CN115201592A - 具有可编程采集历史的测试和测量仪器 - Google Patents

Abstract

提供了具有可编程采集历史的测试和测量仪器。一种测试和测量仪器包括：输入，被配置为接收用于测试的信号；采集处理器，被配置为从接收的信号生成采集并将所述采集存储在采集存储器中，并将所述采集拷贝到数据存储部；以及采集评估器，被配置为将数据存储部中的所选采集针对一个或多个准则进行比较，并标识所述采集是否满足所述一个或多个准则。当所述采集满足所述一个或多个准则时，所述采集可以存储在仪器的辅助存储器中作为测量的所管理或所选历史，在其上可以进行测量或其他分析。

Description

具有可编程采集历史的测试和测量仪器

优先权

本公开要求于2021年3月24日提交的题为“Acquisition History Mode in aTest and Measurement Instrument”的美国临时申请第63/165,699号的权益，该申请通过引用以其整体并入本文。

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，并且更特别地，涉及用于存储和分析由这样的测试和测量仪器采集的某些数据的技术。

背景技术

诸如数字示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等测试和测量装备从被测设备（DUT）接收感兴趣的信号，并作为响应产生视觉或数据测量输出。大多数仪器也存储输入信号的记录。由于仪器中的存储器量是有限的，因此对于仪器中可以存储多少记录、样本或采集存在限制。能够存储在仪器中的采集数量取决于数据采样率、样本分辨率、采集记录长度和仪器中用于存储采集的存储器总量。

在一些仪器上可用的可选历史模式允许用户对存储在仪器存储器中的采集或波形样本执行测量，而不是在测试信号来自被测设备时测量测试信号。当启用历史模式时，用户可以从一个存储的采集导航到前一个或后一个采集。当用户从一个采集导航到另一个采集时，仪器的诸如测量、搜索、总线解码等所有活动分析特征在所选的采集上运行。该常规的历史模式有助于用户调试输入信号中发现的问题，因为他或她可以停下来并审阅感兴趣的事件。并且由于数据存储在仪器中，用户可以按照期望多次审阅感兴趣的事件。

虽然历史模式有助于调试或检查存储的输入波形，但有限的存储器量限制了实用性，因为非常不频繁发生的事件有可能不会被仪器捕获。例如，如果一个事件在DUT中平均每四个小时发生一次，并且该仪器具有一个小时的等效存储器存储，那么在任何给定的一个小时样本中该事件将被存储的机率仅有四分之一。

本公开的示例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

根据以下参考附图对示例的描述，本公开的示例的方面、特征和优点将变得清楚，其中：

图1是根据本公开的示例的具有可编程历史处理器的测试和测量仪器的框图。

图2是图示了根据本发明实施例的各种存储器存储部和可以应用于存储在这样的存储器存储部中数据的操作的框图。

图3是图示了根据本发明实施例的可以如何对来自主要主机存储器或来自数据存储历史或两者的采集选择性地执行测量或分析的框图。

图4是图示了根据本发明实施例的可以如何对来自主要主机存储器、来自数据存储历史或者来自取自数据存储历史的进一步合格的采集的采集选择性地执行测量或分析的另一个示例的框图。

图5是图示了根据本发明实施例的当配置图1的可编程历史处理器时用户可以调用的准则的框图。

具体实施方式

本文公开了一种具有可编程或可配置的采集历史处理器的测试和测量仪器。可配置历史处理器针对通常由用户指定的各种准则来评估存储在仪器的数据存储部中的采集。当存储的采集满足当前准则时，它被移动到数据存储历史，在那里它可以在稍后被选择、分析、测量和评估。如下所述，本发明的实施例允许仪器收集用户高度感兴趣的采集或事件的多个样本，而不管事件在测试期间可能发生得多么不频繁。

图1是包括用户可配置历史处理器的测试和测量仪器100的示例框图，如下面详细描述的。如本领域技术人员所理解的，测量仪器100可以包括图1中未示出的附加组件，或者本文所述的各种组件和功能可以组合成更少的数量或分成多个组件或功能。并非本文描述的所有功能或组件都需要存在于本发明的所有实施例中。

