CN115585953A - 一种口罩泄漏点分布情况检测系统及平台 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及口罩细菌过滤检测技术领域，更具体地，涉及一种口罩泄漏点分布情况检测系统及平台。该方案包括送风系统、荧光粉存储器、密闭测试仓、蜂窝板、头模、呼吸模拟器、控制系统、工作面板、送风管道、呼吸管道、颗粒物浓度监测仪、颗粒物浓度监测管、颗粒物排放管道和颗粒物收集器，还包括：通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。该方案基于荧光检漏原理，以荧光微粉替代气溶胶，设计了一种口罩密合性检测系统，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况以及泄漏点分布规律，进而指导企业对口罩的结构和尺寸进行设计和优化。
Description
技术领域
本发明涉及口罩细菌过滤检测技术领域，更具体地，涉及一种口罩泄漏点分布情况检测系统及平台。
背景技术
口罩密合性也叫泄漏性或防护效果，反应了口罩边缘与使用者头面部的贴合程度，贴合程度约好，密合性则越高，这与口罩的结构和尺寸有着密切的关系。在本发明技术之前，测试设备和方法主要参照GB32610-2013《日常防护口罩技术规范》来执行，相关专利主要有CN101161308B-自吸过滤式防颗粒物呼吸器过滤效率和泄漏性检测装置及检测方法、CN201697760U-一种呼吸防护用品泄漏性检测系统、CN207280915U-一种口罩防护效果与负载呼吸阻力同步实时测试装置。
但是，上述现有方案均在口罩密合性检测系统中的只有一个颗粒物采集点和一个颗粒浓度监测装置，设置在头模的口鼻处，检测结果只能反映口罩密合性是否合格。这种情况下，导致很多生产企业所生产的企业尺寸、结构不合理，检测结果不合格，但是却不知道为什么不合格，然而检测结果不能指导企业有针对性地对口罩尺寸或者结构进行调整。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提出了一种口罩泄漏点分布情况检测系统及平台，基于荧光检漏原理，以荧光微粉替代气溶胶，设计了一种口罩密合性检测系统，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况以及泄漏点分布规律，进而指导企业对口罩的结构和尺寸进行设计和优化。
根据本发明实施例第一方面，提供一种口罩泄漏点分布情况检测系统。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种口罩泄漏点分布情况检测系统包括：
送风系统、荧光粉存储器、密闭测试仓、蜂窝板、头模、呼吸模拟器、控制系统、工作面板、送风管道、呼吸管道、颗粒物浓度监测仪、颗粒物浓度监测管、颗粒物排放管道和颗粒物收集器；
所述一种口罩泄漏点分布情况检测系统，具体步骤还包括：
检查测试装置；
通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
在一个或多个实施例中，优选地，所述检查测试装置，具体步骤包括：
启动全部的检测设备，依次测试所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个位置的气密性和功能完好性；
确保所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个装置均处于正常状态。
在一个或多个实施例中，优选地，所述检查测试装置，具体步骤还包括：
将被测口罩牢固地佩戴在测试用头模上；
关闭所述密闭测试仓的舱门；
打开所述呼吸模拟器以模拟正常呼吸。
在一个或多个实施例中，优选地，所述通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸，具体步骤包括：
关闭所述呼吸模拟器；
通过送风系统将荧光粉导入测试仓内；
采用颗粒物浓度监测仪监测仓内荧光粉浓度；
通过调节送风量的大小以保持荧光粉浓度在一定范围内，待数值稳定后打开所述呼吸模拟器。
在一个或多个实施例中，优选地，所述通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，具体步骤包括：
采用颗粒物浓度实时监测仪记录仓内荧光粉浓度，持续预设的分钟时长；
从测试仓内取出头模；
采用紫光灯照射以显示荧光粉在头模正面的分布情况，拍照记录。
在一个或多个实施例中，优选地，所述获取泄漏点分布数据组，具体步骤包括：
获取被测的口罩，将口罩的正中心作为坐标原点，形成区块划分，其中，所述区块划分按照平方厘米为单位划分；
提取所述拍照记录的时间与对应的荧光图片；
根据所述荧光图片按照所述区块划分生成为长方形的泄露点分布数据；
提取t时刻对应的测试口罩不同位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度与位置坐标的映射关系；
将所述映射关系与所述泄露点分布数据一起存储为所述泄漏点分布数据组。
在一个或多个实施例中，优选地，所述根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化，具体步骤包括：
获得所述泄漏点分布数据组，提取全部的分区块的色阶浓度；
