CN115144164B - 一种显示屏位置偏差测量方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示屏位置偏差测量方法及系统，属于成像产品位置检测技术领域，包括调整待测产品与光学测量设备的中心位置，获取待测产品在光学测量设备成像区域内的视野边界，获得其在第一方向上的角度偏差，分别获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差并据此获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差。本申请通过光学测量设备的成像区域获取显示屏在第一方向上的角度偏差，并利用对焦镜头调整对焦，获得该显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差，整个测试方法相对简单，无需配合较多检测设备，仅通过在二维屏幕上的感知，即可获得显示屏在三维角度内的偏转位移。

Description

一种显示屏位置偏差测量方法及系统

技术领域

本发明属于成像产品位置检测技术领域，具体涉及一种显示屏位置偏差测量方法及系统。

背景技术

目前显示面板已经广泛应用于人们生活的各种场景中，成为人们生活中必不可少的一部分。随着市面上显示器类型的越来越多样化，微显示器也逐渐进入到人们的视野，如可穿戴设备VR和AR等。

随着微显示器的逐渐应用，其产品的制造也随之增多。在微显示器的制造过程中，需要对微显示器产品进行组装，其涉及到微显示屏与其他部件的配合组装，当微显示屏与其他部件存在安装位置偏差时，会导致产品不合格的问题，而现有的人眼检测方式在微显示屏检测领域无法满足需求，且容易造成检测误差，导致微显示器不合格的问题。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种，本发明提供了一种显示屏位置偏差测量方法，用以解决现有检测方式无法满足微显示屏位置偏差检测需求的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种显示屏位置偏差测量方法，其通过光学测量设备测量待测产品与待测产品显示屏的位置偏差，其包括如下步骤：

对待测产品与光学测量设备进行对位；

获取待测产品在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差；

获取待测产品在光学测量设备成像区域内的成像点位信息，分别对成像点位进行对焦，获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差；

根据成像点位在光学测量设备成像区域内的第二方向和第三方向上的像面角度偏差获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差；其中第一方向、第二方向和第三方向两两互相垂直。

作为本发明的进一步改进，待测产品在第一方向上的角度偏差获取方式为：

获取待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取光学测量设备成像区域视野边界，对比待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内视野边界与光学测量设备成像区域视野边界的角度偏差，即为待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面位角度偏差获取方式为：

获取待测产品成像的其中两个点位信息，分别对两点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量；

获取两点位在第二方向上的成像高度差；

根据两点位的后焦距变化量和第二方向上的成像高度差获取待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差获取方式为：

获取两点位的中心点位，对中心点位在光学测量设备上的成型进行对焦，获取对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离；

根据待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差、对焦镜头与待测产品上中心点位距离、对焦镜头与光学测量设备上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差获取方式为：

获取待测产品成像的其中两个点位信息，分别对两点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量；

获取两点位在第三方向上的成像高度差；

根据两点位的后焦距变化量和第三方向上的成像高度差获取待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差获取方式为：

获取两点位的中心点位，对中心点位在光学测量设备上的成像进行对焦，获取对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离；

根据待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差、对焦镜头与待测产品上中心点位距离、对焦镜头与光纤测量设备上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差。

作为本发明的进一步改进，还包括获取待测产品与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差，其包括：

根据对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离获取待测产品显示屏与光学测量设备在第一方向上的位移偏差；

根据待测产品与光学测量设备在第一方向上的位移偏差获取待测产品与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差。

作为本发明的进一步改进，还包括获取待测产品与待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差，其包括：

获取待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差；

根据待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差获取待测产品与待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差获取方式为：

获取待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏视野边界的中心位置；

获取光学测量设备成像区域的视野边界，获取光学测量设备成像区域视野边界的中心位置；

比对待测产品显示屏视野边界的中心位置与光学测量设备成像区域视野边界的中心位置，获取待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差。