图1的仪器100包括一个或多个端口102，其可以是任何电或光信令介质。端口102可以包括接收器和/或收发器。每个端口102是测试和测量仪器100的通道。在一些实施例中，测试和测量仪器100包括8个、16个或更多个单独的端口。测试和测量仪器100可以通过一个或多个端口102耦合到被测设备（DUT） 101，并从DUT接收信号以进行测试和/或测量。

仪器100可以包括模拟前端104，以从一个或多个设备接收一个或多个模拟信号，其中至少一个设备是DUT 101。在跟踪和保持电路106处接收模拟信号，跟踪和保持电路106响应于采样时钟（未示出）跟踪一个或多个模拟信号并保持一个或多个模拟信号的样本。跟踪和保持电路106的保持样本被发送到一个或多个模数转换器（ADC）108，所述模数转换器（ADC）108将模拟输入样本转换成数字或数字化样本。如果来自DUT 101的输入信号已经是以数字形式，那么组件104、106和108可以被绕过。在任何事件中，数字样本被发送到一个或多个采集电路110，采集电路110采集样本并将它们存储在采集存储器112中。

采集存储器112可以是相对大的固态存储器，其被构造成存储大量传入数据。采集存储器112可以被配置成循环缓冲器，其在存储新数据时覆写最早存储的数据。在一些实施例中，采集存储器112被配置成相等大小的两个循环缓冲器，其中第一循环缓冲器存储来自采集电路110的数据，同时第二循环缓冲器将其数据发送到主机存储器或数据存储部120。然后，在第二循环缓冲器已经将其数据卸载到数据存储部120之后，第二循环缓冲器从采集电路110采集新数据，同时第一循环缓冲器将其数据卸载到数据存储部120。在被配置成循环缓冲器的存储器可以同时被写入和读取的其他配置中，仅有单个循环缓冲器被用作采集存储器112。

一个或多个触发电路116可以用于将采集限制到仅具有由用户选择的某些属性的那些。常见的触发包括边沿触发、毛刺触发、脉冲宽度触发、振幅触发等。触发可以基于单个事件，或者A-B触发可以用于指定来自事件组合的复杂触发。在操作中，触发电路116将触发准则应用于输入信号，并且仅当满足触发条件时，使得采集电路110存储采集。有时，触发电路116接收与输入信号本身分离的基于时间的或其他控制信号。当被触发时，触发电路116使得采集电路110存储来自触发发生之前的可配置量的信号信息和触发事件之后的可配置量的信号信息。基于触发事件存储的信息量在本文被称为记录或采集。当触发电路116关闭时，采集可以以周期性间隔从DUT 101被自动采集。

如上所述，在被采集之后，来自采集存储器112的采集被自动移动到数据存储部120，数据存储部120是用于存储仪器100中最新近的采集的存储器。

下面本发明的实施例被描述为单个采集。换句话说，触发生成单个采集，其然后从采集存储器112被移动到数据存储部120，并在那里进行评估。其他实施例可以在数据存储部120中采集或积累多个采集，这些采集稍后被连续评估，但是无论存储在数据存储部120中的是单个采集还是多个采集，评估过程都是相同的。

一个或多个主处理器130被配置为执行来自处理器存储器132的指令，并且可以执行由这种指令指示的任何方法、操作和/或相关联步骤，诸如控制仪器100的整体操作。一个或多个处理器130可以对存储在数据存储部120中的采集执行进一步的处理，诸如解码、搜索、测量等，同时采集存储器112被填充有下一个采集。当下一个采集完成时，它被从采集存储器112自动移动到数据存储部120，通常覆写前一个采集。

