CN115556390B

CN115556390B - 一种覆膜滤布的生产方法和装置

Info

Publication number: CN115556390B
Application number: CN202211319522.9A
Authority: CN
Inventors: 朱志慧
Original assignee: Suzhou Meeko Environmental Technology Co ltd
Current assignee: Suzhou Meeko Environmental Technology Co ltd
Priority date: 2022-10-26
Filing date: 2022-10-26
Publication date: 2023-08-08
Anticipated expiration: 2042-10-26
Also published as: CN115556390A

Abstract

本说明书实施例提供一种覆膜滤布的生产方法和装置，该方法由控制器执行，包括：控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；获取初始薄膜的材料数据；基于材料数据，确定对第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数；控制表面处理平台基于目标工艺参数对第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜；控制复合成型平台对第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

Description

一种覆膜滤布的生产方法和装置

技术领域

本说明书涉及过滤材料领域，特别涉及一种覆膜滤布的生产方法和装置。

背景技术

在生产或生活过程中，通常需要使用过滤材料对液体、气体进行过滤。在诸多过滤材料中，聚四氟乙烯(Poly tetra fluoroethylene，PTFE)覆膜滤布具有清灰效果好、使用的清灰压力强度较低、使用寿命长、产品运行费用低等优点，广泛应用于烟气净化除尘，粉尘治理及物料回收等领域。然而，由于该材料分子结构高度对称，结晶度高且不含活性基团，限制了PTFE薄膜与其他材料的复合，即在复合过程中会损失PTFE薄膜的部分过滤性能，影响最终过滤材料质量。

PTFE表面处理常用的方法是湿化学处理法,即萘-钠、氨-钠溶液处理法,该法是利用腐蚀液除去PTFE表面的氟原子来提高材料表面活性，然而，该方法得到的PTFE膜外观较差，且降低材料性能、污染环境等。

利用低温等离子体表面改性方法处理PTFE膜，使其具有一定的可粘结性，效果较好，但是处理时间、处理电压以及功率等尚无有效控制方法，成本较高，且效果不理想。

因此，希望提供一种覆膜滤布的生产方法和装置，以提高覆膜滤布的生产效率以及材料性能。

发明内容

本说明书实施例之一提供一种覆膜滤布的生产方法，所述方法由控制器执行，所述方法包括：控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；获取所述初始薄膜的材料数据；基于所述材料数据，确定对所述第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数控制表面处理平台基于所述目标工艺参数对所述第一薄膜进行所述表面处理，获得第二薄膜；控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

本说明书实施例之一提供一种覆膜滤布的生产系统，所述系统包括：第一控制模块，用于控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；获取模块，用于获取所述初始薄膜的材料数据；确定模块，基于所述材料数据，确定对所述第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数；第二控制模块，用于控制表面处理平台基于所述目标工艺参数对所述第一薄膜进行所述表面处理，获得第二薄膜；第三控制模块，用于控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

本说明书实施例之一提供一种覆膜滤布的生产装置，所述装置包括：预处理平台，用于对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；表面处理平台，用于对所述第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜；复合成型平台，用于对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布；控制器，用于对所述预处理平台、所述表面处理平台以及所述复合成型平台进行控制，以执行如上述实施例中任一项所述的覆膜滤布的生产方法。

本说明书实施例之一提供一种计算机可读存储介质，存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机如上述实施例中任一项所述的覆膜滤布的生产方法。

本说明书一些实施例所述的覆膜滤布的生产方法可以基于不同的薄膜材料数据，确定不同的等离体子处理参数，进而获取表面能较高的薄膜，然后将薄膜与基材复合制备成覆膜滤布，生产效率较高，能够根据薄膜组分不同做不同调整，减少加工成本，同时还能够有效保证覆膜材料的过滤性能。

附图说明

本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：

图1是根据本说明书一些实施例所示的覆膜滤布生产装置的示意图；

图2是根据本说明书一些实施例所示的覆膜滤布生产的方法示例性流程图；

图3是根据本说明书一些实施例所示的确定目标工艺参数的示例性流程图；

图4是根据本说明书一些实施例所示的确定参考工艺图谱的示例性流程图；

图5A是根据本说明书一些实施例所示的参考工艺图谱的示意图；

图5B是根据本说明书一些实施例所示的目标工艺图谱的示意图；

图6是根据本说明书一些实施例所示的复合处理以及成型处理方法示例性流程图；

图7是根据本说明书一些实施例所示的参数确定模型的示意图；

图8是根据本说明书一些实施例所示的覆膜滤布的生产系统的示例性模块图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本说明书实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本说明书应用于其它类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。

应当理解，本文使用的“系统”、“装置”、“单元”和/或“模块”是用于区分不同级别的不同组件、元件、部件、部分或装配的一种方法。然而，如果其他词语可实现相同的目的，则可通过其他表达来替换所述词语。

如本说明书和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其它的步骤或元素。

本说明书中使用了流程图用来说明根据本说明书的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或后面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，可以按照倒序或同时处理各个步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步操作。

图1是根据本说明书一些实施例所示的覆膜滤布的生产装置的示意图。如图1所示，覆膜滤布的生产装置100可以包括预处理平台110、表面处理平台120、复合成型平台130和控制器140。

