CN115629929B - 一种内存错误检测方法、系统和设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种内存错误检测方法、系统和设备,方法包括:将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。本发明使得内存测试仪所连接的被测内存设备与应用平台中的系统内存处于完全相同的数字环境,从而能够复现所有在应用平台出错的被测内存设备,提高了内存出错的复现率。
Description
技术领域
本发明属于内存错误技术领域,具体涉及一种内存错误检测方法、系统和设备。
背景技术
CPU(Central Processing Unit,中央处理单元)和内存是所有具有运算能力的电子产品的核心部件,其中,内存出错是电子产品出错、失灵或返修等的主要原因之一。
内存出错具有概率性,具体有以下几种情形:(1)固定出错;(2)特殊因素或环境(例如仅在低温或高压环境下出错);(3)耦合性(即几种因素同时出现导致的出错,例如在特定温度、特定电压以及某种存储数据的组合等);(4)概率性,例如一天一出错、一周一出错或者一月一出错等。综上可知,内存出错的原因多种多样,而根据对各大内存供应商的数据调查显示,出错内存的可复现率平均约为40%,因此分析内存出错的原因并对检测内存出错进行优化成为亟需解决的问题。
现有技术中,通常利用内存检测设备(ATE,Automatic Testing Equipment),或者在应用平台上运行内存测试程序来进行内存错误分析,但上述方法都是平均只可复现约40%的问题内存,对于那些只在特定应用中出错的内存,其内存错误分析是非常困难的,通常只能用高阶逻辑分析仪器和/或高阶数字示波存储器(Digital Storage Oscilloscope,DSO)来实现,但上述设备价格昂贵,成本较高。此外,现代计算机大量使用缓存系统,再加上层层流水线设置,因此从内存发生出错到系统受到影响并出现状况,中间的时间差是无法计算的,因此采用高阶逻辑分析仪和/或高阶数字示波存储器来寻找内存出错节点需要耗费大量的工作和时间。
发明内容
本发明的目的是提供一种内存错误检测方法、系统和设备,用以至少解决现有技术中问题内存出错的复现率普遍偏低(平均只有40%),对于那些只在特定应用场景中出错的内存,其内存错误分析是非常困难的技术问题,通过准确记录出错点、位置以及出错前的历史行为数据,有利于内存芯片与应用系统的操作人员对内存测试做持续的改善。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一方面,本发明提供一种内存错误检测方法,包括:
将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;
通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;
通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。
在一种可能的设计中,所述数据流至少包括命令、地址和/或数据序列,所述命令至少包括读命令和/或写命令。
在一种可能的设计中,当捕捉到内存传输线上的写命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
通过内存测试设备将捕捉到的写命令按照应用平台的数据写地址、写次序和写时序传输至被测内存设备的传输线上进行测试,同时通过内存测试设备内嵌的逻辑分析仪记录数据传输过程。
在一种可能的设计中,当捕捉到内存传输线上的读命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
通过内存测试设备将从应用平台捕捉到的读命令和读数据地址按照捕捉到的次序和时序传输至被测内存设备的传输线上;
通过内存测试设备分别接收应用平台对读命令的回应数据以及被测内存设备对读命令的回应数据;
将两组回应数据中的存储信息进行比对,若不一致,则判断被测内存设备出错,并记录错误信息。
在一种可能的设计中,在通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备将所述数据流存储在循环缓冲区中;
在通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
在检测到被测内存发生错误时,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区和所述循环缓冲区的指针,并记录所述循环缓冲区的当前错误节点以及历史数据。
在一种可能的设计中,在记录当前错误节点以及循环缓冲区的历史数据之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备的逻辑分析仪对所述循环缓冲区的当前错误节点和历史数据进行显示。
在一种可能的设计中,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区,包括:
通过内存测试设备停止所述循环缓冲区中内嵌逻辑地址,其中,停止内嵌逻辑地址的方式包括由内存错误引起的停止和/或由测试环境引起的停止。
在一种可能的设计中,在通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备输出触发信号,以触发数字示波存储器对错误发生时的信号波形进行追踪。
第二方面面提供一种内存错误检测装置,包括:
引擎设置模块,用于将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;
数据捕捉模块,用于通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;
