CN115220347B - 一种物料颗粒筛分控制方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种物料颗粒筛分控制方法及系统，涉及物料加工技术领域，获取目标物料并进行待筛物料样本和筛余物料样本采集，基于物料检测装置获取目标物料的物料含水量，对样本数据进行检测获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径，进行物料颗粒粘附力计算并判断计算结果，若颗粒粘附力大于预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将目标物料输入物料筛分装置的松散单元中进行松散处理，解决了现有技术中物料颗粒筛分控制方法由于智能度不足，对于物料筛分的控制流程与相关指标参数的分析处理不够严谨，使得物料的最终筛分结果较预期有所差别的技术问题，实现了物料颗粒筛分的智能化精准自动调控，可有效提高筛分速率与筛分结果的纯净度。

Description

一种物料颗粒筛分控制方法及系统

技术领域

本发明涉及物料加工技术领域，具体涉及一种物料颗粒筛分控制方法及系统。

背景技术

物料颗粒的筛分是现代加工工业发展的迫切需求，在多个领域都有所应用，例如矿产资源、建筑材料、化工材料等，原始物料中由于杂质的存在使得使用效果、物料利用率等都大打折扣，可通过对原始物料进行筛分以提高物料的纯净度。

现如今，主要通过筛分设备与技术人员的配合完成对原始物料的筛分，然而，由于常用的物料筛分技术还不够成熟，存在着一定的局限性，使得最终的筛分结果无法达到预期要求，对物料的后续使用会造成一定程度的影响。

现有的物料颗粒筛分控制方法由于智能度不足，对于物料筛分的控制流程与相关指标参数的分析处理不够严谨，使得物料的最终筛分结果较预期有所差别。

发明内容

本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法及系统，用于针对解决现有技术中存在的物料颗粒筛分控制方法由于智能度不足，对于物料筛分的控制流程与相关指标参数的分析处理不够严谨，使得物料的最终筛分结果较预期有所差别的技术问题。

鉴于上述问题，本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法及系统。

第一方面，本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法，所述方法包括：获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。

第二方面，本申请提供了一种物料颗粒筛分控制系统，所述系统包括：目标物料获取模块，所述目标物料获取模块用于获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；样本采集模块，所述样本采集模块用于根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；含水量获取模块，所述含水量获取模块用于根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；数据检测模块，所述数据检测模块用于通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；粘附力计算模块，所述粘附力计算模块用于根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；粘附力判断模块，所述粘附力判断模块用于判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；物料处理模块，所述物料处理模块用于若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。

本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本申请实施例提供的一种物料颗粒筛分控制方法，获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料，根据所述目标物料获取待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量，通过对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径对物料颗粒粘附力进行计算，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力，进一步对所述颗粒粘附力进行判断，若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理，解决了现有技术中存在的物料颗粒筛分控制方法由于智能度不足，对于物料筛分的控制流程与相关指标参数的分析处理不够严谨，使得物料的最终筛分结果较预期有所差别的技术问题，实现了物料颗粒筛分的智能化精准自动调控，可有效提高筛分速率与筛分结果的纯净度。

附图说明

图1为本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法流程示意图；

图2为本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法中物料颗粒粘附力获取流程示意图；

图3为本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法中物料颗粒松散处理流程示意图；

图4为本申请提供了一种物料颗粒筛分控制系统结构示意图。

附图标记说明：目标物料获取模块a，样本采集模块b，含水量获取模块c，数据检测模块d，粘附力计算模块e，粘附力判断模块f，物料处理模块g。

具体实施方式

本申请通过提供一种物料颗粒筛分控制方法及系统，获取目标物料并进行待筛物料样本和筛余物料样本采集，基于物料检测装置获取目标物料的物料含水量，对样本数据进行检测获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径，进行物料颗粒粘附力计算并判断计算结果，若颗粒粘附力大于预设颗粒粘附力时连接物料筛分控制系统，基于物料筛分装置的松散单元对所述目标物料进行松散处理，用于解决现有技术中存在的物料颗粒筛分控制方法由于智能度不足，对于物料筛分的控制流程与相关指标参数的分析处理不够严谨，使得物料的最终筛分结果较预期有所差别的技术问题。

