CN115275927A - 一种短路保护检测电路和电子产品 - Google Patents

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忻兰苑
刘斌
漆宇
朱武
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Abstract

本申请提供了一种短路保护检测电路和电子产品。在该短路保护检测电路中，检测电路对待保护的SIC器件的工作电流变化率进行检测，并将检测结果输出至判断电路；判断电路在根据检测电路的检测结果判断出SIC器件的工作电流变化率大于设定阀值时，输出过流信号至故障执行电路；故障执行电路根据过流信号对SIC器件进行短路保护。由于该短路保护检测电路中的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值，比如3us，进而确保该短路保护检测电路在该时长上限值以内就能识别短路故障并断开支路连接、确保SIC器件不会过热烧毁，也即该短路保护检测电路可以实现对SIC器件的可靠短路保护。

Description

一种短路保护检测电路和电子产品
技术领域
本发明涉及电力电子技术领域，特别是涉及一种短路保护检测电路和电子产品。
背景技术
与SI IGBT器件相比，SIC器件作为宽禁带半导体材料，其开关损耗更低、能承受更高的结温，从而可以减小相关无源器件的体积和重量，即可以实现电力电子装置的高频化和小型化。
但是，在承受短路时间方面，SI IGBT器件一般可以承受10us，而SIC器件只能承受3us，因此SIC器件的短路特性是制约其大规模投入应用的关键因素。
所以，如何为SIC器件提供可靠的短路保护是目前亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种短路保护检测电路和电子产品，以实现对SIC器件的可靠短路保护。
为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：
本申请一方面提供一种短路保护检测电路，包括：检测电路、判断电路和故障执行电路；其中：
所述检测电路用于对待保护的SIC器件的工作电流变化率进行检测，并将检测结果输出至所述判断电路；
所述判断电路用于在根据所述检测结果判断出所述SIC器件的工作电流变化率大于设定阀值时，输出过流信号至所述故障执行电路；
所述故障执行电路用于根据所述过流信号对所述SIC器件进行短路保护；
并且，所述短路保护检测电路的总响应时间小于所述SIC器件的短路承受时长上限值。
可选的，所述检测电路的响应时间小于所述第一预设时间，所述判断电路的响应时间小于所述第二预设时间，所述故障执行电路的响应时间小于第三预设时间；
所述第一预设时间、所述第二预设时间和所述第三预设时间之和，小于所述短路承受时长上限值。
可选的，所述检测电路通过检测与所述SIC器件相连的主电路中的杂散电感的两端电压，来检测所述SIC器件的工作电流变化率。
可选的，所述检测电路，包括：差分检测电路；其中：
所述差分检测电路的两个输入端分别连接于所述杂散电感的两端；所述差分检测电路的输出端与所述检测电路的输出端相连；所述差分检测电路用于对所述杂散电感的两端电压进行差分检测，生成并输出所述检测结果；
所述差分检测电路的响应时间小于第四预设时间，所述第四预设时间小于所述第一预设时间。
可选的，所述差分检测电路，包括：第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；其中：
所述第一运算放大器的同向输入端，通过所述第一电阻连接于所述差分检测电路的高电位输入端，并通过所述第二电阻接参考地；
所述第一运算放大器的反相输入端，通过所述第三电阻连接于所述差分检测电路的低电位输入端，并通过所述第四电阻接参考地和所述第一运算放大器的输出端；
所述第一运算放大器的输出端与所述判断电路的输入端相连；
所述第一运算放大器的响应时间小于所述第四预设时间。
可选的，所述差分检测电路，还包括：防反二极管；其中：
所述防反二极管设置于所述第四电阻与参考地之间；
所述防反二极管的正极接参考地，所述防反二极管的负极与所述第四电阻相连。
可选的，所述检测电路，还包括：比例放大电路；其中：
所述比例放大电路设置于所述差分检测电路的输出端与所述检测电路的输出端之间；所述比例放大电路用于对所述差分检测的结果进行比例放大后再作为所述检测结果；
所述比例放大电路的响应时间小于第五预设时间，所述第五预设时间与所述第四预设时间之和小于等于所述第一预设时间。
可选的，所述比例放大电路，包括：第二运算放大器、第五电阻、第六电阻和第七电阻；其中：
所述第二运算放大器的同向输入端通过所述第五电阻与所述比例放大电路的输入端相连；
