CN115459772A - 一种电流模拟信号采样校验装置及其校验方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于电流信号采样电路技术领域，具体涉及一种电流模拟信号采样校验装置及其校验方法，本电流模拟信号采样校验装置包括：采样模块、第一校验模块和第二校验模块；采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入第一校验模块、第二校验模块；第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据；本发明通过采样模块对电流信号采样，并通过第一校验模块、第二校验模块对采样电压分别进行运放、滤波处理，第一校验模块、第二校验模块对数据解析后进行数据交互，针对采集到的电流信号进行分析校对，确认电流采集的准确性，减少信号的误判。

Description

一种电流模拟信号采样校验装置及其校验方法

技术领域

本发明属于电流信号采样电路技术领域，具体涉及一种电流模拟信号采样校验装置及其校验方法。

背景技术

模拟信号是指用连续变化的物理量表示的信息，其信号的幅度、频率或相位随时间作连续变化，而电流模拟信号的通用采样方法是将电流信号经精密电阻后测量两端电压的方式进行。

当前测量电流信号不仅有采用高精密电阻测电压的方法，也有使用互感器的方法，通过感应电流的方法测量电流的变化量和实际值。使用高精密电阻采样电流的方法是比较常用的电流采集方案，针对小电流信号可使用高精密电阻，大电流信号可利用互感器采集转化为模拟信号或者数字信号输出。但大部分方案中仅对采集信号进行处理，而未考虑采集到的数据信息进行校验，确认其准确性。

因此，亟需开发一种新的电流模拟信号采样校验装置及其校验方法，以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种电流模拟信号采样校验装置及其校验方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种电流模拟信号采样校验装置，其包括：采样模块、第一校验模块和第二校验模块；其中所述第一校验模块、第二校验模块分别与采样模块相连，且所述第一校验模块与第二校验模块相连；所述采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入所述第一校验模块、第二校验模块；所述第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且所述第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

进一步，所述采样模块包括：采样电路；所述采样电路中设置串联的采样电阻R7和采样电阻R17，以分别从电流信号中获取采样电压；所述第一校验模块并联在采样电阻R7的两端，以对所述采样电阻R7获取的采样电压进行运放、滤波处理；所述第二校验模块并联在采样电阻R17的两端，以对所述采样电阻R17获取的采样电压进行运放、滤波处理。

进一步，所述第一校验模块包括：第一微处理器、第一运放电路和第一滤波电路；所述采样电阻R7获取的采样电压依次经第一运放电路、第一滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第一微处理器中。

进一步，所述采样电阻R7获取的采样电压经第一运放电路运放后，所述第一运放电路输出的电压信号为V1=G1*I*R7，G1为所述第一运放电路的运放系数；经所述第一滤波电路滤波后，所述第一滤波电路输出的电压信号为AV1=V1；所述第一微处理器接收到电压信号AV1。

进一步，所述第一校验模块还包括：第一比较电路；所述第一比较电路的输入端连接第一滤波电路的输出端，所述第一比较电路的输出端连接第一微处理器；所述第一比较电路中设置有比较器A2，所述第一滤波电路将电压信号AV1输入到比较器A2的反相端，以与基准电压VREF1进行比较；当电压信号AV1小于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器输出高电平；当电压信号AV1大于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器输出低电平；所述第一微处理器根据比较器A2输出的电平信号判断是否出现欠流状态。

进一步，所述第二校验模块包括：第二微处理器、第二运放电路和第二滤波电路；所述采样电阻R17获取的采样电压依次经第二运放电路、第二滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第二微处理器中。

进一步，所述采样电阻R17获取的采样电压经第二运放电路运放后，所述第二运放电路输出的电压信号为V2=G2*I*R17，G2为所述第二运放电路的运放系数；经所述第二滤波电路滤波后，所述第二滤波电路输出的电压信号为AV2=V2；所述第二微处理器接收到电压信号AV2。

