CN115390157A - 勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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CN115390157A CN202110573655.8A CN202110573655A CN115390157A CN 115390157 A CN115390157 A CN 115390157A CN 202110573655 A CN202110573655 A CN 202110573655A CN 115390157 A CN115390157 A CN 115390157A
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叶玮
刘喜恒
肖阳
魏涛
郭黎
时逢峰
张�浩
殷洁
张红文
黄新亚
王博雅
龚姚欣
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Abstract

本公开提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质,属于油气开发技术领域。该方法包括:获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;确定工区内的多个面元,根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;对于每个面元,根据面元对应的多个炮检对,确定面元对应的勘探参数,得到多个面元对应的多个勘探参数;确定多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;根据每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。由于能够定量确定勘探系统的均匀参数,提高了均匀参数的准确性。

Description

勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本申请涉及油气开发技术领域,特别涉及一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
随着油田勘探开发的不断深入,对勘探精度的要求越来越高。为了提高勘探精度,以宽频、宽方位、高密度为主要手段的“两宽一高”地震勘探系统逐渐在各油田推广应用,而“两宽一高”地震勘探系统的勘探精度与该勘探系统的均匀参数成负相关,为了确定地震勘探系统的勘探精度,需要确定该勘探系统的均匀参数。
相关技术中,通过对偏移距进行离散度统计定性确定均匀参数,该方法包括:将待测工区划分为多个面元,对于每个面元,该面元内存在至少一个炮检对,对于每个炮检对,确定该炮检对之间的偏移距,得到多个偏移距,对多个偏移距从小到大进行排序,确定相邻偏移距的变化率曲线,通过变化率曲线的斜率定性确定勘探系统的均匀参数。其中,变化率曲线的斜率越大,均匀参数越大,反之,均匀参数越小。
但是,在上述相关技术中,由于变化率曲线的斜率只能定性确定均匀参数,也即,只能通过变化率曲线的斜率的大小来确定均匀参数的相对大小关系,所以通过离散度统计方法确定的均匀参数的准确性低。
发明内容
本申请实施例提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法、装置、设备及存储介质,可以提高探区的钻探符合信息的准确性。所述技术方案如下:
一方面,本申请提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法,所述方法包括:
获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;
确定所述工区内的多个面元,根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;
对于每个面元,根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,得到所述多个面元对应的多个勘探参数;
确定所述多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,所述比重参数用于表示所述勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重;
根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
在一种可能的实现方式中,所述对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,包括:
对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数;
确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,所述第一累计比重参数为小于所述起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数,所述第二累计比重参数为小于所述结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数;
根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。
在另一种可能的实现方式中,所述确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,包括:
确定小于所述起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于所述结束勘探参数的勘探参数的第二数量和所述多个勘探参数的总数量;
确定所述第一数量与所述总数量的比值为所述第一累计比重参数,确定所述第二数量与所述总数量的比值为所述第二累计比重参数。
在另一种可能的实现方式中,所述根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,包括:
根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式一,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;
公式一:
Figure BDA0003083558620000031