作为本发明的进一步改进，待测产品显示屏中心点亮圆形区域，对圆形区域过曝取图，获得圆形区域在光学测量设备成像区域内的中心位置；

比对圆形区域在光学测量设备成像区域内的中心位置与光学测量设备成像区域视野边界的中心位置，获取待测产品显示屏与待测产品在第二方向和第三方向上的位移偏差。

作为本发明的进一步改进，所述光学测量设备为相机或面阵成像设备。

本申请还包括一种显示器产品位置偏差测量系统，其包括：

光学测量设备，所述光学测量设备用于待测产品成像点位检测；

对焦镜头，所述对焦镜头设于所述光学测量设备与待测产品之间，用于所述光学测量设备上成像对焦调节；

定位台，待测产品置于所述定位台上方，且二者位置相对固定，所述定位台用于调整定位区域与所述光学测量设备相对位移，使得定位区域与所述光学测量设备正对设置。

上述改进技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有的有益效果包括：

（1）本发明的显示屏位置偏差测量方法，其通过将待测产品与光学测量设备进行正对设置，使得待测产品与光学测量设备具备初步定位，在待测产品显示屏与光学测量设备的位移偏差确认后，即可变换得到待测产品与待测产品显示屏之间的位移偏差。

（2）本发明的显示屏位置偏差测量方法，其通过将待测产品与光学测量设备对正之后，通过比对待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像角度偏差，以此获取待测产品显示屏在第一方向上的旋转角度偏差；其通过待测产品在第二方向、第三方向上的成像高度差，并分别对成像点位进行对焦获取后焦距变化量，以此计算得到成像点位分别在第二方向和第三方向上的旋转角度偏差。本申请通过将待测产品显示屏对应投影至光学测量设备的成像区域内，以此将待测产品显示屏的第一方向的角度偏差具体化，并通过后焦距变化量和成像高度偏差等分别获取待测产品显示屏分别在第二方向和第三方向上的偏差，其仅通过一个光学测量设备在二维上的成像区域即可获取待测产品显示屏在三维上的角度偏差，以获得待测产品与待测产品显示屏在三维空间内的角度偏差。

（3）本发明的显示屏位置偏差测量方法，其首先通过将待测产品与光学测量设备进行初步定位，获得待测产品与光学测量设备的相对位置关系，然后通过光学测量设备获取待测产品显示屏中心位置，以此获得待测产品与光学测量设备之间的位移偏差，再通过待测产品与光学测量设备的固定位置关系换算得到待测产品与待测产品显示屏之间的位移偏差，其通过对待测产品的位置进行相对固定，并通过光学测量设备的位置计算待测产品显示屏的位置，以此获取待测产品与待测产品显示屏的位置关系，进而得到产品内部显示屏的位移偏差，方便操作者进行位置矫正工作。

附图说明

图1是本发明实施例中显示屏位置偏差测量方法的整体流程示意图；

图2是本发明实施例中显示屏位置偏差测量系统的整体结构示意图；

图3是本发明实施例中待测产品显示屏在光学测量设备上成像示意图；

图4是本发明实施例中待测产品点亮圆形区域在光学测量设备上过曝示意图；

图5是本发明实施例中待测产品成像与光学测量设备成像区域内成像在第二方向上位置偏差示意图。

在所有附图中，同样的附图标记表示相同的技术特征，具体为：

1、待测产品；2、光学测量设备；3、对焦镜头；4、定位台。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

实施例：

请参阅图1~5，本发明优选实施例中的显示屏位置偏差测量方法，其通过光学测量设备2测量待测产品1与待测产品显示屏的位置偏差，其包括如下步骤：

对待测产品1与光学测量设备2进行对位；

获取待测产品1在光学测量设备2成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差；

获取待测产品1在光学测量设备2成像区域内的成像点位信息，分别对成像点位进行对焦，获取成像点位在光学测量设备2成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差；