实施例一

如图1所示，本申请提供了一种物料颗粒筛分控制方法，所述方法应用于物料颗粒筛分控制系统，所述系统与物料筛分装置通信连接，物料检测装置内嵌于所述物料筛分装置中，所述方法包括：

步骤S100：获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；

具体而言，本申请提供的一种物料颗粒筛分控制方法应用于物料颗粒筛分控制系统，所述系统与物料筛分装置通信连接，所述物料筛分装置用于对目标物料进行筛分，对所述目标物料中的杂物进行分离，所述物料筛分装置中内嵌有物料检测装置，用于对所述目标物料进行含水量检测与物料颗粒尺寸检测，获取相应的参数数据作为操作依据，对所述物料筛分装置待进行筛分的所述目标物料进行获取，所述目标物料指含有杂物的原始物料，可以是建筑材料、化工物料等，可基于所述目标物料中颗粒尺寸的差异性进行分离，获取所述目标物料作为后续进行筛分操作的原材料。

步骤S200：根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；

具体而言，以获取的所述目标物料为依据，对所述待筛物料样本与所述筛余物料样本进行采集，所述待筛物料样本为未进行筛分的原始物料的取样样本，与所述目标物料同出一处，所述筛余物料样本指进行筛分后的余留物料取样样本，即筛分后所需物料的样本物料，例如，获取所述待筛物料样本与所述筛余物料样本，将其作为分析样本进行后续筛分操作分析。

步骤S300：根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；

步骤S400：通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；

具体而言，基于所述物料检测装置对所述目标物料的含水量进行检测，所述目标物料含水量的比例对所述目标物料颗粒之间的粘附力大小有所影响，一般而言，含水量越高，所述目标物料颗粒之间的粘附力越大，同时，所述目标物料的材质成分一定程度上也会影响到所述目标颗粒之间的粘附力，但作为硬件条件不做具体考量，进一步而言，基于所述物料检测装置对所述待筛物料样本与所述筛余物料样本进行数据检测，确定所述待筛物料样本与所述筛余物料样本中的物料颗粒直径，进而分别对待筛样本物料直径与所述筛余样本物料直径进行求平均，获取所述待筛颗粒平均直径与所述筛余颗粒平均直径，以所述待筛颗粒平均直径与所述筛余颗粒平均直径为标准可对所述物料筛分装置进行筛分孔洞尺寸确定，进而进行物料分离。

进一步的，所述物料检测装置为进行物料相关指标检测的装置，所述物料检测装置内嵌于所述物料筛分装置中，用于在进行物料筛分之前对所述目标物料的物料含数量、所述待筛颗粒平均直径与所述筛余颗粒平均直径进行检测，以上述指标参数数据为基准进行后续筛分分析。

步骤S500：根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；

具体而言，基于所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径与所述筛余颗粒平均直径为参考指标数据进行物料颗粒间粘附力的计算，采集一定量的待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒作为物料颗粒粘附力的测试样本，以所述物料含水量为约束条件，对所述粘附力测试样本进行颗粒粘性测试，将单位粘滞系数与转换系数为参考指标数据，获取对应的测试数据，进一步对所述测试数据进行整合处理，获取所述待筛颗粒之间的粘附力、所述筛余颗粒之间的粘附力与所述待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力，进一步进行物料颗粒粘附力分析判定，为后续进行物料颗粒的松散处理提供了参考数据与处理依据。

进一步而言，如图2所示，本申请步骤S500还包括：

步骤510：根据所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径，生成粘附力测试样本，包括等直径下的待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒；

步骤520：根据所述粘附力测试样本进行粘性测试，获取单位粘滞系数，其中，所述单位粘滞系数为单位颗粒样本粘连停滞时长；

步骤530：以所述物料含水量为约束条件，获取基于所述单位粘滞系数下的测试数据，输出所述颗粒粘附力。

具体而言，以所述待筛颗粒平均直径与所述筛余颗粒平均直径为基准生成所述粘附力测试样本，所述粘附力测试样本中的物料颗粒直径相差无几，包括等直径下的待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒，对其分别进行颗粒粘附力的分析确定，通过对所述粘附力测试样本进行粘性测试获取对应的粘滞系数，由于所述颗粒之间的粘度存在，进行筛分时物料颗粒无法瞬间进行分离，一定时间后粘性破坏才能得到筛分，所述粘滞系数为单位颗粒样本的粘连停滞时长，以所述物料含水量为约束条件，基于所述单位粘滞系数进行所述待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒间粘性测试数据的获取，将其作为所述颗粒粘附力进行输出，所述颗粒粘附力的获取为后续进行物料颗粒的松散处理夯实了基础。

