CN115615353A - 利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

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CN115615353A CN202211201484.7A CN202211201484A CN115615353A CN 115615353 A CN115615353 A CN 115615353A CN 202211201484 A CN202211201484 A CN 202211201484A CN 115615353 A CN115615353 A CN 115615353A
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Abstract

本申请涉及一种利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质,应用于计算机设备,所述方法包括:获取平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息;保存所述平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息至数据库;获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对,计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值,若两者差值在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为合格。本申请具有的效果是:用来用来提高检测产品尺寸的效率。

Description

利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本申请涉及测量技术领域,具体涉及一种利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
随着科技的发展,在一些特殊领域,人们对一些机械零件或其他产品的尺寸精度有着很高的要求。
在目前技术中,在检测产品尺寸时,都是将待检测产品固定到特定工位,然后利用多个固定监测设备同时静态检测产品外观,或者设计导向机构校正产品到特定姿态,然后利用多个固定检测设备同时检测产品外观。
针对上述相关技术,发明人认为,上述现有的检测方法中在静态下检测产品外观,利用多个固定监测设备同时静态检测一个产品的尺寸,检测设备的数量繁多,检测效率低。
发明内容
本申请提供一种利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质,用来提高检测产品尺寸的效率。
在本申请的第一方面提供了一种利用平行光检测物体尺寸方法,采用如下技术方案:一种利用平行光检测物体尺寸的方法,应用于计算机设备,所述方法包括:获取平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息;保存所述平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息至数据库;获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对,计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值,若两者差值在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为合格。
通过采用上述技术方案,将平行光从若干个照射角度照射在标准物体上,并将每次照射角度和所得对应的阴影面积保存至数据库;然后获取当前需检测的物体的摆放位置信息,将该阴影面积与数据库中对应的阴影面积比对,若两者的差值在预设范围内,则可判断待检测物体尺寸为合格。整个检测过程十分简单且高效,提高了检测产品尺寸的效率,且阴影面积不受其他外界因素影响,只受平行光光照角度影响,单个影响因素减小了检测结果的误差。
可选的,所述平行光为菲涅尔透镜聚焦产生的光线,所述获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影面积,包括:在不改变所述标准物体的位置的前提下,只改变所述平行光的照射角度,保证在每次改变所述平行光的照射角度时,平行光光源与所述标准物体的距离相同,不断改变平行光的照射角度,产生若干个阴影面积,获取所述若干个阴影面积信息。
通过采用上述技术方案,在不改变标准物体的位置的前提下,通过不断改变平行光的照射角度,并且保证在每次改变平行光的照射角度时,平行光光源与物体间的距离相同。保证阴影面积不受环境影响,只受平行光光照角度和光照强度,以及待测物体的位置影响;在保证物体不动,以及平行光光源和物体距离保持不变的前提下,只改变平行光照射角度,单一变量改变,减小了检测结果的误差,提高了检测物体尺寸的准确性,提高了检测产品尺寸的效率。
可选的,所述获取所述平行光照射当前物体所产生的阴影面积信息,包括:
所述待检测物体具有随机的摆放角度,平行光的照射角度固定;获取所述平行光照射待检测物体所产生的特定阴影面积信息。
通过采用上述技术方案,获取平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息时,可以将平行光照射角固定,由于平行光从若干个照射角照射待检测物体并产生若干个阴影面积,所以在检测待检测物体尺寸是否合格时,只需将平行光固定,照射待检测物体即可。无论待检测物体是何种摆放位置,只需将所得待检测物体的阴影面积与数据库中的预设面积对比,计算差值即可。整个获取过程简单快捷,将平行光固定,与待检测物体摆放位置无关,具有实用性。