根据成像点位在光学测量设备2成像区域内的第二方向和第三方向上的像面角度偏差获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差；其中，第一方向、第二方向和第三方向两两互相垂直。

值得说明的是，上述中的第一方向指代光学测量设备2的入瞳中心朝向待测产品1的出瞳中心方向，第二方向在水平面内垂直于第一方向，第三方向指代竖直方向。

同时，本申请中待测产品1与光学测量设备2的中心位置的调整均通过定位台4来实现，由于光学测量设备2属于常用近眼检测设备，其在检测过程中位置变动可能性较少，其主要是待测产品1的更换，因此此处位置调整主要指代待测产品1位置的调整。因此优选在待测产品1下方设置定位台4，首先通过获取定位台4与光学测量设备2的相对位置，再利用定位台4与待测产品1的相对匹配获取待测产品1与定位台4的相对位置，以此获知待测产品1与光学测量设备2的相对位置。

可选地，实际设置过程中也可针对待测产品1和/或光学测量设备2配置定位台4。同时，待测产品1与光学测量设备2的正对设置仅作为参考设置，即在待测设备显示屏无位移偏差时其出瞳中心与光学测量设备2入瞳中心正对时待测产品1与光学测量设备2的相对位置，其仅作为定位参考，以降低待测产品显示屏的调整偏差。

可选地，上述对位过程中，也可以除光学测量设备2之外的其他作为参考对照点，以满足对待测产品1、光学测量设备2的位置坐标进行获取即可。

进一步地，上述对待测产品1与光学测量设备2进行对位时，主要实现待测产品1与光学测量设备2正对设置，由于待测产品1与定位台4相对固定，待测产品1与光学测量设备2的位置调整即为定位台4与光学测量设备2之间的位置调整。可首先确定定位台4的中心与光学测量设备2的中心的位置偏差，然后调整定位台4的位置，使得定位台4中心与光学测量设备2中心对正。

在定位台4与光学测量设备2的位置调整过程中，其还包括调整定位台4与光学测量设备2的角度偏差，使得定位台4与光学测量设备2之间的角度偏差为零。在定位台4与光学测量设备2之间的位置偏差和角度偏差调整完毕后，待测产品1与光学测量设备2完成正对设置，且待测产品1与光学测量设备2之间的位置关系完全确认，在待测产品显示屏与光学测量设备2之间的位置关系确认后，即可直接得到待测产品1与待测产品显示屏的位置偏差。

进一步地，作为本发明的优选实施例，本申请中的待测产品1在第一方向上的角度偏差获取方式为：

获取待测产品显示屏在光学测量设备2成像区域内成像的视野边界，获取光学测量设备2成像区域视野边界，对比待测产品显示屏在光学测量设备2成像区域内视野边界与光学测量设备2成像区域视野边界的角度偏差，以此获得待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差。

在利用光学测量设备2获取待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差时，为了便于使用体验，待测产品显示屏的显示区域通常设置为方形区域，本申请同样选用方形成像区域的光学测量设备2，通过光学测量设备2的成像区域感知待测产品显示屏的成像区域，即可在光学测量设备2的成像区域内获取一个方向区域套设在另一方向区域的画面，如图3所示。成像中的外框画面即为光学测量设备2的成像区域，内框画面即为待测产品显示屏的成像区域，光学测量设备2通常为水平摆放设置，其成像区域同样为水平方形。当待测产品显示屏存在第一方向的角度偏差时，其在光学测量设备2成像区域内所成图像即存在角度偏差，在待测产品1与光学测量设备2对正的情况下，即可获得待测产品显示屏与待测产品1在第一方向上的角度偏差。

进一步地，作为本发明的优选实施例，本申请中的待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差获取方式为：

获取待测产品1成像的其中两个点位信息，分别对两点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量；获取两点位在第二方向上的成像高度差；

根据两点位的后焦距变化量和第二方向上的成像高度差获取待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差。