内存测试模块,用于通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。
第三方面提供一种应用如第一方面任意一种可能的设计中所述方法的系统,包括内存测试设备,内存测试设备分别与应用平台和被测内存设备连接;
所述应用平台设有系统内存并运行有应用程序,所述内存测试设备用于捕捉应用平台中内存传输线上的数据流,并将所述数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试。
第四方面,本发明提供一种计算机设备,包括依次通信相连的存储器、处理器和收发器,其中,所述存储器用于存储计算机程序,所述收发器用于收发消息,所述处理器用于读取所述计算机程序,执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的方法。
第五方面,本发明提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有指令,当所述指令在计算机上运行时,执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的方法。
第六方面,本发明提供一种包含指令的计算机程序产品,当所述指令在计算机上运行时,使所述计算机执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的方法。
本发明通过将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,从而利用应用平台作为内存测试设备的测试引擎,使得内存测试仪所连接的被测内存设备与应用平台中的系统内存处于完全相同的数字环境,以便能够复现所有在应用平台出错的被测内存设备,提高了内存出错的复现率;通过将捕捉的数据流存储在循环缓冲区,并在内存出错时记录错误发生的节点和历史数据,实现对内存错误节点和数据的精确定位。
附图说明
图1为本发明提供的内存错误检测方法的流程图;
图2为本发明提供的内存错误检测系统的结构框图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将结合附图和实施例或现有技术的描述对本发明作简单地介绍,显而易见地,下面关于附图结构的描述仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在此需要说明的是,对于这些实施例方式的说明用于帮助理解本发明,但并不构成对本发明的限定。
实施例
为了解决现有技术中平均只可复现40%的问题内存,对于那些只在应用中出错的内存,其内存错误分析是非常困难的技术问题,本申请实施例提供了一种内存错误检测方法,该方法利用应用平台作为内存测试设备的测试引擎,使得内存测试仪所连接的被测内存设备与应用平台中的系统内存处于完全相同的数字环境,从而能够复现所有在应用平台出错的被测内存设备,提高了内存出错的复现率。下面将对本申请实施例提供的内存错误检测方法进行详细说明。
如图1所示,是本申请实施例提供的内存错误检测方法的流程图,所述基于安卓端的流程指示器生成方法包括但不限于由步骤S1~S3实现:
步骤S1.将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;
其中,需要说明的是,本实施例中的应用平台包括各种各样运行有其自身应用程序的平台,例如社交平台、办公平台、企业管理平台、服务平台等等,此处不做限定,因此各平台设置的系统内存处于实际的应用中,但现有技术系统内存从发生错误到应用平台的运行受到影响,需要一定的时间差,因此无法及时发现内存错误,且由于内存错误的发生存在偶发性,因此现有技术中无法对该系统内存发生的错误进行有效复现,从而无法准确对其内存发生的节点或原因进行分析。基于此,本实施例通过建立内存测试设备与应用平台的连接,具体的,可以通过在内存测试设备上设置专用接口,建立与应用平台的连接,然后调用应用平台作为被测内存的测试引擎,使得被测内存与系统内存处于完全相同的数字环境,因此可复现所有在应用平台上因程序运行而发生错误的被测内存设备;此外,在被测内存发生错误时,虽然应用平台还未反映出此时系统内存可能已经发生错误,但通过被测内存发生的错误能够及时对系统内存进行检查,避免造成更大损失。
步骤S2.通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;
其中,需要说明的是,所述内存测试设备优选采用逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流,当然,可以理解的是,所述内存测试设备还可以采用其他方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流,此处不做限定。
在步骤S2中,所述数据流至少包括命令、地址和/或数据序列,所述命令至少包括读命令和/或写命令。
那么,在步骤S2一种可能的设计中,当捕捉到内存传输线上的写命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
通过内存测试设备将捕捉到的写命令按照应用平台的数据写地址、写次序和写时序传输至被测内存设备的传输线上进行测试,同时通过内存测试设备内嵌的逻辑分析仪记录数据传输过程。
当然,可以理解的是,此处捕捉到的命令除了是写命令外,还可以是其他的非读命令,例如内存使用情况查询命令、内存容量查询命令、各进程的资源占用查询命令等等,此处不做具体限定,在接收到其他非读命令时,内存测试设备和逻辑分析仪对其他非读命令的处理方式与写命令相同,此处不再赘述。
例如:当捕捉到内存传输线上的写命令时,将应用平台的数据写命令传输至当前被测内存设备,例如应用平台写$XXXX到自己系统内存的YYYY地址,则内存测试设备也将$XXXX写到被测内存的YYYY地址,且数据写入次序也与应用平台的完全一致。
