CN115659628A - 一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,它在考虑井筒压降的影响的前提下,求解出井筒不同位置微元段的产能,再根据镜像反映原理与速度的叠加原理得出底水气藏水锥、水脊数学模型;其技术方案是:在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流可以看作一个球形向心流,计算速度运动;在点汇距离气藏中,其他参数不变,将底水气藏中一点汇生产等效成无限大气藏中的排布模式,计算运动速度;在底水气藏中直井和水平井生产中,等效为若干个点汇,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产时间与水脊高度的数学模型;利用以上数学模型及参数,再结合MATLAB计算求解水平井及直井的见水时间预测模型;求解速度快的特点,可推广性强。
Description
技术领域
本发明涉及一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,属于油气田开发领域。
背景技术
在底水气藏开发过程中,不论采用直井生产还是水平井生产,随着储层天然气不断被采出,储层会根据井的分布形成压力降漏斗,底水都将进入储层,最终使气井见水,导致直井水锥突破与水平井水脊突破。直井,水平井具有控油面积大、产量高等优势,但水平井一旦见水,会导致产量递减快、堵水措施难等问题。在低水气藏的开发中﹐由于水平井见水﹐不仅会增加气藏的开发开采难度﹐而且会造成气井产能的损失﹐降低气藏采收率﹐最终影响气藏开发效益。许多学者在直井水锥及水平井水脊方面的研究,主要是考虑底水油气藏见水时间及临界参数方面的影响,对于底水锥(脊)进过程研究较少,有待进一步深入。
底水锥进是底水气藏开发的关键问题,对准确预测见水时间和底水气藏开发具有重大意义。在考虑气藏打开程度、气水流度比、非达西定律、表皮系数等的影响下,对底水气藏单井水侵模拟及见水时间的预测,容易影响计算结果的准确性,因此需要考虑井筒内部压降以及底水对产能的影响。本专利在考虑井筒压降的影响的前提下,求解出井筒不同位置微元段的产能,再根据镜像反映原理与速度的叠加原理得出底水气藏水锥、水脊数学模型。
发明内容
本发明目的是:为了准确预测见水时间和底水气藏开发等问题,本发明基于镜像反映原理与速度的叠加原理,结合求解出生产天数与水锥(水脊)高度的三维关系,同时具有求解精度高,求解速度快的特点,可推广性强。
为实现上述目的,本发明提供了一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,该方法包括下列步骤:
推导出考虑井筒压降的影响求解出井筒不同位置微元段的产能,再根据镜像反映原理与速度的叠加原理得出底水气藏水锥、水脊数学模型,主要步骤为,
在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流可以看作一个球形向心流,气藏中一质点vz,计算速度运动dz;
在点汇距离气藏顶部距离为h,距离底水的距离为Zw,其他参数不变的条件下,根据底水气藏顶底边界特征,将底水气藏中一点汇生产等效成无限大气藏中的排布模式,气藏中任意一水质点以vz,计算速度运动dz;
在底水气藏中直井生产中,将直井等效为若干个点汇,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
底水气藏中水平井生产,可以将水平井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
由以上得出单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,由于多井生产之间存在的干扰,根据速度的叠加原理及镜像反映原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
利用以上得出单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,可以推出井间干扰的见水时间模型,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
求解水平井及直井的见水时间预测模型;
上述一种底水气藏点汇生产见水时间预测方法,具体包括以下几个步骤;
第一,在底水气藏中因气井生产导致水体脊进(锥进)前,在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流为球形向心流,建立质点B到点汇速度与距离关系的等式:
式中,qg为点汇产量;r为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgi,残余气饱和度;φ为孔隙度;
第二,在底水气藏中一个点汇生产时,点汇距离气藏顶部距离为hp,距离底水的距离为Zw,其他参数不变,建立气藏中任意一水质点vz速度与运动dz的等式:
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;