其中,SPi表示所述比重参数,Wi-1表示所述第一累计比重参数,Wi表示所述第二累计比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,所述根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数,包括:
根据所述每个勘探参数区间对应的比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式二,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数;
公式二:
Figure BDA0003083558620000032
其中,G表示所述勘探系统的均匀参数,SPi表示所述比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,所述根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对,包括:
根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,所述任一炮检对包括一个炮点和一个检波点;
对于每个面元,获取所述面元的位置,根据所述面元的位置,确定所述中点位置在所述面元内的多个炮检对。
在另一种可能的实现方式中,所述根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,包括:
确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对所述多个方位角进行排序,得到所述面元对应的勘探参数;
或者,确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对所述多个偏移距进行排序,得到所述面元对应的勘探参数。
另一方面,本申请提供了一种勘探系统的均匀参数的确定装置,所述装置包括:
获取模块,用于获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;
第一确定模块,用于确定所述工区内的多个面元,根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;
第二确定模块,用于对于每个面元,根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,得到所述多个面元对应的多个勘探参数;
第三确定模块,用于确定所述多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,所述比重参数用于表示所述勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重;
第四确定模块,用于根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
在一种可能的实现方式中,所述第三确定模块,包括:
第一确定单元,用于对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数;
第二确定单元,用于确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,所述第一累计比重参数为小于所述起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数,所述第二累计比重参数为小于所述结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数;
第三确定单元,用于根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。
在另一种可能的实现方式中,所述第二确定单元,用于确定小于所述起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于所述结束勘探参数的勘探参数的第二数量和所述多个勘探参数的总数量;确定所述第一数量与所述总数量的比值为所述第一累计比重参数,确定所述第二数量与所述总数量的比值为所述第二累计比重参数。
在另一种可能的实现方式中,所述第三确定单元,用于根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式一,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;
公式一:
Figure BDA0003083558620000051
其中,SPi表示所述比重参数,Wi-1表示所述第一累计比重参数,Wi表示所述第二累计比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,所述第四确定模块,用于根据所述每个勘探参数区间对应的比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式二,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数;
公式二:
Figure BDA0003083558620000052
其中,G表示所述勘探系统的均匀参数,SPi表示所述比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,所述第一确定模块,用于根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,所述任一炮检对包括一个炮点和一个检波点;对于每个面元,获取所述面元的位置,根据所述面元的位置,确定所述中点位置在所述面元内的多个炮检对。
在另一种可能的实现方式中,所述第二确定模块,用于确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对所述多个方位角进行排序,得到所述面元对应的勘探参数;或者,确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对所述多个偏移距进行排序,得到所述面元对应的勘探参数。
另一方面,本申请实施例提供了一种计算机设备,所述计算机设备包括:处理器和存储器,所述存储器中存储有至少一条程序代码,所述至少一条程序代码由所述处理器加载并执行以实现上述任一可能实现方式所述的勘探系统的均匀参数的确定方法中所执行的操作。
另一方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有至少一条程序代码,所述至少一条程序代码由处理器加载并执行以实现上述任一可能实现方式所述的勘探系统的均匀参数的确定方法中所执行的操作。
