CN115096201B - 一种非接触式形变检测方法及相关设备 - Google Patents
一种非接触式形变检测方法及相关设备 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种非接触式形变检测方法及相关设备,方法包括:获取待测量件在目标图像中的轮廓线条;根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号;获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条;根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据。本发明可以实现准确的非接触式形变检测。
Description
技术领域
本发明涉及测量技术领域,特别涉及一种非接触式形变检测方法及相关设备。
背景技术
很多部件在使用过程中会产生形变,现有技术中,存在接触式的尺寸测量方式(例如通过卡尺、水平仪等接触式的测量工具)来测量其形变,但是有些部件在安装后不方便取下进行测量,比如已安装的机床夹具,机床夹具固定好,之后拆下再重新安装需要进行对准、调直、调水平、固定等多个程序,在流水线生产过程中,需要停线进行这些操作,显然是不方便的,还有些部件因为材质过软,普通的测量工具会造成夹伤、划伤,需要十分谨慎操作,容易造成报废,这些情况下使用接触式的尺寸测量方式效率很低。
因此,现有技术还有待改进和提高。
发明内容
针对现有技术的上述缺陷,本发明提供一种非接触式形变检测方法,旨在解决现有技术中采用接触式的尺寸测量方式效率低的的问题。
为了解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下:
本发明的第一方面,提供一种非接触式形变检测方法,所述方法包括:
获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,所述目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对所述待测量件进行拍照得到;
根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号,其中,所述实际光反射信号是基于向所述待测量件发送光束的反射光生成的;
获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,所述参考光反射信号为参考件在第二预设位置时所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,所述参考轮廓线条为所述参考件在所述第二预设位置时,拍摄装置在所述第一预设位置采用所述预设角度对所述参考件进行拍照得到的图像中所述参考件的轮廓线条;
根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述获取所述待测量件的在目标图像中的轮廓线条,包括:
将所述目标图像输入至已训练的线条提取模型,获取所述线条提取模型输出的所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条;
其中,所述已训练的线条提取模型基于多组训练数据训练完成,每组训练数据包括样本目标图像以及所述样本目标图像中样本待测量件的标注轮廓线条。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述获取所述线条提取模型输出的所述待测量件的实际位置之后,还包括:
获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述差异大于预设阈值时,发出提示信息。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述线条提取模型包括区域提取模块和轮廓提取模块,所述线条提取模型的训练过程为:
将样本图像输入至所述区域提取模块,获取所述区域提取模块输出的所述样本图像中的样本区域图像;
将所述样本区域图像输入至所述轮廓提取模块,获取所述轮廓提取模块输出的样本轮廓线条;
基于所述样本区域图像和所述样本图像对应的样本标注区域获取第一损失,其中,所述样本标注区域为所述样本图像中的样本待测量件在所述样本图像中实际所占区域;
基于所述样本轮廓线条和所述样本图像对应的样本标注轮廓线条获取第二损失;
根据所述第一损失和所述第二损失得到所述样本图像对应的训练损失;
根据所述训练损失更新所述区域提取模块和所述轮廓提取模块的参数。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
将所述实际光反射信号和所述参考光反射信号组成第一输入对,将所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条和所述参考轮廓线条组成第二输入对,将所述第一输入对和所述第二输入对输入至已训练的形变测量网络,获取所述形变测量网络输出的所述待测量件的形变数据。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述光束发射数据对应第一光点区域和第二光点区域,所述第一光点区域内的光点密度高于所述第二光点区域内的光点密度。
所述的一种非接触式形变检测方法,其中,所述待测量件为加工件,所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
根据所述待测量件的形变数据对加工路径进行调整。
本发明的第二方面,提供一种非接触式形变检测装置,包括:
线条提取模块,所述线条提取模块用于获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,所述目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对所述待测量件进行拍照得到;
光束发射模块,所述光束发射模块用于根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号,其中,所述实际光反射信号是基于向所述待测量件发送光束的反射光生成的;
参考数据获取模块,所述参考数据获取模块用于获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,所述参考光反射信号为参考件在第二预设位置时所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,所述参考轮廓线条为所述参考件在所述第二预设位置时,拍摄装置在所述第一预设位置采用所述预设角度对所述参考件进行拍照得到的图像中所述参考件的轮廓线条;
形变确定模块,所述形变确定模块用于根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据。
本发明的第三方面,提供一种终端,所述终端包括处理器、与处理器通信连接的计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质适于存储多条指令,所述处理器适于调用所述计算机可读存储介质中的指令,以执行实现上述任一项所述的一种非接触式形变检测方法的步骤。
本发明的第四方面,提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现上述任一项所述的一种非接触式形变检测方法的步骤。
与现有技术相比,本发明提供了一种非接触式形变检测方法,所述的非接触式形变检测方法,采用光束照射至待测量件上,获取光束的实际反射光信号,并且获取图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条,由于用于提取轮廓线条的图像都是拍摄装置在同一位置采用同一角度进行拍摄得到的,因此,图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条之间的差异可以反映出待测量间的位置是不是在参考位置,基于实际光反射信号、参考光反射信号、图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条来获取形变数据,可以实现准确的非接触式形变检测。
附图说明
图1为本发明提供的一种非接触式形变检测方法的实施例的流程图;
图2为本发明提供的一种非接触式形变检测装置的实施例的结构原理图;
图3为本发明提供的终端的实施例的原理示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明提供的一种非接触式形变检测方法,可以应用于具有计算能力的终端中,终端可以但不限于是各种计算机、服务器、移动设备等。
实施例一
如图1所示,一种非接触式形变检测方法的一个实施例中,包括步骤:
S100、获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对待测量件进行拍照得到。
对于同一类型的待测量件,对其进行拍摄获取对应的目标图像时,拍摄装置的位置和角度相同,在本实施例中,将理论尺寸(没有形变的状态称为理论状态,可以采用设计图纸尺寸作为理论尺寸)相同的待测量件称为类型相同的待测量件。
获取待测量件在目标图像中的轮廓线条可以通过现有的线条提取算法实现,在本实施例中,通过已训练的线条提取模型来实现轮廓线条的提取,即,获取待测量件的在目标图像中的轮廓线条,包括:
将目标图像输入至已训练的线条提取模型,获取线条提取模型输出的待测量件在目标图像中的轮廓线条。
其中,已训练的线条提取模型基于多组训练数据训练完成,每组训练数据包括样本目标图像以及样本目标图像中样本待测量件的标注轮廓线条。
下面对线条提取模型的训练过程进行介绍:
线条提取模型包括区域提取模块和轮廓提取模块,线条提取模型的训练过程为:
将样本图像输入至区域提取模块,获取区域提取模块输出的样本图像中的样本区域图像;
将样本区域图像输入至轮廓提取模块,获取轮廓提取模块输出的样本轮廓线条;
基于样本区域图像和样本图像对应的样本标注区域获取第一损失,其中,样本标注区域为样本图像中的样本待测量件在样本图像中实际所占区域;
基于样本轮廓线条和样本图像对应的样本标注轮廓线条获取第二损失;
根据第一损失和第二损失得到样本图像对应的训练损失;
根据训练损失更新区域提取模块和轮廓提取模块的参数。
第一损失可以基于样本区域图像在样本图像中的位置以及尺寸大小、样本标注区域在样本图像中给的位置以及尺寸大小之间的差异得到。
第二损失可以基于样本轮廓线条和样本标注轮廓线条之间的差异得到。
如图1所示,本实施例提供的方法,还包括步骤:
S200、根据待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得光束发射装置根据光束发射数据发射光束照射至待测量件,获取实际光反射信号,其中,实际光反射信号是基于向待测量件发送光束的反射光生成的。
为了实现非接触式测量,在本实施例中,采用光学测量的方式,向待检测件发送光束,根据光束的反射光得到实际光反射信号,将实际光反射信号与参考光反射信号进行比较来实现形变的测量。
光束发射数据包括光束发出点的位置和角度。相同类型的待测量件对应的光束发射数据是相同的,也就是说,对于同类型的待测量件,光束发射装置发出的光束的角度、起点都是相同的。具体地,每道光束的发出点可以看做是一个光点,形变测量中往往需要测量一个面的形变,因此,需要发出多道光束,针对不同的精度需求,光束发射数据可以对应有第一光点区域和第二光点区域,第一光点区域内的光点密度高于第二光点区域内的光点密度,也就是说,对于第一光点区域对应的待测量件的区域的测量精度要求高于第二光点区域对应的待测量件的区域的测量精度要求。而为了防止待测量件的摆放位置的不同导致光束投射至待测量件后,被照射到的区域不能够完全覆盖实际需要检测的区域,光束发射数据对应的光点区域应基于对待测量件的实际需要检测区域进行放大后的区域确定。