在利用光学测量设备2获取待测产品显示屏在第二方向上的像面角度偏差时，当待测产品显示屏存在第二方向上的角度偏差时，其在不同第二方向位移上所成点位在光学测量设备2成像区域的清晰度会有所偏差，本申请分别对不同点位进行对焦，获取不同点位对焦的后焦距变化量；再通过获取不同点位在第二方向上的成像高度差，以此获得待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差。

具体地，如图5所示，下面分别以A1、A2为待测产品显示屏上的两个点位，B1、B2为光学测量设备2成像区域内所成像点位，通过对焦镜头3分别对A1、A2进行对焦，通过光学测量设备2获取二者的后焦距变化量△L1，通过光学测量设备2获取二者在第二方向上的成像高度差△H1，以此获得待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差β1：

当然，上述计算公式仅作为一种示例，还可以采用其他方式计算上述像面角度偏差。

进一步地，作为本发明的优选实施例，本申请中待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差获取方式为：

获取两点位的中心点位，对中心点位在光学测量设备2上的成像进行对焦，获取对焦后对焦镜头3分别与待测产品1上中心点位和光学测量设备2上成像中心点位的距离；

根据待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差、对焦镜头3与待测产品1上中心点位距离、对焦镜头3与光学测量设备2上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差。

在利用待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第二方向上的像面角度偏差获取待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差时，需要考虑待测产品显示屏、对焦镜头3以及光学测量设备2成像区域之间的相对距离。为此，选定A1、A2之间的中点A0作为基准点，其在光学测量设备2成像区域内所成像点位为B0，对A0在光学测量设备2上的成像进行对焦，同时获取此时A0到对焦镜头3之间的距离a1，获取B0到对焦镜头3之间的距离b1，以此计算得到待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差α1：

当然，上述计算公式仅作为一种示例，还可以采用其他方式计算上述角度偏差。

进一步地，待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第三方向上的像面角度偏差获取方式与其在第二方向上的像面角度偏差获取方式相当，具体不再赘述。下面分别以A3、A4为待测产品显示屏上的两个点位，B3、B4为光学测量设备2成像区域内所成像点位，通过对焦镜头3分别对A3、A4进行对焦，通过光学测量设备2获取二者的后焦距变化量△L2，通过光学测量设备2获取二者在第三方向上的成像高度差△H2，以此获得待测产品1成像在光学测量设备2成像区域内第三方向上的像面角度偏差β2：

当然，上述计算公式仅作为一种示例，还可以采用其他方式计算上述像面角度偏差。

进一步地，待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差获取方式与其在第二方向上的角度偏差获取方式相当，具体不再赘述。下面分别选定A3、A4之间的中点A5作为基准点，其在光学测量设备2成像区域内所成像点位为B5，对A5在光学测量设备2上的成像进行对焦，同时获取此时A5到对焦镜头3之间的距离a2，获取B5到对焦镜头3之间的距离b2，以此计算得到待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差α2：

当然，上述计算公式仅作为一种示例，还可以采用其他方式计算上述角度偏差。

进一步优选地，上述计算过程中A1、A2、A3、A4分别位于待测产品显示屏的四个边角上，并且A1、A2的中心点位优选与A3、A4的中心点位重合，其优选为待测产品显示屏的正中心位置。上述点位均可通过标记形式直接标记在待测产品显示屏上，在测试完毕后擦除即可。

通过上述计算，我们可以分别获得该待测产品显示屏分别在第一方向、第二方向和第三方向上的角度偏差。

进一步地，作为本发明的优选实施例，本申请还包括获取待测产品与待测产品显示屏在第一方向、第二方向和第三方向上的位移偏差。具体地，其包括如下步骤：

（1）获取待测产品1与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差。

在计算待测产品显示屏与光学测量设备2在第二方向或第三方向上的位移偏差时，其针对待测产品1成像的其中两个点位信息进行获取，此时已经得到两点位中心在对焦后对焦镜头3分别与待测产品上中心点位和光学测量设备2上成像中心点位的距离。此时已经获取得到两点位中心点位与光学测量设备2之间的位置关系，此时待测产品显示屏与光学测量设备2在第一方向上的位移偏差已经获取得到，而待测产品1与光学测量设备2的位置关系在测试之初已经固定，此时即可获得待测产品1与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差。