主用户输入140耦合到一个或多个处理器130。主用户输入140可以包括键盘、鼠标、触摸屏、可编程接口和/或用户可用来与仪器100交互的任何其他控件。用户输入可以源自仪器外部，诸如通过编程接口或连接的个人计算机。该仪器可以包括主输出显示器142，其可以是图形用户接口（GUI）。显示器142可以是诸如LCD之类的数字屏幕，或者向用户显示波形、测量和其他数据的任何其他监视器。在一些实施例中，主输出显示器142是触摸屏，并且也可以接收用户输入。在一些实施例中，主输出显示器142远离仪器100定位，或者可以在远离仪器100的位置处被复制。在一些实施例中，远程计算机可以连接到仪器100，并且使得主显示器142被示出在远程计算机的显示器上。

输出端口144可以用于将测量结果、测量数据或仪器100中的任何数据发送到仪器外部。在一些实施例中，输出端口144将数据存储到云或连接的网络，诸如互联网146或专用网络、诸如局域网（LAN）。

仪器100包括可编程历史处理器150，这在下面详细描述。一般而言，历史处理器120使用一个或多个准则来针对存储在数据存储部120中的采集进行比较。如果存储在数据存储部120中的采集匹配一个或多个准则，则该采集被拷贝或移动到数据存储历史152，其是另一个存储器。所有匹配的采集保留在数据存储历史152中，直到被用户特别移除，或者直到数据存储历史152被用户清除。在一些实施例中，数据存储历史152是数据存储部120的特定区段或扩展——除了数据存储历史152中的数据在没有用户特定动作的情况下不会被覆写。

仪器100的任何存储器可以由任何数据存储设备来实现。例如，采集存储器112可以由RAM或其他类型的存储器形成。测试和测量仪器100内的其他存储器、诸如数据存储部120、数据存储历史152和处理器存储器132可以被实现为处理器高速缓存、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、固态存储器、（一个或多个）硬盘驱动器或任何其他存储器类型。数据存储部120、数据存储历史152和处理器存储器132一般被称为“主机”存储器，并且这样的主机存储器通常在物理上和逻辑上与采集存储器112分离。采集存储器112通常需要能够执行数据的高速写入，以跟上ADC 108的高采样率，并且因此采集存储器通常比相同大小的主机存储器成本更高。构造历史处理器150来评估存储在主机存储器数据存储部120中的采集而不是直接评估采集存储器112本身中的采集，允许仪器100使用较小大小的采集存储器112，并且因此具有较低的成本。

历史处理器150可以从上面参考主用户输入140描述的任何方法接受用户输入。例如，用户可以使用菜单或触摸屏向历史处理器150录入选择准则，或者该准则可以通过编程接口接收。此外，如上所述，历史处理器150可以通过输出端口144输出结果或数据。在一些实施例中，数据存储历史152可以位于单独的设备中而非仪器100本身上，或者匹配当前准则的采集可以被同时发送到内部数据存储历史152和输出端口144。

图2是图示了根据本发明实施例的历史处理器150的高级功能的框图。如上所述，仪器100从DUT 101（图1）汇集输入信号，并且当被触发时，将采集存储在采集存储器112中。接下来，该采集被自动从采集存储器112拷贝到数据存储部120。本发明的实施例包括可编程历史处理器150，其分析存储在数据存储部120中的采集并将其针对用户准则进行比较，用户准则也可以被称为样本定义210。下面参考图5描述各种用户准则210的示例。在操作中，历史处理器150从数据存储部120中选择采集，并将其与当前用户准则210进行比较。当该采集匹配当前用户准则210时，该采集被拷贝或移动到数据存储历史152。以此方式，数据存储历史152仅接收和存储与可编程历史处理器150所使用的一个或多个准则匹配的那些采集。这使得本发明的实施例能够在长时间段内操作，仅收集由用户准则210定义的那些采集。用户准则指定不频繁发生的事件或出现（occurrence）不再重要，因为本发明的实施例可以被配置为只要仪器在操作中就持续评估数据存储部120中的每个采集。换句话说，当新的采集存储在数据存储部120中时，历史处理器150将新的采集与用户准则210进行比较。如果该采集匹配当前准则210，则历史处理器150将该采集移动或拷贝到数据存储历史152，在那里它将无限期地保留，直到被用户删除。因此，如果当前准则被设置为平均每四小时仅出现一次的准则，则持续运行仪器100将平均每天在数据存储历史152中收集六个匹配样本。在持续运行仪器100一周之后，数据存储历史152将平均包含从DUT 101收集的四十二个个体采集，其中每个采集满足准则。