本申请实施例提供的技术方案的有益效果至少包括:
本申请实施例提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法,由于通过待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置,能够确定该工区内的每个面元对应的勘探参数,进而根据每个参数区间内的勘探参数的比重参数,定量确定对该工区进行勘探的勘探系统的均匀参数,与定性确定均匀参数相比,提高了确定的均匀参数的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统的均匀参数的确定方法流程图;
图2是根据一示例性实施例示出的一种确定勘探参数对应的基尼系数的方法示意图;
图3是根据一示例性实施例示出的一种分组几何法确定勘探参数对应的基尼系数的方法示意图;
图4是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统A的方位角分布信息的示意图;
图5是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统B的方位角分布信息的示意图;
图6是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统A和勘探系统B的洛伦兹曲线的示意图;
图7是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统A的偏移距分布信息的示意图;
图8是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统B的偏移距分布信息的示意图;
图9是根据一示例性实施例示出的另一种勘探系统A和勘探系统B的洛伦兹曲线的示意图;
图10是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统的均匀参数的确定装置的框图;
图11是根据一示例性实施例示出的一种计算机设备的结构框图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
图1是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统的均匀参数的确定方法流程图。参见图1,该方法包括:
101、计算机设备获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置。
在本步骤中,勘探系统布设在待测工区内,包括多个炮点和多个检波点。两个相邻炮点之间的第一预设距离(也即炮点距)可以是任一数值,例如,20m、30m、40m等。两个相邻检波点之间的第二预设距离(也即检波点距)可以是任一数值,例如,20m、30m、40m等。在本申请实施例中,对第一预设距离和第二预设距离的数值不作具体限定,可以根据需要进行设定并修改。
在一种可能的实现方式中,炮点位置为炮点的预设坐标,检波点的位置为检波点的预设坐标。计算机设备内存储有炮点标识和炮点预设坐标的对应关系以及检波点标识和检波点预设坐标的对应关系。相应的,本步骤为:计算机设备获取多个炮点对应的炮点标识和多个检波点对应的检波点标识;根据多个炮点标识,从已存储的炮点标识和炮点预设坐标的对应关系中,确定多个炮点的预设坐标,以及根据多个检波点标识,从已存储的检波点标识和检波点预设坐标的对应关系中,确定多个检波点的预设坐标。
在另一种可能的实现方式中,炮点位置为炮点的实际坐标,检波点的位置为检波点的实际坐标。每个炮点和每个检波点上设有定位装置,该定位装置与计算机设备通过有线或者无线连接。相应的,计算机设备获取待测的勘探系统内的多个炮点位置和多个检波点的位置的步骤为:对于每个炮点,定位装置获取该炮点的位置坐标,将该炮点的位置坐标上传至计算机设备;以及,对于每个检波点,定位装置获取该检波点的位置坐标,将该检波点的位置坐标上传至计算机设备;计算机设备对每个炮点的位置坐标和每个检波点的坐标进行存储,得到待测的勘探系统内的多个炮点位置和多个检波点的位置。
在本申请实施例中,由于炮点位置为炮点的实际坐标,检波点的位置为检波点的实际坐标,考虑了勘探系统受到外界环境因素的影响,进而根据实际坐标确定的勘探系统的均匀参数,更加接近实际情况,从而提高了该均匀参数的准确性。
102、计算机设备确定工区内的多个面元,根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对。
在本步骤中,计算机设备可以将该工区划分为多个面元,每个面元的长度可以是任一数值,每个面元的宽度可以任一数值。在本申请实施例中,对面元的长度和宽度不作具体限定,可以根据需要进行设定并修改。在一种可能的实现方式中,面元为正方形,面元的边长为炮点距的一半,或者,面元的边长为检波点距的一半。可选的,炮点距与检波点距相同;例如,炮点距为40m、检波点距为40m、面元边长为20m。
需要说明的一点,在通过勘探系统对工区进行测试时,可以对该工区内任一深度的目标层进行测试,目标层的深度可以是任一数值,面元的深度与目标层的深度相同。在本申请实施例中,对目标层以及面元的深度不作具体限定,可以根据需要进行设定并修改。例如,目标层的深度为5000m、6000m、7000m等。
在一种可能的实现方式中,计算机设备确定工区内的多个面元的步骤为:计算机设备将该工区进行网格划分,得到多个网格,其中,一个网格对应一个面元;确定每个面元对应的面元坐标,得到多个面元。其中,面元坐标可以为该面元的中心坐标。
在一种可能的实现方式中,计算机设备根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对的步骤为:计算机设备根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,任一炮检对包括一个炮点和一个检波点;对于每个面元,获取面元的位置,根据面元的位置,确定中点位置在面元内的多个炮检对。
103、计算机设备对于每个面元,根据面元对应的多个炮检对,确定面元对应的勘探参数,得到多个面元对应的多个勘探参数。
在一种可能的实现方式中,勘探参数包括方位角参数;相应的,计算机设备根据面元对应的多个炮检对,确定面元对应的勘探参数的步骤为:计算机设备确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对多个方位角进行排序,得到面元对应的勘探参数。