进一步而言，本申请步骤530还包括：

步骤531：获取所述目标物料中的待筛物料量和筛余物料量；

步骤532：根据所述待筛物料量和筛余物料量与进行粘性测试的单位物料量进行转换，获取转换系数，按照所述转换系数和所述单位粘滞系数，输出所述颗粒粘附力。

具体而言，对所述目标物料中的待筛物料量与所述筛余物料量进行获取，所述待筛物料量指为经筛分的原始物料总量，所述筛余物料量指经筛分后的余留物料总量，对所述目标物料进行筛分时，由于所包含的多种颗粒之间粘性的差异性，使得最终的整体粘附力存在差别，同时，含量的多少也是粘附力的影响因素之一，以进行粘性测试的单位物料量为基准，对所述待筛物料量与所述筛余物料量进行转换，并获取转换系数，所述转换系数为所述待筛物料和所述筛余物料的转换比例，进一步的，基于所述转换系数和所述单位粘滞系数获取所述颗粒粘附力，可有效提高所述颗粒粘附力的数据准确度，基于所述颗粒粘附力通过所述物料筛分装置的松散单元进行物料松散处理。

步骤S600：判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；

步骤S700：若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。

具体而言，通过获取所述粘附力测试样本进行颗粒粘性测试，获取所述颗粒粘附力，预设颗粒粘附力，所述预设颗粒粘附力指限定物料的所述颗粒粘附力是否需要进行松散处理的极限范围，判断所述颗粒粘附力是否大于所述预设颗粒粘附力，当所述颗粒粘附力小于等于所述预设颗粒粘附力时，所述目标物料无需进行松散处理，可直接进行颗粒筛分，当所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力时，连接所述物料筛分控制系统，所述物料筛分控制系统为对所述目标物料的筛分过程进行指标控制调整的系统，包括筛分过程中的环境温度与筛分装置的结构参数等，将所述目标物料输入所述物料筛分装置中，基于所述物料筛分控制系统控制所述松散单元对所述目标物料进行松散处理，在此基础上基于所述目标物料的颗粒直径等指标参数对所述物料筛分装置的结构参数进行调整，在此基础上对所述目标物料进行筛分，可有效提高所述目标物料的筛分速率与透筛概率。

进一步而言，如图3所示，本申请步骤S700还包括：

步骤710-1：获取所述物料筛分装置的用于进行筛分的环境温度数据；

步骤720-1：通过对所述目标物料进行属性分析，得到所述目标物料与所述环境温度数据的变化关系，获取温度-粘度影响性；

步骤730-1：判断所述温度-粘度影响性是否大于预设影响性，若所述温度-粘度影响性大于所述预设影响性，获取温控参数；

步骤740-1：将所述温控参数输入所述物料筛分控制系统，控制所述松散单元执行松散处理。

具体而言，对所述筛分装置对所述目标物料进行筛分时的环境温度数据进行采集，进一步进行所述目标物料的属性分析，获取所述目标物料与所述环境温度数据的变化关系，对于不同属性的物料，环境温度对于物料的状态影响不尽相同，示例性的，部分物料成分可能会随着环境温度的变动出现液化，一定程度上会影响物料颗粒之间的粘度，例如，热塑性的复合物料、结晶等，随着温度升高物料表面粘度会增加，颗粒之间的粘合度会更加紧密，对于砂石、矿物等物料，正常温度变化下物料颗粒之间的粘合度不会有太大的影响，对于受环境温度影响较大的物料可通过控制环境温度进行物料颗粒的粘度控制。

基于所述目标物料与所述环境温度数据的变化关系进行温度-粘度影响性的确定，进一步进行所述温度-粘度影响性与预设影响性的对比判断，所述预设影响性为可对所述目标物料进行温控松散的限定尺度，当所述温度-粘度影响性大于所述预设影响性时，说明所述环境温度对所述目标物料的颗粒粘度影响较大，获取所述温控参数，所述温控参数指使得物料颗粒粘度达到最佳筛分的温度控制数据，将所述温控参数输入所述物料筛分控制系统，控制所述松散单元通过进行筛分温度调节以执行松散处理，可有效提高所述目标物料的筛透概率。

