CN115310050B - 一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备 - Google Patents
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Abstract
本发明适用电子设备检测技术领域，提供了一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备，其中，一种电子设备老化的数据校准方法，包括如下步骤：步骤S100：获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并根据第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；步骤S200：根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得对标对象第j次数据的修正量L j ；步骤S300：根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j 。实现了只有需要获得最新目标对象的测量值，即可对未能去现场的数据进行校准，不用停止工作，大大提高了工作效率。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备的测量领域，尤其是涉及一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备。
背景技术
随着科技的进步，电子技术飞速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，需要工作人员不断的测试其性能，保证电子产品的正常运行。
电子设备在使用过程中会随着时间发生老化，为了获得电子设备的老化以及老化的程度，及时对电子设备进行检测，避免影响所在系统的正常工作，此时需要工作人员定期去现场对电子设备进行测量并进行数据的校准。
如专利CN107621279A记载：本发明公开了一种数据处理方法、一种传感器的数据校准方法及装置。通过确定基于待测参数的真值数据以及传感器原始输出数据拟合获得的转换模型。基于转换模型获得传感器原始输出的拟合数据与被测量数据的误差模型。根据误差模型的数据变化趋势确定多个特征误差数据，并基于误差模型确定特征误差数据对应的拟合数据作为特征拟合数据，获得特征拟合数据组。基于转换模型获得拟合数据，查找与所述拟合数据数值相邻的任意两个特征拟合数据。基于任意两个特征拟合数据对应的特征误差数据，计算获得补偿误差，并基于补偿误差及拟合数据，计算获得拟合数据的校准数据。本发明实现了对传感器数据的精确校准，大大降低了传感器的测量误差，提高传感器精度。
当遇到一些不可抗力，如特殊情况时，在需要定期测量的时间段工作人员不能及时去现场，无法及时对数据进行检测和校准，此时，只能使电子设备停止工作，直到工作人员现场来进行测试后再继续工作，不仅需要花费大量的人力，且影响了其所在整个系统的工作效率，造成不必要的损失。
发明内容
本发明的目的是提供一种设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备，来解决现有技术中存在的上述技术问题，主要包括以下四个方面：
本发明第一方面提供了一种电子设备老化的数据校准方法，包括如下步骤：
步骤S100：获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并计算第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
步骤S200：根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得目标对象第j 次数据的修正量L j ，其中，i>j；
步骤S300：根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j 。
进一步地，步骤S200还包括：
步骤S210：根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
步骤S220：根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
进一步地，步骤S220包括：
进一步地，步骤S220还包括：
所述第j次数据的修正量L j 为第j次数据历史修正量加权均值；其中，第j次数据的历史修正量与第j次数据的历史加权系数λ j 形成一一对应。
进一步地，步骤S300还包括：
获取第j次数据的实际测量值N j ；
根据第j次数据的修正量L j 与第j次数据的实际测量值N j ，计算获得第j次数据的理论值M j 。
进一步地，步骤S300的计算方法如下：
其中，p为目标对象第j次数据测量对应的获取数据的序号，a为目标对象第j次数据测量对应的获取数据的总次数。
本发明第二方面提供了一种电子设备老化的数据校准系统，包括如下模块：
修正模块一：用于获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并根据第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
修正模块二：用于根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得对标对象第j 次数据的修正量L j ，其中，i>j；
计算模块：用于根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j 。
进一步地，修正模块二还用于：
根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
本发明第三方面提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述程序被执行时，用于实现上述的电子设备老化的数据校准方法。
本发明第四方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现上述的电子设备老化的数据校准方法。
本发明相对于现有技术至少具有如下技术效果：