进一步，所述第二校验模块还包括：第二比较电路；所述第二比较电路的输入端连接第二滤波电路的输出端，所述第二比较电路的输出端连接第二微处理器；所述第二比较电路中设置有比较器A3，所述第二滤波电路将电压信号AV2输入到比较器A3的正相端，以与基准电压VREF2进行比较；当电压信号AV2小于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器输出低电平；当电压信号AV2大于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器输出高电平；所述第二微处理器根据比较器A3输出的电平信号判断是否出现过流状态。

进一步，所述第一微处理器对电压信号AV1进行数据处理、计算，且所述第二微处理器同步对电压信号AV2进行数据处理、计算；所述第一微处理器与第二微处理器进行数据交互以对电压信号AV1的计算结果与电压信号AV2的计算结果进行比对，以对采样电压进行校验。

另一方面，本发明提供一种采用如上述的电流模拟信号采样校验装置的校验方法，其包括：通过采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入第一校验模块、第二校验模块；通过第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

本发明的有益效果是，本发明通过采样模块对电流信号采样，并通过第一校验模块、第二校验模块对采样电压分别进行运放、滤波处理，第一校验模块、第二校验模块对数据解析后进行数据交互，针对采集到的电流信号进行分析校对，确认电流采集的准确性，减少信号的误判。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的电流模拟信号采样校验装置的原理框图；

图2是本发明的电流模拟信号采样校验装置的电路图；

图3是本发明的校验方法的流程图。

图中：

第一微处理器MCU1、第二微处理器MCU2。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

在本实施例中，如图1至图2所示，本实施例提供了一种电流模拟信号采样校验装置，其包括：采样模块、第一校验模块和第二校验模块；其中所述第一校验模块、第二校验模块分别与采样模块相连，且所述第一校验模块与第二校验模块相连；所述采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入所述第一校验模块、第二校验模块；所述第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且所述第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

在本实施例中，本实施例通过采样模块对电流信号采样，并通过第一校验模块、第二校验模块对采样电压分别进行运放、滤波处理，第一校验模块、第二校验模块对数据解析后进行数据交互，针对采集到的电流信号进行分析校对，确认电流采集的准确性，减少信号的误判。

在本实施例中，所述采样模块包括：采样电路；所述采样电路中设置串联的采样电阻R7和采样电阻R17，以分别从电流信号中获取采样电压；所述第一校验模块并联在采样电阻R7的两端，以对所述采样电阻R7获取的采样电压进行运放、滤波处理；所述第二校验模块并联在采样电阻R17的两端，以对所述采样电阻R17获取的采样电压进行运放、滤波处理。

在本实施例中，采样电阻R7和采样电阻R17均采用高精密电阻，能够有效保证小电流的采集精度。

在本实施例中，电流信号I从采样电路的输入端AI+流入，从采样电路的输出端AI-流出，若采样电阻R7的阻值与采样电阻R17的阻值相等，采样电阻R7和采样电阻R17获取相同采样电压值。

在本实施例中，所述第一校验模块包括：第一微处理器MCU1、第一运放电路和第一滤波电路；所述采样电阻R7获取的采样电压依次经第一运放电路、第一滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第一微处理器MCU1中。

在本实施例中，第一微处理器MCU1也可采用FPGA或者DSP等。

在本实施例中，所述采样电阻R7获取的采样电压经第一运放电路运放后，所述第一运放电路输出的电压信号为V1=G1*I*R7，G1为所述第一运放电路的运放系数；经所述第一滤波电路滤波后，所述第一滤波电路输出的电压信号为AV1=V1；所述第一微处理器MCU1接收到电压信号AV1。

在本实施例中，如图1所示，运算放大器A1拆分为运算放大器A1A、运算放大器A1B、运算放大器A1C、运算放大器A1D、运算放大器A1E。

在本实施例中，运算放大器A1采用MC33274，供电电源VCC为+15V，VEE为-15V。

在本实施例中，第一运放电路由电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R8、电阻R9、电阻R11、电容C2、电容C4、电容C5、电容C7和运算放大器A1B组成，当采样电压输入到第一运放电路中，其中R3=R8,R4=R9,R2=R11, 电容C4、电容C5、电容C7与电阻R3、电阻R8构成滤波电路，其EMI截止频率为F1=1/(2π*(R3+R8)*(C4//C7+C5))，根据虚短虚断，第一运放电路的运放系数G1=R2/(R3+R4)，则运算放大器A1B输出的电压值为V1=G1*I*R7。