预处理平台110可以指用于对初始薄膜进行预处理的平台。前述预处理可以包括但不限于对初始薄膜进行预热、除静电处理、整形处理(处理成所需的形状尺寸)等。如图1所示，预处理平台110可以对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜。初始薄膜可以指未经过预处理的薄膜。在一些实施例中，初始薄膜可以以聚四氟乙烯为原料的微孔薄膜。在一些实施例中，初始薄膜还可以包括其他原料的薄膜。例如，以聚乙烯(polyethylene，PE)为原料的微孔薄膜。初始薄膜可以通过多种方式获取。例如，可以采用悬浮聚合法或乳液聚合法制备初始薄膜。第一薄膜可以指初始薄膜经过预处理后得到的薄膜。

表面处理平台120可以指用于对第一薄膜进行表面处理的平台。如图1所示，表面处理平台120可以对第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜。其中，第二薄膜可以指第一薄膜经过表面处理后得到的薄膜。第二薄膜可以基于离子表面处理平台120获取。前述表面处理可以为低温等离子体表面处理。在一些实施例中，表面处理平台120可以包括低温等离子表面处理装置。例如，低压真空等离子表面处理装置和常压大气等离子表面处理装置。低温等离子表面处理装置可以对第一薄膜170的其中一面(例如，需要与滤布基础材料进行复合的面)进行等离子体处理，以提高表面能及粘结性，进而更好地与滤布基础材料复合，获得第二薄膜。其中，滤布基础材料可以指用于与第二薄膜进行复合的材料。滤布基础材料可以包括但不限于玻璃纤维、碳纤维、石墨等中的一种或者多种。

复合成型平台130可以指用于对第二薄膜进行复合处理以及成型处理的平台。如图1所示，复合成型平台130可以对第二薄膜进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。前述覆膜滤布190可以指对粉尘与物料过滤和收集的材料。在一些实施例中，复合成型平台130可以包括复合处理装置和成型处理装置。例如，复合处理装置可以包括热压机，成型处理装置可以包括挤压机。复合处理装置可以将处理后的第二薄膜与基材进行复合形成覆膜滤布(例如，PTFE覆膜滤布)，复合的方式可以是热压、粘接等。成型处理装置可以将复合后的覆膜滤布进行成型处理，得到指定形状的覆膜滤布，成型的方式可以是挤压等。

控制器140可以处理从覆膜滤布的生产装置100的其他组成部分或其他信息源中获得的数据和/或信息。控制器140可以基于这些数据、信息和/或处理结果执行程序指令，以执行一个或多个本说明书中描述的功能。在一些实施例中，控制器140可以对预处理平台110、表面处理平台120、复合成型平台130以及检测平台150进行控制，以执行一个或多个本说明书中描述的功能。例如，控制器140可以获取初始薄膜的材料数据；基于所述材料数据，确定对第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数；并根据目标工艺参数生成控制指令，控制表面处理平台120对第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜。关于前述示例的更多内容参见图2及其相关描述。

在一些实施例中，覆膜滤布的生产装置100还可以包括检测平台150。检测平台150指用于对第二薄膜进行检测的平台。在一些实施例中，检测平台150可以对第二薄膜进行检测，获得第二薄膜的表面检测结果。关于表面检测结果的更多内容可以参见图7及其相关描述。在一些实施例中，控制器140可以基于前述表面检测结果，确定控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得所述覆膜滤布，或者控制所述表面处理平台再次对所述第二薄膜进行所述表面处理，获得新的第二薄膜，并获取所述新的第二薄膜的表面检测结果，直至所述新的第二薄膜的表面检测结果满足所述预设条件，控制所述复合成型平台对所述新的第二薄膜以及所述滤布基础材料进行所述复合处理以及所述成型处理，获得所述覆膜滤布。关于前述实施例的更多内容参见图7及其相关描述。

在一些实施例中，覆膜滤布的生产装置100还可以包括放卷平台160。放卷平台160指用于对初始卷材进行放卷处理的平台。初始卷材指未经过放卷处理的薄膜。初始卷材可以包括以聚四氟乙烯或聚乙烯等为原料的微孔薄膜。初始卷材可以通过多种方式获取。例如，可以采用悬浮聚合法或乳液聚合法制备初始卷材。在一些实施例中，控制器140可以控制放卷平台160对初始卷材进行放卷处理，获得初始薄膜。

在一些实施例中，覆膜滤布的生产装置100还可以包括收卷平台170。收卷平台170指用于对覆膜滤布进行收卷处理的平台。在一些实施例中，控制器140可以控制收卷平台170对覆膜滤布进行收卷处理，获得覆膜滤布卷材。覆膜滤布卷材指经过收卷处理的覆膜滤布。

需要注意的是，以上对于覆膜滤布生产装置100及其各个组成部分的描述，仅为描述方便，并不能把本说明书限制在所举实施例范围之内。可以理解，对于本领域的技术人员来说，在了解该装置的原理后，可能在不背离这一原理的情况下，对各个组成部分进行任意组合，或者构成子装置与其他组成部分连接。

图2是根据本说明书一些实施例所示的覆膜滤布的生产方法的示例性流程图。在一些实施例中，流程200可以由控制器140执行。如图2所示，流程200包括下述步骤：

步骤210，控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜。

步骤220，获取初始薄膜的材料数据。

初始薄膜可以包括多种不同的材料。例如，初始薄膜的材料可以包括基体材料和一种或多种附加材料(例如，添加剂)。其中，主要构成初始薄膜的材料可以被称为基体材料，初始薄膜中除基体材料之外的材料可以被称为附加材料。初始薄膜的材料数据可以指初始薄膜中与材料相关的数据。在覆膜滤布的生产中，不同的初始薄膜中材料的类型、含量可以不同。在一些实施例中，初始薄膜的材料数据可以包括所述初始薄膜中各材料的材料类型，所述材料类型包括所述初始薄膜中的基体材料类型。关于基体材料类型的更多说明在一些实施例中，初始薄膜的材料数据还可以包括其他内容。例如，初始薄膜中的附加材料类型。再例如，初始薄膜中的基体材料与附加材料的含量。例如，初始薄膜的材料数据可以包括基体材料类型为PTFE，其含量为100％。又例如，初始薄膜的材料数据可以包括基体材料类型为PTFE，其含量为85-80％，附加材料为玻璃纤维，其含量为15％-20％。