在另一种可能的实现方式中,勘探参数包括偏移距参数;相应的,计算机设备根据面元对应的多个炮检对,确定面元对应的勘探参数的步骤为:计算机设备确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对多个偏移距进行排序,得到面元对应的勘探参数。
需要说明的一点是,勘探参数可以为方位角参数,也可以为偏移距参数。其中,不同的勘探参数,对应的勘探系统的均匀参数不同。在一种可能的实现方式中,计算机设备可以根据均匀参数的应用场景,确定勘探参数。可选的,当均匀参数的应用场景为确定地震资料的能量均衡场景时,计算机设备确定勘探参数为偏移距参数;当均匀参数的应用场景为确定全方位的地震资料成像场景时,计算机设备确定勘探参数为方位角参数。
在本申请实施例中,由于根据均匀参数的应用场景,确定勘探参数,从而使得确定的勘探参数更加符合实际的应用场景,从而提高了该勘探参数的准确性。
104、计算机设备确定多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,比重参数用于表示勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重。
在一种可能的实现方式中,计算机设备确定多个勘探参数所在的多个勘探参数区间的步骤为:计算机设备根据多个面元的勘探参数,确定多个面元的勘探参数所在的总勘探参数区间,对总勘探参数区间进行划分,得到多个勘探参数区间。
需要说明的一点是,多个勘探参数区间的区间范围可以相同,也可以不同。
在一种可能的实现方式中,每个勘探参数区间内的勘探参数的数量相同。相应的,计算机设备对总勘探参数区间进行划分,得到多个勘探参数区间的步骤为:计算机设备确定每个勘探参数区间内包括的勘探参数的数量,根据该数量,对总勘探参数区间进行划分,得到勘探参数的数量相同的多个勘探区间。
例如,勘探参数为偏移距。偏移距的数量为100个,计算机设备确定每个勘探参数区间内包括的偏移距的数量为20个,对总勘探参数区间进行划分,得到5个勘探区间,每个勘探区间内包括的偏移距的数量均为20个。
在本步骤中,计算机设备对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数的步骤为:计算机设备对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数;确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,第一累计比重参数为小于起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数,第二累计比重参数为小于结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数;根据第一累计比重参数、第二累计比重参数和多个勘探参数区间的数量,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。
在一种可能的实现方式中,计算机设备确定第一累计比重参数和第二累计比重参数的步骤为:计算机设备确定小于起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于结束勘探参数的勘探参数的第二数量和多个勘探参数的总数量;确定第一数量与总数量的比值为第一累计比重参数,确定第二数量与总数量的比值为第二累计比重参数。
例如,勘探参数为偏移距,偏移距的总数量为1000个,多个勘探参数区间为:0m-60m、60m-120m、120m-180m、180m-240m和240m-300m。0m-60m内的偏移距的数量为150个、60m-120m内的偏移距的数量为220个、120m-180m内的偏移距的数量为260个、180m-240m内的偏移距的数量为220个、240m-300m内的偏移距的数量为150个。
对于勘探参数区间60m-120m,起始勘探参数为60m、结束勘探参数为120m,其中,小于60m的偏移距的第一数量为150个,小于120m的偏移距的第二数量为370个,偏移距的总数量为1000个;确定第一累计比重参数为第一数量150与偏移距的总数量1000之间的比值,也即0.15,确定第一累计比重参数为第二数量370与偏移距的总数量1000之间的比值,也即0.37。
在一种可能的实现方式中,计算机设备根据第一累计比重参数、第二累计比重参数和多个勘探参数区间的数量,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数的步骤为:计算机设备根据第一累计比重参数、第二累计比重参数和多个勘探参数区间的数量,通过以下公式一,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;
公式一:
Figure BDA0003083558620000101
其中,SPi表示比重参数,Wi-1表示第一累计比重参数,Wi表示第二累计比重参数,n表示多个勘探参数区间的数量。
105、计算机设备根据每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
在一种可能的实现方式中,本步骤为:计算机设备根据每个勘探参数区间对应的比重参数和多个勘探参数区间的数量,通过以下公式二,确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数;
公式二:
Figure BDA0003083558620000111
其中,G表示勘探系统的均匀参数,SPi表示比重参数,n表示勘探参数区间的数量。
需要说明的一点是,勘探系统的均匀参数的数值越小,勘探系统的勘探精确越高。勘探系统的均匀参数为该勘探参数对应的基尼系数。参见图2,洛伦兹曲线将一个等腰直角三角形分为区域A和区域B两个区域。区域A的面积(SA)与三角形的面积的比值为基尼系数G。
也即,公式三:
Figure BDA0003083558620000112
需要说明的一点是,继续参见图2,横坐标OH表示勘探参数与最大勘探参数的比值,纵坐标LH表示表示该勘探参数对应的数量与勘探参数的总数量的比值。因此,横纵坐标的取值范围都是0~1,三角型OLH的总面积为1/2。
需要说明的另一点是,洛伦兹曲线有多种计算方法,如直接计算法、拟合曲线法、分组几何法、分解法等。在本申请实施例中,采用分组几何法对观测系统属性均匀度进行计算,这种计算方法通过对样本数据进行分组,利用以直代曲的思路求取每一组的面积,分组越细,计算精度越高,计算量越大;最终通过累加的方式获得结果。例如,参见图3,多个勘探参数区间的数量越多,也即,n的数值越大,则分组越细,得到的SB的准确性越高,进而确定的勘探系统的均匀参数的准确性越高。
在一种可能的实现方式中,区域B的面积为公式四:
