CN115084336B - 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板 - Google Patents

一种微led的转移方法以及一种微led显示基板 Download PDF

Info

Publication number
CN115084336B
CN115084336B CN202210855835.XA CN202210855835A CN115084336B CN 115084336 B CN115084336 B CN 115084336B CN 202210855835 A CN202210855835 A CN 202210855835A CN 115084336 B CN115084336 B CN 115084336B
Authority
CN
China
Prior art keywords
groove
emitting diode
primary color
micro light
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210855835.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN115084336A (zh
Inventor
李雍
瞿澄
陈文娟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Luohuaxin Display Technology Development Jiangsu Co ltd
Original Assignee
Luohuaxin Display Technology Development Jiangsu Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Luohuaxin Display Technology Development Jiangsu Co ltd filed Critical Luohuaxin Display Technology Development Jiangsu Co ltd
Priority to CN202210855835.XA priority Critical patent/CN115084336B/zh
Publication of CN115084336A publication Critical patent/CN115084336A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN115084336B publication Critical patent/CN115084336B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/165Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68318Auxiliary support including means facilitating the separation of a device or wafer from the auxiliary support
    • H01L2221/68322Auxiliary support including means facilitating the selective separation of some of a plurality of devices from the auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本发明涉及一种微LED的转移方法以及一种微LED显示基板,涉及微发光二极管显示制造领域。通过在所述基底上的保护层中形成暴露第一像素电路构件的第一凹槽、暴露第二像素电构件的第二凹槽和暴露第三像素电路构件的第三凹槽,所述第一凹槽的深度小于所述第二凹槽的深度,且所述第二凹槽的深度小于所述第三凹槽的深度,进而在后续的转移工序中,可以将不同厚度的微发光二极管单元一次转移至不同深度的凹槽中,有效简化了转移工序,降低了生产成本。

Description

一种微LED的转移方法以及一种微LED显示基板
技术领域
本发明涉及微发光二极管显示制造领域,具体涉及一种微LED的转移方法以及一种微LED显示基板。
背景技术
在现有的微LED显示基板的制造过程中,在红、绿、蓝三基色微发光二极管芯片的转移过程中,由于红、绿、蓝三基色微发光二极管芯片的厚度不同,需要进行三次转移工序才可以完成红、绿、蓝三种微发光二极管芯片的转移工作,且在转移过程中,需要先转移厚度最小的微发光二极管芯片,最后转移厚度最大的微发光二极管芯片,导致转移工序的工艺繁琐、灵活性低,且增加了微LED显示基板的制造成本。
发明内容
本发明的目的是克服上述现有技术的不足,提供一种微LED的转移方法以及一种微LED显示基板。
为实现上述目的,本发明提出的一种微LED的转移方法,包括:
提供一基底,在所述基底上形成驱动功能层,所述驱动功能层包括多个呈矩阵排布的薄膜晶体管。
在所述驱动功能层上形成电路层,所述电路层包括保护层以及嵌设在所述保护层中的多个第一像素电路构件、多个第二像素电构件和多个第三像素电路构件,各像素电路构件分别与相应的一薄膜晶体管电连接。