所述第二运算放大器的反向输入端，通过所述第六电阻接参考地，并通过所述第七电阻连接所述第二运算放大器的输出端；
所述第二运算放大器的输出端与所述比例放大电路的输出端相连；
所述第二运算放大器的响应时间小于所述第五预设时间。
可选的，所述判断电路，包括：比较器；其中：
所述比较器的正相输入端作为所述判断电路的输入端；所述比较器的反相输入端与电参数表征所述设定阀值的基准模块相连；所述比较器的输出端作为所述判断电路的输出端；所述比较器用于当接收到的所述检测结果大于所述电参数时，输出所述过流信号；
所述比较器的响应时间小于所述第二预设时间。
可选的，还包括：RC滤波器；其中：
所述RC滤波器设置于所述检测电路的输出端和所述判断电路的输入端之间；
所述RC滤波器用于对所述检测结果进行滤波后再将其输出至所述判断电路。
可选的，当所述检测电路、所述判断电路和所述故障执行电路的响应时间均小于各自对应的预设时间时，所述RC滤波器的响应时间小于第六预设时间；
并且，所述检测电路、所述判断电路和所述故障执行电路各自对应的预设时间以及所述第六预设时间的总和小于所述短路承受时长上限值。
可选的，所述RC滤波器，包括：滤波电阻和滤波电容；其中：
所述滤波电阻的一端与所述检测电路的输出端相连；所述滤波电阻的另一端与所述滤波电容的一端相连，连接点与所述判断电路的输入端相连；
所述滤波电容的另一端接参考地；
所述滤波电阻和所述滤波电容的总响应时间小于所述第六预设时间。
可选的，所述故障执行电路集成为处理芯片。
本申请另一方面提供一种电子产品，包括：至少一个SIC器件以及与其相对应的如本申请上一方面任一项所述的短路保护检测电路。
可选的，所述SIC器件为SIC MOS管。
由上述技术方案可知，本发明提供了一种短路保护检测电路，在该短路保护检测电路中，检测电路对待保护的SIC器件的工作电流变化率进行检测，并将检测结果输出至判断电路；判断电路在根据检测电路的检测结果判断出SIC器件的工作电流变化率大于设定阀值时，输出过流信号至故障执行电路；故障执行电路根据过流信号对SIC器件进行短路保护。由于该短路保护检测电路中的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值，比如3us，进而确保该短路保护检测电路在该时长上限值以内就能识别短路故障并断开支路连接、确保SIC器件不会过热烧毁，也即该短路保护检测电路可以实现对SIC器件的可靠短路保护。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请提供的短路保护检测电路与SIC器件的主电路的连接示意图；
图2-图8分别为本申请提供的短路保护检测电路的七种结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
为了实现对SIC器件的可靠短路保护，本申请实施例提供一种短路保护检测电路，其具体结构可参见图1，包括：检测电路10、判断电路20和故障执行电路30。
在该短路保护检测电路中，检测电路10对待保护的SIC器件的工作电流变化率dId/dt进行检测，并将检测结果输送至判断电路20；判断电路20对检测电路10的检测结果判断，当判断出检测电路10的检测结果，即SIC器件的工作电流变化率dId/dt，大于设定阀值时，输出过流信号至故障执行电路30；控制故障执行电路30则根据该过流信号对SIC器件进行短路保护。
可选的，SIC器件可以为SIC-MOS管；在实际应用中，包括但不限定于此实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内；并且，SIC MOS管可以为NMOS管，如图1中的N1，在实际应用中，包括但不限定于此实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
具体而言，如图1所示，在实际应用中，在NMOS管M1的漏极D上存在等效电感，如图1中的Ld；在NMOS管M1的栅极G上存在等效电感和等效电阻，如图1中的Lg和Rg；NMOS管M1包括第一源极S和第二源极N，第一源极S连接弱电器件，比如驱动板，第二源极N连接强电器件，比如主电路01，同样在NMOS管M1的两个源极上存在等效电感，如图1中的L1、L2和L3所示，其连接关系如图1所示，此处不再赘述。
需要说明的是，故障执行电路30通常集成为处理芯片，并且对SIC器件进行短路保护通常为：对SIC器件进行软关断；在实际应用中，包括但不限于此实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
并且，该短路保护检测电路的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值，当该短路保护检测电路包括：检测电路19、判断电路20和故障执行电路30时，检测电路10、判断电路20和故障执行电路30的总响应时间小于SIC器件短路承受时长上限值。