Figure BDA0003083558620000121
其中,SB表示区域B的面积,SPi表示比重参数,n表示多个勘探参数区间的数量。在一种可能的实现方式中,计算机设备将三角型OLH的总面积1/2和公式四带入公式三,得到公式二。
下面通过确定两个勘探系统的均匀参数,对两个勘探系统的精确度进行对比。
实施例1、在需要通过勘探系统确定全方位的地震资料成像时,从方位角分布角度,确定两个勘探系统的均匀参数。
勘探系统A:面元为20m*20m、炮点距为40m、检波点距为40m、最大炮检距为4868m、炮线距为360m、检测线距(道间距)为120m、纵横比为0.73。
勘探系统B:面元为20m*20m、炮点距为40m、检波点距为40m、最大炮检距为3706m、炮线距为160m、检测线距为160m、纵横比为0.94。
S21、计算机设备获取待测的勘探系统内的多个炮点位置和多个检波点的位置。
S22、计算机设备确定工区内的多个面元,对于每个面元,根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,确定中点位置在面元内的多个炮检对;对于每个炮检对,确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对多个方位角进行排序,得到面元对应的勘探参数,该勘探参数为多个炮检对的方位角分布信息。
其中,勘探系统A的方位角分布信息如图4所示,勘探系统B的方位角分布信息如图5所示。由于方案A的横纵比较小,因此方位角信息的分布也是纵向角度贡献的覆盖次数较多,横向角度贡献的覆盖次数较少。
S23、确定多个面元的偏移距对应的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间对应的比重参数;
S24、根据每个勘探参数区间对应的比重参数,确定勘探系统的均匀参数。
可选的,参见图6,勘探系统A的洛伦兹曲线为曲线1,勘探系统A的均匀参数为0.18。勘探系统B的洛伦兹曲线为曲线2,勘探系统B的均匀参数为0.12。在需要通过勘探系统确定全方位的地震资料成像时,勘探系统B的勘探精确高于勘探系统A。
实施例2、在需要通过勘探系统确定地震资料的能量均衡时,从偏移距分布角度,确定两个勘探系统的均匀参数。
勘探系统A:面元为20m*20m、炮点距为40m、检波点距为40m、最大炮检距为4868m、炮线距为360m、检测线距为120m。
勘探系统B:面元为20m*20m、炮点距为40m、检波点距为40m、最大炮检距为3706m、炮线距为160m、检测线距为160m。
S21、计算机设备获取待测的勘探系统内的多个炮点位置和多个检波点的位置。
S22、计算机设备确定工区内的多个面元,对于每个面元,根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,确定中点位置在面元内的多个炮检对;对于每个炮检对,确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对多个偏移距进行排序,得到面元对应的勘探参数,该勘探参数为多个炮检对的偏移距分布信息。
其中,勘探系统A的偏移距分布信息如图7所示,勘探系统B的偏移距分布信息如图8所示,
S23、确定多个面元的偏移距对应的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间对应的比重参数;
S24、根据每个勘探参数区间对应的比重参数,确定勘探系统的均匀参数。
可选的,参见图9,勘探系统A的洛伦兹曲线为曲线1,勘探系统A的均匀参数为0.31。勘探系统B的洛伦兹曲线为曲线2,勘探系统B的均匀参数为0.35。在需要通过勘探系统确定地震资料的能量均衡时,勘探系统A的勘探精确高于勘探系统B。
本申请实施例提供了一种勘探系统的均匀参数的确定方法,由于通过待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置,能够确定该工区内的每个面元对应的勘探参数,进而根据每个参数区间内的勘探参数的比重参数,定量确定对该工区进行勘探的勘探系统的均匀参数,与定性确定均匀参数相比,提高了确定的均匀参数的准确性。
图10是根据一示例性实施例示出的一种勘探系统的均匀参数的确定装置的框图。参见图10,该装置包括:
获取模块1001,用于获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;
第一确定模块1002,用于确定工区内的多个面元,根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;
第二确定模块1003,用于对于每个面元,根据面元对应的多个炮检对,确定面元对应的勘探参数,得到多个面元对应的多个勘探参数;
第三确定模块1004,用于确定多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,比重参数用于表示勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重;
第四确定模块1005,用于根据每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
在一种可能的实现方式中,第三确定模块1004,包括:
第一确定单元,用于对于每个勘探参数区间,确定勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数;
第二确定单元,用于确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,第一累计比重参数为小于起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数,第二累计比重参数为小于结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数;
第三确定单元,用于根据第一累计比重参数、第二累计比重参数和多个勘探参数区间的数量,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。
在另一种可能的实现方式中,第二确定单元1003,用于确定小于起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于结束勘探参数的勘探参数的第二数量和多个勘探参数的总数量;确定第一数量与总数量的比值为第一累计比重参数,确定第二数量与总数量的比值为第二累计比重参数。
