CN115437961A - 数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种数据处理方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；基于已测试条件和至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节。解决了现有技术中基于生产缺陷的错误类型查找造成缺陷的原因，导致查找不准确的问题，实现达到提高问题查找准确性的效果。

Description

数据处理方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本发明涉及计算机处理技术领域，尤其涉及一种数据处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前，在产品下线生产的过程中，产品可能会存在各种各样的生产缺陷，为了快捷有效的查找出问题所在，现有技术中通常会将缺陷按软件本身的错误类型进行分类，如数据加工错误、操作系统及支持软件错误、配置错误、用户需求改变、人员操作错误等，基于缺陷的错误类型查找到问题所在，进行整改。

但是，产品的缺陷不限于软件本身的错误，也可能是在生产产品之前，由于设计不到位或其他因素导致生产缺陷的产生，因此如果基于缺陷的错误类型进行查找，可能很难查找到具体问题所在，导致查找出错的问题。

发明内容

本发明提供了一种数据处理方法、装置、电子设备及存储介质，以实现能够查找到生产缺陷是由于哪个测试环节遗漏所引起的，达到提高问题查找准确性的技术效果。

根据本发明的一方面，提供了一种数据处理方法，该方法包括：

在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，所述缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；

确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；

基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；

基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

根据本发明的另一方面，提供了一种数据处理装置，该装置包括：

配置条件确定模块，用于在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，所述缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；

已测试条件确定模块，用于确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；

目标遗漏测试条件确定模块，用于基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；

测试遗漏环节确定模块，用于基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的数据处理方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的数据处理方法。

本发明实施例的技术方案，通过在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；基于已测试条件和至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节，解决了现有技术中基于生产缺陷的错误类型查找造成缺陷的原因，导致查找不准确的问题，实现了通过每个测试阶段所对应的遗漏测试条件检测待测应用是否在对应测试环节中出现测试遗漏，在出现测试遗漏时，基于目标遗漏测试条件确定出测试遗漏环节，查找到生产缺陷是由于测试遗漏环节遗漏所引起的，实现在系统投产发现缺陷时，快速定位到测试环境问题原因，达到提高问题查找准确性、全面性的技术效果。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本发明实施例一提供的一种数据处理方法的流程图；

图2是根据本发明实施例二所提供的确定测试遗漏环节的方法示意图；

图3是根据本发明实施例三提供的一种数据处理装置的结构示意图；

图4是实现本发明实施例的数据处理方法的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例一

图1是根据本发明实施例一提供的一种数据处理方法的流程图，本实施例可适用于确定待测应用的测试遗漏环节情况，该方法可以由数据处理装置来执行，该数据处理装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该数据处理装置可配置于计算设备中。如图1所示，该方法包括：

S110、在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件。

需要说明的是，可以基于本技术方案开发相应的缺陷追溯的系统，进而基于该系统处理相应的任务，从而确定实际生产中所产生的缺陷是由测试环境中哪个测试节点出现测试遗漏引起的。示例性的，在应用缺陷追溯领域中，可以在应用出现生产缺陷时，基于应用的历史测试数据以及检测测试是否遗漏的检测条件，确定应用在哪个测试节点出现了测试遗漏，该测试遗漏的节点可能是导致出现生产缺陷的原因，以实现问题的精准定位。

其中，待测应用可以为需要被测试的应用或软件，如交易类应用、验证类应用或识别类应用等，在此不一一进行赘述。缺陷追溯请求可以为请求定位到引起生产缺陷的测试节点的程序或代码，生产缺陷可以为在生产环境中所产生的缺陷，如应用网络故障、交易故障等。测试节点可以理解为测试项，如验证、交易、提取数据等。缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件。测试阶段可以包括但不限于测试设计阶段、测试执行阶段和测试总结阶段等。每个测试阶段中均可以包括对应的测试节点所对应的遗漏测试条件。遗漏测试条件可以为检测出现测试遗漏的条件，例如，测试用例遗漏的检测条件，或等价类遗漏的检测条件等。

