发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种模拟量信号采集通道电路,以保证在模拟量信号采集出现故障时,仍能保证生产的正常运行。
为实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:
一种模拟量信号采集通道电路,包括:
四线制变送器、电流采集电路、差分放大器和ADC转换电路;
其中,所述四线制变送器的输入端与检测对象相连,所述四线制变送器的输出端与电流采集电路的输入端相连,所述差分放大器的输入端与所述电流采集电路的输出端相连,所述ADC转换电路输入端与所述差分放大器的输出端相连,所述ADC转换电路的输出端与目标MCU的信号输入端相连;
其中,所述四线制变送器的正输入端与检测对象的正输出端相连;所述四线制变送器的负输出输入端与另一模拟量信号采集通道电路的四线制变送器的正输入端相连,所述另一模拟量信号采集通道电路的四线制变送器的负输入端与所述检测对象的负输出端相连;
所述四线制变送器的正输入端和负输入端之间设置有第一稳压二极管。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,所述电流采集电路为采样电阻,所述采样电阻的第一端作为所述电流采集电路的输入端,所述采样电阻的第二端作为所述电流采集电路的输出端。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,四线制变送器还包括:
设置在所述四线制变送器与所述采样电阻之间的前级保护电路;
所述前级保护电路包括:
第一熔断保护器,所述第一熔断保护器的第一端与所述四线制变送器的正输出端相连;
第二熔断保护器,所述第二熔断保护器第一端与所述四线制变送器的负输出端相连;
瞬态电压抑制二极管,所述瞬态电压抑制二极管的第一端与所述第一熔断保护器的第二端相连、第二端与所述第二熔断保护器的第二端相连;
稳压电容,所述稳压电容与所述瞬态电压抑制二极管并联;
第一电感,所述第一电感的第一端与所述瞬态电压抑制二极管的第一端,所述第一电感的第二端用于与所述采样电阻的第一端相连;
第二电感,所述第二电感的第一端与所述瞬态电压抑制二极管的第二端,所述第二电感的第二端用于与所述采样电阻的第二端相连。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,还包括:
设置在所述采样电阻与所述差分放大器之间的第一滤波电路;
所述第一滤波电路包括:
第二电阻,所述第二电阻的第一端与所述采样电阻的第一端相连,所述第二电阻的第二端作为所述第一滤波电路的第一输出端与所述差分放大器的同相输入端相连;
第三电阻,所述第三电阻的第一端与所述采样电阻的第二端相连,所述第三电阻的第二端作为所述第一滤波电路的第二输出端与所述差分放大器的反相输入端相连;
第一电容,所述第一电容的第一端接地,所述第一电容的第二端与所述第二电阻的第二端相连;
第二电容,所述第二电容的第一端与所述第二电阻的第二端相连,所述第二电容的第二端与所述第三电阻的第二端相连;
第三电容,所述第三电容的第二端接地,所述第三电容的第二端与所述第三电阻的第二端相连;
第二稳压二极管,所述第二稳压二极管的阴极与所述第二电阻的第二端相连;
第三稳压二极管,所述第三稳压二极管的阴极与所述第三电阻的第二端相连,所述第三稳压二极管的阳极与所述第二稳压二极管的阳极相连。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,还包括:
设置在所述差分放大器和所述ADC转换电路之间的第二滤波电路;
所述第二滤波电路为二级滤波电路。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,还包括:
ADC前级防护电路;
所述ADC前级防护电路包括:
第一端与所述ADC转换电路的输入端相连的第四电阻;
第一端与所述ADC转换电路的输出端相连的第五电阻;
一端与所述第四电阻的第二端相连、另一端与所述第五电阻的第二端相连的第四电容。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,还包括:设置在所述ADC转换电路与目标MCU之间的隔离电路,以及所述隔离电路的外围电路。
可选的,上述模拟量信号采集通道电路中,所述差分放大器为1级差分放大器。