对所述保护层进行开孔处理,形成暴露所述第一像素电路构件的第一凹槽、暴露所述第二像素电构件的第二凹槽和暴露所述第三像素电路构件的第三凹槽,所述第一凹槽的深度小于所述第二凹槽的深度,且所述第二凹槽的深度小于所述第三凹槽的深度。
提供一转移基板,在所述基板上形成第一沟槽、第二沟槽和第三沟槽,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元,所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元三者的厚度逐渐增加。
接着将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底,使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别嵌入到相应的所述第一、第二、第三凹槽中,并使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别与相应的所述第一、第二、第三像素电路构件电连接。
接着去除所述转移基板,接着在所述基底上形成公共电极层,以形成微LED显示基板。
作为优选的技术方案,所述薄膜晶体管包括栅电极、栅绝缘层、有源层、源电极和漏电极,所述薄膜晶体管为顶栅型薄膜晶体管或底栅型薄膜晶体管。
作为优选的技术方案,所述保护层的材质是无机电介质材料或有机电介质材料,所述第一、第二、第三像素电路构件均具有凸起结构,各凸起结构分别暴露在所述第一、第二、第三凹槽中。
作为优选的技术方案,所述转移基板在加热加压条件下可以软化流动,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元的过程中,对所述转移基板进行加热加压处理,使得所述转移基板软化流动而包裹所述第一基色微发光二极管单元、所述第二基色微发光二极管单元和所述第三基色微发光二极管单元。
作为优选的技术方案,所述第一沟槽、所述第二沟槽和所述第三沟槽三者的尺寸相同。
作为优选的技术方案,所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的上表面均具有凹陷结构,在将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底的过程中,使得所述第一、第二、第三像素电路构件的各凸起结构嵌入到相应的所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的各凹陷结构中。
作为优选的技术方案,将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底之前,在所述第一、第二、第三凹槽中设置导电胶。
本发明还提出一种微LED显示基板,其采用上述转移方法形成的。
本发明的有益效果在于:
在本发明的微LED的转移方法中,通过在所述基底上的保护层中形成暴露第一像素电路构件的第一凹槽、暴露第二像素电构件的第二凹槽和暴露第三像素电路构件的第三凹槽,所述第一凹槽的深度小于所述第二凹槽的深度,且所述第二凹槽的深度小于所述第三凹槽的深度,进而在后续的转移工序中,可以将不同厚度的微发光二极管单元一次转移至不同深度的凹槽中,有效简化了转移工序,降低了生产成本。
且通过在所述第一、第二、第三像素电路构件上设置凸起结构,各凸起结构分别暴露在所述第一、第二、第三凹槽中,进而在述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的上表面均设置凹陷结构,在将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底的过程中,使得所述第一、第二、第三像素电路构件的各凸起结构嵌入到相应的所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的各凹陷结构中,有效提高转移后的微发光二极管单元的接合稳固性。
附图说明
图1显示为本发明实施例中在基底上形成驱动功能层的结构示意图。
图2显示为本发明实施例中在驱动功能层上形成电路层的结构示意图。
图3显示为本发明实施例中转移基板上设置微发光二极管单元的结构示意图。
图4显示为本发明实施例中将转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至基底的结构示意图。
图5显示为本发明实施例中在基底上形成公共电极层的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
如图1~图5所示,本实施例提供一种微LED的转移方法,包括:
如图1所示,提供一基底100,在所述基底100上形成驱动功能层101,所述驱动功能层101包括多个呈矩阵排布的薄膜晶体管102。
在具体的实施例中,所述薄膜晶体管102包括栅电极、栅绝缘层、有源层、源电极和漏电极,所述薄膜晶体管102为顶栅型薄膜晶体管或底栅型薄膜晶体管。
在更具体的实施例中,所述基底100为玻璃基底、聚酰亚胺基底等合适的基底,在所述基底100上沉积缓冲层,该缓冲层为用本领域常用的材料即可,当该晶体管为底栅型薄膜晶体管时,先在缓冲层上沉积金属层,并图案化处理以形成栅电极,然后在栅电极上沉积栅绝缘层,然后在栅绝缘层上沉积半导体层,并图案化处理以形成有源层,接着沉积绝缘介质层以覆盖有源层,并对所述绝缘介质层进行开孔处理并沉积导电材料,以形成源电极和漏电极。