在实际应用中，可以当检测到用户点击了系统页面的缺陷追溯控件时，认为系统接收到了缺陷追溯请求，缺陷追溯请求中携带有待测应用的信息；也可以是在检测到待测应用产生生产缺陷时，认为接收到了该待测应用对应的缺陷追溯请求。例如，待测应用A在使用中出现网络崩溃，即认为出现了生产缺陷，此时可以自动触发生成缺陷追溯请求。进一步的，可以从预设缓存中调取出预先配置的缺陷追溯配置条件，以基于缺陷追溯配置条件检测待测应用在测试环境中的哪个测试节点出现了测试遗漏。

可选的，在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件，包括：在检测到待测应用于生产过程中存在生产缺陷时，生成与待测应用对应的缺陷追溯请求，并调取缺陷追溯配置条件。

其中，生产缺陷可以理解为应用故障(Bug)。例如，在实际应用中，可能会因为待测应用中的计算机软件或程序中存在某种破坏正常运行能力的问题、错误或者隐藏的功能缺陷等，使待测应用在实际投产后会存在软件缺陷，如，软件缺陷可以为交易故障、验证故障、网络故障等等，可以将这些软件缺陷作为生产缺陷。

具体的，可以当检测到待测应用于生产过程中存在生产缺陷时，认为需要确定该生产缺陷是由测试环境中的哪个测试节点所引起的，并追溯定位到该测试节点，此时可以生成缺陷追溯请求。例如，应用A于系统投产后发现缺陷，可以生成与应用A对应的缺陷追溯请求发送至系统，系统接收到缺陷追溯请求时，可以通过系统接口调取预先配置好的缺陷追溯配置条件，以通过缺陷追溯配置条件追溯到问题测试节点。

需要说明的是，为了提高问题测试节点确定的精准性和全面性，可以将测试阶段分为三个阶段，分别是：测试设计阶段、测试执行阶段、测试总结阶段，进而可以对每个测试阶段进行追溯，追溯出是哪个测试阶段导致了待测应用存在生产缺陷。每个测试阶段中均存在多个测试节点，为了最终追溯出是哪个测试阶段的哪个测试节点的测试遗漏引发了待测应用于生产中产生生产缺陷。可以通过对每个测试阶段中测试节点进行分析，确定每个测试阶段所对应的可以表征对应测试节点出现遗漏的遗漏测试条件，如测试设计阶段的遗漏可以分为至少七项：1)测试设计存在遗漏；2)测试设计评审遗漏；3)系统及渠道存在遗漏；4)被测交易存在遗漏测试；5)输入输出项存在遗漏测试；6)等价类&边界值存在遗漏测试；7)用例组合存在遗漏测试。相应的，可以得到每个遗漏项所对应的遗漏测试条件。可选的，与测试设计阶段相对应的遗漏测试条件包括评审遗漏、系统遗漏、被测数据遗漏、输入输出项遗漏、等价类和边界值遗漏、用例组合遗漏中的至少一项。测试执行阶段的遗漏可以分为至少五项：1)测试执行存在遗漏；2)环境不具备导致执行遗漏；3)数据不具备导致执行遗漏；4)人为因素导致执行遗漏；5)回归执行遗漏。可选的，与测试执行阶段相对应的遗漏测试条件包括环境因素导致执行遗漏、数据因素导致执行遗漏、人为因素导致执行遗漏、回归执行遗漏中的至少一项。测试总结阶段的遗漏可以分为至少两项：1)测试总结报告已充分列示说明所发现的问题无遗漏；2)已发现的问题在测试总结中未做情况说明。可选的，与测试总结阶段相对应的遗漏测试条件包括问题说明遗漏。后续可通过每个测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件，确定待测应用的生产缺陷是在哪个测试节点出现了遗漏。

S120、确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件。

其中，已测试条件可以表征已对待测应用进行测试并完成的测试项，即表征待测应用在该已测试的测试项对应的测试节点处未存在测试遗漏。历史测试数据是指执行生产之前，在测试环境中所产生的与待测应用相对应的测试数据。可选的，历史测试数据中可以包括每个测试阶段所对应的测试数据，如历史测试设计数据、历史测试执行数据和历史测试总结数据等。例如，历史测试设计数据中包括客户的需求、测试计划和测试用例等；历史测试执行数据中包括已测试内容、未测试内容、测试缺陷(bug)等；历史测试总结数据中包括测试缺陷修复结果、应用软件的性能等测试总结信息。

