CN115543934B - 一种芯片测试数据文档导出方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种芯片测试数据文档导出方法及系统，涉及数据处理领域，方法包括：将测试数据传输至内部存储器；处理器对测试数据进行处理，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档。有助于避免将其他测试员的测试数据导出造成数据混淆和机密泄露。

Description

一种芯片测试数据文档导出方法及系统

技术领域

本申请涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种芯片测试数据文档导出方法及系统。

背景技术

芯片测试数据通常包括功能测试、性能测试、可靠性测试等，不同的芯片、不同批次、不同的测试项目可能由不同的测试员进行测试，测试员在完成测试后，有时需要调取历史数据进行核对或分析，然而现有技术中的芯片测试数据通常汇总保存在内部存储器中，测试员导出芯片测试数据的时候可能会将其他测试员的测试数据一起导出，不仅容易造成数据混淆还容易造成机密泄漏(有些测试包含敏感数据)。

发明内容

本申请提供一种芯片测试数据文档导出方法及系统，用于解决现有技术中导出芯片测试数据的时候容易造成数据混淆和机密泄露的技术问题。

在本申请的第1方面中，提供了一种芯片测试数据文档导出方法，包括如下步骤：

第一步、数据的采集：将外部存储器以及内部存储器分别与处理器连接；用测试设备对芯片进行测试获得测试数据，将测试数据传输至内部存储器；

第二步、数据的预处理：处理器对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

第三步、数据的导出：在导出数据时，处理器读取外部存储器中的外部中间数据，并逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档。

在第1方面的一些实施方式中，所述内部中间数据包括：芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳。

在第1方面的一些实施方式中，所述内部文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据。

在第1方面的一些实施方式中，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。

在第1方面的一些实施方式中，所述导出文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试数据。

在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若外部中间数据中的测试时间戳数量大于等于3个，则对外部中间数据中的所有测试时间戳按时序进行排列，按时序依次将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容。

在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排序小于3，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。

在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排列大于等于3，则计算下一个外部中间数据中的测试时间戳和当前外部中间数据中的测试时间戳之间的时间差，若时间差大于等于每次测试完成的最短时间，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。

在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：、

若时间差小于每次测试完成的最短时间，则终止导出任务。

在本申请的第2方面中，提供了一种芯片测试数据文档导出系统，包括内部存储器、处理器和数据传输接口，所述处理器分别与所述内部存储器以及所述数据传输接口连接，所述数据传输接口分别与测试设备以及外部存储器连接；

所述内部存储器包括内部程序存储模块和内部数据存储模块，所述内部程序存储模块中存储有计算机程序，所述计算机程序适于被所述处理器执行以实现如第1方面所述的芯片测试数据文档导出方法；

所述内部数据存储模块用于存储内部中间数据和内部文档；

所述内部程序存储模块包括：

内部中间数据存储模块，采集并存储内部中间数据，所述内部中间数据包括芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳；

内部中间数据处理模块，对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记，将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分，将芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据作为内部中间数据的另一部分；

内部文档存储模块，将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

外部中间数据存储模块，将内部中间数据的测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；

数据导出模块，逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据，将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。

本申请具有如下有益效果：

测试员使用测试设备对芯片进行测试的过程中，测试数据传输给内部存储器，处理器对测试数据进行预处理，得到内部中间数据，多组内部中间数据组合在一起保存为内部文档，每组内部中间数据包含测试完成时的测试时间戳，测试时间戳作为内部中间所数据的标记，测试的过程中，测试时间戳备份至测试员的外部存储器中，某个测试员需要导出由其测试所得的测试数据时，以测试时间戳为查找内容定位对应的测试数据，将该测试数据导出至外部存储器，有助于避免将其他测试员的测试数据导出造成数据混淆和机密泄露。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例中内部存储器中所存储的数据的结构示意图；

图2是本申请实施例中外部存储器所存储的数据的结构示意图；

图3是本申请实施例中芯片测试数据文档导出系统的结构示意图。

附图标记：

100、内部存储器；110、内部程序存储模块；111、内部中间数据存储模块；112、内部中间数据处理模块；113、内部文档存储模块；114、外部中间数据存储模块；115、数据导出模块；120、内部数据存储模块；200、处理器；300、数据传输接口；400、测试设备；500、外部存储器。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请的实施方式作进一步详细描述，本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请。

如图1和图2所示，在本申请的实施例1中，提供了一种芯片测试数据文档导出方法，包括如下步骤：

第一步、数据的采集：将外部存储器500以及内部存储器100分别与处理器200连接；用测试设备400对芯片进行测试获得测试数据，将测试数据传输至内部存储器100；

第二步、数据的预处理：处理器200对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器500作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