如图2所示,接着在所述驱动功能层101上形成电路层,所述电路层包括保护层103以及嵌设在所述保护层103中的多个第一像素电路构件1041、多个第二像素电构件1042和多个第三像素电路构件1043,各像素电路构件分别与相应的一薄膜晶体管电连接。
在具体的实施例中,所述保护层103的材质为无机电介质材料或有机电介质材料,更具体的,可以为氧化铝、氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、高聚物等合适的材料,所述保护层103通过ALD、PECVD、涂覆等合适的工艺形成,所述第一像素电路构件1041、第二像素电构件1042和第三像素电路构件1043可以为金属材料,更具体的,通过电镀、化学镀、热蒸发等合适的工艺沉积金属铜形成。所述第一像素电路构件1041、所述第二像素电构件1042和所述第三像素电路构件1043均不处于同一水平面。
在具体的实施例中,对所述保护层103进行开孔处理,形成暴露所述第一像素电路构件1041的第一凹槽1031、暴露所述第二像素电构件1042的第二凹槽1032和暴露所述第三像素电路构件1043的第三凹槽1033,所述第一凹槽1031的深度小于所述第二凹槽1032的深度,且所述第二凹槽1032的深度小于所述第三凹槽1033的深度。
在更优选的实施例中,所述第一、第二、第三像素电路构件1041-1043均具有凸起结构(如图2所示),各凸起结构分别暴露在所述第一、第二、第三凹槽1031-1033中。
如图3所示,提供一转移基板200,在所述基板上形成第一沟槽201、第二沟槽202和第三沟槽203,在所述第一、第二、第三沟槽201-203中分别设置第一基色微发光二极管单元301、第二基色微发光二极管单元302和第三基色微发光二极管单元303,所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元303三者的厚度逐渐增加。
在具体的实施例中,所述转移基板200在加热加压条件下可以软化流动,更具体的其可以是热塑性树脂材料,加热的温度可以为相应热塑性树脂材料的玻璃化转变温度或者是稍大于其玻璃化转变温度,使得树脂材料发生塑性软化流动,进一步在合适的压力条件下可以加速树脂材料的流动,进而便于减少各基色微发光二极管单元的安装时间。
在具体的实施例中,第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303分别为红、绿、蓝三者颜色的微发光二极管芯片。
在具体的实施例中,所述第一沟槽201、所述第二沟槽202和所述第三沟槽203三者的尺寸相同,即各沟槽的深度、长度和宽度均相同,在所述第一、第二、第三沟槽201-203中分别设置第一基色微发光二极管单元301、第二基色微发光二极管单元302和第三基色微发光二极管单元303的过程中,对所述转移基板200进行加热加压处理,使得所述转移基板200软化流动而包裹所述第一基色微发光二极管单元301、所述第二基色微发光二极管单元302和所述第三基色微发光二极管单元303。
在具体的实施例中,所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元301-033的上表面均具有凹陷结构(如图3所示),在将所述转移基板200上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303转移至所述基底100的过程中,使得所述第一、第二、第三像素电路构件1041-1043的各凸起结构嵌入到相应的所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元301-303的各凹陷结构中。
在更具体的实施例中,所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303均包括层叠设置的第一半导体层、发光层、第二半导体层以及导电层,进而使得各凹陷结构形成在相应的导电层中。
如图4所示,接着将所述转移基板200上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303转移至所述基底100,使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303分别嵌入到相应的所述第一、第二、第三凹槽1031-1033中,并使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303分别与相应的所述第一、第二、第三像素电路构件1041-1043电连接。
在具体的实施例中,将所述转移基板200上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303转移至所述基底100之前,在所述第一、第二、第三凹槽1031-1033中设置导电胶,进而利用导电胶将各微发光二极管单元与各像素电路构件电连接,且在转移过程中,使得转移后的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元301-303三者的顶端处于同一水平面。
如图5所示,接着去除所述转移基板200,接着在所述基底100上形成公共电极层400,以形成微LED显示基板。
在具体的实施例中,所述公共电极层400为透明导电薄膜。
如图5所示,本发明还提出一种微LED显示基板,其采用上述转移方法形成的。
在其他优选的技术方案中,本发明提出的一种微LED的转移方法,包括:
