CN115270250B - 基于bim的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质，该方法包括：基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置；当存在剖切位置时，根据所述剖切位置生成第二基础详图；将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；对比SP1、SP2，得到基础轮廓之间的差异；对比SC1、SC2，得到垫层轮廓之间的差异。该方法有助于在基础详图设计修改完毕后，基于BIM平台，实现校审，可指出基础详图中垫层、轮廓的变更信息，有效的避免了基础剖断面与相应基础详图的不一致性，提高校审人员的工作效率。

Description

基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质
技术领域
本发明属于BIM应用技术领域，涉及应用于建筑工程结构施工图智能设计，特别涉及一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质。
背景技术
BIM(Building Information Modeling)具有三维可视化，协调性，模拟性，优化性和可出图性等特点，BIM中的所有结构构件都是三维实体，提供的信息量完整，且三维显示直观并可实时观察，BIM的全面应用将大大提高建筑工程的信息化程度，对建筑业科技进步产生巨大影响。
当前基础复杂节点区域的剖面大样配筋图的校审工作仍依赖人工核检，这种校审方法需要校审人员对大样详图和平面上的大样剖断位置仅仅一一比对，工作量大且繁琐，效率比较低，出错率高，因此有必要基于BIM技术，利用BIM模型中完备的信息，对大样图和相应的剖断位置进行自动核查，提升基础大样详图校审的工作效率。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质，该方法充分利用BIM结构模型信息，自动完成基础大样详图的校审工作，以力图解决或有效缓解上面提到的问题。
为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：
第一方面，本发明提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，包括：
基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；
对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；
对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
进一步地，所述单个基础详图检查的步骤包括：
S101、从基础详图中提取所有剖断线图元，构成剖断线图元集合；提取所有多义线图元，构成多义线图元集合；
S102、遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元，判断其所属类别；所述类别包括：水平剖断线和竖直剖断线；根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；
S103、选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值，得到垫层的边界点；根据所述垫层的两个边界点，搜索出垫层轮廓线，组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点集；
S104、移除所述垫层轮廓线的多义线集合，形成基础轮廓线集合，组合轮廓线的两个端点得到有序的基础轮廓点集。
进一步地，还包括：
当不存在所述剖切位置P1时，发出无剖切位置的警告信息。
进一步地，所述S102步骤中，遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元，判断其所属类别，包括：
遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元；
根据所述剖断线图元的两个控制点的连线与水平线夹角进行判断其类别；当夹角为0时，则所述剖断线图元为水平剖断线；当夹角为90°时，则所述剖断线图元为竖直剖断线。
进一步地，所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；包括：
根据所述剖断线图元为水平剖断线时，确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、Pt2和交线L1、L2；
将所述交线L1、L2从所述多义线集合中删除；
添加L1、L2与其余线共享的端点直接的连线到所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合。
进一步地，所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；还包括：
根据所述剖断线图元为竖直剖断线时，确定其与所述多义线集合的所有交点，排序序后依次连线，并添加入所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合。
进一步地，所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；还包括：
当所述剖断线图元确定其与所述多义线集合，均不存在交点时，则所述基础详图为非法，并发出所述剖断线图元与基础轮廓不相交的提示信息。
进一步地，所述S103步骤包括：
S1031、提取处理完毕的多义线集合中所有线的两个端点，得到所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值；
S1032、遍历多义线，分别找出端点坐标值为最大或最小的集合Plines；
S1033、对所述集合Plines进行分析，所述集合Plines的元素均包括3条线段；该3条线段相互平行或者其中两条相互平行、两条相互垂直；
S1034、对所述3条线段的Y坐标进行排序，取最低的点，且X坐标为最大或最小作为垫层搜寻点；
S1035、以垫层搜寻点的其中一点为起始位置点、另一点为终止点；从所述多义线集合中搜索包含起始位置点的线L，将该线L的另一个端点作为新的搜索点，重复执行搜索，直到搜寻点与所述终止点重合；所有线L的端点的组合，形成垫层轮廓点集。
第二方面，本发明实施例还提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审系统，包括：
搜寻模块，基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
