CN115309464A - 闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及非易失性存储器技术领域，具体公开了一种闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质；其中，验证方法包括以下步骤：在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至所述目标状态机运行结束，所述目标状态机为待验证挂起功能的状态机；该验证方法通过基于时钟变化并根据预设时间间隔在目标状态机运行过程中执行多次挂起及恢复指令，即将挂起及恢复指令均匀覆盖在目标状态机的整个运行过程，实现了对整个目标状态机运行的过程的完备验证。

Description

闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质

技术领域

本申请涉及非易失性存储器技术领域，具体而言，涉及闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质。

背景技术

挂起（suspend）指令是非易失性存储器的一种常见指令，但是要确保该功能正常，需要进行大量的专项验证。

现有的挂起功能的验证方法，一般是通过在相应挂起功能可插入运行的算法中的每一个流程状态发送挂起指令，然后根据对应的状态跳转和算法操作获取的仿真结果来验证芯片挂起功能是否正常。

在算法过程中，对每一个流程状态发送挂起（suspend），闪存芯片都会进行不同的状态跳转和算法操作，而且在同一个算法中不同时刻发送挂起指令也可能产生不同的状态跳转和算法操作，所以现有的验证方法即使验证成功，也会由于发送时间的不同存在验证疏漏，难以确保挂起功能在使用期间能正常使用。

针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。

发明内容

本申请的目的在于提供闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。

第一方面，本申请提供了一种闪存芯片挂起功能的验证方法，方法包括以下步骤：

在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至目标状态机运行结束，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

检查闪存芯片的运行结果。

本申请通过根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，将执行挂起功能均匀覆盖在目标状态机的整个运行过程，基于操作命令容易在时钟变化下出现问题，将挂起及恢复指令基于时钟变化进行发送，来验证操作命令在该目标状态机下的挂起功能，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。

可选地，本申请的闪存芯片挂起功能的验证方法，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令的步骤包括：

基于时钟的上升沿和/或下降沿，在目标状态机运行期间根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令。

本申请在时钟上升沿和/或下降沿发送挂起及恢复指令，能更加准确地验证挂起功能，因为在闪存芯片执行挂起操作时，在时钟的上升沿和下降沿很容易出错。

可选地，本申请的闪存芯片挂起功能的验证方法，操作命令包括若干个目标状态机。

本申请通过验证操作命令在多个目标状态机阶段中的挂起功能，能节省时间和提高验证效率。

可选地，本申请的闪存芯片挂起功能的验证方法，目标状态机为闪存芯片中最底层命令的算法状态机。

可选地，本申请的闪存芯片挂起功能的验证方法，预设时间间隔为半个以上的时钟周期。

可选地，发送挂起及恢复指令的步骤包括：

发送挂起指令，并在预设恢复间隔后发送恢复指令。

可选地，本申请的闪存芯片挂起功能的验证方法，在目标状态机运行期间，在时钟出现上升沿时发送挂起及恢复指令。

第二方面，本申请还提供闪存芯片挂起功能的验证装置，装置包括：

发送模块，用于在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至所述目标状态机运行结束，所述目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

检查模块，用于检查所述闪存芯片的运行结果。

本申请的闪存芯片挂起功能的验证装置，通过基于时钟变化并根据预设时间间隔在目标状态机运行期间多次执行挂起及恢复指令，即将挂起及恢复指令平均覆盖整个目标状态机的运行过程，实现了对整个目标状态机运行的过程的完备验证。

第三方面，本申请还提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，存储器存储有计算机可读取指令，当计算机可读取指令由处理器执行时，运行如上述第一方面提供的方法中的步骤。

第四方面，本申请提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时运行如上述第一方面提供的方法中的步骤。

由上可知，本申请提供了一种闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质，其中，方法通过根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，将执行挂起功能均匀覆盖在目标状态机的整个运行过程，基于操作命令容易在时钟变化下出现问题，将挂起及恢复指令基于时钟变化进行发送，来验证操作命令在该目标状态机下的挂起功能，提高对闪存芯片挂起功能验证的完备性。

附图说明

图1为本申请实施例提供的闪存芯片挂起功能方法的一种流程图。

图2为本申请实施例提供的闪存芯片挂起功能装置结构示意图。

图3为本申请实施例提供的电子设备结构示意图。

附图标记：201、发送模块；202、检查模块； 31、处理器；32、存储器；33、通信总线。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

第一方面，如图1所示，本申请提供了一些实施例的闪存芯片挂起功能的验证方法，该方法包括以下步骤：

S1、在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至目标状态机运行结束，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

S2、检查闪存芯片的运行结果。

具体地，操作命令可以是擦除、编程或读取等；操作命令是按照时序切换的状态机来实现执行的。

具体地，目标状态机是需要验证的状态机，一般而言，操作命令在执行挂起及恢复指令后出错的情况主要集中在某些状态机上；其中，目标状态机一般是基于执行挂起功能时出错较多的状态机、或是对挂起功能验证完备性要求较高的状态机、或是涉及多个状态跳转的状态机等等来选定的。