进一步而言，本申请步骤S700还包括：

步骤S710-2：采集所述物料筛分装置的筛分结构数据；

步骤S720-2：按照所述筛分结构数据，确定固定结构数据和可调结构数据；

步骤S730-2：以所述固定结构数据和所述可调结构数据，搭建目标筛分函数；

步骤S740-2：根据所述目标筛分函数的输出数据，控制所述物料筛分装置的对所述目标物料进行筛分。

具体而言，对所述物料筛分装置的筛分结构数据进行采集，所述结构筛分数据指所述物料筛分装置各部分的相关参数数据，以机器参数可否进行调节为标准对所述筛分结构数据进行分类，获取所述固定结构数据与所述可调结构数据，所述固定结构数据指机器本身不可进行调节的参数数据，例如筛分方式、筛分可容纳面积等，所述可调结构数据指机器进行筛分是可进行调整的参数数据，例如进行筛分的筛分层数量、筛面倾角、筛孔大小等，基于所述固定结构数据与所述可调结构数据进行目标筛分函数的搭建，所述目标筛分函数指基于所述目标物料的检测参数数据，进行所述物料筛分装置的筛分参数确定的计算转换函数，以所述目标物料的检测参数数据为基准，通过所述目标筛分函数对进行物料筛分所对应的装置结构参数数据进行确定，获取函数输出数据并进行所述物料筛分装置对所述目标物料的筛分控制，使得所述物料筛分装置达到筛分的最佳标准。

进一步而言，本申请步骤S720-2还包括：

步骤S721-2：获取预设透筛概率，以所述固定结构数据为透筛定量、所述可调结构数据为透筛变量、所述预设透筛概率为响应目标，搭建目标筛分函数，根据所述目标筛分函数，输出基于所述预设筛分概率的可调响应数据；

步骤S722-2：将所述可调响应数据作为所述目标筛分函数的输出数据。

具体而言，获取所述预设透筛概率，所述预设透筛概率指预期需完成的筛分标准，将所述固定结构数据作为透筛定量，所述可调结构数据作为透筛变量，所述预设透筛概率作为响应目标进行所述目标筛分函数的搭建，将所述检测参数数据输入所述目标筛分函数，通过进行计算获取所述预设筛分概率的可调响应数据，即所述物料筛分装置对应的调整参数，将其作为输出数据对所述物料筛分装置进行调节，将所述物料筛分装置调整至与所述检测参数数据相匹配的最优筛分结构，例如，基于所述目标物料的平均直径进行筛孔直径的确定，使得所述筛孔直径维持在所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径间值，以达到物料颗粒分离的目的。

进一步而言，本申请步骤S721-2：还包括：

步骤S7211-2：若所述目标筛分函数响应失败，获取所述物料筛分装置的筛分控制参数；

步骤S7212-2：获取所述筛分控制参数与所述可调结构数据的对应关系，生成可调控制变量；

步骤S7213-2：将所述可调控制变量作为新增透筛变量添加至所述目标筛分函数中，用于优化所述目标筛分函数，输出基于所述预设筛分概率的优化响应数据；

步骤S7214-2：根据所述优化响应数据控制所述物料筛分装置对所述目标物料进行筛分。

具体而言，基于所述目标筛分函数进行所述预设筛分概率的可调响应数据计算，若所述目标筛分函数响应失败，使得获取的透筛概率无法达到所述预设透筛概率，可通过优化算法对所述筛分参数进行优化，获取所述物料筛分装置的筛分控制参数，所述筛分控制参数为进行装置结构数据调整的参数，进一步获取所述筛分控制参数与所述可调结构数据的对应关系，并生成可调控制变量，例如，震动频率，振幅振动强度，进一步将所述可调控制变量作为新增透筛变量添加至所述目标筛分函数中，对所述目标函数进行优化，使得所述目标物料筛分过程中响应的控制参数数据更加完善，进而输出所述预设筛分概率的优化响应数据，通过所述优化响应数据控制所述物料筛分装对所述目标物料进行筛分，进一步进行透筛概率分析，若所述透筛概率还不满足所述预设透筛概率，继续上述优化操作，直至所述透筛概率达到所述预设透筛概率，将最终确定的筛分参数作为最终优化响应数据进行所述目标物料的筛分控制，可有效提高筛分结果的纯净度。