基于上述公开的内容,通过将捕捉到的写命令按照应用平台的数据写地址、写次序和写时序传输至被测内存设备的传输线上进行测试,若数据写入发生失败,则被测内存可能发生错误,而对应的系统内存也可能发生错误,从而实现内存错误的同步检测和复现。
在步骤S2另一种可能的设计中,当捕捉到内存传输线上的读命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
步骤S21.通过内存测试设备将从应用平台捕捉到的读命令和读数据地址按照捕捉到的次序和时序传输至被测内存设备的传输线上;
步骤S22.通过内存测试设备分别接收应用平台对读命令的回应数据以及被测内存设备对读命令的回应数据;
步骤S23.将两组回应数据中的存储信息进行比对,若不一致,则判断被测内存设备出错,并记录错误信息,其中,错误信息包括但不限于出错地址 (Address)、数据线(Data Line)和时间。在一种具体的实施方式中,在通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备将所述数据流存储在循环缓冲区中;
其中,该循环缓冲区是一个缓存系统,缓存系统的尺寸可以根据需要设置,例如如果缓存系统的尺寸为64K deep,缓存系统可存放系统内存过去64K clock(时钟)的历史数据,从而便于复现和查询。
在将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
(2)在检测到被测内存发生错误时,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区和所述循环缓冲区的指针,并记录所述循环缓冲区的当前错误节点以及历史数据。
具体的,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区,包括:
通过内存测试设备停止所述循环缓冲区中内嵌逻辑地址,其中,停止内嵌逻辑地址的方式包括由内存错误引起的停止和/或由测试环境引起的停止,从而可对内存错误进行深度追踪,例如确认error address/DQ(错误地址或错误伪操作命令)追踪前面写的历史。
基于上述公开的内容,由于在内存发生错误的瞬间,循环缓冲区停止更新指针和数据缓存空间,则该指针准确记录了内存发生错误的节点,该缓冲区中完整记录了错误发生前的64K clock 的完整历史数据。
在一种具体的实施方式中,在记录当前错误节点以及循环缓冲区的历史数据之后,所述方法还包括:
通过所述逻辑分析仪对所述循环缓冲区的当前错误节点和历史数据进行显示,此时逻辑分析仪等同于一个高阶逻辑分析仪,在成本较低的前提下实现了高阶逻辑分析仪的分析功能,能够对错误节点和历史数据进行清楚显示。
在一种具体的实施方式中,在将所述数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备输出触发信号,以触发数字示波存储器对错误发生时的信号波形进行追踪,从而可以追踪上内存发生错误时的模拟环境,当模拟环境出错时,可对被测内存的模拟环境进行调整。
步骤S3.通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。
其中,需要说明的是,本申请实施例中的被测内存设备可以是一个或多个,从而通过设置一个测试矢量源,多个被检测内存设备,以捕一多检方式提升测试密度,减低检测成本。
基于上述公开的内容,将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,从而利用应用平台作为内存测试设备的测试引擎,使得内存测试仪所连接的被测内存设备与应用平台中的系统内存处于完全相同的数字环境,以便能够复现所有在应用平台出错的被测内存设备,提高了内存出错的复现率;通过将捕捉的数据流存储在循环缓冲区,并在内存出错时记录错误发生的节点和历史数据,实现对内存错误节点和数据的精确定位。
另一方面提供一种内存错误检测装置,包括:
引擎设置模块,用于将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;
数据捕捉模块,用于通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;
内存测试模块,用于通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。
本实施例第二方面提供的前述装置的工作过程、工作细节和技术效果,可以参见如上第一方面或第一方面中任意一种可能设计所述的方法,于此不再赘述。
第三方面提供一种应用如第一方面任意一种可能的设计中所述方法的系统,包括内存测试设备,内存测试设备分别与应用平台和当前被测内存设备连接;
第三方面提供一种应用如第一方面任意一种可能的设计中所述方法的系统,包括内存测试设备,内存测试设备分别与应用平台和被测内存设备连接;
所述应用平台设有系统内存并运行有应用程序,所述内存测试设备用于捕捉应用平台中内存传输线上的数据流,并将所述数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试。
本实施例第三方面提供的前述系统的工作过程、工作细节和技术效果,可以参见如上第一方面或第一方面中任意一种可能设计所述的方法,于此不再赘述。
第四方面,本发明提供一种计算机设备,包括依次通信相连的存储器、处理器和收发器,其中,所述存储器用于存储计算机程序,所述收发器用于收发消息,所述处理器用于读取所述计算机程序,执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的方法。