具体地,为了区分光束发射角度、相机位置和拍摄角度造成的反射光信号改变和测量件的形变造成的反射光信号改变,并考虑测量件的摆放位置的影响,在本实施例中,设置有参考光反射信号和参考轮廓线条。
本实施例提供的方法,还包括步骤:
S300、获取待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条。
其中,参考光反射信号为参考件在第二预设位置时光束发射装置根据光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,参考轮廓线条为参考件在第二预设位置时,拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对参考件进行拍照得到的图像中参考件的轮廓线条。
根据需要获取待检测件相对于什么状态的形变数据确定参考件,当需要获取待检测件相对于理想状态的形变数据,那么,参考件的尺寸和形状与待测量件在无形变状态下的尺寸和形状相同,例如,对于某一个夹具,可以以其没有使用过的状态下,根据对应的光束发射数据发射光束照射,得到参考光反射信号。当需要获取待检测件在当前时刻前预设时段内内的形变数据时,那么参考件为该预设时段的起始时刻时的该待检测件,参考件的尺寸和形状与该待检测件在该预设时段的启起始时刻时的尺寸和形状相同。
参考光反射信号是向参考件发送光束并接收反射光得到的,获取参考光反射信号的光束发射数据和获取实际光反射信号的光束发射数据相同,以避免光束对形变测量结果的影响。
而即使向待测量件发射光束的光束发射数据不变,但是待测量件的摆放位置也会影响反射光信号,考虑到这种影响,在本实施例中,设置有第二预设位置,在获取参考光反射信号时,参考件处于第二预设位置,将参考件放置在第二预设位置,拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对参考件进行拍摄得到图像,并基于该图像提取其中的参考件的轮廓线条作为参考轮廓线条,可以看出参考轮廓线条和待测量件在目标图像中的轮廓线条之间的差异可以反映待测量件所处的位置与第二预设位置之间的差异,在后续步骤中,将考虑这个差异来确定待测量件的形变数据,以获得准确的形变数据。
S400、根据实际光反射信号、参考光反射信号、参考轮廓线条以及待测量件在目标图像中的轮廓线条,确定待测量件的形变数据。
根据实际光反射信号、参考光反射信号、参考轮廓线条以及待测量件在目标图像中的轮廓线条,确定待测量件的形变数据,具体包括:
将实际光反射信号和参考光反射信号组成第一输入对,将待测量件在目标图像中的轮廓线条和参考轮廓线条组成第二输入对,将第一输入对和第二输入对输入至已训练的形变测量网络,获取形变测量网络输出的待测量件的形变数据。
实际光反射信号和参考光反射信号之间的差异反映了待测量件的摆放位置和第二预设位置之间的差异以及待检测件的形变,而待测量件在目标图像中的轮廓线条和参考轮廓线条之间的差异反映了待测量件的摆放位置和第二预设位置之间的差异。因此,在本实施例中,将四者输入至已训练的形变测量网络,来获取待测量件的形变数据。
形变测量网络可以基于多组训练数据训练而成,妹子训练数据包括样本待测量件对应的样本第一输入对和样本第二输入对以及样本待测量件的标注形变数据,样本第一输入对包括样本实际光反射信号和样本参考光反射信号,样本第二输入对包括样本待测量件在样本图像中的轮廓线条和样本参考轮廓线条。
进一步地,当本实施例提供的方法应用于机械加工场景中时,若待测量件为加工件,例如机床夹具等,可以根据待测量件的形变数据对加工路径进行调整。
具体地,当待测量件为机床夹具时,根据待测量件的形变数据确定待测量件的夹持面的倾斜角度,根据夹持面的倾斜角度对加工路径进行调整。
综上所述,本实施例提供一种非接触式形变检测方法,采用光束照射至待测量件上,获取光束的实际反射光信号,并且获取图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条,由于用于提取轮廓线条的图像都是拍摄装置在同一位置采用同一角度进行拍摄得到的,因此,图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条之间的差异可以反映出待测量间的位置是不是在参考位置,基于实际光反射信号、参考光反射信号、图像中的待测量件的轮廓线条和参考轮廓线条来获取形变数据,可以实现准确的非接触式形变检测。
应该理解的是,虽然本发明说明书附图中给出的的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取计算机可读存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink) DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
实施例二
基于上述实施例,本发明还相应提供了一种非接触式形变检测装置,如图2所示,该非接触式形变检测装置包括:
线条提取模块,线条提取模块用于获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对待测量件进行拍照得到,具体如实施例一中所述;
光束发射模块,光束发射模块用于根据待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得光束发射装置根据光束发射数据发射光束照射至待测量件,获取实际光反射信号,其中,实际光反射信号是基于向待测量件发送光束的反射光生成的,具体如实施例一中所述;