上述一种底水气藏直井见水时间预测方法,具体包括以下步骤;
底水气藏中水平井生产,将直井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
上述一种底水气藏水平井见水时间预测方法,具体包括以下步骤;
上述井间干扰的见水时间预测模型,具体包括以下步骤;
由以上得到的单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,在此基础上考虑了多井生产之间存在的干扰,根据速度的叠加原理及镜像反映原理,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
底水气藏中水平井生产,将水平井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
上述一种底水气藏水平井见水时间预测方法,具体包括以下步骤;
求解水平井及直井的见水时间预测模型,具体包括以下几个步骤;
第一,在X-Z平面内有一口水平井生产,水平井距底水距离为zw,水平井开井生产后,对Y-Z平面内水质点运动规律进行分析,在某一时刻里,Y-Z平面内一水质点a,求得水平井任意微元段对质点a产生的速度、垂向速度以及整个微元段产生的垂向速度;
第二,考虑在底水气藏影响下,综合镜像反映原理得到质点a产生的垂向速度、垂向位移以及有水质点距底水距离S;
St=vz2×Δt
S=S+St
式中,质点a产生的垂点速度,S为水质点距离底水的垂向距离;
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:(1)利镜像反映原理及速度的叠加原理,叠加效果较好;(2)编程实现时间步长计算,省时省力;(3)可推广性强。
附图说明
在附图中:
图1是求解见水时间技术路线图。
图2是无限大气藏中点汇渗流示意图。
图3底水气藏中一点汇生产示意图。
图4底水气藏中点汇生产等效到无限大气藏中示意图。
图5是底水气藏直井镜像叠加原理确定渗流速度图。
图6是底水气藏水平井镜像叠加原理确定渗流速度图。
图7是考虑多井干扰的镜像叠加原理确定渗流速度图。
图8是不同时间段求解速度示意图。
具体实施方式
下面结合实施方式和附图对本发明做进一步说明。
本发明提供了一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,图1为本方法求解见水时间的技术路线图,该方法包括下列步骤:
推导出考虑考虑井筒压降的影响求解出井筒不同位置微元段的产能,再根据镜像反映原理与速度的叠加原理得出底水气藏水锥、水脊数学模型,主要步骤为,
在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流可以看作一个球形向心流,气藏中一质点vz,计算速度运动dz;建立其渗流模型;
在点汇距离气藏顶部距离为hp,距离底水的距离为Zw,其他参数不变的条件下,底水气藏中一点汇生产,根据底水气藏顶底边界特征,将底水气藏中一点汇生产等效成无限大气藏中的排布模式,气藏中任意一水质点以vz,计算速度运动dz;
在底水气藏中直井生产中,将直井等效为若干个点汇,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
底水气藏中水平井生产,可以将水平井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
利用以上得出单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,可以推出井间干扰的见水时间模型;
上述一种底水气藏点汇生产见水时间预测方法,具体包括以下几个步骤;
第一,在底水气藏中因气井生产导致水体脊进(锥进)前,在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流为球形向心流,渗流模型如图2所示,建立质点B到点汇速度与距离关系的等式:
式中,qg为点汇产量;r为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgi,残余气饱和度;φ为孔隙度;
第二,在底水气藏中一个点汇生产时,点汇距离气藏顶部距离为hp,距离底水的距离为Zw,其他参数不变,底水气藏中一点汇生产示意图如图3所示。则根据底水气藏顶底边界特征,将底水气藏中一点汇生产等效成无限大气藏中的排布模式如图4所示,建立气藏中任意一水质点vz速度与运动dz的等式:
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;
上述一种底水气藏直井见水时间预测方法,具体包括以下步骤;
底水气藏中水平井生产,将直井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,得到镜像叠加原理确定渗流速度示意图如图5所示,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