可选的,所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息,还包括:所述待检测物体具有随机的摆放角度,且所述待检测物体具有特定的待检测面,平行光的照射角度不固定;根据所述待检测物体具有随机的摆放角度,控制所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面;获取所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面所产生的阴影面积信息。
通过采用上述技术方案,由于待测物体存在多样化,若平行光从多个角度照射,获取多个阴影面积,工作量可能较大。所以采用照射预设位置的方法进行检待测物体尺寸,检测时只需用平行光照射固定位置即可,对标准物体进行获取阴影面积时也只需将平行光照射该固定位置,获取该固定位置的阴影面积,整个检测过程减小了工作量,提高了检测产品尺寸的效率。
可选的,所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息之前,还包括:调整平行光光源与所述待检测物体的距离,使所述平行光光源与所述待检测物体的距离对应所述数据库中的平行光光源与标准物体的距离。
通过采用上述技术方案,在利用平行光检测物体尺寸时,是通过利用平行光照射待检测物体所得的阴影面积与数据库中的阴影面积对比。因此在后续的检测时,平行光光源与物体的距离也要一直保持一致。使得检测结果更具有说服力,更加具有准确性,也减小了检测结果的误差。
可选的,所述将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对,包括:若所述数据库中不存在能与所述待检测物体所产生的阴影面积对应的阴影面积;保存本次所述平行光从特定角度照射所述待检测物体所产生的阴影面积至所述数据库;并发送报警信息至工作人员的移动终端。
通过采用上述技术方案,由于照射角度存在无数个,所以不能保证数据库中存在能与待检测物体所产生的阴影面积对应的阴影面积。因此,在利用平行光照射物体得到一个阴影面积时,存在识别不了当前阴影面积的情况,将该识别不了的阴影面积对应的平行光照射角度记录并保存,然后通知工作人员及时处理,为后续检测物体尺寸是否符合格提供参考。数据库也具有学习功能,不断的识别和保存多种特殊角度照射物体所得的阴影面积,提高了检测效率,减小了检测结果的误差。
可选的,所述若两者差值在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为合格,包括:若所述差值不在所述预设范围内,则初步判定所述待检测物体尺寸为不合格;控制所述平行光从多角度照射所述待检测物体;获取所述平行光从多角度照射所述待检测物体上产生的多个阴影面积信息;计算所述多个阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值;若多个差值均不在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为不合格;若存在一个或多个差值在预设范围内,发出提示信息至所述工作人员的移动终端。
通过采用上述技术方案,在检测时,当用平行光照射物体得到的阴影面积不存在数据库中或者与数据库中保存的阴影面积相差过大,则初步判定为该物体不合格,进而继续进行检测,多角度照射,进行多次测量,若都不存在数据库中或都与数据库中保存的阴影面积相差过大,则判定为不合格,若存在一个或两个符合则通知工作人员进行判别。经过层层筛选和对比得到物体检测结果,提高了检测物体的准确性,检测结果更具说服力。
在本申请的第二方面提供了一种利用平行光检测物体尺寸的装置,采用如下技术方案:所述装置包括:获取模块、保存模块、调用模块、控制模块及计算模块;其中,获取模块、保存模块、计算模块、判断模块;其中,所述获取模块用于获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影的面积、获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;保存模块用于保存所述平行光从若干个预设角度照射在待检测物体上所产生的若干个阴影的面积至数据库;计算模块用于计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值;判断模块用于在计算差值后,判断所述检测物体尺寸是否合格。
通过采用上述技术方案,将平行光从若干个角度照射在标准物体上,并将每次照射角度和所得对应的阴影面积保存至数据库;然后获取当前需检测的物体的摆放位置信息,选取最合适的平行光照射角度去照射当前需检测的物体,得到一个阴影面积。将该阴影面积与数据库中对应的阴影面积比对,若两者的差值在预设范围内,则可判断待检测物体尺寸为合格。整个检测过程十分简单且高效,且阴影面积不受环境影响,只受平行光光照角度和光照强度,以及待测物体的位置影响,减小了检测结果的误差。
在本申请的第三方面提供了一种电子设备,采用如下技术方案:包括处理器、存储器、用户接口及网络接口,所述存储器用于存储指令,所述用户接口和网络接口用于给其他设备通信,所述处理器用于执行所述存储器中存储的指令,以使所述电子设备执行如上述任一种面试匹配度判断方法的计算机程序。
在本申请的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,采用如下技术方案:存储有能够被处理器加载并执行上述任一种面试匹配度判断方法的计算机程序。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1. 提高了检测产品尺寸的效率;
2.初步判定为该物体尺寸不合格时,继续进行检测,多角度照射,进行多次测量,若都不存在数据库中或都与数据库中保存的阴影面积相差过大,则判定为不合格,若存在一个或两个符合则通知工作人员进行判别。经过层层筛选和对比得到物体检测结果,提高了检测物体的准确性,检测结果更具说服力。
附图说明
图1是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸方法的流程示意图;
图2是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸的场景示意图;
图3是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸的另一场景示意图;