图3中图示了在仪器中包括可编程历史处理器150的优点的示例。该图图示了本发明的实施例如何使得用户能够仅对由包括可编程历史处理器的仪器已经采集的数据的定义子集进行测量。常规的累积测量操作被图示为操作320。通常的做法是对数据存储部120中的数据进行累积或最高级测量，诸如平均频率或最大电压。积累测量的其他示例包括测量统计、直方图、曲线图等，所有这些都可以由操作320产生，操作320对已经存储在数据存储部120中的所有采集执行这样的操作。当采集存储在数据存储部120中时，这些累积测量可以由处理采集的主处理器130进行并更新。操作320继续更新累积测量，即使累积测量所基于的底层采集可能已经在数据存储部120中被覆写亦如此。因此，并非操作320用来进行其累积测量的所有采集仍然对用户可用，因为那些采集中的大部分已经被覆写，并且只有最后的采集保留在数据存储部120中。有可能用户希望研究在操作320的累积测量中使用的特定采集，但是该特定采集不可用，因为它被数据存储部120的操作覆写。

例如，考虑用户分析频率测量。来自累积测量操作320的输出示出了具有最大值40.985 MHz和最小值39.263 MHz的频率测量。用户希望研究提供最大频率和最小频率这两者的采集，因为它们表示由累积测量操作320所使用的采集数据集中的极值。但是当用户导航该仪器的工具来研究最大值和最小值实际出现在数据集中的何处时，在数据存储部120中找到的最大值是40.761 MHz，并且找到的最小值是39.497 MHz。这是因为包含感兴趣的周期的采集发生得更早得多，并且不再被包含在数据存储部120中，即，那些特定的采集已经被覆写，尽管它们在累积测量中被使用过。

然而，本发明的实施例可以使用另一个操作330来执行与由操作320执行的累积测量相同或相似的累积测量。不同之处在于，操作320对数据存储部120中可能在进行累积测量时被覆写的采集执行测量，而操作330对存储在数据存储历史152中未被覆写的采集执行其累积测量。因此，用于创建操作330的累积测量的所有采集保留在数据存储历史152中，并且对于用户可用——倘若用户希望研究累积测量中使用的那些采集的细节的话。

因此，由于可编程历史处理器150的存在，本公开的实施例允许用户选择将哪些存储的采集用作累积测量的基础。通过使用累积测量操作320，用户可以选择对所有先前采集的采集执行累积测量。或者，通过使用累积测量操作330，用户可以选择对仅存储在数据存储历史152中的数据执行累积测量。选择使用操作330使得仪器100仅对实际包含在数据存储历史152中的采集集合执行累积测量。并且，累积测量中使用的所有采集仍然可用于数据存储历史152中的进一步检查。

实施例不限于仅从存储在数据存储部120或数据存储历史152中的采集数据进行累积测量。而是实施例也可以对存储在这些位置中的数据执行活动分析和测量。除了累积操作320、330，图3还图示了活动测量和分析操作322、332。活动测量和分析操作322对存储在数据存储部120中的采集进行操作，而活动测量和分析操作332对存储在数据存储历史150中的采集进行操作。活动分析和测量包括各种信号参数的测量、对特定采集或所存储的采集的特性的搜索、以及总线解码等。但是，尽管当前的仪器只能对当前存储在数据存储部120中的、经受覆写的数据执行活动分析和测量，但是根据本公开的实施例进一步允许用户对进一步满足用户在存储在数据存储历史152中的准则210中提供的准则的数据执行活动分析和测量。并且此外，如上所述，在没有来自用户的明确指示的情况下，存储在数据存储历史152中的采集不会被覆写或删除。