在本实施例中，第一滤波电路由电阻R1、电阻R5、电阻R6、电容C1、电容C3、电容C6和运算放大器A1C组成，当V1输入到第一滤波电路中，经电阻R5、电阻R6、电容C3、电容C6、电阻R1、运算放大器A1C组成的二阶滤波电路，保证信号的平稳性。其中R5=R6，C3=C6，则滤波截止频率AF1=1/(2πR5*C3)。此处运算放大器A1C构成电压跟随器，故输出电压AV1=V1。

在本实施例中，第一运放电路、第一滤波电路均对电压信号进行滤波，采用两级滤波方式对运放处理后的电压信号进行处理，可有效滤除干扰信号，确保电流采集的准确性。

在本实施例中，将电压信号AV1输入到第一微处理器MCU1的ADC采集口，由第一微处理器MCU1进行数据分析和处理计算。

在本实施例中，所述第一校验模块还包括：第一比较电路；所述第一比较电路的输入端连接第一滤波电路的输出端，所述第一比较电路的输出端连接第一微处理器MCU1；所述第一比较电路中设置有比较器A2，所述第一滤波电路将电压信号AV1输入到比较器A2的反相端，以与基准电压VREF1进行比较；当电压信号AV1小于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器MCU1输出高电平；当电压信号AV1大于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器MCU1输出低电平；所述第一微处理器MCU1根据比较器A2输出的电平信号判断是否出现欠流状态。

在本实施例中，比较器A2采用TS391。

在本实施例中，电压信号AV1输入到比较器A2的反相端，并与基准电压VREF1进行比较：当AV1<VREF1时，比较器A2输出端为高电平，即信号AI_CP1为高电平；当AV1>VREF1时，比较器A2输出端为低电平，即信号AI_CP1为低电平。其中电阻R12与电容C8构成一阶滤波，滤除干扰信号，滤波截止频率AIF1=1/(2πR12*C8)，第一微处理器MCU1通过检测AI_CP1信号的高低电平，进行判定电流采集信号是否超过限制值VREF1，据此进行判定是否出现欠流状态，若AV1低于VREF1，则输出高电平，第一微处理器MCU1在检测中AI_CP1高电平时，即判定电流较低，系统处于欠流状态。

在本实施例中，第一比较电路相当于欠流检测电路，当第一微处理器MCU1检测到电流降低后，可及时启动数据存储或电流异常保护，有效保证系统安全。

在本实施例中，所述第二校验模块包括：第二微处理器MCU2、第二运放电路和第二滤波电路；所述采样电阻R17获取的采样电压依次经第二运放电路、第二滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第二微处理器MCU2中。

在本实施例中，第二微处理器MCU2也可采用FPGA或者DSP等。

在本实施例中，所述采样电阻R17获取的采样电压经第二运放电路运放后，所述第二运放电路输出的电压信号为V2=G2*I*R17，G2为所述第二运放电路的运放系数；经所述第二滤波电路滤波后，所述第二滤波电路输出的电压信号为AV2=V2；所述第二微处理器MCU2接收到电压信号AV2。

在本实施例中，第二运放电路由电阻R16、电阻R18、电阻R19、电阻R22、电阻R23、电阻R24、电容C10、电容C13、电容C14、电容C16和运算放大器A1D组成，当采样电压输入到第二运放电路中，其中R18=R22,R19=R23,R24=R16, 电容C13、电容C14、电容C16与电阻R18、电阻R22构成滤波电路，其EMI截止频率为F2=1/(2π*(R18+R22)*(C13//C16+C14))，根据虚短虚断，第二运放电路的运放系数G2=R16/(R18+R19)，则运算放大器A1D输出的电压值为V2=G2*I*R17。