在一些实施例中，控制器140可以基于覆膜滤布的生产装置100的操作员的输入，获取初始薄膜的材料数据。

步骤230，基于材料数据，确定对第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数。

目标工艺参数可以指在表面处理平台120中对第一薄膜进行表面处理的相关参数。目标工艺参数可以包括但不限于表面处理装置的气体流量、功率、处理时间、处理温度等。在一些实施例中，目标工艺参数可以是为具体数值，还可以为范围值。示例地，表面处理装置的放电功率可以为250W-300W、处理时间可以为10min-20min、气体流量以为150-200cm³/min、处理温度可以在180℃-220℃。

在一些实施例中，控制器140可以进行建模或采用各种数据分析算法，例如回归分析法、判别分析法等，对材料数据进行分析处理，确定目标工艺参数。在一些实施例中，控制器140可以基于基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的目标工艺图谱，并基于目标工艺图谱，确定对第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数。例如，针对多种不同类型的参考基体材料中的每一种，控制器140可以获取基于该参考基体材料进行覆膜滤布生产时生产合格的历史数据，并基于历史数据，构建该参考基体材料对应的参考工艺图谱。关于确定目标工艺参数的更多内容，可以参考图3、图4中的相关说明。

步骤240，控制表面处理平台基于目标工艺参数对第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜。

步骤250，控制复合成型平台对第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

本说明书一些实施例的覆膜滤布的生产方法可以基于不同的薄膜材料数据，确定在表面处理平台中对薄膜进行处理的不同的工艺参数，进而获取表面能较高的薄膜，然后将薄膜与滤布基础材料复合制备成覆膜滤布，生产效率较高，能够根据薄膜组分不同进行调整，减少加工成本的同时，还能够有效保证覆膜材料的过滤性能。

图3是根据本说明书一些实施例所示的确定目标工艺参数的示例性流程图。在一些实施例中，流程300可以由控制器140执行。如图3所示，流程300包括下述步骤：

步骤310，基于基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的目标工艺图谱。

基体材料类型可以指初始薄膜中基体材料的类型。例如，当初始薄膜的基体材料为聚四氟乙烯时，该初始薄膜的基体材料类型为聚四氟乙烯。又例如，当初始薄膜的基体材料为聚乙烯时，则该初始薄膜的基体材料类型为聚乙烯。在一些实施例中，控制器140可以基于基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的目标工艺图谱。目标工艺图谱可以指至少与第一薄膜的基体材料类型相匹配的工艺图谱。工艺图谱可以表征覆膜滤布生产工艺中初始薄膜的不同材料及其含量与工艺参数之间的关系的图谱。可以理解的是，当第一薄膜的材料不同时，对其进行表面处理的工艺参数可以不同。另外，当第一薄膜的材料相同但含量不同时，相应的表面处理的工艺参数也可以不同。如图5B所示，该目标工艺图谱可以包括第一节点510-1，前述第一节点510-1可以对应一种基体材料类型以及含量，以及与第一节点510-1直接或间接连接的第二节点520-3、第三节点530-1和第三节点530-3，还可以包括连接前述多个节点之间的第一类边以及第二类边，关于第一节点、第二节点、第三节点、第一类边以及第二类边的更多说明参见图4及其相关描述。

目标工艺图谱可以包括参考基体材料类型为聚四氟乙烯的参考工艺图谱中的一个或多个。在一些实施例中，数据库中可以包括基于多种不同类型的参考基体材料构建的参考工艺图谱。关于参考工艺图谱的更多内容可以参见图4及其相关描述。

在一些实施例中，控制器140可以基于基体材料类型在数据库中进行检索，从前述多个参考工艺图谱中确定对应的目标工艺图谱。检索可以包括基于基体材料类型在数据库中进行查询并返回检索结果的操作。检索的结果可以包括与基体材料类型相匹配的目标工艺图谱。例如，当初始薄膜的基体材料类型为聚四氟乙烯时，则可以将数据库中含有聚四氟乙烯的参考工艺图谱确定为目标工艺图谱。又例如，当初始薄膜的基体材料类型为聚乙烯时，则可以将数据库中含有聚四氟乙烯的参考工艺图谱确定为目标工艺图谱。

在一些实施例中，检索还可以是基于基体材料类型、基体材料的含量、附加材料类型、附加材料含量等中的一种或组合进行的检索操作。例如，检索可以是基体材料类型(例如，聚四氟乙烯)和附加材料类型(例如，玻璃纤维)组合进行的检索，则相应的检索结果为包含有聚四氟乙烯和/或玻璃纤维的目标工艺图谱。

步骤320，基于目标工艺图谱，确定对第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数。

在一些实施例中，控制器140可以基于目标工艺图谱中的工艺参数，确定目标工艺参数。例如，可以直接将目标工艺图谱中的工艺参数，确定为目标工艺参数。例如，目标工艺图谱中表示基体材料类型为聚四氟乙烯及其含量为80％-85％，对应的工艺参数信息包括处理温度为180℃-220℃、处理时间10min-20min时，则控制器140可以将该第一薄膜进行表面处理时的目标工艺参数确定为处理温度为180℃-220℃、处理时间10min-20min。