由于该短路保护检测电路中的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值，比如3us，进而确保该短路保护检测电路在该时长上限值以内就能识别短路故障并断开支路连接、确保SIC器件不会过热烧毁，也即该短路保护检测电路可以实现对SIC器件的可靠短路保护。
本实施例提供该短路保护检测电路的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值的一种实现方式，具体为：
检测电路10的响应时间小于第一预设时间、判断电路20的响应时间小于第二预设时间以及故障执行电路30的响应时间小于第三预设时间；并且，第一预设时间、第二预设时间和第三预设时间之和小于SIC器件的短路承受时长上限值，即将总的时间限值分别分配给检测电路10、判断电路20和故障执行电路30，当短路保护检测电路内部的各个器件的响应时间满足自身的响应要求时，短路保护检测电路整体的总响应时间也能够满足自身的响应要求，即小于SIC器件的短路承受时长上限值。
上述仅为短路保护检测电路的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值的一种实现方式，在实际应用中，但不限于上述实施方式，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
其中，检测SIC器件的工作电流变化率dId/dt的优选实施方式为：如图1所示，检测电路10检测与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L(图1中主电路01只示出杂散电感L，其它器件均未示出)的两端电压；
上述仅为检测SIC器件的工作电流变化率dId/dt的优选实施方式，在实际应用中，包括但不限于此优选实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
在此优选实施方式的基础上，本申请实施例提供检测电路10的一种具体实施方式，以对与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L的两端电压进行检测，其具体结构如图2所示，包括：差分检测电路11。
差分检测电路11的两个输入端分别连接于与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L(图2中主电路01只示出杂散电感L，其它器件均未示出)的两端，即高电势端和低电势端，差分检测电路11的输出端与检测电路10的输出端相连，用于对与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L的两端电压进行差分检测，生成并输出检测电路10的检测结果；此时差分检测的结果即为检测电路的检测结果，等于杂散电感的高电势端的电压与其低电势端的电压之差。
并且，由于检测电路10的该实施方式中只包括差分检测电路11，所以可以通过设置差分检测电路11的响应时间小于第四预设时间，而第四预设时间小于第一预设时间，来实现检测电路10的响应时间小于第一预设时间。
需要说明的是，利用差分检测电路11不仅可以实现对与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L的两端电压的检测，同时还可以加强检测电路10的共模抑制能力。
在上述检测电路10的实施方式的基础上，本实施例提供差分检测电路11的一种具体实施方式，其具体结构如图2所示，包括：第一运算放大器N1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4。
第一运算放大器N1的同向输入端通过第一电阻R1连接于差分检测电路11的高电位输入端，与主回路杂散电感L的高电势端相连；并且第一运算放大器N1的同向输入端还通过第二电阻R2接参考地。
第一运算放大器N1的反相输入端通过第三电阻R3连接于差分检测电路11的低电位输入端，与主回路杂散电感L的低电势端相连；并且第一运算放大器N1的反相输入端通过第四电阻R4接参考地。
第一运算放大器N1的输出端与判断电路20的输入端相连；并且，由于电阻不存在响应时间，所以通过设置第一运算放大器N1的响应时间小于第四预设时间，来实现检测电路10的响应时间小于第一预设时间；其中，第一运算放大器N1的响应时间通常为几百ns。
以图2中的差分检测电路11为例，差分检测电路11的两个输入端之间的电压VAB＝VA-VB＝L1×dId/dt，其中，VA为杂散电感L高电势端的电位，VB为杂散电感L低电势端的电位；L1为杂散电感L的电感值；dId/dt为杂散电感L上电流变化率，也为SIC器件的工作电流变化率。