在本实施例中，R7=R17，R16=R2，R18=R3，R19=R4，所以V1=V2。

在本实施例中，第二滤波电路由电阻R9、电阻R20、电阻R21、电容C9、电容C12、电容C15和运算放大器A1E组成，当V2输入到第二滤波电路中，经电阻R20、电阻R21、电容C12、电容C15、电阻R15、运算放大器A1E组成的二阶滤波电路，保证信号的平稳性。其中R5=R6，C3=C6，则滤波截止频率AF2=1/(2πR20*C12)。此处运算放大器A1E构成电压跟随器，故输出电压AV2=V2。

在本实施例中，第二运放电路、第二滤波电路均对电压信号进行滤波，采用两级滤波方式对运放处理后的电压信号进行处理，可有效滤除干扰信号，确保电流采集的准确性。

在本实施例中，将电压信号AV2输入到第二微处理器MCU2的ADC采集口，由第二微处理器MCU2进行数据分析和处理计算。

在本实施例中，所述第二校验模块还包括：第二比较电路；所述第二比较电路的输入端连接第二滤波电路的输出端，所述第二比较电路的输出端连接第二微处理器MCU2；所述第二比较电路中设置有比较器A3，所述第二滤波电路将电压信号AV2输入到比较器A3的正相端，以与基准电压VREF2进行比较；当电压信号AV2小于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器MCU2输出低电平；当电压信号AV2大于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器MCU2输出高电平；所述第二微处理器MCU2根据比较器A3输出的电平信号判断是否出现过流状态。

在本实施例中，比较器A3采用TS391。

在本实施例中，电压信号AV2输入到比较器A3的正相端，并与基准电压VREF2进行比较：当AV2<VREF2时，比较器A3输出端为低电平，即信号AI_CP2为低电平；当AV2>VREF2时，比较器A3输出端为高电平，即信号AI_CP2为高电平，其中电阻R14与电容C11构成一阶滤波，滤除干扰信号，滤波截止频率AIF2=1/(2πR14*C11)，第二微处理器MCU2通过检测AI_CP2信号的高低电平，进行判定电流采集信号是否超过限制值VREF2，据此进行判定是否出现过流状态，如AV2超过VREF2，则输出高电平，第二微处理器MCU2在检测中AI_CP2高电平时，即判定电流较大，系统处于过流状态。

在本实施例中，第二比较电路相当于过流检测电路，当第二微处理器MCU2检测到电流超限后，可及时断开或启动保护回路，有效保证系统安全。

在本实施例中，第一微处理器MCU1、第二微处理器MCU2自带ADC采集口，可省掉片外ADC采集芯片的采购，降低设计成本。

在本实施例中，所述第一微处理器MCU1对电压信号AV1进行数据处理、计算，且所述第二微处理器MCU2同步对电压信号AV2进行数据处理、计算；所述第一微处理器MCU1与第二微处理器MCU2进行数据交互以对电压信号AV1的计算结果与电压信号AV2的计算结果进行比对，以对采样电压进行校验。

在本实施例中，当AV1和AV2的数据被计算完成后，由第一微处理器MCU1和第二微处理器MCU2通过SPI通信进行数据比对，确认两次数据的准确性，并且AV1和AV2的数值应该相等。若AV1与AV2不相等，则表明数据存在错误，将再次采集，并进行分析。如多次采集电流信号均存在偏差，则表明数据有误，需进行检修。将第一微处理器MCU1采集的数据AV1，与第二微处理器MCU2采集的数据AV2进行周期差检测，通过时间差来判定上一阶段的信号是否正常。

在本实施例中，第一微处理器MCU1与第二微处理器MCU2间的通信方式除采用SPI通信，亦可采用CAN、I2C、UART等通信模式。

在本实施例中，第一微处理器MCU1、第二微处理器MCU2分别采集电流信号进行分析，并实时校对采集数据的准确性，降低系统的误判率。

实施例2

在实施例1的基础上，如图1至图3所示，本实施例提供一种采用如实施例1所提供的电流模拟信号采样校验装置的校验方法，其包括：通过采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入第一校验模块、第二校验模块；通过第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

综上所述，本发明通过采样模块对电流信号采样，并通过第一校验模块、第二校验模块对采样电压分别进行运放、滤波处理，第一校验模块、第二校验模块对数据解析后进行数据交互，针对采集到的电流信号进行分析校对，确认电流采集的准确性，减少信号的误判。