参考数据获取模块,参考数据获取模块用于获取待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,参考光反射信号为参考件在第二预设位置时光束发射装置根据光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,参考轮廓线条为参考件在第二预设位置时,拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对参考件进行拍照得到的图像中参考件的轮廓线条,具体如实施例一中所述;
形变确定模块,形变确定模块用于根据实际光反射信号、参考光反射信号、参考轮廓线条以及待测量件在目标图像中的轮廓线条,确定待测量件的形变数据,具体如实施例一中所述。
实施例三
基于上述实施例,本发明还相应提供了一种终端,如图3所示,终端包括处理器10以及存储器20。图3仅示出了终端的部分组件,但是应理解的是,并不要求实施所有示出的组件,可以替代的实施更多或者更少的组件。
存储器20在一些实施例中可以是终端的内部存储单元,例如终端的硬盘或内存。存储器20在另一些实施例中也可以是终端的外部存储设备,例如终端上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card, SMC),安全数字(Secure Digital, SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,存储器20还可以既包括终端的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器20用于存储安装于终端的应用软件及各类数据。存储器20还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。在一实施例中,存储器20上存储有一种非接触式形变检测程序30,该一种非接触式形变检测程序30可被处理器10所执行,从而实现本申请中一种非接触式形变检测方法。
处理器10在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit,CPU),微处理器或其他芯片,用于运行存储器20中存储的程序代码或处理数据,例如执行一种非接触式形变检测方法等。
在一实施例中,当处理器10执行存储器20中一种非接触式形变检测程序30时实现以下步骤:
获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,所述目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对所述待测量件进行拍照得到;
根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号,其中,所述实际光反射信号是基于向所述待测量件发送光束的反射光生成的;
获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,所述参考光反射信号为参考件在第二预设位置时所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,所述参考轮廓线条为所述参考件在所述第二预设位置时,拍摄装置在所述第一预设位置采用所述预设角度对所述参考件进行拍照得到的图像中所述参考件的轮廓线条;
根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据。
其中,所述获取所述待测量件的在目标图像中的轮廓线条,包括:
将所述目标图像输入至已训练的线条提取模型,获取所述线条提取模型输出的所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条;
其中,所述已训练的线条提取模型基于多组训练数据训练完成,每组训练数据包括样本目标图像以及所述样本目标图像中样本待测量件的标注轮廓线条。
其中,所述获取所述线条提取模型输出的所述待测量件的实际位置之后,还包括:
获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述差异大于预设阈值时,发出提示信息。
其中,所述线条提取模型包括区域提取模块和轮廓提取模块,所述线条提取模型的训练过程为:
将样本图像输入至所述区域提取模块,获取所述区域提取模块输出的所述样本图像中的样本区域图像;
将所述样本区域图像输入至所述轮廓提取模块,获取所述轮廓提取模块输出的样本轮廓线条;
基于所述样本区域图像和所述样本图像对应的样本标注区域获取第一损失,其中,所述样本标注区域为所述样本图像中的样本待测量件在所述样本图像中实际所占区域;
基于所述样本轮廓线条和所述样本图像对应的样本标注轮廓线条获取第二损失;
根据所述第一损失和所述第二损失得到所述样本图像对应的训练损失;
根据所述训练损失更新所述区域提取模块和所述轮廓提取模块的参数。
其中,所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
将所述实际光反射信号和所述参考光反射信号组成第一输入对,将所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条和所述参考轮廓线条组成第二输入对,将所述第一输入对和所述第二输入对输入至已训练的形变测量网络,获取所述形变测量网络输出的所述待测量件的形变数据。
其中,所述光束发射数据对应第一光点区域和第二光点区域,所述第一光点区域内的光点密度高于所述第二光点区域内的光点密度。