（1） 通过本申请提供的一种电子设备老化的数据校准方法，首先根据获取目标对象最新一次去现场数据的理论值和测量值，并根据该次的理论值和测量值获得对应的修正量，然后根据获得的修正量来获取由于疫情未能到现场对应检测时间目标设备对应的修正量，进而来校准目标对象分别在未能去现场进行检测时需要修正的。通过该方法，采用最新的检测的数据来校准之前需要校准的数据，解决了在特殊情况下不能去现场进行数据测量和校准的问题，只有需要获得最新目标对象的测量值，即可对未能去现场的数据进行校准，且目标对象可以正常运行，不用停止工作，大大提高了工作效率，以及计算方法简单，可靠性强。
（2） 本发明中，进一步地根据目标对象在不同时间与失效率之间的函数关系，准确获得目标对象不同时刻对应的失效率，然后建立同一时刻失效率和修正量之间的函数关系，然后获得未能及时在固定时间进行检测的所需的修正量，减小了工作人员的工作量，获得的修正量可以根据不同时刻的失效率及时动态调整，准确度高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明中电子设备老化的数据校准方法的流程示意图一；
图2是本发明中电子设备老化的数据校准方法的流程示意图二；
图3是本发明中的计算机可读存储介质的结构示意图；
图4是本发明中的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
以下的说明提供了许多不同的实施例、或是例子，用来实施本发明的不同特征。以下特定例子所描述的元件和排列方式，仅用来精简的表达本发明，其仅作为例子，而并非用以限制本发明。
在下文中将参考附图对本发明的各方面进行更充分的描述。然而，本发明可以具体化成许多不同形式且不应解释为局限于贯穿本发明所呈现的任何特定结构或功能。相反地，提供这些方面将使得本发明周全且完整，并且本发明将给本领域技术人员充分地传达本发明的范围。基于本文所教导的内容，本领域的技术人员应意识到，无论是单独还是结合本发明的任何其它方面实现本文所公开的任何方面，本发明的范围旨在涵盖本文中所公开的任何方面。例如，可以使用本文所提出任意数量的装置或者执行方法来实现。另外，除了本文所提出本发明的多个方面之外，本发明的范围更旨在涵盖使用其它结构、功能或结构和功能来实现的装置或方法。
在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开。在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。
在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。
实施例一：
如图1-图2所示，本发明实施例一提供了一种电子设备老化的数据校准方法，包括如下步骤：
步骤S100：获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并计算第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
步骤S200：根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得目标对象第j 次数据的修正量L j ，其中，i>j；
步骤S300：根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j 。
现有技术中，电子设备在使用过程中会随着时间发生不同程度的老化，为了获得电子设备的老化以及老化的程度，及时对电子设备进行检测，避免影响所在系统的正常工作、或所在设备的正常工作，当将电子设备投入使用后，需要工作人员定期去现场对电子设备进行测量并进行数据的校准，当遇到一些不可抗力，如疫情能情况时，在需要定期测量的时间段工作人员不能及时去现场，无法及时对数据进行检测和校准，此时，只能使电子设备停止工作，直到工作人员现场来进行测试后再继续工作，不仅需要花费大量的人力，且影响了其所在整个系统的工作效率，造成不必要的损失。
本实施例中在目标对象为电子设备中需要定期进行检测的设备，如，电容、电阻等器件，在此不做限制。
首先需要获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，具体获取的方法是工作人员去现场获得，理论值可以理解为目标对象第i次数据应该根据现有技术中的方法计算获得的数值（理论上的）；实际测量值可以理解为采用测量设备现场对电子设备测量获得的值，然后根据获得的第i次数据对应的理论值M i 减去实际测量值N i 之差来获得两者之间的差值，该差值就记为第i次数据对应的需要的修正量L i 。修正量L i 的值可以出现以下几种情况：（1）等于零，理论值M i 和实际测量值N i 相等;（2）大于零，理论值M i 大于实际测量值N i ；（3）小于零，理论值M i 小于实际测量值N i 。
然后根据上一步骤获得的目标对象第i次数据的修正量L i 、然后来计算获得对标对象第j次数据的修正量L j ；其中，i>j；可以理解为，通过最新一次现场测量的值来校准在第i次前到了检查目标对象老化的时间第j次而未能到现场进行检测而应该的理论值。
在此基础上，为了获得到了检查目标对象老化的时间而未能到现场进行检测时刻对应的理论值，本申请采用最新一次可以去现场获得的修正量来进行修正之前未到现场进行检测而设备对应的理论值。
为了方便对本案的理解，下面结合实际案例来进行举例说明：假设目标对象1在投入使用后，规定的检修期限是一个月，如半年的时间里，分别需要在1月1日、2月1日、3月1日......6月1日分别进行6次检测，工作人员在1月对目标对象进行检测并对数据进行校准完成后，由于疫情原因，工作人员在2月-5月均不能去现场对数据进行检测和校准，但是在现有技术中，目标对象只有在检测并校准完成后才可以使用，不然只能停止对标对象的工作，导致目标对象所相关的设备也只能停止工作，大大的降低了工作效率，鉴于此，采用的本申请的方法，在2月-5月工作人员不能去现场的时间段，目标对象可以正常使用，完全不影响目标对象所关联的设备的正常运行，等到疫情过去后，工作人员按照固定的检修时间去现场进行数据检测并校准，然后再根据6月的数据获得6月的修正量，根据6月的修正量然后分别计算出2月-5月各自对应的修正量，以及分别计算出2月-5月各自对应的理论值。