若第一电阻R1的阻值r1与第三电阻R3的阻值r3相等，且，第二电阻R2的阻值r2等于第四电阻R4的阻值r4，则差分检测电路11的输出端的电压V1＝r2/r1×VAB＝r2/r1×(VA-VB)。
上述仅为差分检测电路11的一种具体实施方式，在实际应用中，包括但不限于上述实施方式，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
本申请实施例还提供差分检测电路11的另一种实施方式，其具体结构如图3所示，在上述检测电路10的实施方式的基础上，还包括：防反二极管Z。
在该实施方式中，防反二极管Z设置于第四电阻R4与参考地之间，并且，防反二极管Z的正极接参考地，防反二极管Z的负极与第四电阻R4相连，以起到防止电流倒流和钳制负压的作用。
优选的，参考地为SIC器件所在电子产品的驱动板地，在实际应用中，包括但不限于上述实施例，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
本实施例再提供一种检测电路10的实施方式，其具体结构如图4所示，在上述检测电路10的实施方式的基础上，还包括：比例放大电路40。
在检测电路10的此实施方式中，比例放大电路40设置于差分检测电路11的输出端与检测电路10的输出端之间，用于对差分检测的结果进行比例放大后再作为检测电路10的检测结果。
由于此时检测电路10包括差分检测电路和比例放大电路40，所以在设置差分检测电路11的响应时间小于第四预设时间的基础上，可以通过设置比例放大电路40的响应时间小于第五预设时间以及第五预设时间和第四预设时间小于等于第一预设时间，来实现检测电路10的响应时间小于第一预设时间。
需要说明的是，在差分检测电路11的输出端和检测电路10的输出端的输出端之间设置比例放大电路40，可以减少检测电路10的输出误差，从而减少判断电路20误判的可能性，从而提高对SIC器件的短路保护的可靠性。
本申请另一实施例提供比例放大电路40的一种具体实施方式，其具体结构如图5所示，包括：第二运算放大器N3、第五电阻R5、第六电阻R6和第七电阻R7。
第二运算放大器N3的同向输入端通过第五电阻R5与比例放大电路40的输入端相连，第二运算放大器N3的反向输入端通过第六电阻R6接参考地，并通过第七电阻R7连接第二运算放大器N3的输出端；第二运算放大器N3的输出端与比例放大电路40的输出端相连。
在该比例放大电路40的实施方式中，其输出端电压V2＝V1×(1+r7/r6)＝r2/r1×(VA-VB)×(1+R7/R6)，其中，r6为第六电阻R6的阻值，r7为第七电阻R7的阻值，V1为差分检测电路11的输出端的电压，VA为杂散电感L高电势端的电位，VB为杂散电感L低电势端的电位。
由于电阻不存在响应时间，所以可以通过设置第二运算放大器N3的响应时间小于第五预设时间，来实现比例放大电路40的响应时间小于第五预设时间；其中，第二运算放大器N3的响应时间通常为几百ns。
优选的，参考地为SIC器件所在电子产品的驱动板地，在实际应用中，包括但不限于上述实施例，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
上述仅为比例放大电路40的一种具体实施方式，在实际应用中，包括但不限定于上述优选实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
本实施例仅提供检测电路10的三种具体实施方式，在实际应用中，包括但不限于上述实施方式，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
在上述实施例的基础上，本申请实施例提供判断电路20的一种具体实施方式，其具体结构如图6所示，包括：比较器N2。
在该判断电路20的实施方式中，比较器N2的正相输入端作为判断电路20的输入端；比较器N2的反相输入端与电参数表征设定阀值的基准模块21相连；比较器N2的输出端作为判断电路20的输出端。
其中，当检测电路10通过检测与SIC器件相连的主电路01中的杂散电感L的两端电压来检测SIC器件的工作电流变化率dId/dt时，基准模块21的用来表征设定阀值的电参数为基准电压REF，如图6所示，即若比较器N2接收到的电压大于基准电压REF，则表明SIC器件的工作电流变化率dId/dt大于设定阀值，从而向故障执行电路30发送过流信号，以控制故障执行电路30对SIC器件进行短路保护。
由于在该判断电路20的实施方式中，只包括比较器N2，所以可通过设置比较器N2的响应时间小于第二预设时间，来实现判断电路20的响应时间小于第二预设时间；其中，比较器N2的响应时间通常为几百ns。