第三步、数据的导出：在导出数据时，处理器200读取外部存储器500中的外部中间数据，并逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器100中查找，若查找到内部存储器100中存在与其相同的内容，则调取内部存储器100中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器500作为导出文档。

通过实施例1的上述实施方式，测试员使用测试设备400对芯片进行测试的过程中，测试数据传输给内部存储器100，处理器200对测试数据进行预处理，得到内部中间数据，多组内部中间数据组合在一起保存为内部文档，每组内部中间数据包含测试完成时的测试时间戳，测试时间戳作为内部中间所数据的标记，测试的过程中，测试时间戳备份至测试员的外部存储器500(例如U盘)中，某个测试员需要导出由其测试所得的测试数据时，以测试时间戳为查找内容定位对应的测试数据，将该测试数据导出至外部存储器500，有助于避免将其他测试员的测试数据导出造成数据混淆和机密泄露。测试时间戳的时间精确到毫秒，有助于避免不同的测试员测试生成的测试时间戳重复，使各测试时间戳成为唯一的标记，查找结果具有唯一性。

在实施例1的一些实施方式中，所述内部中间数据包括：芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳。

在实施例1的一些实施方式中，所述内部文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据。

在实施例1的一些实施方式中，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。

在实施例1的一些实施方式中，所述导出文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试数据。

通过实施例1的上述实施方式，如图1所示，对芯片ID为芯片A的测试中，包括ID为测试员A、测试员B、测试员C的测试员，测试项目包括测试A、测试B、测试C；测试员A对芯片A进行测试A获得的测试数据包括数据A1、数据A2、数据A3、数据A4、数据A5，得到各测试数据对应的测试时间戳包括时间戳A1、时间戳A2、时间戳A3、时间戳A4、时间戳A5；测试员B对芯片B进行测试B获得的测试数据包括数据B1、数据B2、数据B3、数据B4、数据B5，得到各测试数据对应的测试时间戳包括时间戳B1、时间戳B2、时间戳B3、时间戳B4、时间戳B5；测试员C对芯片C进行测试C获得的测试数据包括数据C1、数据C2、数据C3、数据C4、数据C5，得到各测试数据对应的测试时间戳包括时间戳C1、时间戳C2、时间戳C3、时间戳C4、时间戳C5。各测试时间戳按照时序先后排序为时间戳A1、时间戳A2、时间戳A3、时间戳A4、时间戳A5、时间戳B1、时间戳B2、时间戳B3、时间戳B4、时间戳B5、时间戳C1、时间戳C2、时间戳C3、时间戳C4、时间戳C5。第1组内部中间数据包括依次排列的时间戳A1、芯片A、测试A、测试员A、数据A1，第2组内部中间数据包括依次排列的时间戳A2、芯片A、测试A、测试员A、数据A2，第3组内部中间数据包括依次排列的时间戳A3、芯片A、测试A、测试员A、数据A3，第4组内部中间数据包括依次排列的时间戳A4、芯片A、测试A、测试员A、数据A4，第5组内部中间数据包括依次排列的时间戳A5、芯片A、测试A、测试员A、数据A5；第6组内部中间数据包括依次排列的时间戳B1、芯片B、测试B、测试员B、数据B1，第7组内部中间数据包括依次排列的时间戳B2、芯片B、测试B、测试员B、数据B2，第8组内部中间数据包括依次排列的时间戳B3、芯片B、测试B、测试员B、数据B3，第9组内部中间数据包括依次排列的时间戳B4、芯片B、测试B、测试员B、数据B4，第10组内部中间数据包括依次排列的时间戳B5、芯片B、测试B、测试员B、数据B5；第11组内部中间数据包括依次排列的时间戳C1、芯片C、测试C、测试员C、数据C1，第12组内部中间数据包括依次排列的时间戳C2、芯片C、测试C、测试员C、数据C2，第13组内部中间数据包括依次排列的时间戳C3、芯片C、测试C、测试员C、数据C3，第14组内部中间数据包括依次排列的时间戳C4、芯片C、测试C、测试员C、数据C4，第15组内部中间数据包括依次排列的时间戳C5、芯片C、测试C、测试员C、数据C5。如图2所示，测试员A在测试过程中使用U盘A对测试时间戳进行备份，U盘A中备份有时间戳A1、时间戳A2、时间戳A3、时间戳A4、时间戳A5，测试员B在测试过程中使用U盘B对测试时间戳进行备份，U盘B中备份有时间戳B1、时间戳B2、时间戳B3、时间戳B4、时间戳B5，测试员C在测试过程中使用U盘C对测试时间戳进行备份，U盘C中备份有时间戳C1、时间戳C2、时间戳C3、时间戳C4、时间戳C5。测试员A需要导出测试数据时，将其U盘与处理器200连接，处理器200执行计算机程序；将U盘A中的时间戳A1作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘A中的时间戳A1相同的时间戳A1，则将内部文档中存在时间戳A1的一组内部中间数据导出到U盘A中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳A1、芯片A、数据A1；将U盘A中的时间戳A2作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘A中的时间戳A2相同的时间戳A2，则将内部文档中存在时间戳A2的一组内部中间数据导出到U盘A中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳A2、芯片A、数据A2；将U盘A中的时间戳A3作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘A中的时间戳A3相同的时间戳A3，则将内部文档中存在时间戳A3的一组内部中间数据导出到U盘A中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳A3、芯片A、数据A3；将U盘A中的时间戳A4作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘A中的时间戳A4相同的时间戳A4，则将内部文档中存在时间戳A4的一组内部中间数据导出到U盘A中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳A4、芯片A、数据A4；将U盘A中的时间戳A5作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘A中的时间戳A5相同的时间戳A5，则将内部文档中存在时间戳A5的一组内部中间数据导出到U盘A中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳A5、芯片A、数据A5。