如上所述，存储在数据存储历史152中的采集仅包括满足指定给可编程历史处理器150的用户准则210的那些采集。因此，本公开的实施例向用户提供了对特别合格的数据——即来自数据存储部120的满足用户指定准则210并因此已被存储在数据存储历史152中的数据——执行特定的活动或累积测量的能力。

如图4中所图示的，可以扩展根据准则细化数据集的概念，其包括与图3相同的功能和操作，但是添加了第二用户准则集410，其被用于驱动第二可编程历史处理器450。当然，在实践中，历史处理器150本身可以使用第二准则集410而不是第二可编程历史处理器450，但是为了便于说明，图4图示了历史处理器的第二实例。第二可编程历史处理器450将第二用户指定准则410应用于已经存储在数据存储历史152中的采集，即已经合格或者被选择过一次的采集。然后，满足第二准则集410并且先前也满足第一准则集210的那些样本采集被存储在第二数据存储历史452中。累积测量操作或过程430被配置为仅对存储在第二数据存储历史452中的数据执行累积测量，并且活动分析和测量操作或过程432也被配置为仅对存储在第二数据存储历史452中的数据执行活动分析和测量。将新的用户准则应用于已经选择的或合格的采集的该过程可以重复多次，以使用附加的用户准则进一步限定（qualify）数据，从而缩小第二数据存储历史452的所选或合格数据集。尽管图4图示了实现仅对多重合格或多重选择的数据执行测量的系统的一种方式，但是其他实施例当然可以使用不同的配置。例如，不必具有第二数据存储历史452来存储多重合格的数据，而是那些采集可以利用数据或元数据标签来标识，并且保留在数据存储历史152中，或者仪器100中的其他地方，或者其他地方。

图5是图示了根据本发明实施例的当配置可编程历史处理器550时用户可以如何指定各种准则的框图。图示的可编程历史处理器550可以是上述可编程历史处理器150、450中的任何一个的示例。

如图5中图示的，可编程历史处理器550可以接受要应用于存储在数据存储部120中的采集的各种形式的用户准则，以限定或选择要被标识和/或移动到数据存储历史152的采集。此外，操作或过程530可以用于组合多个准则或多种类型的准则，以供应给可编程历史处理器550，如下所述。

由可编程历史处理器550应用的用户准则可以是能够由仪器（诸如图1的仪器100）的用户指定的任何类型的准则。例如，用户准则可以包括视觉触发准则510中的一个或多个，视觉触发准则510是通过将波形输出与一个或多个图形形状或窗口进行图形比较来标识波形事件的触发。波形事件或包括满足图形定义的波形的采集被包括在由视觉触发标识的集合中，而不满足图形定义的那些不被包括在内。可编程历史处理器可以使用的另一个准则是测量准则512，诸如采集的数据样本是否超过某个电压或者具有高于或低于某个阈值的频率。例如，用户可以指定可编程历史处理器550仅存储那些在通道1上包含至少一个大于100ms的正脉冲宽度的那些采集。可编程历史处理器可以使用的另一个准则是可搜索事件准则514。这种类型的准则基于波形样本周围的事件类型，诸如超时（其中在一个时间段内没有接收到有效信号）或事件之间的时间（诸如两个信号边沿之间的时间）。其他可搜索的事件准则514可以包括仅存储在所定义的搜索生成多于25个上升时间测量、所有测量均比用户定义的持续时间更快的情况下的采集。其他类型的可搜索事件触发是众所周知的。可编程历史处理器可以使用的另一个准则是通信或掩模测试准则516，其将波形针对工业标准掩模样板进行比较。可编程历史处理器可以使用的另一个准则是总线解码结果准则518。例如，用户可以指定只有写入特定总线地址（诸如x86h）的采集被存储在数据存储历史152中。最后，其他准则520指示存在许多其他类型的触发或准则可供仪器的用户使用，并且是本领域技术人员已知的。其他准则520的示例可以包括任何基于硬件的采集类型，诸如边沿、脉冲宽度、毛刺、欠幅（runt）、窗口、逻辑、总线、超时、转换时间、存储器系统触发、协议触发、模式触发、串行通道违例和信标宽度违例等。此外，如上所述，准则510-518中的许多可以在频域中而不是在时域中进行。准则510-520都不限于任何特定的准则，而是包括能够由用户指定的任何准则。本发明的实施例可以结合可编程历史处理器使用这些准则中的任何一个或全部。