上述仅为判断电路20的一种优选实施方式，在实际应用中，包括但不限定于此优选实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
本申请另一实施例还提供短路保护检测电路的另一种实施方式，其具体结构如图7所示，在上述实施方式的基础上，还包括：RC滤波器50。
在短路保护检测电路中，RC滤波器50设置于检测电路10的输出端和判断电路20的输入端之间，用于对检测电路10的检测结果进行滤波后再将其输出至判断电路20。
由于短路保护检测电路的该实施方式包括检测电路10、判断电路20、故障执行电路30以及RC滤波器50，而RC滤波器存在相应时间，所以在上述短路保护检测电路的总响应时间小于SIC器件的短路承受时长上限值的实现方式的基础上，还包括：RC滤波器的响应时间小于第六预设时间，并且，第一预设时间、第二预设时间、第三预设时间以及第六预设时间的总和小于SIC器件的短路承受时长上限值。
需要说明的是，在检测电路10的输出端和判断电路20的输入端之间设置RC滤波器50，可以减少由信号波动造成的误动作的发生，从而可以提高对SIC器件的短路保护的可靠性。
本实施例提供RC滤波器50的一种具体实施方式，其具体结构如图8所示，包括：滤波电阻R8和滤波电容C1。
滤波电阻R8的一端与检测电路10的输出端相连，滤波电阻R8的另一端与滤波电容C1的一端相连，连接点与判断电路20的输入端相连，滤波电容C1的另一端接参考地。
由于滤波电阻R8和滤波电容C1均存在响应时间，所以可以通过设置滤波电阻R8和滤波电容C1的响应时间之和小于第六预设时间，来实现RC滤波器50的响应时间小于第六预设时间。
优选的，参考地为SIC器件所在电子产品的驱动板地，在实际应用中，包括但不限于上述实施例，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
上述仅为RC滤波器50的一种实施方式，在实际应用中，包括但不限于上述实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
本实施例只提供了短路保护检测电路的一种具体实施方式，在实际应用中，包括但不限于上述实施方式，此处不做具体限定，可视具体情况而定，均在本申请的保护范围内。
本申请实施例提供一种电子产品，包括：至少一个SIC器件以及与其对应的如上述各实施例提供的短路保护检测电路。
可选的，SIC器件为SIC MOS管，在实际应用中，包括但不限于此实施方式，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内；并且，SIC MOS管可以为NMOS管，在实际应用中，包括但不限于此实施方式，可视具体情况而定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
在该电子产品中，一个短路保护检测电路与一个SIC器件对应，当检测到该SIC器件的工作电流变化率dId/dt大于设定阀值时，对该SIC器件进行短路保护。
或者，当至少两个SIC器件串联时，可以一个短路保护电路与串联的多个SIC器件对应，当检测到串联的多个SIC器件的工作电流变化率dId/dt大于设定阀值时，同时对串联的多个SIC器件进行短路保护。
上述仅为两种对应方式，在实际应用中，包括但不限于上述两种对应方式，可以根据实际需求进行设定，此处不做具体限定，均在本申请的保护范围内。
对所公开的实施例的上述说明，本说明书中各实施例中记载的特征可以相互替换或者组合，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (15)

1.一种短路保护检测电路，其特征在于，包括：检测电路、判断电路和故障执行电路；其中：
所述检测电路用于对待保护的SIC器件的工作电流变化率进行检测，并将检测结果输出至所述判断电路；
所述判断电路用于在根据所述检测结果判断出所述SIC器件的工作电流变化率大于设定阈值时，输出过流信号至所述故障执行电路；
所述故障执行电路用于根据所述过流信号对所述SIC器件进行短路保护；
并且，所述短路保护检测电路的总响应时间小于所述SIC器件的短路承受时长上限值。
2.根据权利要求1所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述检测电路的响应时间小于所述第一预设时间，所述判断电路的响应时间小于所述第二预设时间，所述故障执行电路的响应时间小于第三预设时间；
所述第一预设时间、所述第二预设时间和所述第三预设时间之和，小于所述短路承受时长上限值。
3.根据权利要求2所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述检测电路通过检测与所述SIC器件相连的主电路中的杂散电感的两端电压，来检测所述SIC器件的工作电流变化率。