在另一种可能的实现方式中,第三确定单元1004,用于根据第一累计比重参数、第二累计比重参数和多个勘探参数区间的数量,通过以下公式一,确定勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;
公式一:
Figure BDA0003083558620000141
其中,SPi表示比重参数,Wi-1表示第一累计比重参数,Wi表示第二累计比重参数,n表示多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,第四确定模块1005,用于根据每个勘探参数区间对应的比重参数和多个勘探参数区间的数量,通过以下公式二,确定用于对工区进行勘探的勘探系统的均匀参数;
公式二:
Figure BDA0003083558620000151
其中,G表示勘探系统的均匀参数,SPi表示比重参数,n表示多个勘探参数区间的数量。
在另一种可能的实现方式中,第一确定模块1002,用于根据多个炮点位置和多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,任一炮检对包括一个炮点和一个检波点;对于每个面元,获取面元的位置,根据面元的位置,确定中点位置在面元内的多个炮检对。
在另一种可能的实现方式中,第二确定模块1003,用于确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对多个方位角进行排序,得到面元对应的勘探参数;或者,确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对多个偏移距进行排序,得到面元对应的勘探参数。
本申请实施例提供了一种勘探系统的均匀参数的确定装置,由于通过待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置,能够确定该工区内的每个面元对应的勘探参数,进而根据每个参数区间内的勘探参数的比重参数,定量确定对该工区进行勘探的勘探系统的均匀参数,与定性确定均匀参数相比,提高了确定的均匀参数的准确性。
图11示出了本发明一个示例性实施例提供的计算机设备1100的结构框图。该计算机设备1100可以是:智能手机、平板电脑、MP3播放器(Moving Picture Experts GroupAudio Layer III,动态影像专家压缩标准音频层面3)、MP4(Moving Picture ExpertsGroup Audio Layer IV,动态影像专家压缩标准音频层面4)播放器、笔记本电脑或台式电脑。计算机设备1100还可能被称为用户设备、便携式计算机设备、膝上型计算机设备、台式计算机设备等其他名称。
通常,计算机设备1100包括有:处理器1101和存储器1102。
处理器1101可以包括一个或多个处理核心,比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器1101可以采用DSP(Digital Signal Processing,数字信号处理)、FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array,可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1101也可以包括主处理器和协处理器,主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器,也称CPU(Central ProcessingUnit,中央处理器);协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中,处理器1101可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit,图像处理器),GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中,处理器1101还可以包括AI(Artificial Intelligence,人工智能)处理器,该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器1102可以包括一个或多个计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器1102还可包括高速随机存取存储器,以及非易失性存储器,比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中,存储器1102中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令,该至少一个指令用于被处理器1101所执行以实现本申请中方法实施例提供的勘探系统的均匀参数的确定方法。
在一些实施例中,计算机设备1100还可选包括有:外围设备接口1103和至少一个外围设备。处理器1101、存储器1102和外围设备接口1103之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与外围设备接口1103相连。具体地,外围设备包括:射频电路1104、显示屏1105、摄像头1106、音频电路1107、定位组件1108和电源1109中的至少一种。
外围设备接口1103可被用于将I/O(Input/Output,输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器1101和存储器1102。在一些实施例中,处理器1101、存储器1102和外围设备接口1103被集成在同一芯片或电路板上;在一些其他实施例中,处理器1101、存储器1102和外围设备接口1103中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现,本实施例对此不加以限定。
射频电路1104用于接收和发射RF(Radio Frequency,射频)信号,也称电磁信号。射频电路1104通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。射频电路1104将电信号转换为电磁信号进行发送,或者,将接收到的电磁信号转换为电信号。可选地,射频电路1104包括:天线系统、RF收发器、一个或多个放大器、调谐器、振荡器、数字信号处理器、编解码芯片组、用户身份模块卡等等。射频电路1104可以通过至少一种无线通信协议来与其它计算机设备进行通信。该无线通信协议包括但不限于:城域网、各代移动通信网络(2G、3G、4G及5G)、无线局域网和/或WiFi(Wireless Fidelity,无线保真)网络。在一些实施例中,射频电路1104还可以包括NFC(Near Field Communication,近距离无线通信)有关的电路,本申请对此不加以限定。