在一些实施例中，目标工艺图谱中可以包括一个或多个目标子图。控制器140可以对检索获得的目标工艺图谱按照基体材料类型与工艺参数的一个或多个关系进行分割处理，进而获得对应的一个或多个目标子图。目标子图可以指目标工艺图谱中至少包括的一个第一节点与一个第三节点的图。例如，目标子图可以包括一个第一节点与一个第三节点。再例如，目标子图还可以包括目标子图可以包括一个第一节点、一个第二节点与一个第三节点。如图5B所示的目标工艺图谱，该目标工艺图谱可以对应两个目标子图。一个目标子图包括第一节点510-1以及第三节点530-1，另一个目标子图包括第一节点510-1、第二节点520-3以及第三节点530-3。

在一些实施例中，控制器140可以基于至少一个目标子图，确定目标工艺参数。例如，控制器140可以确定目标子图的节点数，并将前述节点数满足预设条件的目标子图对应的工艺参数确定为目标工艺参数。在一些实施例中，控制器140可以基于参数确定模型对目标工艺图谱对应的至少一个目标子图进行处理，确定目标工艺参数。关于参数确定模型的相关内容参见图7及其描述。本说明书一些实施例通过工艺图谱确定第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数，可以快速获得不同材料的第一薄膜所对应的目标工艺参数，从而提高生产的效率，同时基于至少一个目标子图所确定的生产工艺参数，也使得目标工艺参数更加准确、更有针对性。

图4是根据本说明书一些实施例所示的确定参考工艺图谱的示例性流程图。在一些实施例中，流程400可以由控制器140执行。如图4所示，流程400可以包括以下步骤：

步骤410，针对多种不同类型的参考基体材料中的每一种，获取基于该参考基体材料进行覆膜滤布生产时生产合格的历史数据。

参考工艺谱图可以指基于先验知识或历史生产经验确定的工艺图谱。例如，在历史的覆膜滤布生产过程中，对于产出的合格产品，可以对各种不同类型的基体材料、生产工艺参数等相关的生产数据进行存储、统计和分析等处理，并生成参考工艺图谱。

在一些实施例中，针对多种不同类型的参考基体材料中的每一种，控制器140可以获取基于该参考基体材料进行覆膜滤布生产时产出合格产品的历史数据。其中，历史数据可以包括参考基体材料的类型和含量以及进行覆膜滤布生产时的参考工艺参数。在一些实施例中，当前述合格产品中还包括参考附加材料时，历史数据还可以包括参考附加材料的类型和含量。参考基体材料可以是用于参考的前述合格产品中的基体材料。参考附加材料可以是用于参考的前述合格产品中的附加材料。参考工艺参数可以是用于参考的生产前述合格产品时的工艺参数。历史数据可以是过去一年、半年等的生产数据。不同的历史数据可以包括不同类型的参考基体材料。例如，某一历史数据包括参考基体材料为聚四氟乙烯的一个或多个生产数据等。

步骤420，基于历史数据，构建该参考基体材料对应的参考工艺图谱。

在一些实施例中，控制器140可以对历史数据进行分析，确定参考工艺图谱中的节点和边，从而确定参考工艺图谱。

参考工艺图谱可以包括多个不同类型的节点。在一些实施例中，参考工艺图谱中的节点可以包括第一节点、第二节点以及第三节点。

第一节点可以表示历史数据中参考基体材料的类型和含量。其中，前述含量可以是该参考基体材料(例如，聚四氟乙烯)在覆膜滤布中的含量比例值，例如，80％，也可以是含量的比例范围，例如，[80％，85％]的比例区间。如图5A所示，该参考工艺图谱中可以包括第一节点510-1、第一节点510-2以及第一节点510-3。示例性的，第一节点510-1可以表示参考基体材料的类型为聚四氟乙烯及其含量为80％-85％、第一节点510-2可以表示参考基体材料的类型为聚四氟乙烯及其含量为90％-95％以及第一节点510-3表示参考基体材料的类型为聚乙烯及其含量为80％-85％。

第二节点可以表示历史数据中参考附加材料的类型和含量。不同参考附加材料的类型及其不同含量可以进行组合，每一种不同的组合表示不同的第二节点。如图5A所示，参考工艺图谱中可以包括第二节点520-1、第二节点520-2。示例性的，第二节点520-1可以表示参考附加材料的类型为玻璃纤维及其含量为15％-20％，第二节点520-2可以表示参考附加材料的类型为二氧化锆及其含量为5％-10％。

第三节点可以表示历史数据中参考工艺参数。参考工艺参数可以是多种不同类型的工艺参数中的一种或组合。例如，参考工艺参数可以是温度、压力、处理时长、等离子放电功率等一种或组合。在一些实施例中，第三节点可以用于表示对第一薄膜进行等离子表面处理的参考工艺参数。如图5A所示，该参考工艺图谱中包括第三节点530-1、第三节点530-2以及第三节点530-3。示例性的，第三节点530-1可以表示等离子体放电功率为80W-100W、处理时间为10min-20min；第三节点530-2可以表示处理时间为等离子体放电功率为100W、处理时间为25min；第三节点530-3可以表示离子体放电功率为120W-150W。

应当理解的是，当多个历史数据之间的参考基体材料的类型和含量、参考附加材料的类型和含量或进行覆膜滤布生产时的参考工艺参数中的任意一种或多种相同时，可以对应一个节点。例如，当某两条历史数据中的参考基体材料的类型和含量均为聚四氟乙烯及其含量为80％-85％时，前述两条历史数据在参考工艺图谱中可以对应同一第一节点。