4.根据权利要求3所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述检测电路，包括：差分检测电路；其中：
所述差分检测电路的两个输入端分别连接于所述杂散电感的两端；所述差分检测电路的输出端与所述检测电路的输出端相连；所述差分检测电路用于对所述杂散电感的两端电压进行差分检测，生成并输出所述检测结果；
所述差分检测电路的响应时间小于第四预设时间，所述第四预设时间小于所述第一预设时间。
5.根据权利要求4所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述差分检测电路，包括：第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；其中：
所述第一运算放大器的同向输入端，通过所述第一电阻连接于所述差分检测电路的高电位输入端，并通过所述第二电阻接参考地；
所述第一运算放大器的反相输入端，通过所述第三电阻连接于所述差分检测电路的低电位输入端，并通过所述第四电阻接参考地和所述第一运算放大器的输出端；
所述第一运算放大器的输出端与所述判断电路的输入端相连；
所述第一运算放大器的响应时间小于所述第四预设时间。
6.根据权利要求5所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述差分检测电路，还包括：防反二极管；其中：
所述防反二极管设置于所述第四电阻与参考地之间；
所述防反二极管的正极接参考地，所述防反二极管的负极与所述第四电阻相连。
7.根据权利要求4所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述检测电路，还包括：比例放大电路；其中：
所述比例放大电路设置于所述差分检测电路的输出端与所述检测电路的输出端之间；所述比例放大电路用于对所述差分检测的结果进行比例放大后再作为所述检测结果；
所述比例放大电路的响应时间小于第五预设时间，所述第五预设时间与所述第四预设时间之和小于等于所述第一预设时间。
8.根据权利要求7所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述比例放大电路，包括：第二运算放大器、第五电阻、第六电阻和第七电阻；其中：
所述第二运算放大器的同向输入端通过所述第五电阻与所述比例放大电路的输入端相连；
所述第二运算放大器的反向输入端，通过所述第六电阻接参考地，并通过所述第七电阻连接所述第二运算放大器的输出端；
所述第二运算放大器的输出端与所述比例放大电路的输出端相连；
所述第二运算放大器的响应时间小于所述第五预设时间。
9.根据权利要求3所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述判断电路，包括：比较器；其中：
所述比较器的正相输入端作为所述判断电路的输入端；所述比较器的反相输入端与电参数表征所述设定阀值的基准模块相连；所述比较器的输出端作为所述判断电路的输出端；所述比较器用于当接收到的所述检测结果大于所述电参数时，输出所述过流信号；
所述比较器的响应时间小于所述第二预设时间。
10.根据权利要求1-9任一项所述的短路保护检测电路，其特征在于，还包括：RC滤波器；其中：
所述RC滤波器设置于所述检测电路的输出端和所述判断电路的输入端之间；
所述RC滤波器用于对所述检测结果进行滤波后再将其输出至所述判断电路。
11.根据权利要求10所述的短路保护检测电路，其特征在于，当所述检测电路、所述判断电路和所述故障执行电路的响应时间均小于各自对应的预设时间时，所述RC滤波器的响应时间小于第六预设时间；
并且，所述检测电路、所述判断电路和所述故障执行电路各自对应的预设时间以及所述第六预设时间的总和小于所述短路承受时长上限值。
12.根据权利要求11所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述RC滤波器，包括：滤波电阻和滤波电容；其中：
所述滤波电阻的一端与所述检测电路的输出端相连；所述滤波电阻的另一端与所述滤波电容的一端相连，连接点与所述判断电路的输入端相连；
所述滤波电容的另一端接参考地；
所述滤波电阻和所述滤波电容的总响应时间小于所述第六预设时间。
13.根据权利要求1-9任一项所述的短路保护检测电路，其特征在于，所述故障执行电路集成为处理芯片。
14.一种电子产品，其特征在于，包括：至少一个SIC器件以及与其相对应的如权利要求1-13任一项所述的短路保护检测电路。
15.根据权利要求14所述的电子产品，其特征在于，所述SIC器件为SIC MOS管。
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