CN115220979B - 一种多核处理器的测试方法和装置 - Google Patents
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Abstract
一种多核处理器的测试方法和装置,属于芯片技术领域,该方法包括:在测试装置的输入端口输入多路彼此频分正交的光信号上进行混合传输;所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号;对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;其中,光纤光栅阵列与光环形器连接用于反射对应处理核测试信号所在波长的光信号。本发明使用频分正交的光信号传输测试信号,使测试信号之间彼此不发生干扰,实现对不同测试核的分别测试和控制,减少测试装置I/O口数量,减小异构多核处理器测试过程中的电量消耗。
Description
技术领域
本发明属于芯片技术领域,尤其涉及一种多核处理器的测试方法和装置。
背景技术
随着计算机处理能力的不断提高,多核处理器需要对不同任务进行同时处理,或者对于特定应用处理场景,将不同能力和类型的处理核集成为多核处理器,在对该类型的多核处理器进行测试时,与同一类型的处理核的多核处理器的并行测试方法不同,此时需要一种对于异构处理器的测试方式。
对于异构多核处理器的测试中,往往存在I/O端口设置十分复杂,测试指令输出管理不便的问题,急需一种操作简单,高效和灵活的异构多核处理器的测试方法。
发明内容
针对上述现有技术中存在的缺陷,本发明提供一种多核处理器的测试方法,所述方法包括:
在测试装置的输入端口输入多路测试信号,所述多路测试信号通过反射放大装置被加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
其中,光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
其中,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
其中,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
其中,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
其中,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
本发明还提出了一种基于上述方法的多核处理器的测试装置,所述装置包括:
反射放大装置,所述反射放大装置用于将测试装置的输入端口输入多路测试信号加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
1×N光分路器,所述1×N光分路器用于将所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
光环形器,所述光环形器用于对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
光纤光栅阵列,所述光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
其中,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
其中,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
其中,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
其中,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
本发明中,正交的光信号上进行混合传输测试信号可以减少异构多核处理器测试中的测试装置的I/O口的数量,方便测试人员进行测试工作。
本发明通过使用频分正交的光信号传输测试信号,可以实现测试信号之间彼此不发生干扰,可以实现对不同测试核的分别测试和控制,有利于减小异构多核处理器测试过程中的电量消耗,同时又可以实现对异常处理器的反复测试验证。
附图说明
通过参考附图阅读下文的详细描述,本公开示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中,以示例性而非限制性的方式示出了本公开的若干实施方式,并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分,其中:
图1是示出根据本发明实施例的一种多核处理器的测试方法。
图2是示出根据本发明实施例的一种多核处理器的测试装置(以一条光分路器通道示例)。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义,“多种”一般包含至少两种。
应当理解,尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述……,但这些……不应限于这些术语。这些术语仅用来将……区分开。例如,在不脱离本发明实施例范围的情况下,第一……也可以被称为第二……,类似地,第二……也可以被称为第一……。
应当理解,本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
取决于语境,如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地,取决于语境,短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的商品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种商品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的商品或者装置中还存在另外的相同要素。
下面结合附图详细说明本发明的可选实施例。
实施例一、
如图1所示,本发明公开了一种多核处理器的测试方法,所述方法包括:
在测试装置的输入端口输入多路测试信号,所述多路测试信号通过反射放大装置被加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
其中,光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
其中,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
其中,光分路器的每一路输出的是混合传输的光信号,包含频分正交的多个光信号,不同的处理核对应的测试信号的频率不同,波长也不相同。
对应于光分路器上每一路输出端口,使其与三端口光环形器的端口一连接输入波长不同的混合光信号,该混合光信号从端口二输出,经过第二端口连接的光纤光栅阵列的反射,光纤光栅阵列用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号,即当该通路对应的处理核所在测试信号在波长A的光波上时,该通路上光环形器连接的端口二的光纤光栅阵列反射的就是波长A的光波,所述光纤光栅阵列的另一端可设置光吸收材料减少其他波长光的影响,该波长A的光波被反射到端口二时,由端口三输出,经过连接到光环形器的端口三的光电转换器后形成测试电信号。
其中,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