图4是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸的装置结构示意图;
图5是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
附图标记说明:1、获取模块;2、保存模块;3、计算模块;4、判断模块;1000、电子设备;1001、处理器;1002、通信总线;1003、用户接口;1004、网络接口;1005、存储器。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案,下面将结合本说明书实施例中的附图,对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。
在本申请实施例的描述中,“示性的”、“例如”或者“举例来说”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示性的”、“例如”或者“举例来说”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言,使用“示性的”、“例如”或者“举例来说”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。在对本发明实施例进行介绍之前,首先对本发明实施例中涉及的一些名词进行定义和说明。
菲涅尔透镜:光线从一侧进入,经过菲涅尔透镜在另一侧出来聚焦成一点或以平行光射出。焦点在光线的另一侧,并且是有限共轭。这类透镜通常设计为准直镜(如投影用菲涅尔透镜,放大镜)以及聚光镜(如太阳能用聚光聚热用菲涅尔透镜)。
以下结合附图对本申请作进一步详细说明。
图1为一个实施例中一种利用平行光检测物体尺寸的方法流程图。应该理解的是,虽然图1的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行;除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行;并且图1中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本申请公开了一种利用平行光检测物体尺寸的方法,如图1所示,该方法包括步骤S1-S3。
步骤S1,获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影面积信息;保存平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影面积至数据库。
具体来说,在进行检测一个或一种物体的尺寸是否合格时,需要对该一个或多个物体的尺寸进行测试。例如,待检测的物体为正方体包装盒,且该正方体包装盒为批量生产,在进行检测正方体包装盒时,将正方体包装盒放置传送带进行依次检测。在本申请中,若无其他特殊说明,默认待检测物体为正方体包装盒,且该正方体包装盒均为批量生产。
检测之前,利用平行光对标准物体进行多次照射,由于待检测物体为正方体包装盒,且都处于传送带上,所以摆放位置差别不大。利用平行光从若干个预设角度照射该标准正方体包装盒时,可以适当减少照射角度;若待检测物体尺寸较复杂时,则适当增加照射角度。不断的调整平行光照射角度(照射角度不同,但必需保证平行光光照强度相同和平行光光源与正方体包装盒距离相同的),得到多个阴影面积,将所有照射角度、所有照射角度对应的正方体包装盒的摆放位置、所有照射角度照射正方体包装盒时所得的所有阴影面积信息保存。将这些所有照射角度、所有照射角度对应的正方体包装盒的摆放位置、所有照射角度照射正方体包装盒时所得的所有阴影面积信息作为参考,检测其余正方体包装盒是否符合格。
平行光光源具有自动改变位置的功能,在不改变标准物体的位置的前提下,只改变平行光的照射角度,保证在每次改变平行光的照射角度时,平行光光源与所述标准物体的距离相同,不断改变平行光的照射角度,产生若干个阴影面积。
步骤S2,获取平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息。
在一个示例中,可以通过图像传感器拍摄待检测物体,得到该待检测物体的图像信息;扫描该图像信息;确定待检测物体的摆放位置信息,待检测物体可以是正方体包装盒。正常情况下平行光光源与传送带垂直,平行光与传送带也垂直,正方体包装盒整齐的摆放在传送带上。
通过图像传感器可以得知当前物品是否按照标准摆放。图像传感器拍摄当前待测量的正方体包装盒,识别图片内容,通过图片内容建立坐标系,识别出该正方体包装盒的摆放位置。通过识别图片信息也能识别一些产品是否存在瑕疵,例如待检测正方体包装盒的一个角缺损或者一个面存在破损。通过图像传感器可以初步判断待检测物体本身是否存在破损等肉眼可见的瑕疵。
在不改变标准物体的位置的前提下,只改变平行光的照射角度,保证在每次改变平行光的照射角度时,平行光光源与标准物体的距离相同,不断改变平行光的照射角度,产生若干个阴影面积,获取阴影面积信息。
如图2所示,图2是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸的另一场景示意图;在一个示例中,在进行检测正方体包装盒尺寸是否合格之前,提前利用平行光对标准的正方体包装盒进行多角度照射,将这些角度、每个角度对应的正方体包装盒的摆放位置、每个摆放位置对应的阴影面积进行保存。在检测时,将平行光固定,因为提前利用平行光对标准的正方体包装盒进行多角度照射,所以无论待测正方体包装盒处于何种摆放位置,数据库中都可能存在能与当前摆放位置对应的阴影面积。所以只需将正方体包装盒放置传送带上依次进行检测,将获得的阴影面积信息进行保存。另外,在检测时,存在待检测物体的其他面尺寸不合格,但是由于检测时,只检测到一个面,并未检测其他面的阴影面积的情况,所以在检测时,可以将平行光进行多侧或多个位置固定,检测多个面的阴影面积的具体情况。