获得满足第一计算公式中超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，在当所述色阶浓度有超过第一色阶浓度额区域超过50％面积时，增加口罩尺寸预设的比例；
利用第二计算公式获得设置当前时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度获取方式；
超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，根据对应的区域连通性，获取全部的中心点坐标，根据当前时刻的利用第三计算公式计算最小横向泄露、最大横向泄露、最小横向泄露和最大纵向泄露；
利用第四计算公式计算坐标厚度映射函数的更新值；
利用第五计算公式计算坐标透气性映射函数的更新值；
利用第六计算公式计算坐标松紧度映射函数的更新值；
根据所述坐标厚度映射函数的更新值、所述坐标透气性映射函数的更新值和所述坐标松紧度映射函数的更新值，对口罩的结构和尺寸更新优化；
所述第一计算公式为：
其中，Kt为分区块色阶浓度，Y1、Y2和Y3为第一色阶浓度、第二色阶浓度和第三色阶浓度；
所述第二计算公式为：
其中，Z0xy_t、Z1xy_t和Z2xy_t为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度，f0(x,y)、f1(x,y)、f2(x,y)为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度映射函数、坐标透气性映射函数和坐标松紧度映射函数；
所述第三计算公式为：
其中，MINh为最小横向泄露，MAXh为最大横向泄露，MINz为最小纵向泄露，MAXz为最大纵向泄露，Z0为中心校验半径；
所述第四计算公式为：
F0(x,y)＝f0(x,y)+K1(HT-△Ht)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F0(x,y)为坐标位置的坐标厚度映射函数的更新值，△Ht为最近的T个时间段内的厚度差距，HT为基准厚度，K1为第一校正函数；
所述第五计算公式为：
F1(x,y)＝f1(x,y)+K2(-△Cxy/Cxy)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F1(x,y)为坐标透气性映射函数的更新值，△Cxy为x坐标y坐标位置在多次测量中的最大透气性差值，Cxy为x坐标y坐标位置的透气性的平均值，K2为第二校正函数；
所述第六计算公式为：
F2(x,y)＝f2(x,y)+K3(Sxy-Bc/Bz)B(x，y)≤D
其中，F2(x,y)为坐标松紧度映射函数的更新值，D为边缘距离，Sxy为坐标松紧度，Bc为超过预设裕度的面积，Bz为满足B(x，y)≤D的总体面积，K3为第三校正函数，B(x，y)为横坐标x纵坐标y位置的边缘距离。
根据本发明实施例第二方面，提供一种口罩泄漏点分布情况检测平台。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种口罩泄漏点分布情况检测平台包括：
装置检查模块，用于检查测试装置；
状态模拟模块，用于通过送风系统将荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
测试记录模块，用于在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
口罩更新模块，用于根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，提供通过紫外灯照射激发荧光粉发光，通过观察口罩泄露情况及泄漏点，进行泄露监测。
本发明方案中，通过分析获得在不同的使用周期的口罩部泄露位置的分布分散度和分布长度，形成泄露风险指数，并形成基于泄露风险指数的口罩外形及弹性调整优化方案。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统的结构图。
图2是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的检查测试装置的第一流程图。
图3是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的检查测试装置的第二流程图。
图4是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸的流程图。
图5是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况的流程图。
图6是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的获取泄漏点分布数据组的流程图。
图7是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化的流程图。
图8是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测平台的结构图。
图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。