（2）获取待测产品1与光学测量设备2在第二方向和第三方向上的位移偏差。

具体地，首先获取待测产品显示屏在光学测量设备2成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏视野边界的中心位置；然后获取光学测量设备2成像区域的视野边界，获取光学测量设备2成像区域视野边界的中心位置，比对待测产品显示屏视野边界的中心位置与光学测量设备2成像区域视野边界的中心位置，获取二者分别在第二方向和第三方向上的位移偏差。

作为另一可选实施例，如图4所示，在待测产品显示屏的中心点亮圆形区域，然后对圆形区域过曝取图，然后通过光学测量设备2获取该圆形区域的中心位置；对比圆形区域在光学测量设备2成像区域内的中心位置与光学测量设备2成像区域视野边界的中心位置，二者在第二方向和第三方向上的位移偏差即为待测产品显示屏与光学测量设备2在第二方向和第三方向上的位移偏差

（3）根据待测产品1与光学测量设备2在第二方向和第三方向上的位移偏差获取待测产品1与待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差。

同样地，待测产品1与光学测量设备2在第一方向、第二方向和第三方向上的位移偏差在定位之初已经全部确定，在待测产品显示屏与光学测量设备2在第二方向和第三方向上的位移偏差确定后即可直接获得待测产品1与待测产品显示屏在第二方向与第三方向上的位移偏差。

优选地，上述光学测量设备2优选指代光阑前置，且视角较大，对焦无穷远且景深较大的一类光学测量设备，其主要用于近眼成像设备的光学参数的检测，其优选为相机或面阵成像设备。

进一步地，本申请还包括有一种显示屏产品位置偏差测量系统，如图2所示，其具体包括：光学测量设备2，该光学测量设备2用于待测产品1成像点位的检测；对焦镜头3，该对焦镜头3设于光学测量设备2与待测产品1之间，用于光学测量设备2上成像焦距的调节；定位台4，待测产品1置于定位台4的上方，并在测试时二者位置相对固定，定位台4与光学测量设备2的位移可相对调整，以实现待测产品1与光学测量设备2位置的正对设置。

本申请中的显示屏产品位置偏差测量系统通过定位台4调整待测产品1位置，使得待测产品1与光学测量设备2正对设置，然后分别通过光学测量设备2测量待测产品显示屏在第一方向的角度偏差，然后通过对焦镜头3调节对焦，分别获取待测产品显示屏上成像的后焦距变化量和第二方向、第三方向上的成像高度差，以此获取其待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差，以此获知待测产品显示屏在三维空间内的角度偏差。同时，通过比对待测产品显示屏中心位置与光学测量设备2成像区域的中心位置，以此获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差。具体地，该系统的实现原理、技术效果与上述方法类似，在此不做累述。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种显示屏位置偏差测量方法，其通过光学测量设备测量待测产品与待测产品显示屏的位置偏差，其特征在于，包括如下步骤：

对待测产品与光学测量设备进行对位；

获取待测产品在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差；

获取待测产品在光学测量设备成像区域内的成像点位信息，分别对成像点位进行对焦，获取成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向和第三方向上的像面角度偏差；其中，所述待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差获取方式为：获取待测产品成像的其中两个点位信息，分别对两点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量，获取两点位在第二方向上的成像高度差；根据两点位的后焦距变化量和第二方向上的成像高度差获取待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差；

根据成像点位在光学测量设备成像区域内的第二方向和第三方向上的像面角度偏差获得待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的角度偏差；其中，第一方向、第二方向和第三方向两两互相垂直。