在一些实施例中，参考工艺图谱还可以包括多条边。其中，每一条边可以通过两个节点之间相连接生成，其可以用于表征相连接的两个节点之间的关系。例如，第一节点可以与第二节点相连接生成边，第一节点可以与第三节点相连接生成边，第二节点与第三节点也可以相连接生成边。在一些实施例中，参考工艺图谱可以包括第一类边和第二类边。

第一类边可以指第一节点与第二节点连接生成的边，其可以表征参考基体材料的类型和含量与参考附加材料的类型和含量之间在历史数据中的组合关系。例如，基体材料类型为聚四氟乙烯的第一薄膜包含玻璃纤维的附加材料，其中聚四氟乙烯80％-85％，玻璃纤维15％-20％，则聚四氟乙烯80％-85％对应的第一节点和玻璃纤维15％-20％对应的第二节点可以相连接生成第一类边。

在一些实施例中，一个第一节点与多个第二节点可以两两连接，形成不同的第一类边。如图5A所示，参考工艺图谱中第一节点510-1可以与第二节点520-1相连接生成一条第一类边，第一节点510-1还可以与第二节点520-2相连接生成另一条第一类边。在一些实施例中，多个第一节点与同一第二节点可以两两连接，形成不同的第一类边。如图5A所示，参考工艺图谱中第一节点510-1可以与第二节点520-1相连接生成一条第一类边，510-2可以与第二节点520-1相连接生成另一条第一类边。

第二类边可以指第一节点或第二节点与第三节点连接生成的边，其可以表征参考基体材料的类型和含量和/或参考附加材料的类型和含量与参考工艺参数之间的关系。例如，某一生产合格的覆膜滤布的历史数据中，成分包含聚四氟乙烯80％-85％的第一薄膜，其对应的等离子表面处理的工艺参数包括等离子体放电功率为80W-100W。则表征聚四氟乙烯80％-85％的第一节点与表征离子体放电功率为80W-100W的第三节点连接生成第二类边。

在一些实施例中，一个第一节点或第二节点与多个第三节点可以两两连接，形成不同的第二类边。如图5A所示，对于第一节点510-1，其可以分别与第三节点530-1、第三节点530-2连接生成两条第二类边。对于第二节点520-2，其可以分别与第三节点530-1、第三节点530-2连接生成两条第二类边。在一些实施例中，多个第一节点或第二节点与同一个第三节点可以两两连接，形成不同的第二类边。如图5A所示，第一节点510-1、第一节点510-2可以分别与第三节点530-11连接生成两条第二类边；第二节点520-1、第二节点520-2可与分别于第三节点530-1连接生成两条第二类边。

本说明书一些实施例中，基于历史数据构建参考工艺图谱，能够直观地反映参考基体材料的类型和含量、参考附加材料的类型和含量、参考工艺参数三者之间的关系，能够快速、有效地获得参考工艺参数并对相关生产设备的实际工艺参数进行快速调整，提高生产的效率。

图6是根据本说明书一些实施例所示的复合处理以及成型处理方法示例性流程图。在一些实施例中，流程600可以由控制器140执行。如图6所示，流程600包括下述步骤：

步骤610，控制检测平台对第二薄膜进行检测，获得第二薄膜的表面检测结果。

表面检测结果可以指第二薄膜的理化性质的检测结果。表面检测结果可以但不限于包括第二薄膜的孔隙率、孔径大小、接触角、表面能、表面张力等。在一些实施例中，表面检测结果可以基于检测平台150对第二薄膜进行检测获取。

当检测平台150包括滴水装置时，控制器140可以控制滴水装置对第二薄膜进行滴水测试。滴水装置可以向第二薄膜的表面滴水，并测定水滴与第二薄膜的接触角，接触角越小，则第二薄膜的表面能越高，表面处理的效果越好。其中，前述接触角可以通过水滴在第二薄膜表面的变化而体现。在一些实施例中，检测平台150可以抽取部分第二薄膜进行表面检测。

在一些实施例中，控制器140可以基于目标工艺参数的置信度，确定滴水测试的测试次数与抽检率。控制器140可以基于目标工艺参数的置信度，通过预设规则，确定滴水测试的测试次数。值得说明的是，目标工艺参数的置信度越低，滴水装置需要进行测试次数与抽检率越高。第二薄膜的抽检数量与第二薄膜的总数量的比值乘以100％即为抽检率。

在一些实施例中，控制器140可以获取滴水测试后的第二薄膜的测试图像。测试图像可以指第二薄膜在滴水前后的图像。在一些实施例中，测试图像可以基于测试平台150中的显微镜头与相机获得。在一些实施例中，测试图像可以包括水滴与第二薄膜的接触角。

在一些实施例中，控制器140可以对测试图像进行图像识别，确定表面检测结果。在一些实施例中，控制器140可以基于图像识别模型确定表面检测结果。图像识别模型可以为卷积神经网络模型或其他可进行图像识别的机器学习模型。

图像识别模型的输入可以包括第二薄膜滴水前、滴水后的测试图像，输出可以包括水滴与第二薄膜的接触角。

在一些实施例中，图像识别模型可以通过训练得到。例如，向初始图像识别模型输入训练样本，并基于标签和初始图像识别模型的输出结果建立损失函数，对初始图像识别模型的参数进行更新，当初始图像识别模型的损失函数满足预设条件时模型训练完成，其中，预设条件可以是损失函数收敛、迭代的次数达到阈值等。