如图3所示,图3是本申请实施例的一种利用平行光检测物体尺寸的另一场景示意图;在另一个示例中,根据待检测物体存在不同摆放位置,控制平行光照射待检测物体的预设位置,获取平行光照射待检测物体的预设位置所产生的阴影面积信息。因为待检测物体种类不同、数量不同、对待检测物体的尺寸精度不同,所以设定多种获取平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息。而且存在一些特殊原因,例如时间,为了节省时间,可以采用对标准物体的一特殊位置进行照射,获取平行光照射该特殊位置所得的阴影面积。在检测其他未知尺寸的物体时,无论该物体处于何种位置,图像传感器在识别该物体的位置信息后,控制平行光光源移动至预先设定位置进行照射,获取该位置的阴影面积。另外,因为待测物体的种类不同,各自的精度要求也不同,所以为了更好地判断待测物体的尺寸是否合乎规范,可以设定平行光光源移动至多个预先设定位置进行照射。预先设定位置和位置个数可自行设定。
需要注意的是,在进行批量检测物体的尺寸是否合格时,需要保证整个过程中平行光光源与待测物体的距离相等,且该距离也必须同平行光光源与标准物体的距离相等,即整个过程中平行光光源与检测物体的距离相同。
步骤S3,将待检测物体所产生的阴影面积与数据库中对应的阴影面积进行比对,计算当前物体所产生的阴影面积与数据库中对应的阴影面积的差值。
在一个示例中,通过上述示例可知,有两种获取待检测物体的阴影面积的方法。一种为固定平行光照射角度,随机改变待测物体的位置;另一种为利用平行光照射特定位置,然后与数据库中的阴影面积对比。其实无论何种方式,都是获取阴影面积,然后通过与数据库中对应的阴影面积比较。比较方法可以为将阴影面积的大小和图像大小结合,先判断所得的阴影面积的大小是否符合标准,在阴影面积的大小符合标准的前提下进行比较阴影面积的图像是否符合标准。综合判断,得出待检测物体尺寸是否合格。例如,若所得阴影面积为10平方米,对比数据库中的阴影面积,规定阴影面积为的差值不得超过1平方,若数据库中的阴影面积为9平方米则初步判定为合格,然后继续对比数据库中对应阴影面积的图像大小,对于阴影面积的图像大小,可以设定一个阴影面积轮廓,若待检测物体的阴影面积图像与该轮廓形状相同且大小也在预设范围内,则判定为合格,反正,初步判定为尺寸不合格;若数据库中的阴影面积为11.5平方米,则初步判定待检测物体尺寸不合格,初步判定为尺寸不合格的待检测物体会经过二次检测判断是否尺寸合格,二次检查一般为人工进行检查,在此不再赘述。
另外,因为物体摆放位置存在多种情况的原因,在进行调整平行光照射角度时也允许存在误差。例如,在一般检测正方体包装盒时,包装盒存在a、s、d、f四个面。正常情况下,平行光与a面垂直,形成90度夹角;若存在一个正方体包装盒的摆放位置出现偏差,对该正方体包装盒进行检测时,不需要平行光照射角度一定与a面形成90度夹角,可以存在一定偏差,可以让平行光与a面形成一个89度夹角和一个91度夹角。当然该偏差取决于是否对当前待测物体的尺寸有较高的要求,若有,则照射角度必须保持一致;若无,则根据对待测物体的尺寸要求的高低,适当设定可允许的偏差角度。
若数据库中不存在能与所述待检测物体所产生的阴影的面积对应的阴影的面积;保存本次所述平行光从特定角度照射所述待检测物体所产生的阴影的面积至所述数据库;并发送报警信息至所述工作人员的移动终端。
在一个示例中,可能存在不能识别当前待检测物体的阴影面积或未能在数据库中匹配当前待检测物体的阴影面积。例如,当固定平行光照射角度时,因为待测物体存在各种摆放位置,所以待测物体存在各种不同类型的阴影面积,数据库中的利用平行光从若干角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积数量也是有限的,不可能涵盖所有情况。所以存在一个或多个待测物体的阴影面积在数据库中是不存在的,即不能与数据库中的阴影面积匹配。此时,将该一个或多个待检测物体的阴影面积进行保存,若该待检测物体尺寸合格,可以将该一个或多个待检测物体的阴影面积进行保存,便于下次参考。当不能与数据库汇总的阴影面积匹配时,将会发出报警信息,通知工作人员进行对该待检测物体进行检测,通过人工的方法进行检测是否合格。值得注意的是,在另一种通过平行光照射固定位置来获取阴影面积,进而将阴影面积与数据库中的阴影面积比较是不存在这种情况的。
若差值不在所预设范围内,则初步判定待检测物体尺寸为不合格;控制平行光从多角度照射待检测物体;获取平行光从多角度照射待检测物体上产生的多个阴影面积信息;计算多个阴影面积与数据库中对应的阴影面积的差值;若多个差值均不在预设范围内,则判定带检测物体尺寸为不合格;若存在一个或多个差值在预设范围内,发出提示信息至工作人员的移动终端。
在一个示例中,当计算当前待测物体的阴影面积和数据库中对应的阴影面积的差值时,差值不在预设范围内。若待检测物体的阴影面积为10平方米,数据库中对应的阴影面积为15平方米,规定误差面积不得超过3平方米,则将该待测物体初步判定为尺寸不合格。然后将该待检测物体进行二次检测,将待检测物体进行单独检测,随机选取数据库中的几个特殊照射角度,然后控制平行光照射随机选取的几个特殊角度去照射待测物体,若随机选取的几个特殊角度对应的阴影面积仍然与数据库中对应的阴影面积相差较大,则判定该待测物体不合格;若随机选取几个特殊角度去照射待测物体,产生的阴影面积中存在一个或多个阴影面积在预设差值内,则通知工作人员对该待测物体进行人工检测。
基于上述方法,本申请实施例还公开一种利用平行光检测物体尺寸的装置结构示意图。
如图4所示,该装置包括:获取模块1、保存模块2、计算模块3、判断模块4。
获取模块1用于获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影的面积、获取平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;
保存模块2用于保存平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影的面积至数据库;
计算模块3用于计算待检测物体所产生的阴影面积与数据库中对应的阴影面积的差值;
判断模块4用于在计算差值后,判断待检测物体尺寸是否合格。