生成模块，用于当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
检查模块，用于将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、 SC2；
对比模块，用于对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
第三方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，能够实现如上述实施例中任一项所述的基于 BIM的基础大样详图的自动校审方法。
与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，包括：基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集 SC1、SC2；对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。该方法有助于在基础详图设计修改完毕后，基于BIM平台，实现校审，可指出基础详图中垫层、轮廓的变更信息，有效的避免了基础剖断面与相应基础详图的不一致性，提高校审人员的工作效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的基于BIM的基础大样详图的自动校审方法流程图；
图2为本发明待校审基础详图及其参数示意图；
图3为本发明实施例一中基础大样详图的示意图；
图4为本发明实施例一中各图元的样式和控制点的示意图；
图5为本发明实施例一中提取到的多义线和剖断线示意图；
图6为本发明实施例一中分析处理剖断线的示意图；
图7为本发明实施例一中剖断线分析完毕后的示意图；
图8为本发明实施例一中确定合法的基础详图边界下的垫层搜寻点示意图；
图9为本发明实施例一中获取得到的基础轮廓线示意图；
图10为本发明校审结果示意图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例1：
参照图1所示，本发明提供的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，包括：
步骤1：基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
步骤2：当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
步骤3：将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；
步骤4：对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；
步骤5：对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
其中，步骤1中的待校审第一基础详图由剖断线图元，多义线图元等多种图元组成，且带有缩放比例等属性，如图2所示。
本实施例中，根据待校审的基础详图S1，搜寻其剖切位置P1，判断P1 是否存在，如果不存在，则给出无剖切位置的警告信息，如果存在，则根据剖切位置，在后台生成正确的基础详图S2，再将待校审的基础详图S1与S2 分别进行单个基础详图检查。对S1单个基础详图进行检查，得到S1垫层轮廓点集和S1的基础轮廓点集。对S2单个基础详图进行检查，得到S2垫层轮廓点集和S2的基础轮廓点集。通过对比S1垫层轮廓点集与S2垫层轮廓点集，得到S1，S2之间垫层轮廓之间的差异。通过对比S1基础轮廓点集与S2基础轮廓点集，得到S1，S2之间基础轮廓之间的差异。该方法有助于在基础详图设计修改完毕后，基于BIM平台，实现校审，可指出基础详图中垫层、轮廓的变更信息，有效的避免了基础剖断面与相应基础详图的不一致性，提高校审人员的工作效率。
在步骤3中，对单个基础详图检查包括如下步骤：
(1)从基础详图中提取剖断线图元、多义线图元、缩放比例，形成剖断线图元集合，多义线集合outlines。
(2)遍历剖断线图元集合，判断剖断线图元是水平向还是竖直向，如果是水平向，则判断其是否与多义线集合有交点，如果没有交点，则详图非法，给出剖断线与基础轮廓不相交的提示信息；如果有交点，则去掉与折断线相交的线，并在多以线集合outliens中添加一条线来连接该折断部位，该线的两个端点均为相交线与其余线共享的端点。如果是竖直向，则判断其是否与多义线集合有交点，如果没有交点，则详图非法，并给出剖断线与基础轮廓不相交的提示信息；如果有交点，依据交点的Y坐标进行排序，按照次序，依次连线，并添加到多义线集合outlines中。
(3)得到多义线集合的X坐标(即图纸上的绘图坐标)的最大值xMax 及最小值xMin，分别搜索端点X坐标是xMax、xMin的所有线段，如果包含 xMax或xMin的线段的个数都是3，且是相互平行，或者3条线中，2条线相互平行，2条线相互垂直，则边界合法，否则给出边界不合法的提示。对这3 条线依据其中点的Y坐标进行排序，最低的平行线的包含xMax或者xMin的点就是得到垫层的搜寻点D0,D1。
(4)分别找出包含搜寻点为端点的多义线集合，正常情况下为2条，将这2条线中的竖直线从outlines去除，然后按照如下步骤搜索垫层线集合：
从outlines中搜寻包含某一搜寻点D0的线段，将该线段添加到垫层线集合中，并将该线从outlines中删除，同时将搜寻点改为该线段的另一个端点，重复以上过程，直到搜寻点与另一个搜寻点D1重合，则搜索过程结束，得到所有的垫层线。
(5)将垫层轮廓线从多义线集合中全部移除，形成基础轮廓线和基础轮廓点。
下面结合图对本发明的方案进行详细的举例说明：
如图3是本实施例的基础详图示意图，该详图由剖断线图元，多义线图元，纵筋图元，分布筋图元，以及尺寸标注图元构成。各个图元的形状，大小，位置由其自身的控制点确定；各图元的样式和控制点如图4所示。
1、对单个基础详图检查包括如下步骤S101～S104：
步骤S101:
遍历如图3中基础详图中的各种图元，提取剖断线图元和多义线图元，其中多义线图元构成了基础详图的轮廓线，提取到的剖断线图元集合，多义线集合如图5所示。
步骤S102：
遍历上一步骤S101得到的剖断线图元集合，根据剖断线的两个控制点的连线与水平线的夹角来判断该剖断线是水平向剖断线还是竖直向剖断线。
如图6，剖断线A的控制点为Pt1，Pt2，剖断线B的控制点为Pt18，Pt16，根据控制点连线与水平线的夹角为0°时可以判定出剖断线A为水平向剖断线，夹角为90°时剖断线B为竖直向剖断线。