在一些实施例中，训练样本可以为多个历史测试图像，每一组训练样本可以包括滴水前、滴水后的历史测试图像。训练样本可以基于历史数据获取。训练样本的标签可以是测试图像中接触角的大小。标签可以通过人工对历史测试图像进行标注获取。

在一些实施例中，滴水装置也可以滴加其他液体，例如，液态粘结剂等，前述液态粘结剂可以用于检测第二薄膜的粘结性能。在一些实施例中，检测平台150可以测定液态粘结剂与第二薄膜的粘结力，前述粘结力用于表征第二薄膜的粘结性能。

步骤620，当表面检测结果满足预设条件时，控制复合成型平台对第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

预设条件可以指第二薄膜的理化性质满足要求的条件。例如，预设条件可以包括第二薄膜的孔隙率、孔径大小、接触角、表面能、表面张力等理化性质是否在相应的合格范围内。例如，当预设条件为接触角范围时，若接触角大于预设阈值(例如90°)，则表明第二薄膜的表面能较低，表面处理的效果较差，即不满足预设条件，反之则满足预设条件。

步骤630，当表面检测结果不满足预设条件时，控制表面处理平台再次对第二薄膜进行表面处理，获得新的第二薄膜，并获取新的第二薄膜的表面检测结果，直至新的第二薄膜的表面检测结果满足预设条件，控制复合成型平台对新的第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。

在一些实施例中，控制器140可以基于预设规则或基于人工调节的方式对目标工艺参数进行调整，并再次控制表面处理平台120基于调整后的目标工艺参数对第二薄膜进行表面处理，直至满足预设条件。

本说明书一些实施例基于检测平台对第二薄膜的检测结果，确定第二薄膜是否合格，能够比较快速地确定第二薄膜的产品质量，进而提高总体产品质量和生产效率。

应当注意的是，上述有关各个流程的描述仅仅是为了示例和说明，而不限定本说明书的适用范围。对于本领域技术人员来说，在本说明书的指导下可以对各个流程进行各种修正和改变。然而，这些修正和改变仍在本说明书的范围之内。

图7是根据本说明书一些实施例所示的参数确定模型的示意图。

在一些实施例中，控制器140可以将至少一个目标子图输入至参数确定模型，通过参数确定模型对至少一个目标子图进行处理，输出目标工艺参数。

如图7所示，参数确定模型可以包括至少一个图嵌入层720和融合层740。

图嵌入层可以指用于对目标子图进行处理的处理层。图嵌入层可以是卷积神经网络模型、图神经网络模型或其他自定义的模型结构等中的任意一种或组合。在一些实施例中，控制器140可以基于基体材料类型，从至少一个图嵌入层中确定目标工艺图谱对应的图嵌入层。

需要说明的是，至少一个图嵌入层中的每一个与一种基体材料类型对应。例如，基体材料类型为聚四氟乙烯的目标工艺图谱可以对应聚四氟乙烯的图嵌入层，基体材料类型为聚乙烯的目标工艺图谱可以对应聚乙烯的图嵌入层。图嵌入层还可以以附加材料类型或者基体材料类型和附加材料类型的组合确定不同的图嵌入层。

针对至少一个图嵌入层710中的每一个，控制器140可以将至少一个图嵌入层710输入对应的图嵌入层，通过图嵌入层对该目标子图进行处理，输出该目标子图对应的子图特征。

子图特征可以用于表征基体材料类型和含量、附加材料类型和含量、参考工艺参数之间的关系的特征。子图特征可以通过向量表示，向量中的元素可以对应基体材料类型和含量、附加材料类型和含量、参考工艺参数中的一种或多种。例如，子图特征可以是(1，80，150)，其中“1”可以表示基体材料类型为聚四氟乙烯，“80”可以表示基体材料的含量为80％、“150”可以表示等离子体放电功率150W的目标子图。子图特征还可以是向量矩阵表示。例如，子图特征可以表示为：

其中，前述矩阵的每一行对应一个子图特征，每一行的第一个元素可以表示基体材料类型，第2和第3个元素可以分别表示该基体材料类型的含量下限和上限；第4个元素可以表示对应的参考工艺参数。

融合层可以指用于对至少一个子图特征进行处理的处理层。融合层可以是深度神经网络模型。

在一些实施例中，融合层740的输入可以包括至少一个子图特征730，通过融合层740对至少一个子图特征730进行处理，输出目标工艺参数750。例如，融合层740可以对多个子图特征进行匹配、连接等处理，以确定目标工艺参数750。

融合层输出的目标工艺参数750可以通过向量表征。例如，(1，80，85，3，15，20，80，10，10，20)，其表示，对于成分为含量80％-85％的聚四氟乙烯、附加材料为15％-20％的玻璃纤维的第一薄膜，其等离子表面处理的目标工艺参数为：等离子体放电功率80W-100W，处理时间为10min-20min。

在一些实施例中，控制器140还可以基于至少一个目标子图的子图数量和每个目标子图的节点数量，确定目标工艺参数的置信度。

置信度可以指目标工艺参数的可信程度。置信度可以是一个(0，1]区间内的值，例如，0.87。置信度的值越大，表征确定出的目标工艺参数的可信程度越高。

控制器140可以通过各种方式对至少一个目标子图的子图数量和每个目标子图的节点数量进行处理，从而确定目标工艺参数的置信度。例如，控制器140可以基于预设规则对至少一个目标子图的子图数量和每个目标子图的节点数量进行处理，确定目标工艺参数的置信度，其中，预设规则可以包括预设子图数量阈值(例如，10)和节点数量阈值(例如，4)，当实际输入的子图数量超过预设子图数量阈值时，置信度设置为1，同时，当各子图的节点数量大于节点数量阈值时，以预设的比例(例如，0.05)对置信度进行依次衰减(例如，每增加一个节点衰减0.05)。