在实际应用中，可以通过接口获取待测应用的历史测试数据，基于历史测试数据判断待测应用是否完成对应测试阶段中对应遗漏测试条件所对应的测试节点的测试，例如，对于遗漏测试条件A：环境因素导致执行遗漏，可以通过判断历史测试执行数据中是否包含因环境不具备导致执行遗漏的数据，如果不包含，那么说明历史测试过程中未因环境不具备导致执行遗漏，即说明已完成该测试节点的测试，可以将该遗漏测试条件作为已测试条件。

可选的，确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件，包括：若待测应用的历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件，则将当前遗漏测试条件标记为已测试条件；将下一项遗漏测试条件重新作为当前遗漏测试条件，并重复执行判断历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件的步骤，直至遗漏测试条件为至少一项遗漏测试条件中的最后一个。

需要说明的是，在检测历史测试数据是否对应于遗漏测试条件时，可以基于软件测试阶段的生命周期中各测试节点的次序，确定各遗漏测试条件的次序，以基于各遗漏测试条件的次序依次进行检测，实现追溯并定位测试过程中的问题，在基于某个遗漏测试条件进行检测时，可以将该遗漏测试条件作为当前遗漏测试条件。或者，还可以是各遗漏测试条件并行进行检测，将正在使用的遗漏测试条件作为当前遗漏测试条件。

在实际应用中，在确定当前遗漏测试条件之后，可以获取待测应用中与当前遗漏测试条件相对应的历史测试数据。如，当前遗漏测试条件为：评审遗漏，与评审遗漏相对应的历史测试数据可以为待测应用在测试设计阶段为其设计的评审信息，以基于评审信息检测是否出现了评审遗漏。如果历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件，说明待测应用未出现与当前遗漏测试条件相对应的遗漏，即当前遗漏测试条件是在测试环境中被测试过的，可以将当前遗漏测试条件标记为已测试条件。进一步的，为了定位至测试过程中的问题，可以将当前遗漏测试条件的下一项遗漏测试条件重新作为当前遗漏测试条件，并重新基于当前遗漏测试条件判断待测应用是否在测试环境中出现了测试遗漏，重复执行判断历史测试数据是否对应于当前遗漏测试条件的步骤，并在历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件时，将当前遗漏测试条件标记为已测试条件，直至遗漏测试条件为所有遗漏测试条件中的最后一个。

S130、基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件。

其中，目标遗漏测试条件可以表征其对应的测试节点处出现了测试遗漏。

在实际应用中，可以将所有遗漏测试条件中除标记为已测试条件的遗漏测试条件作为目标遗漏测试条件；还可以是在检测历史测试数据是否对应于当前遗漏测试条件时，若历史测试数据对应于当前遗漏测试条件，则将当前遗漏测试条件作为目标遗漏测试条件。具体来说，在获取待测应用中与当前遗漏测试条件相对应的历史测试数据，若检测到历史测试数据与当前遗漏测试条件相对应，那么可以说明出现了与当前遗漏测试条件相对应的遗漏，可以将出现遗漏的当前遗漏测试条件作为目标遗漏测试条件。以基于目标遗漏测试条件定位到测试环境中的问题。

S140、基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

其中，测试遗漏环节是指出现了测试遗漏的测试节点，如可以为测试设计阶段的评审设计节点，也可以为测试执行阶段中回归执行节点。

具体来说，基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节的实现方式可以是：基于目标遗漏测试条件以及与目标遗漏测试条件相对应的测试阶段，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节，以使基于测试遗漏环节确定与待测应用相对应的测试用例，并基于测试用例对待测应用进行测试分析。

在实际应用中，可以根据目标遗漏测试条件中的遗漏信息，以及目标遗漏测试条件所属的测试阶段，确定出待测应用的生产缺陷是因哪个测试节点测试遗漏引起的，得到测试遗漏环节。例如，假设目标遗漏测试条件为回归执行遗漏，其所隶属于测试执行阶段，那么测试遗漏环节可以为测试执行阶段中的回归执行遗漏。进一步的，在确定测试遗漏环节之后，可以配置与测试遗漏环节相对应的测试用例，基于测试用例对待测应用进行测试分析，以测试待测应用的性能。或者，在确定测试遗漏环节之后，可以生成相应的提示报告，以使技术人员根据提示报告获知测试遗漏信息，并在后续进行技术调整。