如图5中描绘的，这些准则510-520中的任何一个可以由用户指定并提供给可编程历史处理器550，以应用于存储在仪器中的数据采集。符合或匹配准则的采集被标识，并且可以被移动到数据存储历史152。以此方式，可编程历史处理器550作为过滤器或选择器操作，以过滤或选择特定的存储数据采集，用于进一步处理或分析，如上所述。

此外，准则组合器530为用户提供以几乎无限的可能性定制上面所标识的任何准则510-520中的多个准则的能力。准则组合器530可以是布尔运算符，并且允许AND、NAND、OR或NOR组合，以及NOT函数。例如，用户可以指定可编程历史处理器550使用的准则是当某个视觉触发510被满足或者为真时，但是仅当可搜索事件准则514也为真——诸如特定采集晚于自仪器开始从DUT接收采集以来的第1000个采集——时。准则组合器530不限于来自准则510-520的每个类别或类型的单个准则，而是可以包括多个实例。例如，用户可以使用测量准则512来仅将包括具有1.80伏的最小电压和超过1.51MHz的频率的样本的那些采集指定为准则。或者该准则可以被设置为仅选择落在第一视觉触发准则510之外而同时不在第二视觉触发准则之内的那些采集。

除了上述布尔函数之外，准则组合器530还可以支持嵌套逻辑，其可以用圆括号、方括号或任何其他符号来指定。例如，特定的组合准则可以采用C0：[(在视觉触发1内AND采集数> 100) OR (在视觉触发2内AND采集数> 2000)]的形式。

准则组合器530的灵活性的一个优点是它可以用于指定用户感兴趣的大量不同的采集数据。例如，用户可以指定可编程历史处理器550使用的准则是具有如下准则C1的任何采集：[落在视觉触发1内OR具有超过1.63伏的电压OR具有小于1.5MHz的频率OR与掩模1匹配]。该准则集C1可以基于准则C1中的大量OR子句将大量采集捕获到数据存储历史152中。但是，回想上面图4的描述，可编程历史处理器550可以运行多次，每次具有不同的准则。因此，由可编程历史处理器550评估的来自数据存储部120的采集可以包括大量样本，所述样本可以由于各种原因而令人感兴趣并存储在数据存储历史152中。然后，如图4中图示的，可以针对来自数据存储历史152的数据运行第二准则集。例如，该第二准则集可以指定只有具有超过1.63伏并且低于1.66伏的电压的那些样本被选择并存储在第二数据存储历史452中（C2：[(电压>1.63伏) AND (电压<1.66伏)]。该第二准则C2可能仅包括少量的采集。第三准则集C3可以应用于存储在仪器100中的任何采集。也就是说，可编程历史处理器可以使用第三准则集C3来评估：存储在主数据存储部120中的采集，其包括所有的最后N个样本；存储在数据存储历史152中的采集，其包括满足C1准则的那些采集；或者来自数据存储历史452的采集，其包括满足C1和C2准则这两者的那些采集。准则组合器530利用布尔和嵌套运算符组合来自仪器100的任何可能的源或度量的多个不同准则的能力、与对不同数据集多次执行由可编程历史处理器做出的选择过程的能力以及使用不同准则集的能力配对，为用户提供了快速找到感兴趣的采集的巨大能力，这在以前是从未可获得的。