上述一种底水气藏水平井见水时间预测方法,具体包括以下步骤;
底水气藏中水平井生产,将水平井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,得到镜像叠加原理确定渗流速度示意图如图6所示,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
上述井间干扰的见水时间预测模型,具体包括以下步骤;
由以上得到的单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,在此基础上考虑了多井生产之间存在的干扰,根据速度的叠加原理及镜像反映原理,得到多井干扰的镜像叠加原理确定渗流速度示意图如图7所示,建立生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
式中,zw为点汇距底部边界距离,m;qg为点汇产量;ri为质点距离点汇距离,m;z质点B到点汇的垂直距离,m;Swi,束缚水饱和度;Sgr,残余气饱和度;φ为孔隙度;N为微元段个数,qgi研究的第j个微元段的产量,m3/d;
求解水平井及直井的见水时间预测模型,具体包括以下几个步骤;
第一,在X-Z平面内有一口水平井生产,水平井距底水距离为zw,水平井开井生产后,对Y-Z平面内水质点运动规律进行分析,在某一时刻里,Y-Z平面内一水质点a,得到水质点运动关系图8所示,求得水平井任意微元段对质点a产生的速度、垂向速度以及整个微元段产生的垂向速度;
第二,考虑在底水气藏影响下,综合镜像反映原理得到质点a产生的垂向速度、垂向位移以及有水质点距底水距离S;
St=vz2×Δt
S=S+St
式中,质点a产生的垂点速度,S为水质点距离底水的垂向距离;
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:(1)利镜像反映原理及速度的叠加原理,叠加效果较好;(2)编程实现时间步长计算,省时省力;(3)可推广性强。
最后所应说明的是:以上实施例仅用以说明而非限制本发明的技术方案,尽管参照上述实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应该理解:依然可以对本发明进行修改或者等同替换,而不脱离本发明的精神和范围的任何修改或局部替换,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (5)
1.一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,其特征在于,该方法包括下列步骤:
S100、推导出考虑考虑井筒压降的影响求解出井筒不同位置微元段的产能,再根据镜像反映原理与速度的叠加原理得出底水气藏水锥、水脊数学模型,主要步骤为,
S101、在无限大均质气藏中一个点汇生产,其渗流可以看作一个球形向心流,气藏中一质点vz,计算速度运动dz,
S102、在点汇距离气藏顶部距离为hp,距离底水的距离为Zw,其他参数不变的条件下,根据底水气藏顶底边界特征,将底水气藏中一点汇生产等效成无限大气藏中的排布模式,气藏中任意一水质点以vz,计算速度运动dz,
S103、在底水气藏中直井生产中,将直井等效为若干个点汇,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
S104、底水气藏中水平井生产,可以将水平井等效为若干个点汇后,根据镜像反映原理及速度的叠加原理,可得生产t时间与水脊高度z1的数学模型;
S105、利用以上得出单口水平及与直井水脊(水锥)的预测时间模型,可以推出井间干扰的见水时间模型;
S200、求解水平井及直井的见水时间预测模型;
所述步骤S200具体包括以下步骤:
S201、在开井生产前气藏具有统一的气水界面,随着开发的进行,水质点将逐渐向气井打开段移动,速度不断改变,该时间段内水质点运动的速度选取步长Δt内初始速度与最终速度的平均值;
S202、水平井生产在X-Z平面内,水平井距底水距离为zw,水平井开井生产后,通过对Y-Z平面内水质点运动规律分析,得到Y-Z平面内一水质点a在水平井某一时刻任意微元段产生的速度vgi和垂向速度vgiz,以及整个微元段产生的垂向速度vz1;
S203、在考虑底水气藏影响的情况下,根据镜像反映原理得到质点a产生的垂向速度vz2;
S204、根据质点a产生得垂向速度vz2可以计算出时间Δt内水质点垂向位移St;
S205、根据水质点垂向位移St,得到水质点距底水距离S;
S206、由水平井距底水距离zw进行迭代计算,若水质点距底水距离小于水平井距底水距离则继续迭代计算,直到水质点距底水距离大于或者等于水平井距底水距离为止,输出Y-Z平面内所有水质点位置及水脊突破时间,计算结束。
5.根据权利要求1所述的一种底水气藏单井水侵模拟及见水时间预测方法,其特征在于:有水质点距底水距离为S=S+St,其中S为水质点距离底水的垂向距离;St水质点垂向位移。
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