该导出的5组数据按测试时间戳的时序先后排序为时间戳A1、芯片A、数据A1，时间戳A2、芯片A、数据A2，时间戳A3、芯片A、数据A3，时间戳A4、芯片A、数据A4，时间戳A5、芯片A、数据A5。测试员B需要导出测试数据时，将其U盘与处理器200连接，处理器200执行计算机程序；将U盘B中的时间戳B1作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘B中的时间戳B1相同的时间戳B1，则将内部文档中存在时间戳B1的一组内部中间数据导出到U盘B中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳B1、芯片B、数据B1；将U盘B中的时间戳B2作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘B中的时间戳B2相同的时间戳B2，则将内部文档中存在时间戳B2的一组内部中间数据导出到U盘B中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳B2、芯片B、数据B2；将U盘B中的时间戳B3作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘B中的时间戳B3相同的时间戳B3，则将内部文档中存在时间戳B3的一组内部中间数据导出到U盘B中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳B3、芯片B、数据B3；将U盘B中的时间戳B4作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘B中的时间戳B4相同的时间戳B4，则将内部文档中存在时间戳B4的一组内部中间数据导出到U盘B中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳B4、芯片B、数据B4；将U盘B中的时间戳B5作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘B中的时间戳B5相同的时间戳B5，则将内部文档中存在时间戳B5的一组内部中间数据导出到U盘B中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳B5、芯片B、数据B5。该导出的5组数据按测试时间戳的时序先后排序为时间戳B1、芯片B、数据B1，时间戳B2、芯片B、数据B2，时间戳B3、芯片B、数据B3，时间戳B4、芯片B、数据B4，时间戳B5、芯片B、数据B5。测试员C需要导出测试数据时，将其U盘与处理器200连接，处理器200执行计算机程序；将U盘C中的时间戳C1作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘C中的时间戳C1相同的时间戳C1，则将内部文档中存在时间戳C1的一组内部中间数据导出到U盘C中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳C1、芯片C、数据C1；将U盘C中的时间戳C2作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘C中的时间戳C2相同的时间戳C2，则将内部文档中存在时间戳C2的一组内部中间数据导出到U盘C中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳C2、芯片C、数据C2；将U盘C中的时间戳C3作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘C中的时间戳C3相同的时间戳C3，则将内部文档中存在时间戳C3的一组内部中间数据导出到U盘C中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳C3、芯片C、数据C3；将U盘C中的时间戳C4作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘C中的时间戳C4相同的时间戳C4，则将内部文档中存在时间戳C4的一组内部中间数据导出到U盘C中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳C4、芯片C、数据C4；将U盘C中的时间戳C5作为查找内容，在内部文档中进行查找，若在内部文档中查找到与U盘C中的时间戳C5相同的时间戳C5，则将内部文档中存在时间戳C5的一组内部中间数据导出到U盘C中，为了使导出的测试数据更加简洁，提高可读性，导出之前先对该组内部中间数据进行处理，使导出的该组数据依次包括时间戳C5、芯片C、数据C5。该导出的5组数据按测试时间戳的时序先后排序为时间戳C1、芯片C、数据C1，时间戳C2、芯片C、数据C2，时间戳C3、芯片C、数据C3，时间戳C4、芯片C、数据C4，时间戳C5、芯片C、数据C5。由此可以看出，测试员A、测试员B、测试员C导出的数据不会相互混淆，有助于避免各测试员的测试数据发生机密泄露。

在实施例1的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若外部中间数据中的测试时间戳数量大于等于3个，则对外部中间数据中的所有测试时间戳按时序进行排列，按时序依次将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容。

在实施例1的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排序小于3，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。