在一些实施例中，参数确定模型的输出还可以包括置信度。示例性的，参数确定模型的输出可以为(1，80，85，3，15，20，80，10，10，20，0.98)，其中，向量的最后一个元素可以表示置信度。

本说明书一些实施例，对目标工艺参数引入置信度，可以对目标工艺参数进行风险评估，进而确定目标工艺参数的结果是否具备参考价值，确保等离子表面处理的目标工艺参数具备足够的精度。

参数确定模型的至少一个图嵌入层和融合层可以通过联合训练获得。在一些实施例中，联合训练的样本数据包括基于历史数据构建的多个样本子图。标签可以是每一组样本对应的工艺参数。其中，针对每一种基体材料类型，控制器140可以基于基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的样本工艺图谱，基于前述样本工艺图谱确定至少一个样本子图。将前述至少一个样本子图确定为训练样本。同时，控制器140基于包含有该基体材料类型的历史数据，确定该基体材料类型对应的样本工艺参数，将前述样本工艺参数确定为训练样本的标签。另外，当参数确定模型的输出还包括置信度时，训练样本的标签还可以包括置信度为1。

在训练初始的参数确定模型时，控制器140可以将样本子图输入初始的图嵌入层，得到子图特征。然后，控制器140可以将图嵌入层输出的子图特征输入至初始的融合层，通过融合层的处理输出工艺参数。控制器140可以基于标签与融合层输出的工艺参数结果构建损失函数，并基于损失函数迭代更新图嵌入层和融合层的参数，直到损失函数小于阈值、收敛，或训练周期达到阈值时，训练完成，得到训练好的图嵌入层和融合层。

在一些实施例中，联合训练时，可以针对某一种图嵌入层(例如，针对聚四氟乙烯的图嵌入层、针对聚乙烯的图嵌入层)与融合层进行联合训练。例如，可以分别将针对聚四氟乙烯的图嵌入层与融合层进行联合训练、将针对聚乙烯的图嵌入层与融合层进行联合训练，以分别获取训练好的聚四氟乙烯的图嵌入层、聚乙烯的图嵌入层。

本说明书一些实施例，通过参数确定模型获得目标工艺参数，可以减少人工分析导致的时间和精力的消耗。同时，基于参数确定模型对至少一个子图进行分析处理，能够综合历史的多种生产情况的分析，使得获得的工艺参数更加合理。

如图8所示，覆膜滤布的生产系统800可以包括第一控制模块810、获取模块820、确定模块830、第二控制模块840以及第三控制模块850。

第一控制模块810可以用于控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜。

获取模块820可以用于获取所述初始薄膜的材料数据。

确定模块830可以基于所述材料数据，确定对所述第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数。在一些实施例中，所述材料数据包括所述初始薄膜中各材料的材料类型，所述材料类型包括所述初始薄膜中的基体材料类型，确定模块830可以进一步用于基于所述基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的目标工艺图谱；基于所述目标工艺图谱，确定对所述第一薄膜进行表面处理的所述目标工艺参数。在一些实施例中，所述数据库中包括基于多种不同类型的参考基体材料构建的参考工艺图谱，确定模块830可以进一步用于：针对所述多种不同类型的参考基体材料中的每一种，获取基于该参考基体材料进行覆膜滤布生产时生产合格的历史数据，其中，所述历史数据包括所述参考基体材料的类型和含量以及进行所述覆膜滤布生产时的参考工艺参数；基于所述历史数据，构建该参考基体材料对应的参考工艺图谱，所述参考工艺图谱包括第一节点、第二节点、第三节点、第一类边以及第二类边，其中，所述第一节点包括所述参考基体材料的类型和含量，所述第二节点包括参考附加材料的类型和含量，所述第三节点包括所述参考工艺参数，所述第一节点与所述第二节点连接生成第一类边，所述第一节点或第二节点与所述第三节点连接生成第二类边。

第二控制模块840可以用于控制表面处理平台基于所述目标工艺参数对所述第一薄膜进行所述表面处理，获得第二薄膜。

第三控制模块850可以用于控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布。在一些实施例中，第三控制模块850可以进一步用于：控制检测平台对所述第二薄膜进行检测，获得所述第二薄膜的表面检测结果；当所述表面检测结果满足预设条件时，控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得所述覆膜滤布；当所述表面检测结果不满足所述预设条件时，控制所述表面处理平台再次对所述第二薄膜进行所述表面处理，获得新的第二薄膜，并获取所述新的第二薄膜的表面检测结果，直至所述新的第二薄膜的表面检测结果满足所述预设条件，控制所述复合成型平台对所述新的第二薄膜以及所述滤布基础材料进行所述复合处理以及所述成型处理，获得所述覆膜滤布。

关于以上所示的覆膜滤布的生产系统800的各模块的具体内容，可以参考本说明书流程图部分，例如，图2及其相关说明。

上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述详细披露仅仅作为示例，而并不构成对本说明书的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本说明书进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本说明书中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本说明书示范实施例的精神和范围。

同时，本说明书使用了特定词语来描述本说明书的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本说明书至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一个替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本说明书的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。