具体实施方式
在本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些流程中，包含了按照特定顺序出现的多个操作，但是应该清楚了解，这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行，操作的序号如101、102等，仅仅是用于区分开各个不同的操作，序号本身不代表任何的执行顺序。另外，这些流程可以包括更多或更少的操作，并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。需要说明的是，本文中的“第一”、“第二”等描述，是用于区分不同的消息、设备、模块等，不代表先后顺序，也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
现有方案均在口罩密合性检测系统中的只有一个颗粒物采集点和一个颗粒浓度监测装置，设置在头模的口鼻处，检测结果只能反映口罩密合性是否合格。这种情况下，导致很多生产企业所生产的企业尺寸、结构不合理，检测结果不合格，但是却不知道为什么不合格，然而检测结果不能指导企业有针对性地对口罩尺寸或者结构进行调整。
本发明实施例中，提供了一种口罩泄漏点分布情况检测系统及平台。该方案基于荧光检漏原理，以荧光微粉替代气溶胶，设计了一种口罩密合性检测系统，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况以及泄漏点分布规律，进而指导企业对口罩的结构和尺寸进行设计和优化。
根据本发明实施例第一方面，提供一种口罩泄漏点分布情况检测系统。
图1是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统的结构图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种口罩泄漏点分布情况检测系统包括：送风系统101、荧光粉存储器102、密闭测试仓103、蜂窝板104、头模105、呼吸模拟器106、控制系统107、工作面板108、送风管道109、呼吸管道110、颗粒物浓度监测仪111、颗粒物浓度监测管112、颗粒物排放管道113和颗粒物收集器114；
所述一种口罩泄漏点分布情况检测系统，具体步骤还包括：
S101、检查测试装置；
S102、通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
S103、在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
S104、根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
在本发明实施例中，本发明所设计的口罩密合性多点检测系统和检测方法，相比于现有的系统和方法，可检测口罩泄漏点分布情况，有利于企业有针对性地设计和优化口罩的结构和尺寸，而不是简单的评价产品是否合格。
图2是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的检查测试装置的第一流程图。
如图2所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述检查测试装置，具体步骤包括：
S201、启动全部的检测设备，依次测试所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个位置的气密性和功能完好性；
S202、确保所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个装置均处于正常状态。
在本发明实施例中，为了能够进行有效的、可靠的进行全部的口罩泄漏点的测试，首先进行功能、性能和气密性的测试，当全部设备的气密性完好，功能齐全，则这种情况下可以有效进行测试。
图3是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的检查测试装置的第二流程图。
如图3所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述检查测试装置，具体步骤还包括：
S301、将被测口罩牢固地佩戴在测试用头模上；
S302、关闭所述密闭测试仓的舱门；
S303、打开所述呼吸模拟器以模拟正常呼吸。
在本发明实施例中，在获得可靠的检查测试装备后，开始测试的准备工作，在准备工作完成后，自动启动全部的设备检查。
图4是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸的流程图。
如图4所述，在一个或多个实施例中，优选地，所述通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸，具体步骤包括：
S401、关闭所述呼吸模拟器；
S402、通过送风系统将荧光粉导入测试仓内；
S403、采用颗粒物浓度监测仪监测仓内荧光粉浓度；
S404、通过调节送风量的大小以保持荧光粉浓度在一定范围内，待数值稳定后打开所述呼吸模拟器。
在本发明实施例中，在进行检查后，自动进行呼吸器模拟，进而待数值稳定后启动呼吸模拟器，完成呼吸过程的模拟。