显示屏1105用于显示UI(UserInterface,用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏1105是触摸显示屏时,显示屏1105还具有采集在显示屏1105的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器1101进行处理。此时,显示屏1105还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘,也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中,显示屏1105可以为一个,设置计算机设备1100的前面板;在另一些实施例中,显示屏1105可以为至少两个,分别设置在计算机设备1100的不同表面或呈折叠设计;在再一些实施例中,显示屏1105可以是柔性显示屏,设置在计算机设备1100的弯曲表面上或折叠面上。甚至,显示屏1105还可以设置成非矩形的不规则图形,也即异形屏。显示屏1105可以采用LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示屏)、OLED(OrganicLight-Emitting Diode,有机发光二极管)等材质制备。
摄像头组件1106用于采集图像或视频。可选地,摄像头组件1106包括前置摄像头和后置摄像头。通常,前置摄像头设置在计算机设备的前面板,后置摄像头设置在计算机设备的背面。在一些实施例中,后置摄像头为至少两个,分别为主摄像头、景深摄像头、广角摄像头、长焦摄像头中的任意一种,以实现主摄像头和景深摄像头融合实现背景虚化功能、主摄像头和广角摄像头融合实现全景拍摄以及VR(Virtual Reality,虚拟现实)拍摄功能或者其它融合拍摄功能。在一些实施例中,摄像头组件1106还可以包括闪光灯。闪光灯可以是单色温闪光灯,也可以是双色温闪光灯。双色温闪光灯是指暖光闪光灯和冷光闪光灯的组合,可以用于不同色温下的光线补偿。
音频电路1107可以包括麦克风和扬声器。麦克风用于采集用户及环境的声波,并将声波转换为电信号输入至处理器1101进行处理,或者输入至射频电路1104以实现语音通信。出于立体声采集或降噪的目的,麦克风可以为多个,分别设置在计算机设备1100的不同部位。麦克风还可以是阵列麦克风或全向采集型麦克风。扬声器则用于将来自处理器1101或射频电路1104的电信号转换为声波。扬声器可以是传统的薄膜扬声器,也可以是压电陶瓷扬声器。当扬声器是压电陶瓷扬声器时,不仅可以将电信号转换为人类可听见的声波,也可以将电信号转换为人类听不见的声波以进行测距等用途。在一些实施例中,音频电路1107还可以包括耳机插孔。
定位组件1108用于定位计算机设备1100的当前地理位置,以实现导航或LBS(Location Based Service,基于位置的服务)。定位组件1108可以是基于美国的GPS(Global Positioning System,全球定位系统)、中国的北斗系统、俄罗斯的格雷纳斯系统或欧盟的伽利略系统的定位组件。
电源1109用于为计算机设备1100中的各个组件进行供电。电源1109可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源1109包括可充电电池时,该可充电电池可以支持有线充电或无线充电。该可充电电池还可以用于支持快充技术。
在一些实施例中,计算机设备1100还包括有一个或多个传感器1110。该一个或多个传感器1110包括但不限于:加速度传感器1111、陀螺仪传感器1112、压力传感器1113、指纹传感器1114、光学传感器1115以及接近传感器1116。
加速度传感器1111可以检测以计算机设备1100建立的坐标系的三个坐标轴上的加速度大小。比如,加速度传感器1111可以用于检测重力加速度在三个坐标轴上的分量。处理器1101可以根据加速度传感器1111采集的重力加速度信号,控制显示屏1105以横向视图或纵向视图进行用户界面的显示。加速度传感器1111还可以用于游戏或者用户的运动数据的采集。
陀螺仪传感器1112可以检测计算机设备1100的机体方向及转动角度,陀螺仪传感器1112可以与加速度传感器1111协同采集用户对计算机设备1100的3D动作。处理器1101根据陀螺仪传感器1112采集的数据,可以实现如下功能:动作感应(比如根据用户的倾斜操作来改变UI)、拍摄时的图像稳定、游戏控制以及惯性导航。
压力传感器1113可以设置在计算机设备1100的侧边框和/或显示屏1105的下层。当压力传感器1113设置在计算机设备1100的侧边框时,可以检测用户对计算机设备1100的握持信号,由处理器1101根据压力传感器1113采集的握持信号进行左右手识别或快捷操作。当压力传感器1113设置在显示屏1105的下层时,由处理器1101根据用户对显示屏1105的压力操作,实现对UI界面上的可操作性控件进行控制。可操作性控件包括按钮控件、滚动条控件、图标控件、菜单控件中的至少一种。
指纹传感器1114用于采集用户的指纹,由处理器1101根据指纹传感器1114采集到的指纹识别用户的身份,或者,由指纹传感器1114根据采集到的指纹识别用户的身份。在识别出用户的身份为可信身份时,由处理器1101授权该用户执行相关的敏感操作,该敏感操作包括解锁屏幕、查看加密信息、下载软件、支付及更改设置等。指纹传感器1114可以被设置计算机设备1100的正面、背面或侧面。当计算机设备1100上设置有物理按键或厂商Logo时,指纹传感器1114可以与物理按键或厂商Logo集成在一起。
光学传感器1115用于采集环境光强度。在一个实施例中,处理器1101可以根据光学传感器1115采集的环境光强度,控制显示屏1105的显示亮度。具体地,当环境光强度较高时,调高显示屏1105的显示亮度;当环境光强度较低时,调低显示屏1105的显示亮度。在另一个实施例中,处理器1101还可以根据光学传感器1115采集的环境光强度,动态调整摄像头组件1106的拍摄参数。
接近传感器1116,也称距离传感器,通常设置在计算机设备1100的前面板。接近传感器1116用于采集用户与计算机设备1100的正面之间的距离。在一个实施例中,当接近传感器1116检测到用户与计算机设备1100的正面之间的距离逐渐变小时,由处理器1101控制显示屏1105从亮屏状态切换为息屏状态;当接近传感器1116检测到用户与计算机设备1100的正面之间的距离逐渐变大时,由处理器1101控制显示屏1105从息屏状态切换为亮屏状态。