本公开的方面可以在特别创建的硬件、固件、数字信号处理器上操作，或者在包括根据编程指令操作的处理器的特别编程的计算机上操作。本文使用的术语“控制器”或“处理器”旨在包括微处理器、微型计算机、专用集成电路（ASIC）和专用硬件控制器。本公开的一个或多个方面可以体现在计算机可用数据和计算机可执行指令中，诸如由一个或多个计算机（包括监控模块）或其他设备执行的一个或多个程序模块中。通常，程序模块包括例程、程序、对象、组件、数据结构等，它们在由计算机或其他设备中的处理器执行时实施特定的任务或实现特定的抽象数据类型。计算机可执行指令可以存储在计算机可读存储介质上，诸如硬盘、光盘、可移动存储介质、固态存储器、随机存取存储器（RAM）等。如本领域技术人员应当领会的，程序模块的功能可以根据期望在各个方面进行组合或分布。此外，该功能性可以全部或部分体现在固件或硬件等同物中，诸如集成电路、FPGA等。特定的数据结构可以用于更有效地实现本公开的一个或多个方面，并且这样的数据结构被设想在本文描述的计算机可执行指令和计算机可用数据的范围内。

在一些情况下，所公开的方面可以用硬件、固件、软件或其任意组合来实现。所公开的方面还可以被实现为由一个或多个计算机可读存储介质携带或存储在其上的指令，所述指令可以由一个或多个处理器读取和执行。这样的指令可以被称为计算机程序产品。如本文所讨论的，计算机可读介质是指可以由计算设备访问的任何介质。作为示例而非限制，计算机可读介质可以包括计算机存储介质和通信介质。

计算机存储介质是指可以用于存储计算机可读信息的任何介质。作为示例而非限制，计算机存储介质可以包括RAM、ROM、电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）、闪速存储器或其他存储器技术、紧凑盘只读存储器（CD-ROM）、数字视频盘（DVD）或其他光盘存储装置、盒式磁带、磁带、磁盘存储装置或其他磁存储设备，以及以任何技术实现的任何其他易失性或非易失性、可移动或不可移动介质。计算机存储介质不包括信号本身和信号传输的暂时形式。

通信介质是指可以用于计算机可读信息的通信的任何介质。作为示例而非限制，通信介质可以包括同轴线缆、光纤线缆、空气或适用于电、光、射频（RF）、红外、声或其他类型信号的通信的任何其他介质。

示例

下面提供了本文公开的技术的说明性示例。这些技术的实施例可以包括下述示例中的任何一个或多个以及任何组合。

示例1是一种测试和测量设备，包括：输入，被配置为接收用于测试的信号；采集处理器，被配置为从接收的信号生成采集，将所述采集存储在采集存储器中，并将所述采集拷贝到数据存储部；以及采集评估器，被配置为将数据存储部中的采集针对一个或多个准则进行比较，和标识所选采集是否满足所述一个或多个准则。

示例2是根据示例1的测试和测量设备，其中采集评估器被构造成当所述采集满足所述一个或多个准则时将所述采集拷贝到辅助存储器。

示例3是根据前述示例中任一个的测试和测量设备，其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。

示例4是根据前述示例2和3中任一个的测试和测量设备，其中采集评估器进一步被配置为从辅助存储器选择采集，将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较，并且标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。

示例5是根据前述示例2 - 4中任一个的测试和测量设备，进一步包括测量处理器，其被配置为根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。

示例6是根据示例5的测试和测量设备，其中测量处理器是累积处理器。

示例7是根据前述示例中任一个的测试和测量设备，其中所述一个或多个准则包括视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个。

示例8是一种测试和测量仪器中的方法，包括在测试输入处接收测试信号，产生被测信号的数字化样本作为采集并将所述采集存储在采集存储器中，将所述采集从采集存储器拷贝到仪器的存储器存储部，将数据存储部中的采集与一个或多个准则进行比较，以及标识所述采集是否满足所述一个或多个准则。

