CN115185938A - 一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质 - Google Patents

一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质,包括以下步骤:S1、建立光电检测历史数据库;S2、将检测数据与历史数据库对比,剔除无效的检测数据;S3、采集多组检测数据,计算每组检测数据的标准差;S4、如果由于操作原因导致检测数据的标准差超出标准差上限,则重新检测;否则输出多组测试数据的平均值作为最终的检测结果。本发明有益效果:通过将检测数据与历史数据进行对比删除无效数据,以及计算多组检测数据的标准差,并与标准差上限进行对比,可以保证检测数据的准确性。

Description

一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质
技术领域
本发明属于光电检测技术领域,尤其是涉及一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质。
背景技术
光功率检测仪是对光纤中光信号的光功率进行检测,并采集光功率的数值,并以此作为光纤信号传输质量的主要参考指标,当前的光功率检测数据在处理分析的过程中存在以下问题:第一,检测数据未与历史检测数据进行对比,导致数据中存在一些由于偶然性导致的无效数据,这部分无效数据不能代表光纤的真实工作状态,导致检测结果的准确性难以保证;第二,由于检测过程收到操作手法的影响,导致一些检测数据波动较大,虽然检测数据的平均值合格,但是其数据值的离散型分布,不能代表光纤的真实工作状态。
发明内容
有鉴于此,本发明旨在提出一种光电检测数据分析方法、设备、存储介质,以期解决上述部分技术问题中的至少之一。
为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:
本发明第一方面提供了一种光电检测数据分析方法,包括以下步骤:
S1、建立光电检测历史数据库;
S2、将检测数据与历史数据库对比,剔除无效的检测数据;
S3、采集多组检测数据,计算每组检测数据的标准差;
S4、如果由于操作原因导致检测数据的标准差超出标准差上限,则重新检测;
否则输出多组测试数据的平均值作为最终的检测结果。
进一步的,所述步骤S2包括以下步骤:
S21、输入本次光电检测的项目类型,匹配历史数据库中相对应类型的历史检测数据;
S22、将测试数据与历史数据库的历史数据进行对比,如果检测数据小于预设值上限,且大于预设值下限,则判定检测数据有效;
否则判定检测数据无效。
进一步的,所述所述预设值上限为历史数据平均值的105%;
所述预设值下限为历史数据平均值的95%;。
进一步的,所述步骤S3包括以下步骤:
S31、采集多组检测数据;
S32、计算检测数据的平均值;
S33、计算单次检测数据的方差及标准查;
S34、绘制标准差曲线。
进一步的,所述步骤S4中,标准差上限为历史数据平均值的10%。
本发明第二方面提供了一种电子设备,包括处理器以及与处理器通信连接,且用于存储所述处理器可执行指令的存储器,所述处理器用于执行上述第一方面所述的光电检测数据分析方法。
本发明第三方面提供了一种计算机可读取存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述的光电检测数据分析方法。
相对于现有技术,本发明所述的一种光电检测数据分析方法具有以下有益效果:
(1)本发明所述的一种光电检测数据分析方法,通过将检测数据与历史数据进行对比删除无效数据,以及计算多组检测数据的标准差,并与标准差上限进行对比,可以保证检测数据的准确性。
(2)本发明所述的一种光电检测数据分析方法,多组检测数据的平均差高于历史数据平均值的10%,并且查明是导致此结果的原因是由于操作原因导致的,则需要重新检测并采集检测数据,可以进一步保证检测数据的准确性。
附图说明
构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1为本发明实施例所述的数据分析方法流程示意图。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
实施例一:
本发明第一方面提供了一种光电检测数据分析方法,包括以下步骤:
光功率检测仪是对光纤中的光信号的光功率进行检测,并采集光功率的数值,
S1、建立光电检测历史数据库;
S2、将检测数据与历史数据库对比,剔除无效的检测数据;
S3、采集多组检测数据,计算每组检测数据的标准差;
S4、如果由于操作原因导致检测数据的标准差超出标准差上限,则重新检测;
否则输出多组测试数据的平均值作为最终的检测结果。
步骤S2包括以下步骤:
S21、输入本次光电检测的项目类型,匹配历史数据库中相对应类型的历史检测数据;
S22、将测试数据与历史数据库的历史数据进行对比,如果检测数据小于预设值上限,且大于预设值下限,则判定检测数据有效;
否则判定检测数据无效。
预设值上限为历史数据平均值的105%;
预设值下限为历史数据平均值的95%;。
步骤S3包括以下步骤:
S31、采集多组检测数据;
S32、计算检测数据的平均值;
S33、计算单次检测数据的方差及标准查;
S34、绘制标准差曲线。
步骤S4中,标准差上限为历史数据平均值的10%。
通过将单组检测数据与历史数据进行对比,其中高于历史数据平均值的105%或低于历史数据平均值的95%的数据视为无效数据;并通过计算多组检测数据的标准差,将多组检测数据的标准差与标准差上限进行对比,多组检测数据的平均差高于历史数据平均值的10%,并且查明是导致此结果的原因是由于操作原因导致的,则需要重新检测并采集检测数据,通过检测数据与历史数据平均值对比以及计算标准差,可以保证检测数据的准确性。
实施例二:
一种电子设备,包括处理器以及与处理器通信连接,且用于存储处理器可执行指令的存储器,处理器用于执行上述实施例一中的光电检测数据分析方法。
实施例三:
一种计算机可读取存储介质,存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述上述实施例一中的光电检测数据分析方法。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及方法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的方法和系统,可以通过其它的方式实现。例如,以上所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。上述单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种光电检测数据分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、建立光电检测历史数据库;
S2、将检测数据与历史数据库对比,剔除无效的检测数据;
S3、采集多组检测数据,计算每组检测数据的标准差;
S4、如果由于操作原因导致检测数据的标准差超出标准差上限,则重新检测;否则输出多组测试数据的平均值作为最终的检测结果。
2.根据权利要求1所述的一种光电检测数据分析方法,其特征在于:步骤S2包括以下步骤:
S21、输入本次光电检测的项目类型,匹配历史数据库中相对应类型的历史检测数据;
S22、将测试数据与历史数据库的历史数据进行对比,如果检测数据小于预设值上限,且大于预设值下限,则判定检测数据有效;
否则判定检测数据无效。
3.根据权利要求2所述的一种光电检测数据分析方法,其特征在于:
所述预设值上限为历史数据平均值的105%;
所述预设值下限为历史数据平均值的95%。
4.根据权利要求1所述的一种光电检测数据分析方法,其特征在于:步骤S3包括以下步骤:
S31、采集多组检测数据;
S32、计算检测数据的平均值;
S33、计算单次检测数据的方差及标准查;
S34、绘制标准差曲线。
5.根据权利要求1所述的一种光电检测数据分析方法,其特征在于:步骤S4中,标准差上限为历史数据平均值的10%。
6.一种电子设备,包括处理器以及与处理器通信连接,且用于存储所述处理器可执行指令的存储器,其特征在于:所述处理器用于执行上述权利要求1-5任一所述的光电检测数据分析方法。
7.一种计算机可读取存储介质,存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5任一项所述的光电检测数据分析方法。
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