对于水平向剖断线A，判断其与多义线集合的交点为Pt1，Pt2，交线为 Line0，Line1，因此将Line0，Line1从多义线集合中删除，并添加Line0，Line1 与其余线共享的端点之间的连线，Line0的两个端点Pt1不是Line0与多义线集合其他线共享的端点，而Pt19是Line0与Line2的共享的端点，同理Pt3 是Line1与Line3的共享的端点，因此添加Pt19与Pt3之间的连线Line19到多义线集合中。
对于竖直向剖断线B，判断其与多义线集合的交点为Pt18，Pt17，Pt16，排序后，依次连线，并添加入多义线集合，故添加Line17，Line18到多义线中。
处理完毕的多义线集合，如图7所示。
步骤S103：
提取处理完毕的多义线集合中所有线的两个端点，找出这些端点X坐标的最大值xMax与最小值xMin，然后遍历多义线，分别找出端点坐标值为xMax 或者xMin的多义线集合plines，合法的基础大样详图的边界如图8所示，即要么边界是被剖断线剖断，要么是完整的端部，不论哪种情况，plines的数量均为3个，对plines进行分析，如果3条线相互平行，如图8的LineA1，LineA2， LineA3，或者2条线相互平行，2条线相互垂直，如图8的LineB1，LineB2， LineB3，则边界合法，然后对这3条线的中点的Y坐标进行排序，取最低的点，且X值为xMax或者xMin作为垫层搜寻点，即Pt16和Pt7作为垫层搜寻点，如果边界为3条平行线的情况，则将包含该情况下的垫层搜索点的竖直线添加到垫层线集合中，并删除该竖直线，如果边界为另一种情况，则将前两个较高的线添加入垫层线集合中，并删除这两条线，方便后续分析基础轮廓线。
以Pt16为搜索起点，从outlines中搜索包含Pt16为端点的线，得到Line16，将Line16添加入垫层线集合中，将Line16从outlines中删除，并将Line16的另一个端点Pt14作为新的搜索点，重复如上过程，直到搜寻点与Pt7重合，最终得到垫层线集合{Line16,Line14,Line11,Line9,Line8,Line6,Line5}。
将垫层线集合中的线的端点进行组合，得到垫层点集 {pt16,pt14,pt12,pt10,pt8,pt7}。
步骤S104：
移除了垫层轮廓线的多义线集合outlines即为基础轮廓线集合，组合轮廓线的两个端点，得到基础轮廓点集。
本实施例中，移除了垫层轮廓线的多义线集合outlines如图9所示，即为基础轮廓线集合，将基础轮廓线集合中所有线的端点组成一个点集，并对该点集进行去重，得到基础轮廓点集，如图9，基础轮廓点集为 {pt18,pt19,pt3,pt4,pt5,pt9,pt11,pt13,pt15,pt17}。
2、对基础大样详图进行校审
可根据基础剖断线位置P1，即通过获取目标BIM模型的目标剖面，进而获取目标剖面对应的轮廓线信息，基于轮廓线信息计算生成每个独立配筋图元(角筋、底面纵筋)对应的控制点集，并通过计算阳角集合确定分布筋控制点集，进而得到分布筋图元，进而自动得到对应的正确的基础详图，将该详图进行步骤S101～S104的处理，得到正确的基础剖断线轮廓点集SP2和垫层轮廓点集SC2；对待校审的基础详图进行步骤S101～104的处理，得到基础剖断线轮廓点集SP1和垫层轮廓点集SC1。
对SP2和SP1，以及SC2与SC1进行对比，得到点集的差异，其对比方法如下：
首先对点集进行去重，然后对比两个点集的点的个数是否相同，如果不相同，则证明两个点集合有差异，如果相同，则继续下一步；分别得到两个点集的中心点，并将所有点以中心点为基点，缩放倍数1/Sc，然后将点集整体平移至中心点为原点的位置，然后对两个点集中的点一一进行比对，如果有不匹配的点，则判断出点集有差异，否则，认为两个点集完全相同。校审结果示意图如图10所示。其中，Sc是绘图放大系数，一般受图面布置的因素由设计人员确定，该参数储存于基础详图中。
实施例2：
基于同一发明构思，本发明还提供了一种基于BIM的基础大样详图的自动校审系统，包括：
搜寻模块，基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
生成模块，用于当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
检查模块，用于将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、 SC2；
对比模块，用于对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
实施例3：
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由处理器执行时，能够实现如上述实施例1中的基于BIM的基础大样详图的自动校审方法：
1)基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
2)当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
3)将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；
4)对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；
5)对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/ 或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，其特征在于，包括：
基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；
对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；
对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异；
所述单个基础详图检查的步骤包括：
S101、从基础详图中提取所有剖断线图元，构成剖断线图元集合；提取所有多义线图元，构成多义线图元集合；
S102、遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元，判断其所属类别；所述类别包括：水平剖断线和竖直剖断线；根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；
S103、选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值，得到垫层的边界点；根据所述垫层的两个边界点，搜索出垫层轮廓线，组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点集；
S104、移除所述垫层轮廓线的多义线集合，形成基础轮廓线集合，组合轮廓线的两个端点得到有序的基础轮廓点集；