示例9是根据示例8的测试和测量仪器中的方法，进一步包括当所述采集满足所述一个或多个准则时，将所述采集拷贝到辅助存储器存储部。

示例10是根据任何前述示例方法的测试和测量仪器中的方法，其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。

示例11是根据示例9-10的测试和测量仪器中的方法，进一步包括从辅助存储器选择采集，将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较，以及标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。

示例12是根据前述示例方法中任一个的测试和测量仪器中的方法，进一步包括根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。

示例13是根据示例12的测试和测量仪器中的方法，其中根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量包括进行累积测量。

示例14是根据前述示例方法中任一个的测试和测量仪器中的方法，其中将所述多个采集中的所选一个与一个或多个准则进行比较包括将所述多个采集中的所选一个与视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个进行比较。

所公开主题的先前描述的版本具有许多优点，所述优点已经被描述或者对于普通技术人员来说是清楚的。尽管如此，这些优点或特征并不是在所公开的装置、系统或方法的所有版本中都需要的。

附加地，该书面描述引用了特定的特征。应当理解，本说明书中的公开内容包括这些特定特征的所有可能的组合。在特定方面或示例的上下文中公开了特定特征的情况下，该特征也可以在尽可能的程度上用于其他方面和示例的上下文中。

此外，当在本申请中提到具有两个或更多个所定义的步骤或操作的方法时，所定义的步骤或操作可以以任何顺序或同时执行，除非上下文排除了那些可能性。

尽管为了说明的目的已经图示和描述了本发明的具体示例，但是应当理解，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以进行各种修改。因此，除了所附权利要求之外，本发明不应受到限制。

Claims (14)

1.一种测试和测量设备，包括：

输入，被配置为接收用于测试的信号；

采集处理器，被配置为从接收的信号生成采集，将所述采集存储在采集存储器中，并将所述采集拷贝到数据存储部；以及

采集评估器，被配置为：

将数据存储部中的采集针对一个或多个准则进行比较，和

标识所选采集是否满足所述一个或多个准则。

2.根据权利要求1所述的测试和测量设备，其中，采集评估器被构造成当所述采集满足所述一个或多个准则时将所述采集拷贝到辅助存储器。

3.根据权利要求1所述的测试和测量设备，其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。

4.根据权利要求2所述的测试和测量设备，其中，采集评估器进一步被配置为：

从辅助存储器选择采集；

将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较；以及

标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。

5.根据权利要求2所述的测试和测量设备，进一步包括测量处理器，其被配置为根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。

6.根据权利要求5所述的测试和测量设备，其中测量处理器是累积处理器。

7.根据权利要求1所述的测试和测量设备，其中所述一个或多个准则包括视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个。

8.一种测试和测量仪器中的方法，所述方法包括：

在测试输入处接收测试信号；

产生被测信号的数字化样本作为采集并将所述采集存储在采集存储器中；

将所述采集从采集存储器拷贝到仪器的存储器存储部；

将数据存储部中的采集与一个或多个准则进行比较；以及

标识所述采集是否满足所述一个或多个准则。

9.根据权利要求8所述的方法，进一步包括当所述采集满足所述一个或多个准则时，将所述采集拷贝到辅助存储器存储部。

10.根据权利要求8所述的方法，其中所述一个或多个准则包括由布尔运算符连结的至少两个准则。

11.根据权利要求9所述的方法，进一步包括：

从辅助存储器选择采集；

将从辅助存储器选择的采集与第二一个或多个准则进行比较；以及

标识从辅助存储器选择的采集是否满足第二一个或多个准则。

12.根据权利要求9所述的方法，进一步包括根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量。

13.根据权利要求12所述的方法，其中根据存储在辅助存储器中的一个或多个采集进行测量包括进行累积测量。

14.根据权利要求8所述的方法，其中将所述多个采集中的所选一个与一个或多个准则进行比较包括将所述多个采集中的所选一个与视觉触发、测量触发、事件触发、搜索结果、掩模测试、总线解码结果或硬件触发中的至少一个进行比较。

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