本领域技术人员可以理解,图11中示出的结构并不构成对计算机设备1100的限定,可以包括比图示更多或更少的组件,或者组合某些组件,或者采用不同的组件布置。
在示例性实施例中,还提供了一种包括程序代码的存储介质,例如包括程序代码的存储器,上述程序代码可由装置的处理器执行以完成上述方法。可选地,存储介质可以是非临时性计算机可读存储介质,例如,所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM(Read-Only Memory,只读存储器)、RAM(Random Access Memory,随机存取存储器)、CD-ROM(Compact Disc Read-Only Memory,只读光盘)、磁带、软盘和光数据存储设备等。
以上所述仅为本申请的可选实施例,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种勘探系统的均匀参数的确定方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;
确定所述工区内的多个面元,根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;
对于每个面元,根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,得到所述多个面元对应的多个勘探参数;
确定所述多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,所述比重参数用于表示所述勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重;
根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,包括:
对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间对应的起始勘探参数和结束勘探参数;
确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,所述第一累计比重参数为小于所述起始勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数,所述第二累计比重参数为小于所述结束勘探参数的勘探参数对应的累计比重参数;
根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定第一累计比重参数和第二累计比重参数,包括:
确定小于所述起始勘探参数的勘探参数的第一数量、小于所述结束勘探参数的勘探参数的第二数量和所述多个勘探参数的总数量;
确定所述第一数量与所述总数量的比值为所述第一累计比重参数,确定所述第二数量与所述总数量的比值为所述第二累计比重参数。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,包括:
根据所述第一累计比重参数、第二累计比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式一,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数;
公式一:
Figure FDA0003083558610000021
其中,SPi表示所述比重参数,Wi-1表示所述第一累计比重参数,Wi表示所述第二累计比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数,包括:
根据所述每个勘探参数区间对应的比重参数和所述多个勘探参数区间的数量,通过以下公式二,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数;
公式二:
Figure FDA0003083558610000022
其中,G表示所述勘探系统的均匀参数,SPi表示所述比重参数,n表示所述多个勘探参数区间的数量。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对,包括:
根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定任一炮检对的中点位置,所述任一炮检对包括一个炮点和一个检波点;
对于每个面元,获取所述面元的位置,根据所述面元的位置,确定所述中点位置在所述面元内的多个炮检对。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,包括:
确定每个炮检对的方位角,得到多个方位角,对所述多个方位角进行排序,得到所述面元对应的勘探参数;
或者,确定每个炮检对的偏移距,得到多个偏移距,对所述多个偏移距进行排序,得到所述面元对应的勘探参数。
8.一种勘探系统的均匀参数的确定装置,其特征在于,所述方法包括:
获取模块,用于获取待勘探的工区包括的多个炮点的位置和多个检波点的位置;
第一确定模块,用于确定所述工区内的多个面元,根据所述多个炮点位置和所述多个检波点的位置,确定每个面元对应的多个炮检对;
第二确定模块,用于对于每个面元,根据所述面元对应的多个炮检对,确定所述面元对应的勘探参数,得到所述多个面元对应的多个勘探参数;
第三确定模块,用于确定所述多个勘探参数所在的多个勘探参数区间,对于每个勘探参数区间,确定所述勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,所述比重参数用于表示所述勘探参数区间内的勘探参数在多个勘探参数中的比重;
第四确定模块,用于根据所述每个勘探参数区间内的勘探参数对应的比重参数,确定用于对所述工区进行勘探的勘探系统的均匀参数。
9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括:
处理器和存储器,所述存储器中存储有至少一条程序代码,所述至少一条程序代码由所述处理器加载并执行以实现权利要求1至7任一项所述的勘探系统的均匀参数的确定方法中所执行的操作。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有至少一条程序代码,所述至少一条程序代码由处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一项所述的勘探系统的均匀参数的确定方法中所执行的操作。
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