获取模块1还用于在不改变标准物体的位置的前提下,只改变平行光的照射角度,保证在每次改变平行光的照射角度时,平行光光源与标准物体的距离相同,不断改变平行光的照射角度,产生若干个阴影面积,获取阴影面积信息;在固定平行光照射角度的前提下,获取平行光照射待检测物体所产生特定阴影面积信息;根据待检测物体存在不同摆放位置,控制平行光照射待检测物体的预设位置,获取平行光照射待检测物体的预设位置所产生的阴影面积信息。
保存模块2还用于若数据库中不存在能与待检测物体所产生的阴影的面积对应的阴影的面积;保存本次平行光从特定角度照射待检测物体所产生的阴影的面积至数据库。
计算模块3还用于初步判定待检测物体尺寸为不合格后,控制平行光从多角度照射所述待检测物体;计算所述多个阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值。
判断模块4还用于若所述差值不在预设范围内,则初步判定待检测物体尺寸为不合格。
需要说明的是:上述实施例提供的装置在实现其功能时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的装置和方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
本申请实施例中提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有指令,当所述指令被执行时,执行上述实施例中一个或多个所述方法。
下边以图5为例,对本申请示例中的电子设备结构示意图进行详细说明。
为本申请实施例提供了一种电子设备的结构示意图。如图5所示,所述电子设备1000可以包括:至少一个处理器1001,至少一个网络接口1004,用户接口1003,存储器1005,至少一个通信总线1002。
其中,通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。
其中,用户接口1003可以包括显示屏(Display)、摄像头(Camera),可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中,网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中,处理器1001可以包括一个或者多个处理核心。处理器1001利用各种接口和线路连接整个服务器内的各个部分,通过运行或执行存储在存储器1005内的指令、程序、代码集或指令集,以及调用存储在存储器1005内的数据,执行服务器的各种功能和处理数据。可选的,处理器1001可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)、可编程逻辑阵列(ProgrammableLogic Array,PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1001可集成中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit,GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中,CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等;GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制;调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调器也可以不集成到处理器1001中,单独通过一块芯片进行实现。
其中,存储器1005可以包括随机存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的,该存储器1005包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器1005可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1005可包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等;存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及的数据等。存储器1005可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器1001的存储装置。如图5所示,作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法的应用程序。
在图5所示的电子设备1000中,用户接口1003主要用于为用户提供输入的接口,获取用户输入的数据;而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法的应用程序,当由一个或多个处理器执行时,使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个所述的方法。
一种电子设备可读存储介质,所述电子设备可读存储介质存储有指令。当由一个或多个处理器执行时,使得电子设备执行如上述实施例中一个或多个所述的方法。
需要说明的是,对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本申请并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本申请,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必需的。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所披露的装置,可通过其他的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些服务接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性或其他的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储器中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括:U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述者,仅为本公开的示例性实施例,不能以此限定本公开的范围。即但凡依本公开教导所作的等效变化与修饰,皆仍属本公开涵盖的范围内。本领域技术人员在考虑说明书及实践这里的公开后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未记载的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的范围和精神由权利要求限定。