为了辅助提升测试质量，可以通过对测试遗漏环节进行统计分析，找到集中出现遗漏的部分，以改进测试过程。可选的，所述方法还包括：记录至少一个已测应用所对应的待分析测试遗漏环节，并确定环节数量高于预设阈值的目标测试遗漏环节；基于目标测试遗漏环节生成提示信息并展示。

其中，已测应用可以为已确定其所对应的测试遗漏环节的应用。预设阈值可以根据实际工作情况进行确定，可以为5，也可为10。提示信息的表示形式可以为短信、邮件、语音、弹窗、报告等等，在此不做限定，用于进行提示。

具体的，可以通过记录多个已测应用所对应的各种类型的测试遗漏环节(此时为待分析测试遗漏环节)，并统计各类型的测试遗漏环节的数量，并将各数量值均为预设阈值进行比对分析，将数量高于预设阈值的类型的测试遗漏环节作为目标测试遗漏环节。进一步的，可以基于目标测试遗漏环节生成提示信息，展示给工作人员。

本实施例的技术方案，通过在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；基于已测试条件和至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节，解决了现有技术中基于生产缺陷的错误类型查找造成缺陷的原因，导致查找不准确的问题，实现了通过每个测试阶段所对应的遗漏测试条件检测待测应用是否在对应测试环节中出现测试遗漏，在出现测试遗漏时，基于目标遗漏测试条件确定出测试遗漏环节，查找到生产缺陷是由于测试遗漏环节遗漏所引起的，实现在系统投产发现缺陷时，快速定位到测试环境问题原因，达到提高问题查找准确性的技术效果。

实施例二

作为上述实施例的一可选实施例，为了使本领域技术人员进一步清楚本发明实施例的技术方案，给出具体的应用场景实例。具体的，可以参见下述具体内容。

在实际应用中，可基于本技术方案为任何一个应用软件的生产缺陷追溯到软件测试环境的遗漏，可以通过将将测试环节分为三个测试阶段分别是：测试设计阶段、测试执行阶段、测试总结阶段。通过对每个测试阶段进行追溯，来最终追溯出生产缺陷在测试环境中的遗漏原因。相应的，可以配置每个测试阶段所对应的至少一个遗漏测试条件，每个遗漏测试条件可以对应于对应测试阶段的测试遗漏项，如测试设计阶段的遗漏可以分为至少七项：1)测试设计存在遗漏；2)测试设计评审遗漏；3)系统及渠道存在遗漏；4)被测交易存在遗漏测试；5)输入输出项存在遗漏测试；6)等价类&边界值存在遗漏测试；7)用例组合存在遗漏测试。相应的，可以得到每个遗漏项所对应的遗漏测试条件。可选的，与测试设计阶段相对应的遗漏测试条件包括评审遗漏、系统遗漏、被测数据遗漏、输入输出项遗漏、等价类和边界值遗漏、用例组合遗漏中的至少一项。测试执行阶段的遗漏可以分为至少五项：1)测试执行存在遗漏；2)环境不具备导致执行遗漏；3)数据不具备导致执行遗漏；4)人为因素导致执行遗漏；5)回归执行遗漏。可选的，与测试执行阶段相对应的遗漏测试条件包括环境因素导致执行遗漏、数据因素导致执行遗漏、人为因素导致执行遗漏、回归执行遗漏中的至少一项。测试总结阶段的遗漏可以分为至少两项：1)测试总结报告已充分列示说明所发现的问题无遗漏；2)已发现的问题在测试总结中未做情况说明。可选的，与测试总结阶段相对应的遗漏测试条件包括问题说明遗漏。可通过每个测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件，确定待测应用的生产缺陷是在哪个测试节点出现了遗漏。示例性的，可以参见2所示的确定测试遗漏环节的方法示意图，其具体实现方式可以是：首先，可以执行测试设计阶段遗漏分析，判断测试设计是否存在评审遗漏，如果是，则判断为“评审遗漏”；如果否，则判断测试设计是否未覆盖出问题的系统和渠道，如果未覆盖，则判断为“系统和渠道遗漏”，如果覆盖，则系统和渠道未遗漏。进一步的，判断测试设计是否未覆盖被测交易，如果未覆盖，则判断为“被测数据遗漏”，如果覆盖，则被测数据未遗漏。进一步的，判断测试设计是否未覆盖输入输出项，如果未覆盖，则判断为“输入输出项遗漏”，如果覆盖，则输入输出项未遗漏。进一步的，判断测试设计是否未覆盖等价类和边界值，如果未覆盖，则判断为“等价类和边界值遗漏”，如果覆盖，则等价类和边界值未遗漏。进一步的，判断测试设计是否未覆盖测试用例组合，如果未覆盖，则判断为“测试用例组合遗漏”，如果覆盖，则测试用例组合未遗漏，即测试设计阶段不存在遗漏。进一步的，执行测试执行阶段遗漏分析，判断是否因环境不具备导致测试未执行，如果是，则认为“环境不具备导致执行遗漏”，如果否，则判断是否因数据不具备导致测试未执行，如果是，则认为“数据不具备导致执行遗漏”，如果否，则判断是否因人为因素不具备导致测试未执行，如果是，则认为“人为因素导致执行遗漏”，如果否，则判断是否存在回归轮次未执行，如果是，则认为“回归执行遗漏”，如果否，则认为测试执行阶段不存在遗漏。进一步的，执行测试总结阶段遗漏分析，判断测试报告是否对已发现问题做说明解释，如果是，则未遗漏，如果是，则判断为“问题说明遗漏”。本技术方案通过将测试过程结构化处理，实现精准确定生产缺陷在测试环节的三个阶段中哪个阶段出现遗漏，以使后续避免测试阶段此类问题重复出现，提高测试能力，便于改进测试过程，提升测试质量。