基于上述技术方案,本发明实施例提供的上述方案,当采用本申请实施例公开的模拟量信号采集通道电路检测模拟量信号时,检测对象的输出信号经四线制变送器检测后输出与检测对象的输出信号相对应的差分信号,所述四线制变送器的输出信号流过所述电流采集电路的采样电阻,通过所述采样电阻、差分放大器和ADC转换电路检测所述检测对象的输出电流。当其中一个模拟量信号采集通道电路因故障而导致所述采样对象的电流无法输入至所述模拟量信号采集通道电路时,加载在所述第一稳压二极管两端的电压增大,所述第一稳压二极管被击穿,所述检测对象的输出信号流入所述第一稳压二极管后,进入另一个模拟量信号采集通道电路的四线制变送器,此时,采用冗余的模拟量信号采集通道电路(所述另一个模拟量信号采集通道电路)对所述检测对象的输出电流进行检测,实现了模拟量信号采集通道电路的冗余,防止了因模拟量信号采集通道电路故障而导致正常生产无法运行的问题。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明基于原系统设计原理,增加冗余采集功能,产品正常工作期间,根据用户需要正常输入现场模拟信号采集值,若其中一个模块出现故障不能正常采集,则冗余模块可以继续采集现场信号供系统采纳使用,确保现场设备运行正常,不影响生产运行。同时用户可以通过更换故障产品的方式,恢复现场冗余产品采集功能,确保现场一直处于冗余采集工作模式。
具体的,参见图1和图2,本申请公开了一种模拟量信号采集通道电路,该电路可以包括:
四线制变送器100、电流采集电路200、差分放大器300和ADC转换电路400,所述差分放大器300可以为型号为INA149的差分放大器300;
其中,参见图1,所述四线制变送器100的输入端与检测对象相连,所述四线制变送器100的输出端与电流采集电路200的输入端相连,所述差分放大器300的输入端与所述电流采集电路200的输出端相连,所述ADC转换电路400输入端与所述差分放大器300的输出端相连,所述ADC转换电路400的输出端与目标MCU的信号输入端相连,其中,所述目标MCU可以认为是本申请实施例提供的模拟量信号采集通道电路的一部分;
其中,在本方案中,通过所述四线制变送器100获取所述目标对象的输出信号,将所述目标对象的输出信号转换为4-20mA电流信号输送给所述电流采集电路200,所述电流采集电路200通过电路内设置的采样电阻R1对所述四线制变送器100的输出信号进行采集,将所述四线制变送器100的输出端的电流信号转换为电压信号,具体的,所述电流采集电路200中的采样电阻R1的第一端作为所述电流采集电路200的输入端与四线制变送器100的正输出端相连,所述四线制变送器100的输出电流流过所述采样电阻R1后,在所述采样电阻R1的两端生成电压差,所述差分放大器300的同相输入端和反相输入端分别与所述采样电阻R1的两端一一相连,所述差分放大器300检测并放大所述采样电路两端的电压差,所述ADC转换电路400对所述差分放大器300的输出信号进行放大后,输入至所述目标MCU,所述目标MCU依据所述差分放大器300的输出信号计算得到所述检测对象的输出电流;
参见图2,图2中所述AI-I1和AI-I2分别表示不同的模拟量信号采集通道电路,所述四线制变送器100的正输入端与检测对象的正输出端相连;所述四线制变送器100的负输出输入端与另一模拟量信号采集通道电路的四线制变送器100的正输入端相连,所述另一模拟量信号采集通道电路的四线制变送器100的负输入端与所述检测对象的负输出端相连;
所述四线制变送器100的正输入端和负输入端之间设置有第一稳压二极管DZ1,所述四线制变送器100的正输出端与所述采样电阻的第一端相连,所述四线制变送器100的负输出端与所述采样电阻的第二端相连。
参见图2公开的技术方案,当采用本申请实施例公开的模拟量信号采集通道电路检测模拟量信号时,检测对象的输出信号经四线制变送器100检测后输出与检测对象的输出信号相对应的4-20mA的差分信号,所述四线制变送器100的输出信号流过所述电流采集电路200的采样电阻R1,通过所述采样电阻R1、差分放大器300和ADC转换电路400检测所述检测对象的输出电流。当其中一个模拟量信号采集通道电路因故障而导致所述采样对象的电流无法输入至所述模拟量信号采集通道电路时,加载在所述第一稳压二极管DZ1两端的电压增大,所述第一稳压二极管DZ1被击穿,所述检测对象的输出信号流入所述第一稳压二极管DZ1后,进入另一个模拟量信号采集通道电路的四线制变送器100,此时,采用冗余的模拟量信号采集通道电路(所述另一个模拟量信号采集通道电路)对所述检测对象的输出电流进行检测,实现了模拟量信号采集通道电路的冗余,防止了因模拟量信号采集通道电路故障而导致正常生产无法运行的问题。
在本申请实施例公开的技术方案中,所述电流采集电路200的具体类型可以依据用户需求自行选择,只要其能够实现电流采集电路200的输出电流的采集即可,例如,在本申请实施例公开的技术方案中,所述电流采集电路200可以仅由采样电阻R1构成,所述采样电阻的第一端作为所述电流采集电路的输入端,所述采样电阻的第二端作为所述电流采集电路的输出端。