其中,所述待测量件为加工件,所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
根据所述待测量件的形变数据对加工路径进行调整。
实施例四
本发明还提供一种计算机可读存储介质,其中,存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如上所述的一种非接触式形变检测方法的步骤。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (7)
1.一种非接触式形变检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,所述目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对所述待测量件进行拍照得到;
根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号,其中,所述实际光反射信号是基于向所述待测量件发送光束的反射光生成的,所述光束发射数据包括光束发出点的位置和角度,所述光束发射数据对应第一光点区域和第二光点区域,所述第一光点区域内的光点密度高于所述第二光点区域内的光点密度,对于所述第一光点区域对应的所述待测量件的区域的测量精度要求高于所述第二光点区域对应的所述待测量件的区域的测量精度要求,所述光束发射数据对应的光点区域基于对所述待测量件的实际需要检测区域进行放大后的区域确定;
获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,所述参考光反射信号为参考件在第二预设位置时所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,所述参考轮廓线条为所述参考件在所述第二预设位置时,拍摄装置在所述第一预设位置采用所述预设角度对所述参考件进行拍照得到的图像中所述参考件的轮廓线条;
根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据;
所述获取所述待测量件的在目标图像中的轮廓线条,包括:
将所述目标图像输入至已训练的线条提取模型,获取所述线条提取模型输出的所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条;
其中,所述已训练的线条提取模型基于多组训练数据训练完成,每组训练数据包括样本目标图像以及所述样本目标图像中样本待测量件的标注轮廓线条;
所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
将所述实际光反射信号和所述参考光反射信号组成第一输入对,将所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条和所述参考轮廓线条组成第二输入对,将所述第一输入对和所述第二输入对输入至已训练的形变测量网络,获取所述形变测量网络输出的所述待测量件的形变数据。
2.根据权利要求1所述的一种非接触式形变检测方法,其特征在于,所述获取所述线条提取模型输出的所述待测量件的实际位置之后,还包括:
获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述获取所述参考轮廓线条和所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条之间的差异,当所述差异大于预设阈值时,发出提示信息。
3.根据权利要求1所述的一种非接触式形变检测方法,其特征在于,所述线条提取模型包括区域提取模块和轮廓提取模块,所述线条提取模型的训练过程为:
将样本图像输入至所述区域提取模块,获取所述区域提取模块输出的所述样本图像中的样本区域图像;
将所述样本区域图像输入至所述轮廓提取模块,获取所述轮廓提取模块输出的样本轮廓线条;
基于所述样本区域图像和所述样本图像对应的样本标注区域获取第一损失,其中,所述样本标注区域为所述样本图像中的样本待测量件在所述样本图像中实际所占区域;
基于所述样本轮廓线条和所述样本图像对应的样本标注轮廓线条获取第二损失;
根据所述第一损失和所述第二损失得到所述样本图像对应的训练损失;
根据所述训练损失更新所述区域提取模块和所述轮廓提取模块的参数。
4.根据权利要求1所述的一种非接触式形变检测方法,其特征在于,所述待测量件为加工件,所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
根据所述待测量件的形变数据对加工路径进行调整。
5.一种非接触式形变检测装置,其特征在于,包括:
线条提取模块,所述线条提取模块用于获取待测量件在目标图像中的轮廓线条,其中,所述目标图像为拍摄装置在第一预设位置采用预设角度对所述待测量件进行拍照得到;
光束发射模块,所述光束发射模块用于根据所述待测量件的类型确定光束发射装置的光束发射数据,以使得所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至所述待测量件,获取实际光反射信号,其中,所述实际光反射信号是基于向所述待测量件发送光束的反射光生成的,所述光束发射数据包括光束发出点的位置和角度,所述光束发射数据对应第一光点区域和第二光点区域,所述第一光点区域内的光点密度高于所述第二光点区域内的光点密度,对于所述第一光点区域对应的所述待测量件的区域的测量精度要求高于所述第二光点区域对应的所述待测量件的区域的测量精度要求,所述光束发射数据对应的光点区域基于对所述待测量件的实际需要检测区域进行放大后的区域确定;