2.根据权利要求1所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品在第一方向上的角度偏差获取方式为：

获取待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取光学测量设备成像区域视野边界，对比待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内视野边界与光学测量设备成像区域视野边界的角度偏差，即为待测产品显示屏在第一方向上的角度偏差。

3.根据权利要求1所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差获取方式为：

获取两点位的中心点位，对中心点位在光学测量设备上的成像进行对焦，获取对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离；

根据待测产品成像在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差、对焦镜头与待测产品上中心点位距离、对焦镜头与光学测量设备上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差。

4.根据权利要求1或2所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差获取方式为：

获取待测产品成像的其中两个点位信息，分别对两点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量；

获取两点位在第三方向上的成像高度差；

根据两点位的后焦距变化量和第三方向上的成像高度差获取待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差。

5.根据权利要求4所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差获取方式为：

获取两点位的中心点位，对中心点位在光学测量设备上的成像进行对焦，获取对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离；

根据待测产品成像在光学测量设备成像区域内第三方向上的像面角度偏差、对焦镜头与待测产品上中心点位距离、对焦镜头与光学测量设备上成像中心点位的距离计算得到待测产品显示屏在第三方向上的角度偏差。

6.根据权利要求5所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，还包括获取待测产品与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差，其包括：

根据对焦后对焦镜头分别与待测产品上中心点位和光学测量设备上成像中心点位的距离获取待测产品显示屏与光学测量设备在第一方向上的位移偏差；

根据待测产品与光学测量设备在第一方向上的位移偏差获取待测产品与待测产品显示屏在第一方向上的位移偏差。

7.根据权利要求1所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，还包括获取待测产品与待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差，其包括：

获取待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差；

根据待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差获取待测产品与待测产品显示屏在第二方向和第三方向上的位移偏差。

8.根据权利要求7所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差获取方式为：

获取待测产品显示屏在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，获取待测产品显示屏视野边界的中心位置；

获取光学测量设备成像区域的视野边界，获取光学测量设备成像区域视野边界的中心位置；

比对待测产品显示屏视野边界的中心位置与光学测量设备成像区域视野边界的中心位置，获取待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差。

9.根据权利要求7所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，待测产品与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差获取方式为：

在待测产品显示屏中心点亮圆形区域，对圆形区域过曝取图，获得圆形区域在光学测量设备成像区域内的中心位置；

比对圆形区域在光学测量设备成像区域内的中心位置与光学测量设备成像区域视野边界的中心位置，获取待测产品显示屏与光学测量设备在第二方向和第三方向上的位移偏差。

10.根据权利要求1所述的显示屏位置偏差测量方法，其特征在于，所述光学测量设备为相机或面阵成像设备。

11.一种显示器产品位置偏差测量系统，其特征在于，包括：

光学测量设备，所述光学测量设备用于待测产品成像点位检测；

对焦镜头，所述对焦镜头设于所述光学测量设备与待测产品之间，用于所述光学测量设备上成像对焦调节；

所述待测产品包括有显示屏，所述对焦镜头用于获取待测产品显示屏在第一方向、第二方向和第三方向上的角度偏差；

所述对焦镜头用于获取待测产品在光学测量设备成像区域内成像的视野边界，以获取待测产品的显示屏在第一方向上的角度偏差；

以及分别对显示屏上其中两个成像点位进行对焦，获取两点位对焦的后焦距变化量，获取两点位在第二方向上的成像高度差，并根据两点位的后焦距变化量和第二方向上的成像高度差获取待测产品在光学测量设备成像区域内第二方向上的像面角度偏差；根据成像点位在光学测量设备成像区域内第二方向的像面角度偏差获得待测产品显示屏在第二方向上的角度偏差；

定位台，待测产品置于所述定位台上方，且二者位置相对固定，所述定位台用于调整定位区域与所述光学测量设备相对位移，使得定位区域与所述光学测量设备正对设置。

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