针对于四线制变送器100,由于四线制变送器100是不共地的,对于不共地系统,存在最大的问题就是系统两个地之间可能存在很大的共模电压,所以为例尽可能的提高测量结果的可靠性,综合考虑,在本申请实施例公开的技术方案中,所述差分放大器300优选为1级运放,即所述差分放大器300为1级差分放大器300。
在本申请实施例公开的技术方案中,参见图1,以其中一个模拟量信号采集通道电路进行信号采集为例,对本申请实施例公开的技术方案的工作过程进行说明,参见图1,所述四线制变送器100需要独立外接电源(现场电源),其外接电源后,所述四线制变送器100对所述目标对象的输出信号进行采集后,输出电流信号,输出电流的范围可以为4-20mA,该电流通过电流采集电路200中的采样电阻R1转化为电压信号,转换后的电压信号经差分放大器300和ADC转换电路400调理后发送给目标MCU。
进一步的,本申请上述实施例公开的上述方案中,为了防止后级电路因过压或其他原因产生损坏,本申请上述实施例公开的技术方案中,还可以包括前级保护电路,所述前级保护电路设置在所述四线制变送器100与所述采样电阻R1,具体的,参见图3,所述前级保护电路包括:
第一熔断保护器F1,所述第一熔断保护器F1的第一端与所述四线制变送器100的正输出端相连;
第二熔断保护器F2,所述第二熔断保护器F2第一端与所述四线制变送器100的负输出端相连;
瞬态电压抑制二极管TVS,所述瞬态电压抑制二极管TVS的第一端与所述第一熔断保护器F1的第二端相连、第二端与所述第二熔断保护器F2的第二端相连,所述瞬态电压抑制二极管TVS的具体类型可以依据用户需求自行选择,例如,其可以为型号为SMB112CA的瞬态电压抑制二极管TVS,其热阻可以为100℃/W;
稳压电容C0,所述稳压电容C0与所述瞬态电压抑制二极管TVS并联;
第一电感L1,所述第一电感L1的第一端与所述瞬态电压抑制二极管TVS的第一端,所述第一电感L1的第二端用于与所述采样电阻R1的第一端相连;
第二电感L2,所述第二电感L2的第一端与所述瞬态电压抑制二极管TVS的第二端,所述第二电感L2的第二端用于与所述采样电阻R1的第二端相连,所述第一电感L1和第二电感L2的配置可以为600Ω/100MHz,Rdc=0.8Ω。
参见图3,所述目标对象输出的电流信号(以4-20mA为例)进入所述模拟量信号采集通道电路以后,流经所述第一熔断保护器F1以及所述第一电感L1之后,进入所述采样电阻R1,其中,在本申请实施例公开的技术方案中,所述熔断保护器可以为保险丝。在本方案中,设置所述第一熔断保护器F1、所述第二熔断保护器F2以及所述瞬态电压抑制二极管TVS的目的在于,防止高压误接,引入所述第一电感L1和第二电感L2的目的,是为了对获取到的信号进行滤波。在本方案中,所述当电路接入检测对象时,获取到所述检测对象输出的差模电压后,此时瞬态电压抑制二极管TVS两端电压和采样电阻R1两端电压相同,都是经过和熔断保护器分压后的电压,在本申请提供的一具体实施例中,所述采样电阻R1的阻值可以为124Ω,所述瞬态电压抑制二极管TVS可以选择型号为SMBJ12CA的瞬态电压抑制二极管TVS,即,所述瞬态电压抑制二极管TVS的参试被配置为:Vrms=12V,Vbr=13.3-14.7V,Vc=19.9V。所述第一熔断保护器F1选择型号为SMD1210P005TF 50mA的保险丝,其通态维持电流Ih=50mA。Itrip=150mA,通态电阻为3.6-50Ω。实测25℃时保险丝的通态电阻为18.2Ω和17.5Ω,保险丝流经电流为250mA时熔断时间为1.5S,基于上述配置,实际瞬态电压抑制二极管TVS要动作,则端口施加的差模电压Vc范围为:
Vc=17.2V,实际施加的差模电压范围为:17.2V-18.9V。
在采用基于上述参数配置得到的电路进行实际测试时,当在所述第一熔断保护器F1和第二熔断保护器F2输之间施加20V的差模电压时,所述瞬态电压抑制二极管TVS未动作,此时流过采样电阻R1的电流为99.73mA,在第一熔断保护器F1和第二熔断保护器F2输之间施加25V差模电压时,瞬态电压抑制二极管TVS瞬时动作,流过瞬态电压抑制二极管TVS的电流为62mA,瞬态电压抑制二极管TVS将后级电压钳位在15V,此时消耗在瞬态电压抑制二极管TVS上的功耗P=62mA*15V=0.93W<Pd=5W,而由于瞬态电压抑制二极管TVS的热阻为100℃/W,此时瞬态电压抑制二极管TVS的温升为100*0,93=93℃,当第一熔断保护器F1和第二熔断保护器F2输之间施加30V差模电压时,流过瞬态电压抑制二极管TVS电流为143mA(瞬时峰值电流),流过采样电阻R1两端电流为140mA,实测保险丝熔断时间为2S,可以实现后级电路的可靠保护。