图5是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况的流程图。
如图5所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，具体步骤包括：
S501、采用颗粒物浓度实时监测仪记录仓内荧光粉浓度，持续预设的分钟时长；
S502、从测试仓内取出头模；
S503、采用紫光灯照射以显示荧光粉在头模正面的分布情况，拍照记录。
在本发明实施例中，预设的分钟时长优选为20分钟，在设置好测试时长后，开始测试，在测试完成后进行拍照记录。
图6是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的获取泄漏点分布数据组的流程图。
如图6所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述获取泄漏点分布数据组，具体步骤包括：
S601、获取被测的口罩，将口罩的正中心作为坐标原点，形成区块划分，其中，所述区块划分按照平方厘米为单位划分；
S602、提取所述拍照记录的时间与对应的荧光图片；
S603、根据所述荧光图片按照所述区块划分生成为长方形的泄露点分布数据；
S604、提取t时刻对应的测试口罩不同位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度与位置坐标的映射关系；
S605、将所述映射关系与所述泄露点分布数据一起存储为所述泄漏点分布数据组。
在本发明实施例中，为了能够有效的进行口罩的测试，在进行分析前，按照预设的规则进行了口罩的数据和口罩测试时间的记录，并集合了口罩的泄露数据形成了泄漏点分布数据组，这些数据是进行口罩实时的结构与尺寸优化的基础数据。
图7是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测系统中的根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化的流程图。
如图7所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化，具体步骤包括：
S701、获得所述泄漏点分布数据组，提取全部的分区块的色阶浓度；
S702、获得满足第一计算公式中超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，在当所述色阶浓度有超过第一色阶浓度额区域超过50％面积时，增加口罩尺寸预设的比例；
S703、利用第二计算公式获得设置当前时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度获取方式；
S704、超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，根据对应的区域连通性，获取全部的中心点坐标，根据当前时刻的利用第三计算公式计算最小横向泄露、最大横向泄露、最小横向泄露和最大纵向泄露；
S705、利用第四计算公式计算坐标厚度映射函数的更新值；
S706、利用第五计算公式计算坐标透气性映射函数的更新值；
S707、利用第六计算公式计算坐标松紧度映射函数的更新值；
S708、根据所述坐标厚度映射函数的更新值、所述坐标透气性映射函数的更新值和所述坐标松紧度映射函数的更新值，对口罩的结构和尺寸更新优化；
所述第一计算公式为：
其中，Kt为分区块色阶浓度，Y1、Y2和Y3为第一色阶浓度、第二色阶浓度和第三色阶浓度；
所述第二计算公式为：
其中，Z0xy_t、Z1xy_t和Z2xy_t为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度，f0(x,y)、f1(x,y)、f2(x,y)为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度映射函数、坐标透气性映射函数和坐标松紧度映射函数；
所述第三计算公式为：
其中，MINh为最小横向泄露，MAXh为最大横向泄露，MINz为最小纵向泄露，MAXz为最大纵向泄露，Z0为中心校验半径；
所述第四计算公式为：
F0(x,y)＝f0(x,y)+K1(HT-△Ht)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F0(x,y)为坐标位置的坐标厚度映射函数的更新值，△Ht为最近的T个时间段内的厚度差距，HT为基准厚度，K1为第一校正函数；
所述第五计算公式为：
F1(x,y)＝f1(x,y)+K2(-△Cxy/Cxy)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F1(x,y)为坐标透气性映射函数的更新值，△Cxy为x坐标y坐标位置在多次测量中的最大透气性差值，Cxy为x坐标y坐标位置的透气性的平均值，K2为第二校正函数；
所述第六计算公式为：
F2(x,y)＝f2(x,y)+K3(Sxy-Bc/Bz)B(x，y)≤D
其中，F2(x,y)为坐标松紧度映射函数的更新值，D为边缘距离，Sxy为坐标松紧度，Bc为超过预设裕度的面积，Bz为满足B(x，y)≤D的总体面积，K3为第三校正函数，B(x，y)为横坐标x纵坐标y位置的边缘距离。