Claims (10)

1.一种利用平行光检测物体尺寸的方法,其特征在于,应用于计算机设备,所述方法包括:
获取平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息;
保存所述平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息至数据库;
获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;
将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对,计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值,若两者差值在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为合格。
2.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影面积,包括:
所述平行光为菲涅尔透镜聚焦产生的光线;
在不改变所述标准物体的位置的前提下,只改变所述平行光的照射角度,保证在每次改变所述平行光的照射角度时,平行光光源与所述标准物体的距离相同,不断改变平行光的照射角度,产生若干个阴影面积,获取所述若干个阴影面积信息。
3.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息,包括:
所述待检测物体具有随机的摆放角度,平行光的照射角度固定;
获取所述平行光照射待检测物体所产生的特定阴影面积信息。
4.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息,还包括:
所述待检测物体具有随机的摆放角度,且所述待检测物体具有特定的待检测面,平行光的照射角度不固定;
根据所述待检测物体具有随机的摆放角度,控制所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面;
获取所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面所产生的阴影面积信息。
5.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息之前,还包括:
调整平行光光源与所述待检测物体的距离,使所述平行光光源与所述待检测物体的距离对应所述数据库中的平行光光源与标准物体的距离。
6.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对,包括:
若所述数据库中不存在能与所述待检测物体所产生的阴影面积对应的阴影面积;
保存本次所述平行光从特定角度照射所述待检测物体所产生的阴影面积至所述数据库;
并发送报警信息至工作人员的移动终端。
7.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法,其特征在于,所述若两者差值在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为合格,包括:
若所述差值不在所述预设范围内,则初步判定所述待检测物体尺寸为不合格;
控制所述平行光从多角度照射所述待检测物体;
获取所述平行光从多角度照射所述待检测物体上产生的多个阴影面积信息;
计算所述多个阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值;
若多个差值均不在预设范围内,则判定所述待检测物体尺寸为不合格;
若存在一个或多个差值在预设范围内,发出提示信息至所述工作人员的移动终端。
8.一种利用平行光检测物体尺寸的装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块(1)、保存模块(2)、计算模块(3)及判断模块(4);其中,
所述获取模块(1)用于获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影的面积、获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息;
保存模块(2)用于保存所述平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影的面积至数据库;
计算模块(3)用于计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值;
判断模块(4)用于在计算差值后,判断所述待检测物体尺寸是否合格。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器、用户接口及网络接口,所述存储器用于存储指令,所述用户接口和网络接口用于给其他设备通信,所述处理器用于执行所述存储器中存储的指令,以使所述电子设备执行如权利要求1-7任意一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1-7任意一项所述的方法的计算机程序。
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