实施例二

基于与前述实施例中一种物料颗粒筛分控制方法相同的发明构思，如图4所示，本申请提供了一种物料颗粒筛分控制系统，所述系统包括：

目标物料获取模块a，所述目标物料获取模块a用于获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；

样本采集模块b，所述样本采集模块b用于根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；

含水量获取模块c，所述含水量获取模块c用于根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；

数据检测模块d，所述数据检测模块d用于通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；

粘附力计算模块e，所述粘附力计算模块e用于根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；

粘附力判断模块f，所述粘附力判断模块f用于判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；

物料处理模块g，所述物料处理模块g用于若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。

进一步而言，所述系统还包括：

数据采集模块，所述数据采集模块用于采集所述物料筛分装置的筛分结构数据；

结构数据确定模块，所述结构数据确定模块用于按照所述筛分结构数据，确定固定结构数据和可调结构数据；

函数搭建模块，所述函数搭建模块用于以所述固定结构数据和所述可调结构数据，搭建目标筛分函数；

筛分控制模块，所述筛分控制模块用于根据所述目标筛分函数的输出数据，控制所述物料筛分装置的对所述目标物料进行筛分。

进一步而言，所述系统还包括：

函数分析模块，所述函数分析模块用于获取预设透筛概率，以所述固定结构数据为透筛定量、所述可调结构数据为透筛变量、所述预设透筛概率为响应目标，搭建目标筛分函数，根据所述目标筛分函数，输出基于所述预设筛分概率的可调响应数据；

数据输出模块，所述数据输出模块用于将所述可调响应数据作为所述目标筛分函数的输出数据。

进一步而言，所述系统还包括：

控制参数获取模块，所述控制参数获取模块用于若所述目标筛分函数响应失败，获取所述物料筛分装置的筛分控制参数；

变量生成模块，所述变量生成模块用于获取所述筛分控制参数与所述可调结构数据的对应关系，生成可调控制变量；

函数优化模块，所述函数优化模块用于将所述可调控制变量作为新增透筛变量添加至所述目标筛分函数中，用于优化所述目标筛分函数，输出基于所述预设筛分概率的优化响应数据；

装置控制模块，所述装置控制模块用于根据所述优化响应数据控制所述物料筛分装置的对所述目标物料进行筛分。

进一步而言，所述系统还包括：

温度数据获取模块，所述温度数据获取模块用于获取所述物料筛分装置的用于进行筛分的环境温度数据；

影响性获取模块，所述影响性获取模块用于通过对所述目标物料进行属性分析，得到所述目标物料与所述环境温度数据的变化关系，获取温度-粘度影响性；

影响性判断模块，所述影响性判断模块用于判断所述温度-粘度影响性是否大于预设影响性，若所述温度-粘度影响性大于所述预设影响性，获取温控参数；

参数控制模块，所述参数控制模块用于将所述温控参数输入所述物料筛分控制系统，控制所述松散单元执行松散处理。

进一步而言，所述系统还包括：

样本生成模块，所述样本生成模块用于根据所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径，生成粘附力测试样本，包括等直径下的待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒；

粘滞系数获取模块，所述粘滞系数获取模块用于根据所述粘附力测试样本进行粘性测试，获取单位粘滞系数，其中，所述单位粘滞系数为单位颗粒样本粘连停滞时长；

数据测试模块，所述数据测试模块用于以所述物料含水量为约束条件，获取基于所述单位粘滞系数下的测试数据，输出所述颗粒粘附力。

进一步而言，所述系统还包括：

物料量获取模块，所述物料量获取模块用于获取所述目标物料中的待筛物料量和筛余物料量；

粘附力输出模块，所述粘附力输出模块用于根据所述待筛物料量和筛余物料量与进行粘性测试的单位物料量进行转换，获取转换系数，按照所述转换系数和所述单位粘滞系数，输出所述颗粒粘附力。