参考数据获取模块,所述参考数据获取模块用于获取所述待测量件的参考光反射信号和参考轮廓线条,其中,所述参考光反射信号为参考件在第二预设位置时所述光束发射装置根据所述光束发射数据发射光束照射至参考件的发射光生成的,所述参考轮廓线条为所述参考件在所述第二预设位置时,拍摄装置在所述第一预设位置采用所述预设角度对所述参考件进行拍照得到的图像中所述参考件的轮廓线条;
形变确定模块,所述形变确定模块用于根据所述实际光反射信号、所述参考光反射信号、所述参考轮廓线条以及所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条,确定所述待测量件的形变数据;
所述获取所述待测量件的在目标图像中的轮廓线条,包括:
将所述目标图像输入至已训练的线条提取模型,获取所述线条提取模型输出的所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条;
其中,所述已训练的线条提取模型基于多组训练数据训练完成,每组训练数据包括样本目标图像以及所述样本目标图像中样本待测量件的标注轮廓线条;
所述根据所述实际光反射信号和所述参考光反射信号确定所述待测量件的形变数据,包括:
将所述实际光反射信号和所述参考光反射信号组成第一输入对,将所述待测量件在所述目标图像中的轮廓线条和所述参考轮廓线条组成第二输入对,将所述第一输入对和所述第二输入对输入至已训练的形变测量网络,获取所述形变测量网络输出的所述待测量件的形变数据。
6.一种终端,其特征在于,所述终端包括:处理器、与处理器通信连接的计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质适于存储多条指令,所述处理器适于调用所述计算机可读存储介质中的指令,以执行实现上述权利要求1-4任一项所述的一种非接触式形变检测方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如权利要求1-4任一项所述的一种非接触式形变检测方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211016036.XA CN115096201B (zh) | 2022-08-24 | 2022-08-24 | 一种非接触式形变检测方法及相关设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211016036.XA CN115096201B (zh) | 2022-08-24 | 2022-08-24 | 一种非接触式形变检测方法及相关设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115096201A CN115096201A (zh) | 2022-09-23 |
CN115096201B true CN115096201B (zh) | 2022-11-22 |
Family
ID=83300726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202211016036.XA Active CN115096201B (zh) | 2022-08-24 | 2022-08-24 | 一种非接触式形变检测方法及相关设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115096201B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116680961B (zh) * | 2023-07-28 | 2023-12-29 | 中科航迈数控软件(深圳)有限公司 | 考虑夹持力变形的测量补偿方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG10201401046UA (en) * | 2014-03-27 | 2015-10-29 | Nanyang Polytechnic | Real-time multi-point diffraction-based imaging system for strain measurement |
US9612108B2 (en) * | 2014-11-14 | 2017-04-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Measurement apparatus and measurement method |
CN112132847A (zh) * | 2020-09-27 | 2020-12-25 | 北京字跳网络技术有限公司 | 模型训练方法、图像分割方法、装置、电子设备和介质 |
CN112833808A (zh) * | 2021-01-05 | 2021-05-25 | 厦门银江智慧城市技术股份有限公司 | 基于卷积神经网络算法的设备形变检测方法和装置 |
CN114046744A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-02-15 | 武汉利德测控技术有限公司 | 一种2d钢轨轮廓智能检测系统 |
CN114136502A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-04 | Oppo广东移动通信有限公司 | 足端测量装置、足式机器人及足端接触力测量方法 |
-
2022
- 2022-08-24 CN CN202211016036.XA patent/CN115096201B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN115096201A (zh) | 2022-09-23 |
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