因此，通过本申请提供的一种电子设备老化的数据校准方法，首先根据获取目标对象最新一次去现场数据的理论值和测量值，并根据该次的理论值和测量值获得对应的修正量，然后根据获得的修正量来获取由于疫情未能到现场对应检测时间目标设备对应的修正量，进而来校准目标对象分别在未能去现场进行检测时需要修正的。通过该方法，采用最新的检测的数据来校准之前需要校准的数据，解决了在特殊情况下（如疫情）不能去现场进行数据测量和校准的问题，只有需要获得最新目标对象的测量值，即可对未能去现场的数据进行校准，且目标对象可以正常运行，不用停止工作，大大提高了工作效率，以及计算方法简单，可靠性强。
进一步地，步骤S200还包括：
步骤S210：根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
步骤S220：根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
进一步地，步骤S220包括：
上述方案中，需要说明的是，失效率是时间的函数，不同时间都有其对应的失效率，失效率曲线是失效率和时间之间的函数关系的体现，进一步地可以延伸为，不同时间由于有对应的失效率，正是由于不同时间的失效率不同导致不同时刻需要对目标对象校准的修正量均不同，或者目标对象在不同时刻均有对应的修正量，因此，根据时间与修正量、时间与失效率可以得出对于同一时刻失效率和修正量之间的函数对应关系，具体关系如上式所示。
本申请根据失效率和修正量之间的函数关系可以获得不能去现场的时刻对应的修正量，具体步骤如下：根据标对象的失效率和时间之间形成的失效率曲线，获取目标对象在第i次现场检测时对应失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；再结合前述获得的目标对象的第i次现场检测时对应的修正量，来计算获得目标对象未及时在固定时间进行检测的第j次的修正量，最后可以根据第j 次对应的修正量，来获得目标对象在第j次应该校准的理论值。
本发明中，进一步地根据目标对象在不同时间与失效率之间的函数关系，准确获得目标对象不同时刻对应的失效率，然后建立同一时刻失效率和修正量之间的函数关系，然后获得未能及时在固定时间进行检测的所需的修正量，减小了工作人员的工作量，获得的修正量可以根据不同时刻的失效率及时动态调整，准确度高。
进一步地，步骤S220还包括：
所述第j次数据的修正量L j 为第j次数据历史修正量的加权均值；其中，第j次数据的历史修正量与第j次数据的历史加权系数λ j 形成一一对应。
上述方案中，为了进一步提高未能去现场对应时间的需要校准的理论值的准确度，可以根据目标对象的第j次的历史修正量来获得本次需要的修正量，在计算的过程中，不同的历史修正量对应不同的加权系数，如当历史修正量大于零的时候，加权系数对应的设置的较大；当历史修正量小于零的时候，加权系数对应的设置的较小；所述第j次数据的历史修正量与第j次数据的历史加权系数λ j 形成一一对应的映射关系，即第j次数据的不同的历史修正量对应不同的历史加权系数，提高数据的准确性。
进一步地，步骤S300还包括：
获取目标对象第j次数据的实际测量值N j ；
根据目标对象第j次数据的修正量L j 与第j次数据的实际测量值N j ，计算获得目标对象第j次数据的理论值M j 。
进一步地，步骤S300的计算方法如下：
其中，p为目标对象第j次数据测量对应的获取历史数据的序号，a为目标对象第j次数据测量对应的获取历史数据的总次数。
上述方案中，在特殊情况下（如疫情）不能去现场进行数据测量和校准，但是目标对象可以保留不同时间的实际测量值，进一步来获取目标对象第j次数据的实际测量值N j ；实际测量值N j 与对应的修正量之和来获得j次数据应该校准的理论值Mj。
实施例二：
本发明实施例二提供了一种电子设备老化的数据校准系统，包括如下模块：
修正模块一：用于获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并根据第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
修正模块二：用于根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得对标对象第j 次数据的修正量L j ，其中，i>j；
计算模块：用于根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j 。
进一步地，修正模块二还用于：
根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
进一步地，修正模块二中还用于计算修正量L j ：
进一步地，修正模块二还用于：
所述第j次数据的修正量L j 为第j次数据历史修正量的加权均值；其中，第j次数据的历史修正量与第j次数据的历史加权系数λ j 形成一一对应。
进一步地，计算模块用于：
获取目标对象第j次数据的实际测量值N j ；
根据目标对象第j次数据的修正量L j 与第j次数据的实际测量值N j ，计算获得目标对象第j次数据的理论值M j 。
进一步地，计算模块中还用于计算理论值M j ：
其中，p为目标对象第j次数据测量对应的获取历史数据的序号，a为目标对象第j次数据测量对应的获取历史数据的总次数。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述系统和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
实施例三：
本发明第三方面提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述程序被执行时，用于实现上述的电子设备老化的数据校准方法。
图3示出了本申请实施例三提供的一种计算机可读存储介质的结构框图。该计算机可读存储介质1200中存储有程序代码1210，所述程序代码1210可被处理器调用执行上述方法实施例中所描述的方法。
计算机可读存储介质1200可以是诸如闪存、EEPROM（电可擦除可编程只读存储器）、EPROM（可擦除可编程只读存储器）、硬盘或者ROM之类的电子存储器。可选地，计算机可读存储介质1200包括非易失性计算机可读存储介质（non-transitory computer-readablestorage medium）。计算机可读存储介质1200具有执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码1210的存储空间。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读取或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。程序代码1210可以例如以适当形式进行压缩。
