待测件的测试精度；暗室内没有移动机构带动待测件移动，无需消耗待测件移动的时间，从而待测件在暗室内部停留时间减少，提高待测件的测试效率

下面对本说明书实施例提供的基站测试系统的测试流程进行说明：

操作人员将待测件6安装在承载机构3上，承载机构3从上到下依次是顶升机构2和滑动机构4，将待测件6安装至承载机构3上后，控制机构5控制驱动机构8100将接插机构8与待测件6连接，将待测件6进行预热，控制机构5控制滑动组件将顶升机构2、承载机构3与待测件6移动至进入孔1300的下方，在承载机构3上的待测件6到达进入孔1300的下方后，控制机构5控制顶升组件将待测件6通过进入孔1300顶升至暗室1内，待测件6与绝缘板3100连接，绝缘板3100的大小与进入孔1300的大小相匹配，在待测件6进入暗室1后，绝缘板3100充当屏蔽门，控制机构5通过调节阵列式探测天线1100的发射参数，来改变待测件6的测试方位，提高待测件6测试的全面性，测试结束后，控制机构5控制驱动机构8100断开接插机构8与待测件6之间的连接，控制机构5控制顶升机构2缩回，再控制滑动机构驱动顶升机构2水平移动，离开暗室1，以此循环，测试滑动机构4后续的待测件6。

实施本实施例，具有如下效果：

1.承载机构承载待测件，承载机构由上到下依次是顶升机构与滑动机构，滑动机构带动顶升机构与承载机构到达进入孔处，顶升机构将承载机构上的待测件通过进入孔送入暗室内部；在暗室内设置阵列式探测天线，控制机构控制阵列式探测天线发出合成波束，通过改变阵列式探测天线的发射参数来改变合成波束的方位，全方位的测试待测件，提高待测件测试的全面性；暗室内无需使用移动机构改变待测件的方位，减少金属材质对测试带来的干扰，另外，通过自动调整阵列式探测天线的发送参数，从而调整检测区域，相比于传统的通过移动机构移动待测件来改变测试区域，对于测试区域的调整更加准确，提高了待测件的测试精度；暗室内没有移动机构带动待测件移动，无需消耗待测件移动的时间，从而待测件在暗室内部停留时间减少，提高待测件的测试效率。

2.将进入孔设在暗室的底部，阵列式探测天线设在暗室的顶壁，待测件通过进入孔进入暗室，承载机构上的绝缘板随着待测件进入暗室到达进入孔处，将暗室封闭，绝缘板充当暗室的屏蔽门，无需额外设计屏蔽门的控制策略，另外，待测件无论是在暗室外还是在暗示内部，均是通过承载机构承载，无需转给其他承载机构承载，保证了待测件传送的稳定性，以及在待测件测试时的稳定性。

本发明的实施例还提供了一种电子设备，电子设备包括处理器和存储器，存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如方法实施例中的一种基站测试方法。

本发明的实施例还提供了一种存储介质，存储介质可设置于服务器之中以保存用于实现方法实施例中一种基站测试方法的至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，该至少一条指令、该至少一段程序、该代码集或指令集由该处理器加载并执行以实现上述方法实施例提供的一种基站测试方法。

可选地，在本实施例中，上述存储介质可以位于计算机网络的多个网络服务器中的至少一个网络服务器。可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

上述说明已经充分揭露了本发明的具体实施方式。需要指出的是，熟悉该领域的技术人员对本发明的具体实施方式所做的任何改动均不脱离本发明的权利要求书的范围。相应地，本发明的权利要求的范围也并不仅仅局限于前述具体实施方式。

Claims (9)

1.一种基站测试系统，其特征在于，包括：

暗室（1），所述暗室（1）设有进入孔（1300），所述暗室（1）内设有阵列式探测天线（1100）；

输送机构，所述输送机构设有承载机构（3），所述承载机构（3）用于承载待测件（6）；所述输送机构用于将所述待测件通过所述进入孔（1300）输送至所述暗室（1）中；

所述承载机构（3）包括绝缘板（3100），所述待测件（6）放置在所述绝缘板（3100）上，所述绝缘板（3100）的尺寸与所述进入孔（1300）的尺寸相匹配；

控制机构（5），所述控制机构（5）分别与所述输送机构、所述待测件（6）以及所述阵列式探测天线（1100）通信连接；

所述控制机构（5）控制所述输送机构通过所述进入孔（1300），将所述待测件（6）送入所述暗室（1）；所述控制机构（5）还用于在所述待测件（6）被传送至所述暗室（1）内的情况下，控制所述阵列式探测天线（1100）基于可调发射参数发射合成波束。

2.根据权利要求1所述的一种基站测试系统，其特征在于，所述输送机构包括滑动机构（4）与顶升机构（2），所述顶升机构（2）与所述滑动机构（4）滑动连接；所述承载机构（3）与所述顶升机构（2）连接，所述滑动机构（4）用于将所述待测件（6）移至所述进入孔（1300）处，所述顶升机构（2）用于将所述待测件（6）通过所述进入孔（1300）送入所述暗室（1）中。

3.根据权利要求1所述的一种基站测试系统，其特征在于，所述承载机构（3）包括限位模块（3200），所述绝缘板（3100）与所述限位模块（3200）连接；

所述限位模块（3200）的尺寸大于所述绝缘板（3100）的尺寸，以使所述限位模块（3200）在与所述暗室（1）接触时，所述绝缘板（3100）封闭所述进入孔（1300）。

4.根据权利要求2所述的一种基站测试系统，其特征在于，所述基站测试系统还包括承载支架（7），所述承载支架（7）用于固定所述暗室（1）；

所述滑动机构（4）与所述承载支架（7）固定连接，以使所述顶升机构（2）能够在所述滑动机构（4）上移动。

5.根据权利要求2所述的一种基站测试系统，其特征在于，所述滑动机构（4）上设有多个顶升机构（2），所述多个顶升机构（2）均与所述控制机构（5）通信连接。

6.根据权利要求1所述的一种基站测试系统，其特征在于，所述承载机构（3）上还设有接插机构（8），所述接插机构（8）与所述控制机构（5）通信连接，所述接插机构（8）用于所述控制机构（5）与所述待测件（6）进行信号传输；

所述接插机构（8）包括驱动机构（8100），所述驱动机构（8100）与所述控制机构（5）通信连接，所述控制机构（5）在所述待测件（6）测试结束时，控制所述驱动机构（8100）驱动所述接插机构（8）与所述待测件（6）断开连接。

7.一种基站测试方法，其特征在于，该方法是基于权利要求1-6任意一项所述的一种基站测试系统实现的，所述方法包括：

向所述阵列式探测天线发送包含目标发射参数的波束发射指令，以使所述阵列式探测天线基于所述目标发射参数发射目标合成波束；

接收所述待测件基于所述目标合成波束返回的测试数据；

基于与所述待测件对应的多项测试数据进行分析，得到对所述待测件的测试结果；所述多项测试数据与多种目标合成波束相匹配。

8.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求7所述的一种基站测试方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行如权利要求7所述的一种基站测试方法。

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