具体地，挂起及恢复指令包括挂起指令和恢复指令，两者为配套使用的指令，在执行挂起功能时会暂停当前的操作命令，并在执行恢复指令后，继续执行该操作命令。

具体地，验证挂起功能实际上是验证目标状态机进行挂起及恢复指令处理之后闪存芯片运行有没有出现不正常的跳转或是有没有出现卡死的情况，以确保挂起功能能正常操作。

具体地，芯片自身执行操作命令是依赖时钟变化进行的，一般情况下操作命令在时钟变化的时机下执行挂起功能更容易出错，当操作命令运行至目标状态机时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令的过程是根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，使得目标状态机运行的整个过程中按照预设时间间隔均匀地发送了多个挂起及恢复指令，使得挂起及恢复指令的发送时机均匀覆盖了目标状态机的整个运行过程，将挂起及恢复指令基于时钟变化进行发送，使得挂起及恢复指令的发送时机与时钟变化的时机重合，即在容易出错的情况下执行挂起功能，实现了对整个目标状态机运行的过程的完备验证。

具体地，应当理解的是，本申请实施例的方法通过监控闪存芯片执行挂起及恢复指令前后算法的跳转情况，或基于闪存芯片运行生成的log数据，或基于闪存芯片执行挂起及恢复指令前后电压的变化情况，或通过外部连接的逻辑分析仪进行逻辑分析来检查闪存芯片的运行结果，判断挂起及恢复指令是否正常执行，即验证挂起功能是否正常。

更具体地，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令优选为在目标状态机运行过程中基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，即仅以目标状态机实际运行时间计算时间间隔，确保挂起及恢复指令的发送时机均匀覆盖在目标状态机运行的各个时间段。

本申请通过根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，将执行挂起功能均匀覆盖在目标状态机的整个运行过程，基于操作命令容易在时钟变化下出现问题，将挂起及恢复指令基于时钟变化进行发送，来验证操作命令在该目标状态机下的挂起功能，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。

在一些优选的实施方式中，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令的步骤包括：

基于时钟的上升沿和/或下降沿，在目标状态机运行期间根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令。

具体地，由实际经验可得，闪存芯片在执行挂起操作时，一般是在时钟的上升沿和下降沿更容易出错，所以按照预设时间间隔触发挂起及恢复指令，而且触发的时间恰好为时钟的上升沿和/或下降沿，能更准确的验证挂起功能。

在一些优选的实施方式中，操作命令包括若干个目标状态机。

具体地，目标状态机需要根据验证设定，当一个操作命令中包含多个目标状态机时，可以一次性执行一次操作命令完成对多个目标状态机进行对应的挂起功能的验证；也可以是分开执行多次操作命令来分别验证不同目标状态机对应的挂起功能；其中，优选为前者，通过执行一次操作命令对多个目标状态机进行验证，可节省时间和提高验证效率。

具体地，多个目标状态机可以是连续的，也可以是不连续的。

在一些优选的实施方式中，目标状态机为闪存芯片中最底层命令的算法状态机。

具体地，最底层命令算法状态机主要包括空闲（idle）、发送指令（cmd）、发送地址（addr）、发送dummy（dummy，哑写）、发送数据（data）及接收数据（rdata）共五个状态；操作命令均能由上述的最底层命令算法状态机组成。

具体地，根据状态机的分布，越底层的状态机类型最多，一个操作命令包含多层状态机，上层状态机由底层状态机进行触发的，也就是说明底层状态机是否正常运行决定了上层状态机是否能正常运行，所以利用底层命令的算法状态机作为目标状态机验证挂起功能的目标对象，能更加准确的验证挂起功能。

在一些优选的实施方式中，预设时间间隔为半个以上的时钟周期。

具体地，半个时钟周期是包含上升沿和下降沿的最小时钟间隔，当预设时间间隔为半个时钟周期时，操作命令运行至目标状态机时触发挂起及恢复指令且是第一个时钟的上升沿，再根据经过半个时钟周期后执行挂起及恢复指令，即在时钟的下降沿再执行挂起及恢复指令，再经过半个时钟周期后再执行挂起及恢复指令，即在时钟的上升沿执行挂起及恢复指令，将预设时间间隔设为半个时钟周期可以对所有时钟变化的时机进行验证，提高了验证完备性。

具体地，本申请预设时间间隔优选为一个时钟周期，当操作命令运行至目标状态机时，若在第一个时钟的上升沿或下降沿触发挂起及恢复指令，经过一个时钟周期后，在第二个时钟的上升沿或下降沿发送挂起及恢复指令。

在一些优选的实施方式中，发送挂起及恢复指令的步骤包括：

发送挂起指令，并在预设恢复间隔后发送恢复指令。

具体地，预设恢复间隔为闪存芯片执行挂起指令所需的时间，在完成挂起指令之后发送恢复指令；在实际运行中，预设恢复间隔可能为很长的一段时间，本申请通过设置预设恢复间隔是为了提高验证效率，以最小的恢复时间来验证挂起功能。