本申请中选用的各个器件（未说明具体结构的部件）均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。

在本发明实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (10)

1.一种电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，包括：

采样模块、第一校验模块和第二校验模块；其中

所述第一校验模块、第二校验模块分别与采样模块相连，且所述第一校验模块与第二校验模块相连；

所述采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入所述第一校验模块、第二校验模块；

所述第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且所述第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

2.如权利要求1所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述采样模块包括：采样电路；

所述采样电路中设置串联的采样电阻R7和采样电阻R17，以分别从电流信号中获取采样电压；

所述第一校验模块并联在采样电阻R7的两端，以对所述采样电阻R7获取的采样电压进行运放、滤波处理；

所述第二校验模块并联在采样电阻R17的两端，以对所述采样电阻R17获取的采样电压进行运放、滤波处理。

3.如权利要求2所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述第一校验模块包括：第一微处理器、第一运放电路和第一滤波电路；

所述采样电阻R7获取的采样电压依次经第一运放电路、第一滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第一微处理器中。

4.如权利要求3所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述采样电阻R7获取的采样电压经第一运放电路运放后，所述第一运放电路输出的电压信号为V1=G1*I*R7，G1为所述第一运放电路的运放系数；

经所述第一滤波电路滤波后，所述第一滤波电路输出的电压信号为AV1=V1；

所述第一微处理器接收到电压信号AV1。

5.如权利要求4所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述第一校验模块还包括：第一比较电路；

所述第一比较电路的输入端连接第一滤波电路的输出端，所述第一比较电路的输出端连接第一微处理器；

所述第一比较电路中设置有比较器A2，所述第一滤波电路将电压信号AV1输入到比较器A2的反相端，以与基准电压VREF1进行比较；

当电压信号AV1小于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器输出高电平；

当电压信号AV1大于基准电压VREF1时，所述比较器A2向第一微处理器输出低电平；

所述第一微处理器根据比较器A2输出的电平信号判断是否出现欠流状态。

6.如权利要求5所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述第二校验模块包括：第二微处理器、第二运放电路和第二滤波电路；

所述采样电阻R17获取的采样电压依次经第二运放电路、第二滤波电路进行运放、滤波处理，以将电压信号输入至所述第二微处理器中。

7.如权利要求6所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述采样电阻R17获取的采样电压经第二运放电路运放后，所述第二运放电路输出的电压信号为V2=G2*I*R17，G2为所述第二运放电路的运放系数；

经所述第二滤波电路滤波后，所述第二滤波电路输出的电压信号为AV2=V2；

所述第二微处理器接收到电压信号AV2。

8.如权利要求7所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述第二校验模块还包括：第二比较电路；

所述第二比较电路的输入端连接第二滤波电路的输出端，所述第二比较电路的输出端连接第二微处理器；

所述第二比较电路中设置有比较器A3，所述第二滤波电路将电压信号AV2输入到比较器A3的正相端，以与基准电压VREF2进行比较；

当电压信号AV2小于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器输出低电平；

当电压信号AV2大于基准电压VREF2时，所述比较器A3向第二微处理器输出高电平；

所述第二微处理器根据比较器A3输出的电平信号判断是否出现过流状态。

9.如权利要求8所述的电流模拟信号采样校验装置，其特征在于，

所述第一微处理器对电压信号AV1进行数据处理、计算，且所述第二微处理器同步对电压信号AV2进行数据处理、计算；

所述第一微处理器与第二微处理器进行数据交互以对电压信号AV1的计算结果与电压信号AV2的计算结果进行比对，以对采样电压进行校验。

10.一种采用如权利要求1-9任一项所述的电流模拟信号采样校验装置的校验方法，其特征在于，包括：

通过采样模块从电流信号中获取采样电压，以分别输入第一校验模块、第二校验模块；

通过第一校验模块、第二校验模块分别对采样电压进行运放、滤波处理，且第一校验模块与第二校验模块之间进行数据交互以校验数据。

Images