本实施例的技术方案，通过在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；基于已测试条件和至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节，解决了现有技术中基于生产缺陷的错误类型查找造成缺陷的原因，导致查找不准确的问题，实现了通过每个测试阶段所对应的遗漏测试条件检测待测应用是否在对应测试环节中出现测试遗漏，在出现测试遗漏时，基于目标遗漏测试条件确定出测试遗漏环节，查找到生产缺陷是由于测试遗漏环节遗漏所引起的，实现在系统投产发现缺陷时，快速定位到测试环境问题原因，达到提高问题查找准确性的技术效果。

实施例三

图3是根据本发明实施例三提供的一种数据处理装置的结构示意图。如图3所示，该装置包括：配置条件确定模块310、已测试条件确定模块320、目标遗漏测试条件确定模块330和测试遗漏环节确定模块340。

其中，配置条件确定模块310，用于在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，所述缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；已测试条件确定模块320，用于确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；目标遗漏测试条件确定模块330，用于基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；测试遗漏环节确定模块340，用于基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

本实施例的技术方案，通过在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；确定待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；基于已测试条件和至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；基于目标遗漏测试条件，确定与待测应用相对应的测试遗漏环节，解决了现有技术中基于生产缺陷的错误类型查找造成缺陷的原因，导致查找不准确的问题，实现了通过每个测试阶段所对应的遗漏测试条件检测待测应用是否在对应测试环节中出现测试遗漏，在出现测试遗漏时，基于目标遗漏测试条件确定出测试遗漏环节，查找到生产缺陷是由于测试遗漏环节遗漏所引起的，达到提高问题查找准确性的技术效果。

在上述装置的基础上，可选的，所述配置条件确定模块310，还用于在检测到所述待测应用于生产过程中存在生产缺陷时，生成与所述待测应用对应的缺陷追溯请求，并调取所述缺陷追溯配置条件。

在上述装置的基础上，可选的，所述已测试条件确定模块320，包括标记单元和重复执行单元。

标记单元，用于若所述待测应用的历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件，则将所述当前遗漏测试条件标记为已测试条件；其中，所述历史测试数据中包括历史测试设计数据、历史测试执行数据和历史测试总结数据；

重复执行单元，用于将下一项遗漏测试条件重新作为当前遗漏测试条件，并重复执行判断所述历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件的步骤，直至遗漏测试条件为所述至少一项遗漏测试条件中的最后一个。