具体举例的,所述存储器可以但不限于包括随机存取存储器(Random-AccessMemory,RAM)、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、闪存(Flash Memory)、先进先出存储器(First Input First Output,FIFO)和/或先进后出存储器(First Input Last Output,FILO)等等;所述处理器可以不限于采用型号为STM32F105系列的微处理器;所述收发器可以但不限于为WiFi(无线保真)无线收发器、蓝牙无线收发器、GPRS(General Packet RadioService,通用分组无线服务技术)无线收发器和/或ZigBee(紫蜂协议,基于IEEE802 .15.4标准的低功耗局域网协议)无线收发器等。此外,所述计算机设备还可以但不限于包括有电源模块、显示屏和其它必要的部件。
本实施例第四方面提供的前述计算机设备的工作过程、工作细节和技术效果,可以参见如上第一方面或第一方面中任意一种可能设计所述的方法,于此不再赘述。
第五方面,本发明提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有指令,当所述指令在计算机上运行时,执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的方法。
其中,所述计算机可读存储介质是指存储数据的载体,可以但不限于包括软盘、光盘、硬盘、闪存、优盘和/或记忆棒(Memory Stick)等,所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。
本实施例第五方面提供的前述计算机可读存储介质的工作过程、工作细节和技术效果,可以参见如上第一方面或第一方面中任意一种可能设计所述的方法,于此不再赘述。
第六方面,本发明提供一种包含指令的计算机程序产品,当所述指令在计算机上运行时,使所述计算机执行如第一方面任意一种可能的设计中所述的基于安卓端的流程指示器生成方法。
本实施例第六方面提供的前述包含指令的计算机程序产品的工作过程、工作细节和技术效果,可以参见如上第一方面或第一方面中任意一种可能设计所述的方法,于此不再赘述。
最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种内存错误检测方法,其特征在于,包括:
将应用平台作为内存测试设备的测试引擎,其中,应用平台设有系统内存;
通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流;
通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误;
所述数据流至少包括命令,所述命令至少包括读命令和写命令;
当捕捉到内存传输线上的写命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
通过内存测试设备将捕捉到的写命令按照应用平台的数据写地址、写次序和写时序传输至被测内存设备的传输线上进行测试,同时通过内存测试设备内嵌的逻辑分析仪记录数据传输过程;
当捕捉到内存传输线上的读命令时,通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试,包括:
通过内存测试设备将从应用平台捕捉到的读命令和读数据地址按照捕捉到的次序和时序传输至被测内存设备的传输线上;
通过内存测试设备分别接收应用平台对读命令的回应数据以及被测内存设备对读命令的回应数据;
将两组回应数据中的存储信息进行比对,若不一致,则判断被测内存设备出错,并记录错误信息;
在通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备将所述数据流存储在循环缓冲区中;
在通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
在检测到被测内存发生错误时,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区和所述循环缓冲区的指针,并记录所述循环缓冲区的当前错误节点以及历史数据。
2.根据权利要求1所述的内存错误检测方法,其特征在于,所述数据流还至少包括地址和/或数据序列。
3.根据权利要求1所述的内存错误检测方法,其特征在于,在记录当前错误节点以及循环缓冲区的历史数据之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备的逻辑分析仪对所述循环缓冲区的当前错误节点和历史数据进行显示。
4.根据权利要求1所述的内存错误检测方法,其特征在于,通过内存测试设备停止更新所述循环缓冲区,包括:
通过内存测试设备停止所述循环缓冲区中内嵌逻辑地址,其中,停止内嵌逻辑地址的方式包括由内存错误引起的停止和/或由测试环境引起的停止。
5.根据权利要求1所述的内存错误检测方法,其特征在于,在通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试之后,所述方法还包括:
通过内存测试设备输出触发信号,以触发数字示波存储器对错误发生时的信号波形进行追踪。
6.一种应用如权利要求1-5任意一项所述方法的系统,其特征在于,包括内存测试设备,内存测试设备分别与应用平台和被测内存设备连接;
所述应用平台设有系统内存并运行有应用程序,所述内存测试设备用于捕捉应用平台中内存传输线上的数据流,并将所述数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试。
7.一种计算机设备,其特征在于,包括依次通信相连的存储器、处理器和收发器,其中,所述存储器用于存储计算机程序,所述收发器用于收发消息,所述处理器用于读取所述计算机程序,执行如权利要求1-5任意一项所述的内存错误检测方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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