在一些优选的实施方式中，在目标状态机运行期间，在时钟出现上升沿时发送挂起及恢复指令。

具体地，由实际经验可知，芯片运行是基于上升沿发送指令或者触发状态机切换的，因此在这两种情况下最容易出现问题，所以在目标状态机出现上升沿时发送挂起及恢复指令，更能准确验证挂起功能。

具体地，本申请更优选为预设时间间隔为一个时钟周期，且在目标状态机运行期间，从出现的第一个上升沿开始触发挂起及恢复指令，经过一个时钟周期再触发挂起及恢复指令，即是在目标状态机运行中的每个上升沿都进行发送挂起及恢复指令来验证挂起功能，因为状态跳转一般是基于上升沿触发的，在上升沿更容易出现问题，所以验证出现上升沿时的挂起功能即可；本申请通过在目标状态机运行期间，在时钟出现上升沿时发送挂起及恢复指令，达到在保证验证完备性的同时也节省资源的效果。

在一些优选的实施方式中，还包括执行于步骤S1之后的步骤：

S3、在目标状态机运行结束时，终止操作命令的运行。

具体地，可以是在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令之后，直接终止操作命令的运行；还可以是在检查闪存芯片的运行结果之前，终止操作命令的运行。

具体地，在目标状态机运行期间完成了验证挂起功能，在目标状态机运行结束时，终止运行当前的操作命令以减少操作量。

以下，本申请将提供具体的实施例来说明本申请的技术方案：

操作命令基于时钟指令变化运行，预设时间间隔Δt为一个时钟周期，且以上升沿进行触发挂起及恢复指令，来验证所有上升沿的挂起功能。

具体方法步骤如下：

闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行，操作命令是基于一个上升沿切换进入该目标状态机，在第一个上升沿发送挂起指令，在预设恢复间隔后发送恢复指令，操作命令继续运行，等待下一个时钟上升沿时（即目标状态机运行经过一个Δt）发送挂起及恢复指令，依次类推，直到该目标状态机运行结束，则停止发送挂起及恢复指令，并检查闪存芯片的运行结果。

第二方面，如图2所示，为本申请实施例的闪存芯片挂起功能的验证装置结构示意图，装置包括：

发送模块201，用于在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至目标状态机运行结束，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

检查模块202，用于检查闪存芯片的运行结果。

本申请实施例提出的闪存芯片挂起功能的验证装置，通过根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，将执行挂起功能均匀覆盖在目标状态机的整个运行过程，基于操作命令容易在时钟变化下出现问题，将挂起及恢复指令基于时钟变化进行发送，来验证操作命令在该目标状态机下的挂起功能，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。

具体地，通过发送模块201在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直到目标状态机运行结束，再通过检查模块202检查闪存芯片的运行结果。

在一些优选的实施例中，本申请实施例提出的闪存芯片挂起功能的验证装置还包括：

终止模块，用于在目标状态机运行结束时，终止操作命令的运行。

在一些优选的实施方式中，优选采用上述第二方面提供的闪存芯片挂起功能的验证装置执行第一方面提供的闪存芯片挂起功能的验证方法。

第三方面，参照图3，图3所示为本申请提供的一种电子设备，包括：处理器31和存储器32，处理器31和存储器32通过通信总线33和/或其他形式的连接机构（未标出）互连并相互通讯，存储器32存储有处理器31可执行的计算机程序，当电子设备运行时，处理器31执行该计算机程序，以执行上述实施例的任一项可选的实现方式，以实现以下功能：在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至目标状态机运行结束，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；检查闪存芯片的运行结果。

第四方面，本申请提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器31执行时，执行上述实施例的任一项可选的实现方式中的方法，以实现以下功能：在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至目标状态机运行结束，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；检查闪存芯片的运行结果。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至所述目标状态机运行结束，所述目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

检查所述闪存芯片的运行结果。

2.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于，所述基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令的步骤包括：

基于所述时钟的上升沿和/或下降沿，在所述目标状态机运行期间根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令。

3.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于，所述操作命令包括若干个所述目标状态机。

4.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于，所述目标状态机为所述闪存芯片中最底层命令的算法状态机。

5.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于,所述预设时间间隔为半个以上的时钟周期。

6.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于, 所述发送挂起及恢复指令的步骤包括：

发送挂起指令，并在预设恢复间隔后发送恢复指令。

7.根据权利要求1所述的闪存芯片挂起功能的验证方法，其特征在于, 在所述目标状态机运行期间，在所述时钟出现上升沿时发送挂起及恢复指令。

8.一种闪存芯片挂起功能的验证装置，其特征在于，所述装置包括：

发送模块，用于在闪存芯片执行一操作命令至目标状态机运行时，基于时钟变化并根据预设时间间隔发送挂起及恢复指令，直至所述目标状态机运行结束，所述目标状态机为待验证挂起功能的状态机；

检查模块，用于检查所述闪存芯片的运行结果。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。

10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时运行如权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。

Images