在上述装置的基础上，可选的，所述目标遗漏测试条件确定模块330，还用于若所述历史测试数据对应于当前遗漏测试条件，则将所述当前遗漏测试条件作为目标遗漏测试条件。

在上述装置的基础上，可选的，所述测试阶段包括测试设计阶段、测试执行阶段和测试总结阶段；与所述测试设计阶段相对应的遗漏测试条件包括评审遗漏、系统遗漏、被测数据遗漏、输入输出项遗漏、等价类和边界值遗漏、用例组合遗漏中的至少一项；与所述测试执行阶段相对应的遗漏测试条件包括环境因素导致执行遗漏、数据因素导致执行遗漏、人为因素导致执行遗漏、回归执行遗漏中的至少一项；与所述测试总结阶段相对应的遗漏测试条件包括问题说明遗漏。

在上述装置的基础上，可选的，测试遗漏环节确定模块340，还用于基于所述目标遗漏测试条件以及与所述目标遗漏测试条件相对应的测试阶段，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节，以使基于所述测试遗漏环节确定与所述待测应用相对应的测试用例，并基于所述测试用例对所述待测应用进行测试分析。

在上述装置的基础上，可选的，所述装置还包括：提示模块，所述提示模块包括目标测试遗漏环节确定单元和提示信息展示单元。

目标测试遗漏环节确定单元，用于记录至少一个已测应用所对应的待分析测试遗漏环节，并确定环节数量高于预设阈值的目标测试遗漏环节；

提示信息展示单元，用于基于所述目标测试遗漏环节生成提示信息并展示。

本发明实施例所提供的数据处理装置可执行本发明任意实施例所提供的数据处理方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

实施例四

图4是实现本发明实施例的数据处理方法的电子设备的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

如图4所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。

电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如数据处理方法。

在一些实施例中，数据处理方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的数据处理方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行数据处理方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种数据处理方法，其特征在于，包括：

在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，所述缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；

确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；

基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；

基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件，包括：

在检测到所述待测应用于生产过程中存在生产缺陷时，生成与所述待测应用对应的缺陷追溯请求，并调取所述缺陷追溯配置条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件，包括：

若所述待测应用的历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件，则将所述当前遗漏测试条件标记为已测试条件；其中，所述历史测试数据中包括历史测试设计数据、历史测试执行数据和历史测试总结数据；

将下一项遗漏测试条件重新作为当前遗漏测试条件，并重复执行判断所述历史测试数据未对应于当前遗漏测试条件的步骤，直至遗漏测试条件为所述至少一项遗漏测试条件中的最后一个。

4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件，包括：

若所述历史测试数据对应于当前遗漏测试条件，则将所述当前遗漏测试条件作为目标遗漏测试条件。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试阶段包括测试设计阶段、测试执行阶段和测试总结阶段；

与所述测试设计阶段相对应的遗漏测试条件包括评审遗漏、系统遗漏、被测数据遗漏、输入输出项遗漏、等价类和边界值遗漏、用例组合遗漏中的至少一项；

与所述测试执行阶段相对应的遗漏测试条件包括环境因素导致执行遗漏、数据因素导致执行遗漏、人为因素导致执行遗漏、回归执行遗漏中的至少一项；

与所述测试总结阶段相对应的遗漏测试条件包括问题说明遗漏。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节，包括：

基于所述目标遗漏测试条件以及与所述目标遗漏测试条件相对应的测试阶段，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节，以使基于所述测试遗漏环节确定与所述待测应用相对应的测试用例，并基于所述测试用例对所述待测应用进行测试分析。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

记录至少一个已测应用所对应的待分析测试遗漏环节，并确定环节数量高于预设阈值的目标测试遗漏环节；

基于所述目标测试遗漏环节生成提示信息并展示。

8.一种数据处理装置，其特征在于，包括：

配置条件确定模块，用于在接收到与待测应用对应的缺陷追溯请求时，确定预先配置的缺陷追溯配置条件；其中，所述缺陷追溯配置条件中包括测试阶段所对应的至少一项遗漏测试条件；

已测试条件确定模块，用于确定所述待测应用的历史测试数据所对应的已测试条件；

目标遗漏测试条件确定模块，用于基于所述已测试条件和所述至少一项遗漏测试条件，确定目标遗漏测试条件；

测试遗漏环节确定模块，用于基于所述目标遗漏测试条件，确定与所述待测应用相对应的测试遗漏环节。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的数据处理方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的数据处理方法。

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