在实施例1的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排列大于等于3，则计算下一个外部中间数据中的测试时间戳和当前外部中间数据中的测试时间戳之间的时间差，若时间差大于等于每次测试完成的最短时间，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。

在实施例1的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：、

若时间差小于每次测试完成的最短时间，则终止导出任务。

通过实施例1的上述实施方式，每次测试完成时间通常在秒级以上(不会少于1秒)，在U盘内时间戳数量量较少时(少于3个)，测试员很难通过少量的自定义时间戳(自行编写的时间戳)来套取内部文档中其他测试员的测试数据，因此可以直接以其U盘中的测试时间戳作为查找内容；若时间戳数量较多时，可能存在测试员按时序批量预设大量的时间戳，来套取内部文档中的测试数据，而要实现有效套取，则需要将相邻两个时间戳之间的时间差设置极小(由于内部中间数据中的测试时间戳精确到毫秒，因此预设的相邻的两个时间戳之间的时间差也需要是毫秒级的，预设的时间差设置为1毫秒套取效果最佳)，在最小时间差(大于1秒)的限制下，测试人员很难通过批量预设时间戳的方式套取内部文档中的测试数据，当检测到存在过小时间差时，则判定该测试员存在套取数据的行为，终止导出任务，有助于避免该测试员套取其他测试员的测试数据，从而避免造成机密泄露。

如图3所示，在本申请的实施例2中，提供了一种芯片测试数据文档导出系统，包括内部存储器100、处理器200和数据传输接口300，所述处理器200分别与所述内部存储器100以及所述数据传输接口300连接，所述数据传输接口300分别与测试设备400以及外部存储器500连接；

所述内部存储器100包括内部程序存储模块110和内部数据存储模块120，所述内部程序存储模块110中存储有计算机程序，所述计算机程序适于被所述处理器200执行以实现如实施例1所述的芯片测试数据文档导出方法；

所述内部数据存储模块120用于存储内部中间数据和内部文档；

所述内部程序存储模块110包括：

内部中间数据存储模块111，采集并存储内部中间数据，所述内部中间数据包括芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳；

内部中间数据处理模块112，对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记，将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分，将芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据作为内部中间数据的另一部分；

内部文档存储模块113，将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

外部中间数据存储模块114，将内部中间数据的测试时间戳同步备份至外部存储器500作为外部中间数据；

数据导出模块115，逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器100中查找，若查找到内部存储器100中存在与其相同的内容，则调取内部存储器100中被该测试时间戳标记的内部中间数据，将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器500作为导出文档，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。

在本申请的实施例2中，内部程序存储模块110的各模块中存储有相应的计算机程序模块，各计算机程序模块用于被处理器200执行以实现上述各模块所要实现的功能，例如外部中间数据存储模块114将内部中间数据的测试时间戳同步备份至外部存储器500作为外部中间数据。

以上实施例仅是对本申请的解释，其并不是对本申请的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本申请的实施方式做出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (6)

1.一种芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，包括如下步骤：

第一步、数据的采集：将外部存储器以及内部存储器分别与处理器连接；用测试设备对芯片进行测试获得测试数据，将测试数据传输至内部存储器；

第二步、数据的预处理：处理器对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

第三步、数据的导出：在导出数据时，处理器读取外部存储器中的外部中间数据，并逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档；

所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若外部中间数据中的测试时间戳数量大于等于3个，则对外部中间数据中的所有测试时间戳按时序进行排列，按时序依次将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容；或，若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排列大于等于3，则计算下一个外部中间数据中的测试时间戳和当前外部中间数据中的测试时间戳之间的时间差，若时间差大于等于每次测试完成的最短时间，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容；

所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排序小于3，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容；

所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：

若时间差小于每次测试完成的最短时间，则终止导出任务。

2.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述内部中间数据包括：芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳。

3.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述内部文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据。

4.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。

5.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述导出文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试数据。

6.一种芯片测试数据文档导出系统，其特征在于，包括内部存储器、处理器和数据传输接口，所述处理器分别与所述内部存储器以及所述数据传输接口连接，所述数据传输接口分别与测试设备以及外部存储器连接；

所述内部存储器包括内部程序存储模块和内部数据存储模块，所述内部程序存储模块中存储有计算机程序，所述计算机程序适于被所述处理器执行以实现如权利要求1至5任一项所述的芯片测试数据文档导出方法；

所述内部数据存储模块用于存储内部中间数据和内部文档；

所述内部程序存储模块包括：

内部中间数据存储模块，采集并存储内部中间数据，所述内部中间数据包括芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳；

内部中间数据处理模块，对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记，将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分，将芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据作为内部中间数据的另一部分；

内部文档存储模块，将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；

外部中间数据存储模块，将内部中间数据的测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；

数据导出模块，逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据，将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。