实施例四：
本发明第四方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现上述的电子设备老化的数据校准方法。
图4为本申请实施四提供的一种电子设备1100的结构框图。本申请中的电子设备1100可以包括一个或多个如下部件：存储器1110、处理器1120、以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序可以被存储在存储器1110中并被配置为由一个或多个处理器1120执行，一个或多个程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。
存储器1110可以包括随机存储器（Random Access Memory, RAM），也可以包括只读存储器（Read-Only Memory,ROM）。存储器1110可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1110可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令（比如直方图均衡化功能等）、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储电子设备1100在使用中所创建的数据（比如图像矩阵数据等）。
处理器1120可以包括一个或者多个处理核。处理器1120利用各种接口和线路连接整个电子设备1100内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1110内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器1110内的数据，执行电子设备1100的各种功能和处理数据。可选地，处理器1120可以采用数字信号处理（Digital Signal Processing, DSP）、现场可编程门阵列（Field－Programmable Gate Array, FPGA）、可编程逻辑阵列（Programmable Logic Array, PLA）中的至少一种硬件形式来实现。处理器1120可集成中央处理器（Central Processing Unit, CPU）和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统和应用程序等；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器1120中，单独通过一块通信芯片进行实现。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种电子设备老化的数据校准方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S100：获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并计算第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
步骤S200：根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得目标对象第j 次数据的修正量L j ，其中，i>j；
步骤S300：根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j ；
步骤S200还包括：
步骤S210：根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
步骤S220：根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
2.如权利要求1所述的数据校准方法，其特征在于，步骤S220包括：
3.如权利要求2所述的数据校准方法，其特征在于，步骤S220还包括：
所述第j次数据的修正量L j 为第j次数据历史修正量加权均值；其中，第j次数据的历史修正量与第j次数据的历史加权系数λ j 形成一一对应。
4.如权利要求1所述的数据校准方法，其特征在于，步骤S300还包括：
获取目标对象第j次数据的实际测量值N j ；
根据目标对象第j次数据的修正量L j 与第j次数据的实际测量值N j ，计算获得目标对象第j次数据的理论值M j 。
5.如权利要求4所述的数据校准方法，其特征在于，步骤S300的计算方法如下：
其中，p为目标对象第j次数据测量对应的获取数据的序号，a为目标对象第j次数据测量对应的获取数据的总次数。
6.一种电子设备老化的数据校准系统，其特征在于，包括如下模块：
修正模块一：用于获取目标对象第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i ，并计算第i次数据的理论值M i 和实际测量值N i 之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L i ；
修正模块二：用于根据目标对象第i次数据的修正量L i 、计算获得目标对象第j次数据的修正量L j ，其中，i>j；
计算模块：用于根据目标对象第j次数据的修正量L j ，计算第j次的理论值M j ；
修正模块二还用于：
根据目标对象的失效率曲线，获取目标对象第i次的对应的失效率S i 和第j次对应的失效率S j ；
根据目标对象获得的第i次的修正量L i 和第i次的失效率S i ，以及第j次的失效率S j ，计算获得第j次的修正量L j 。
7.一种可读存储介质，其特征在于，用于存储程序，所述程序被执行时，用于实现如权利要求1-5任一项所述的电子设备老化的数据校准方法。
8.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电子设备老化的数据校准方法。
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