进一步的,为了保证采样电阻R1与所述差分放大器300之间的传递信号的信号质量,参见图4,在本申请实施例公开的技术方案中,还可以包括:
设置在所述采样电阻R1与所述差分放大器300之间的第一滤波电路;
第二电阻R2,所述第二电阻R2的第一端与所述采样电阻R1的第一端相连,所述第二电阻R2的第二端作为所述第一滤波电路的第一输出端与所述差分放大器300的同相输入端相连;
第三电阻R3,所述第三电阻R3的第一端与所述采样电阻R1的第二端相连,所述第三电阻R3的第二端作为所述第一滤波电路的第二输出端与所述差分放大器300的反相输入端相连;
第一电容C1,所述第一电容C1的第一端接地,所述第一电容C1的第二端与所述第二电阻R2的第二端相连;
第二电容C2,所述第二电容C2的第一端与所述第二电阻R2的第二端相连,所述第二电容C2的第二端与所述第三电阻R3的第二端相连;
第三电容C3,所述第三电容C3的第二端接地,所述第三电容C3的第二端与所述第三电阻R3的第二端相连;
第二稳压二极管DZ2,所述第二稳压二极管DZ2的阴极与所述第二电阻R2的第二端相连;
第三稳压二极管DZ3,所述第三稳压二极管DZ3的阴极与所述第三电阻R3的第二端相连,所述第三稳压二极管DZ3的阳极与所述第二稳压二极管DZ2的阳极相连,所述第二稳压二极管DZ2和第三稳压二极管DZ3可以为型号为BZT52C10的稳压二极管。
在上文实施例公开的技术方案中,所述采样电阻R1为124Ω,采样电阻R1将现场传回来的4-20mA信号转化为0.5V-2.5V电压信号。在经过所述第一滤波电路滤波,第一滤波电路在此处主要是滤除共模电压信号,在实际设计时,所述第二电阻R2和第三电阻R3的阻值为1KΩ,所述第二电容C2的电容值为10nf,所述第一电容C1和第三电容C3的电容值为1nf。
上述方案中,在所述第一滤波电路中设置两个稳压二极管的目的是限制输入差放的差分输入电压为±10.6V左右,在第一熔断保护器F1和第二熔断保护器F2输之间输入差分30V电压时,瞬态电压抑制二极管TVS动作,瞬态电压抑制二极管TVS将模输入电压限制在19.9V,而19.9V电压超出了差分放大器300的差模输入范围,因此,为了防止差分放大器300因过压击穿,设置所述第二稳压二极管DZ2和第三稳压二极管DZ3对所述差分放大器300进行过压保护。
进一步的,参见图5,上述方案中,还可以在所述差分放大器300和所述ADC转换电路400之间设置第二滤波电路;参见图5,所述第二滤波电路为二级滤波电路,具体的,所述第二滤波电路包括:
第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第五电容C5和第六电容C6,所述第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9的阻值可以为10KΩ,所述第五电容C5和第六电容C6的电容值为22nf;
所述第六电阻R6的第一端与所述差分放大器300的输出端相连,所述第七电阻R7的第一端预计所述第五电容C5的第一端与所述第六电阻R6的第二端相连,所述第六电容C6的第一端与所述第七电阻R7的第二端相连,所述第八电阻R8的第一端与所述第六电容C6的第二端相连,所述第九电阻R9的第一端与所述第五电容C5的第二端以及所述第八电阻R8的第二端相连,所述第九电阻R9的第二端接地。
在本申请实施例公开的技术方案中,所述ADC转换电路400可以选用ADI公司的AD7606芯片,该ADC芯片为SAR型ADC,其内部自带采样保持电路,可单电源5V供电,最高采样率并行时为200Ksps,串行时最高可达200Ksps,该芯片8通道并行采集转化时间Tconv=4us,且芯片内部可进行2倍、4倍、8倍、16倍、32倍、64倍过采样,但随着过采样的进行,模块的转换时间随之增大,且通道内部包含±16.5V的过压防护,本方案中,参见图6,还可以为所述ADC转换电路400设置一个ADC前级防护电路,
所述ADC前级防护电路包括:
第一端与所述ADC转换电路400的输入端相连的第四电阻R4;
第一端与所述ADC转换电路400的输出端相连的第五电阻R5,所述第四电阻R4和第五电阻R5的阻值为1kΩ;
一端与所述第四电阻R4的第二端相连、另一端与所述第五电阻R5的第二端相连的第四电容C4,所述第四电容C4的电容值为1nf。
进一步的,在本申请另一实施例公开的技术方案中,考虑到现场侧要和系统侧进行隔离,因此,上述电路中,还可以包括设置在所述ADC转换电路400与目标MCU之间的隔离电路,以及所述隔离电路的外围电路。所述隔离电路可以采用型号为π160E30的容耦隔离器以及容耦隔离器的辅助电路。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。