此外，除非权利要求中明确说明，本说明书所述处理元素和序列的顺序、数字字母的使用、或其他名称的使用，并非用于限定本说明书流程和方法的顺序。尽管上述披露中通过各种示例讨论了一些目前认为有用的发明实施例，但应当理解的是，该类细节仅起到说明的目的，附加的权利要求并不仅限于披露的实施例，相反，权利要求旨在覆盖所有符合本说明书实施例实质和范围的修正和等价组合。例如，虽然以上所描述的系统组件可以通过硬件设备实现，但是也可以只通过软件的解决方案得以实现，如在现有的服务器或移动设备上安装所描述的系统。

同理，应当注意的是，为了简化本说明书披露的表述，从而帮助对一个或多个发明实施例的理解，前文对本说明书实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本说明书对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。

一些实施例中使用了描述成分、属性数量的数字，应当理解的是，此类用于实施例描述的数字，在一些示例中使用了修饰词“大约”、“近似”或“大体上”来修饰。除非另外说明，“大约”、“近似”或“大体上”表明所述数字允许有±20％的变化。相应地，在一些实施例中，说明书和权利要求中使用的数值参数均为近似值，该近似值根据个别实施例所需特点可以发生改变。在一些实施例中，数值参数应考虑规定的有效数位并采用一般位数保留的方法。尽管本说明书一些实施例中用于确认其范围广度的数值域和参数为近似值，在具体实施例中，此类数值的设定在可行范围内尽可能精确。

针对本说明书引用的每个专利、专利申请、专利申请公开物和其他材料，如文章、书籍、说明书、出版物、文档等，特此将其全部内容并入本说明书作为参考。与本说明书内容不一致或产生冲突的申请历史文件除外，对本说明书权利要求最广范围有限制的文件(当前或之后附加于本说明书中的)也除外。需要说明的是，如果本说明书附属材料中的描述、定义、和/或术语的使用与本说明书所述内容有不一致或冲突的地方，以本说明书的描述、定义和/或术语的使用为准。

最后，应当理解的是，本说明书中所述实施例仅用以说明本说明书实施例的原则。其他的变形也可能属于本说明书的范围。因此，作为示例而非限制，本说明书实施例的替代配置可视为与本说明书的教导一致。相应地，本说明书的实施例不仅限于本说明书明确介绍和描述的实施例。

Claims

1.一种覆膜滤布的生产方法，其特征在于，所述方法应用于覆膜滤布的生产装置，所述生产装置包括预处理平台，用于对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；表面处理平台，用于对所述第一薄膜进行表面处理，获得第二薄膜；复合成型平台，用于对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得覆膜滤布；控制器，用于对所述预处理平台、所述表面处理平台以及所述复合成型平台进行控制，

所述方法由所述控制器执行，包括：

控制所述预处理平台对所述初始薄膜进行预处理，获得所述第一薄膜；

获取所述初始薄膜的材料数据，其中，所述材料数据包括所述初始薄膜中各材料的材料类型，所述材料类型包括所述初始薄膜中的基体材料类型；

基于所述基体材料类型在数据库中进行检索，确定对应的目标工艺图谱，其中，所述数据库中包括基于多种不同类型的参考基体材料构建的参考工艺图谱；

基于所述目标工艺图谱，确定对所述第一薄膜进行表面处理的目标工艺参数；

控制所述表面处理平台基于所述目标工艺参数对所述第一薄膜进行所述表面处理，获得所述第二薄膜；

控制检测平台对所述第二薄膜进行检测，获得所述第二薄膜的表面检测结果；

当所述表面检测结果满足预设条件时，控制所述复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得所述覆膜滤布；

当所述表面检测结果不满足所述预设条件时，控制所述表面处理平台再次对所述第二薄膜进行所述表面处理，获得新的第二薄膜，并获取所述新的第二薄膜的表面检测结果，直至所述新的第二薄膜的表面检测结果满足所述预设条件，控制所述复合成型平台对所述新的第二薄膜以及所述滤布基础材料进行所述复合处理以及所述成型处理，获得所述覆膜滤布；

所述方法还包括：

针对所述多种不同类型的参考基体材料中的每一种，获取基于该参考基体材料进行覆膜滤布生产时生产合格的历史数据，其中，所述历史数据包括所述参考基体材料的类型和含量以及进行所述覆膜滤布生产时的参考工艺参数；

基于所述历史数据，构建该参考基体材料对应的参考工艺图谱，所述参考工艺图谱包括第一节点、第二节点、第三节点、第一类边以及第二类边，其中，所述第一节点包括所述参考基体材料的类型和含量，所述第二节点包括参考附加材料的类型和含量，所述第三节点包括所述参考工艺参数，所述第一节点与所述第二节点连接生成第一类边，所述第一节点或所述第二节点与所述第三节点连接生成第二类边。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制放卷平台对初始卷材进行放卷处理，获得所述初始薄膜。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制收卷平台对所述覆膜滤布进行收卷处理，获得覆膜滤布卷材。

4.一种执行如权利要求1~3任一项所述的覆膜滤布的生产方法的生产系统，其特征在于，所述系统包括：

第一控制模块，用于控制预处理平台对初始薄膜进行预处理，获得第一薄膜；

获取模块，用于获取所述初始薄膜的材料数据，其中，所述材料数据包括所述初始薄膜中各材料的材料类型，所述材料类型包括所述初始薄膜中的基体材料类型；

确定模块，用于：

第二控制模块，用于控制表面处理平台基于所述目标工艺参数对所述第一薄膜进行所述表面处理，获得第二薄膜；

第三控制模块，用于：

当所述表面检测结果满足预设条件时，控制复合成型平台对所述第二薄膜以及滤布基础材料进行复合处理以及成型处理，获得所述覆膜滤布；

所述确定模块还用于：

5.一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行如权利要求1~3任一项所述的覆膜滤布的生产方法。