本说明书通过前述对一种物料颗粒筛分控制方法的详细描述，本领域技术人员可以清楚的知道本实施例中一种物料颗粒筛分控制方法及系统，对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种物料颗粒筛分控制方法，其特征在于，所述方法应用于物料颗粒筛分控制系统，所述系统与物料筛分装置通信连接，物料检测装置内嵌于所述物料筛分装置中，所述方法包括：

获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；

根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；

根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；

通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；

根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；

判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；

若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采集所述物料筛分装置的筛分结构数据；

按照所述筛分结构数据，确定固定结构数据和可调结构数据；

以所述固定结构数据和所述可调结构数据，搭建目标筛分函数；

根据所述目标筛分函数的输出数据，控制所述物料筛分装置的对所述目标物料进行筛分；

其中，以所述固定结构数据和所述可调结构数据，搭建目标筛分函数，包括：

获取预设透筛概率，以所述固定结构数据为透筛定量、所述可调结构数据为透筛变量、所述预设透筛概率为响应目标，搭建目标筛分函数，根据所述目标筛分函数，输出基于所述预设透筛概率的可调响应数据；

将所述可调响应数据作为所述目标筛分函数的输出数据。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述目标筛分函数响应失败，获取所述物料筛分装置的筛分控制参数；

获取所述筛分控制参数与所述可调结构数据的对应关系，生成可调控制变量；

将所述可调控制变量作为新增透筛变量添加至所述目标筛分函数中，用于优化所述目标筛分函数，输出基于所述预设透筛概率的优化响应数据；

根据所述优化响应数据控制所述物料筛分装置的对所述目标物料进行筛分。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述物料筛分装置的用于进行筛分的环境温度数据；

通过对所述目标物料进行属性分析，得到所述目标物料与所述环境温度数据的变化关系，获取温度-粘度影响性；

判断所述温度-粘度影响性是否大于预设影响性，若所述温度-粘度影响性大于所述预设影响性，获取温控参数；

将所述温控参数输入所述物料筛分控制系统，控制所述松散单元执行松散处理。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径，生成粘附力测试样本，包括等直径下的待筛颗粒-待筛颗粒、筛余颗粒-筛余颗粒、待筛颗粒-筛余颗粒；

根据所述粘附力测试样本进行粘性测试，获取单位粘滞系数，其中，所述单位粘滞系数为单位颗粒样本粘连停滞时长；

以所述物料含水量为约束条件，获取基于所述单位粘滞系数下的测试数据，输出所述颗粒粘附力。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述目标物料中的待筛物料量和筛余物料量；

根据所述待筛物料量和筛余物料量与进行粘性测试的单位物料量进行转换，获取转换系数，按照所述转换系数和所述单位粘滞系数，输出所述颗粒粘附力。

7.一种物料颗粒筛分控制系统，其特征在于，所述系统与物料筛分装置通信连接，物料检测装置内嵌于所述物料筛分装置中，所述系统包括：

目标物料获取模块，所述目标物料获取模块用于获取所述物料筛分装置用于进行筛分的目标物料；

样本采集模块，所述样本采集模块用于根据所述目标物料，采集待筛物料样本和筛余物料样本，其中，所述待筛物料样本为未经筛分的原始物料取样样本，所述筛余物料样本为经筛分后的余留物料取样样本；

含水量获取模块，所述含水量获取模块用于根据所述物料检测装置，获取所述目标物料的物料含水量；

数据检测模块，所述数据检测模块用于通过所述物料检测装置对所述待筛物料样本和所述筛余物料样本分别进行数据检测，获取待筛颗粒平均直径和筛余颗粒平均直径；

粘附力计算模块，所述粘附力计算模块用于根据所述物料含水量、所述待筛颗粒平均直径和所述筛余颗粒平均直径计算颗粒粘附力，包括待筛颗粒之间的粘附力、筛余颗粒之间的粘附力、待筛颗粒和筛余颗粒之间的粘附力；

粘附力判断模块，所述粘附力判断模块用于判断所述颗粒粘附力是否大于预设颗粒粘附力；

物料处理模块，所述物料处理模块用于若所述颗粒粘附力大于所述预设颗粒粘附力，连接物料筛分控制系统，将所述目标物料输入所述物料筛分装置的松散单元中进行松散处理。