在本发明实施例中，为了能够有效的进行映射函数的更新值，根据区块设置的方式结合泄漏点分布数据组，进行自动的色阶浓度的实时分析，在此分析过程中，首先利用第一计算公式，第一计算公式中的第一色阶浓度、第二色阶浓度和第三色阶浓度分别为预设的，当所述第一色阶浓度超过的程度较多时，则认为这种情况为口罩面积或尺寸不足，其他情况下，第二或第三色阶取值可以相同也可以不同，第二色阶和第三色阶不同时，将会产生两组连通区域，每个连通区域的中心点坐标，利用第三计算公式生成为对应的泄露点，进而根据泄漏点进行数据更新。
在本发明实施例中，根据所述根据泄漏点进行数据更新的过程实际上包括三种层次，第一种为根据对应泄露的区域的厚度进行校正，主要是针对不同的使用时间段后，口罩厚度会发生变化，不同区域的口罩厚度可能因为吸水的程度和通气量的大小会略有不同，根据基准的厚度，进行修正，实现在长时间使用后口罩的效果的均匀，降低长时间佩戴产生的时效；第二种为根据通透性进行的归一化处理，以泄露水平的平均值为基础，调整不同位置的泄露程度，使得口罩的最大透气性差值最小化；第三方面为对于边缘区域的松紧度的调整，力求降低泄露水平。
根据本发明实施例第二方面，提供一种口罩泄漏点分布情况检测平台。
图8是本发明一个实施例的一种口罩泄漏点分布情况检测平台的结构图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种口罩泄漏点分布情况检测平台包括：
装置检查模块801，用于检查测试装置；
状态模拟模块802，用于通过送风系统将荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
测试记录模块803，用于在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
口罩更新模块804，用于根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
在本发明实施例中，通过模块化的设计形成了对应的平台结构，用于进行所述泄露数据的测量，并自动进行根据泄露数据的口罩更新调整策略形成快速、可靠和高效的口罩监测流程和平台。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备。图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。图9所示的电子设备为通用口罩泄漏点分布情况检测装置，其包括通用的计算机硬件结构，其至少包括处理器901和存储器902。处理器901和存储器902通过总线903连接。存储器902适于存储处理器901可执行的指令或程序。处理器901可以是独立的微处理器，也可以是一个或者多个微处理器集合。由此，处理器901通过执行存储器902所存储的指令，从而执行如上所述的本发明实施例的方法流程实现对于数据的处理和对于其它装置的控制。总线903将上述多个组件连接在一起，同时将上述组件连接到显示控制器904和显示装置以及输入/输出(I/O)装置905。输入/输出(I/O)装置905可以是鼠标、键盘、调制解调器、网络接口、触控输入装置、体感输入装置、打印机以及本领域公知的其他装置。典型地，输入/输出装置905通过输入/输出(I/O)控制器906与系统相连。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，提供通过紫外灯照射激发荧光粉发光，通过观察口罩泄露情况及泄漏点，进行泄露监测。
本发明方案中，通过分析获得在不同的使用周期的口罩部泄露位置的分布分散度和分布长度，形成泄露风险指数，并形成基于泄露风险指数的口罩外形及弹性调整优化方案。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，该系统包括：送风系统、荧光粉存储器、密闭测试仓、蜂窝板、头模、呼吸模拟器、控制系统、工作面板、送风管道、呼吸管道、颗粒物浓度监测仪、颗粒物浓度监测管、颗粒物排放管道和颗粒物收集器；
所述一种口罩泄漏点分布情况检测系统，具体步骤还包括：
检查测试装置；
通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
2.如权利要求1所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述检查测试装置，具体步骤包括：
启动全部的检测设备，依次测试所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个位置的气密性和功能完好性；
确保所述口罩泄漏点分布情况检测系统中的每个装置均处于正常状态。
3.如权利要求1所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述检查测试装置，具体步骤还包括：
将被测口罩牢固地佩戴在测试用头模上；
关闭所述密闭测试仓的舱门；
打开所述呼吸模拟器以模拟正常呼吸。
4.如权利要求1所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述通过所述送风系统将所述荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开所述密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸，具体步骤包括：