其中,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
其中,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
通过实施本方案,彼此频分正交的光信号上进行混合传输测试信号可以减少异构多核处理器测试中的测试装置的I/O口的数量,方便测试人员进行测试工作。
通过实施本方案,使用频分正交的光信号传输测试信号,可以实现测试信号之间彼此不发生干扰,可以实现对不同测试核的分别测试和控制,有利于减小异构多核处理器测试过程中的电量消耗,同时又可以实现对异常处理器的反复测试验证。
实施例二、
本发明公开了一种基于上述方法的多核处理器的测试装置,参见图2,所述装置包括:
反射放大装置,所述反射放大装置用于将测试装置的输入端口输入多路测试信号加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
1×N光分路器,所述1×N光分路器用于将所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
光环形器,所述光环形器用于对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
光纤光栅阵列,所述光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
其中,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
其中,光分路器的每一路输出的是混合传输的光信号,包含频分正交的多个光信号,不同的处理核对应的测试信号的频率不同,波长也不相同。
对应于光分路器上每一路输出端口,使其与三端口光环形器的端口一连接输入波长不同的混合光信号,该混合光信号从端口二输出,经过第二端口连接的光纤光栅阵列的反射,光纤光栅阵列用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号,即当该通路对应的处理核所在测试信号在波长A的光波上时,该通路上光环形器连接的端口二的光纤光栅阵列反射的就是波长A的光波,该波长A的光波被反射到端口二时,由端口三输出,经过连接到光环形器的端口三的光电转换器后形成测试电信号。
其中,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
其中,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
其中,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
通过实施本方案,彼此正交的光信号上进行混合传输测试信号可以减少异构多核处理器测试中的测试装置的I/O口的数量,方便测试人员进行测试工作。
通过实施本方案,使用频分正交的光信号传输测试信号,可以实现测试信号之间彼此不发生干扰,可以实现对不同测试核的分别测试和控制,有利于减小异构多核处理器测试过程中的电量消耗,同时又可以实现对异常处理器的反复测试验证。
本公开实施例提供了一种多核处理器的测试装置,所述测试装置中使用的测试方案的指令和测试标准案例包含在非易失性计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令,该计算机可执行指令可执行如上实施例所述的方法步骤。
需要说明的是,本公开上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本公开中,计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、RF(射频)等等,或者上述的任意合适的组合。
上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该电子设备中。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本公开的操作的计算机程序代码,上述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
附图中的流程图和框图,图示了按照本公开各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本公开实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现。其中,单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。
以上介绍了本发明的较佳实施方式,旨在使得本发明的精神更加清楚和便于理解,并不是为了限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的修改、替换、改进,均应包含在本发明所附的权利要求概括的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种多核处理器的测试方法,所述方法包括:
在测试装置的输入端口输入多路测试信号,所述多路测试信号通过反射放大装置被加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
其中,光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
6.一种多核处理器的测试装置,所述装置包括:
反射放大装置,所述反射放大装置用于将测试装置的输入端口输入多路测试信号加载在彼此频分正交的光信号上进行混合传输;
1×N光分路器,所述1×N光分路器用于将所述混合传输的光信号通过1×N光分路器分成N路输出光信号,在不同通道内进行传输,所述N的值与待测试的多核处理器的处理核数量相同;
光环形器,所述光环形器用于对于每一通道的光信号经过光环形器后,输出与该通道对应的处理核对应的加载测试信号的光信号,再经过光电转换器后得到测试电信号,输入到对应的多核处理器的处理核的测试信号输入端口;
光纤光栅阵列,所述光纤光栅阵列与光环形器连接,用于反射与通道对应的处理核测试信号所在波长的光信号。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述光环形器为三端口光环形器,光分路器的每一输出端口与光环形器的端口一连接,用于反射所述处理核对应波长光信号的光纤光栅阵列与光环形器的端口二连接,光环形器的端口三与光电转换器连接,用于进行光信号的输出和转换。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述反射放大装置为反射式半导体放大器RSOA。
9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,当检测到多核处理器中的某一处理核存在潜在故障风险,需要重复测试该处理核时,停止对其他处理核的测试信号的对应波长光信号上加载有效测试信号。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,当需要重复测试多核处理器中的某一处理核时,可以通过测试信号指示其他处理核进入休眠状态,并在每一周期的某段时隙中唤醒处理核监听测试信号中是否有有效测试信号输入。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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