所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；包括：
根据所述剖断线图元为水平剖断线时，确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、Pt2和交线L1、L2；
将所述交线L1、L2从所述多义线集合中删除；
添加L1、L2与其余线共享的端点之间的连线到所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合；
根据所述剖断线图元为竖直剖断线时，确定其与所述多义线集合的所有交点，排序序后依次连线，并添加入所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合；
所述S103步骤包括：
S1031、提取处理完毕的多义线集合中所有线的两个端点，得到所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值；
S1032、遍历多义线，分别找出端点坐标值为最大或最小的集合Plines；
S1033、对所述集合Plines进行分析，所述集合Plines的元素均包括3条线段；该3条线段相互平行或者其中两条相互平行、两条相互垂直；
S1034、对所述3条线段的Y坐标进行排序，取最低的点，且X坐标为最大或最小作为垫层搜寻点；
S1035、以垫层搜寻点的其中一点为起始位置点、另一点为终止点；从所述多义线集合中搜索包含起始位置点的线L，将该线L的另一个端点作为新的搜索点，重复执行搜索，直到搜寻点与所述终止点重合；所有线L的端点的组合，形成垫层轮廓点集。
2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，其特征在于，还包括：
当不存在所述剖切位置P1时，发出无剖切位置的警告信息。
3.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，其特征在于，所述S102步骤中，遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元，判断其所属类别，包括：
遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元；
根据所述剖断线图元的两个控制点的连线与水平线夹角进行判断其类别；当夹角为0时，则所述剖断线图元为水平剖断线；当夹角为90°时，则所述剖断线图元为竖直剖断线。
4.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法，其特征在于，所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；还包括：
当所述剖断线图元确定其与所述多义线集合，均不存在交点时，则所述基础详图为非法，并发出所述剖断线图元与基础轮廓不相交的提示信息。
5.一种基于BIM的基础大样详图的自动校审系统，其特征在于，包括：
搜寻模块，基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1；
生成模块，用于当存在剖切位置P1时，根据所述剖切位置P1生成第二基础详图；
检查模块，用于将所述第一基础详图和第二基础详图，分别进行单个基础详图检查，获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2；
对比模块，用于对比所述基础轮廓点集SP1、SP2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异；对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2，得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异；
所述单个基础详图检查的步骤包括：
S101、从基础详图中提取所有剖断线图元，构成剖断线图元集合；提取所有多义线图元，构成多义线图元集合；
S102、遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元，判断其所属类别；所述类别包括：水平剖断线和竖直剖断线；根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；
S103、选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值，得到垫层的边界点；根据所述垫层的两个边界点，搜索出垫层轮廓线，组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点集；
S104、移除所述垫层轮廓线的多义线集合，形成基础轮廓线集合，组合轮廓线的两个端点得到有序的基础轮廓点集；
所述S102步骤中，根据所述剖断线图元的所属类别，对所述多义线图元集合进行处理，形成封闭的多义线集合；包括：
根据所述剖断线图元为水平剖断线时，确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、Pt2和交线L1、L2；
将所述交线L1、L2从所述多义线集合中删除；
添加L1、L2与其余线共享的端点之间的连线到所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合；
根据所述剖断线图元为竖直剖断线时，确定其与所述多义线集合的所有交点，排序序后依次连线，并添加入所述多义线集合中，形成封闭的多义线集合；
所述S103步骤包括：
S1031、提取处理完毕的多义线集合中所有线的两个端点，得到所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值；
S1032、遍历多义线，分别找出端点坐标值为最大或最小的集合Plines；
S1033、对所述集合Plines进行分析，所述集合Plines的元素均包括3条线段；该3条线段相互平行或者其中两条相互平行、两条相互垂直；
S1034、对所述3条线段的Y坐标进行排序，取最低的点，且X坐标为最大或最小作为垫层搜寻点；
S1035、以垫层搜寻点的其中一点为起始位置点、另一点为终止点；从所述多义线集合中搜索包含起始位置点的线L，将该线L的另一个端点作为新的搜索点，重复执行搜索，直到搜寻点与所述终止点重合；所有线L的端点的组合，形成垫层轮廓点集。
6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，能够实现如权利要求1-4中任一项所述的基于BIM的基础大样详图的自动校审方法。
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