关闭所述呼吸模拟器；
通过送风系统将荧光粉导入测试仓内；
采用颗粒物浓度监测仪监测仓内荧光粉浓度；
通过调节送风量的大小以保持荧光粉浓度在一定范围内，待数值稳定后打开所述呼吸模拟器。
5.如权利要求1所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，具体步骤包括：
采用颗粒物浓度实时监测仪记录仓内荧光粉浓度，持续预设的分钟时长；
从测试仓内取出头模；
采用紫光灯照射以显示荧光粉在头模正面的分布情况，拍照记录。
6.如权利要求5所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述获取泄漏点分布数据组，具体步骤包括：
获取被测的口罩，将口罩的正中心作为坐标原点，形成区块划分，其中，所述区块划分按照平方厘米为单位划分；
提取所述拍照记录的时间与对应的荧光图片；
根据所述荧光图片按照所述区块划分生成为长方形的泄露点分布数据；
提取t时刻对应的测试口罩不同位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度与位置坐标的映射关系；
将所述映射关系与所述泄露点分布数据一起存储为所述泄漏点分布数据组。
7.如权利要求1所述的一种口罩泄漏点分布情况检测系统，其特征在于，所述根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化，具体步骤包括：
获得所述泄漏点分布数据组，提取全部的分区块的色阶浓度；
获得满足第一计算公式中超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，在当所述色阶浓度有超过第一色阶浓度额区域超过50％面积时，增加口罩尺寸预设的比例；
利用第二计算公式获得设置当前时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度获取方式；
超过第二色阶浓度或第三色阶浓度所有的区块的x坐标y坐标位置，根据对应的区域连通性，获取全部的中心点坐标，根据当前时刻的利用第三计算公式计算最小横向泄露、最大横向泄露、最小横向泄露和最大纵向泄露；
利用第四计算公式计算坐标厚度映射函数的更新值；
利用第五计算公式计算坐标透气性映射函数的更新值；
利用第六计算公式计算坐标松紧度映射函数的更新值；
根据所述坐标厚度映射函数的更新值、所述坐标透气性映射函数的更新值和所述坐标松紧度映射函数的更新值，对口罩的结构和尺寸更新优化；
所述第一计算公式为：
其中，Kt为分区块色阶浓度，Y1、Y2和Y3依次为第一色阶浓度、第二色阶浓度和第三色阶浓度；
所述第二计算公式为：
其中，Z0xy_t、Z1xy_t和Z2xy_t依次为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度、坐标透气性和坐标松紧度，f0(x,y)、f1(x,y)、f2(x,y)依次为在t时刻的x坐标y坐标位置的坐标厚度映射函数、坐标透气性映射函数和坐标松紧度映射函数；
所述第三计算公式为：
其中，MINh为最小横向泄露，MAXh为最大横向泄露，MINz为最小纵向泄露，MAXz为最大纵向泄露，Z0为中心校验半径；
所述第四计算公式为：
F0(x,y)＝f0(x,y)+K1(HT-△Ht)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F0(x,y)为坐标位置的坐标厚度映射函数的更新值，△Ht为最近的T个时间段内的厚度差距，HT为基准厚度，K1为第一校正函数；
所述第五计算公式为：
F1(x,y)＝f1(x,y)+K2(-△Cxy/Cxy)MINh≤x≤MAXh&&MINz≤y≤MAXz
其中，F1(x,y)为坐标透气性映射函数的更新值，△Cxy为x坐标y坐标位置在多次测量中的最大透气性差值，Cxy为x坐标y坐标位置的透气性的平均值，K2为第二校正函数；
所述第六计算公式为：
F2(x,y)＝f2(x,y)+K3(Sxy-Bc/Bz)B(x，y)≤D
其中，F2(x,y)为坐标松紧度映射函数的更新值，D为边缘距离，Sxy为坐标松紧度，Bc为超过预设裕度的面积，Bz为满足B(x，y)≤D的总体面积，K3为第三校正函数，B(x，y)为横坐标x纵坐标y位置的边缘距离。
8.一种口罩泄漏点分布情况检测平台，其特征在于，该平台包括：
装置检查模块，用于检查测试装置；
状态模拟模块，用于通过送风系统将荧光粉存储器进行荧光微粉释放，打开密闭测试仓的舱门模拟正常呼吸；
测试记录模块，用于在测试结束后，通过紫外灯照射激发荧光粉发光，观察口罩泄漏情况，获取泄漏点分布数据组；
口罩更新模块，用于根据所述泄漏点分布数据组指导企业对口罩的结构和尺寸更新优化。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的步骤。
10.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现如权利要求1-7任一项所述的步骤。
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