提供一基底,在所述基底上形成驱动功能层,所述驱动功能层包括多个呈矩阵排布的薄膜晶体管。
在所述驱动功能层上形成电路层,所述电路层包括保护层以及嵌设在所述保护层中的多个第一像素电路构件、多个第二像素电构件和多个第三像素电路构件,各像素电路构件分别与相应的一薄膜晶体管电连接。
对所述保护层进行开孔处理,形成暴露所述第一像素电路构件的第一凹槽、暴露所述第二像素电构件的第二凹槽和暴露所述第三像素电路构件的第三凹槽,所述第一凹槽的深度小于所述第二凹槽的深度,且所述第二凹槽的深度小于所述第三凹槽的深度。
提供一转移基板,在所述基板上形成第一沟槽、第二沟槽和第三沟槽,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元,所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元三者的厚度逐渐增加。
接着将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底,使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别嵌入到相应的所述第一、第二、第三凹槽中,并使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别与相应的所述第一、第二、第三像素电路构件电连接。
接着去除所述转移基板,接着在所述基底上形成公共电极层,以形成微LED显示基板。
在更优的技术方案中,所述薄膜晶体管包括栅电极、栅绝缘层、有源层、源电极和漏电极,所述薄膜晶体管为顶栅型薄膜晶体管或底栅型薄膜晶体管。
在更优的技术方案中,所述保护层的材质是无机电介质材料或有机电介质材料,所述第一、第二、第三像素电路构件均具有凸起结构,各凸起结构分别暴露在所述第一、第二、第三凹槽中。
在更优的技术方案中,所述转移基板在加热加压条件下可以软化流动,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元的过程中,对所述转移基板进行加热加压处理,使得所述转移基板软化流动而包裹所述第一基色微发光二极管单元、所述第二基色微发光二极管单元和所述第三基色微发光二极管单元。
在更优的技术方案中,所述第一沟槽、所述第二沟槽和所述第三沟槽三者的尺寸相同。
在更优的技术方案中,所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的上表面均具有凹陷结构,在将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底的过程中,使得所述第一、第二、第三像素电路构件的各凸起结构嵌入到相应的所述第一、第二基、第三基色微发光二极管单元的各凹陷结构中。
在更优的技术方案中,将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底之前,在所述第一、第二、第三凹槽中设置导电胶。
在更优的技术方案中,本发明还提出一种微LED显示基板,其采用上述转移方法形成的。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (8)

1.一种微LED的转移方法,其特征在于:包括:
提供一基底,在所述基底上形成驱动功能层,所述驱动功能层包括多个呈矩阵排布的薄膜晶体管;
在所述驱动功能层上形成电路层,所述电路层包括保护层以及嵌设在所述保护层中的多个第一像素电路构件、多个第二像素电构件和多个第三像素电路构件,各像素电路构件分别与相应的一薄膜晶体管电连接;
对所述保护层进行开孔处理,形成暴露所述第一像素电路构件的第一凹槽、暴露所述第二像素电构件的第二凹槽和暴露所述第三像素电路构件的第三凹槽,所述第一凹槽的深度小于所述第二凹槽的深度,且所述第二凹槽的深度小于所述第三凹槽的深度;
提供一转移基板,在所述基板上形成第一沟槽、第二沟槽和第三沟槽,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元,所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元三者的厚度逐渐增加;
接着将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底,使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别嵌入到相应的所述第一、第二、第三凹槽中,并使得所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元分别与相应的所述第一、第二、第三像素电路构件电连接;
接着去除所述转移基板,接着在所述基底上形成公共电极层,以形成微LED显示基板。
2.根据权利要求1所述的微LED的转移方法,其特征在于:所述薄膜晶体管包括栅电极、栅绝缘层、有源层、源电极和漏电极,所述薄膜晶体管为顶栅型薄膜晶体管或底栅型薄膜晶体管。
3.根据权利要求1所述的微LED的转移方法,其特征在于:所述保护层的材质是无机电介质材料或有机电介质材料,所述第一、第二、第三像素电路构件均具有凸起结构,各凸起结构分别暴露在所述第一、第二、第三凹槽中。
4.根据权利要求1所述的微LED的转移方法,其特征在于:所述转移基板在加热加压条件下可以软化流动,在所述第一、第二、第三沟槽中分别设置第一基色微发光二极管单元、第二基色微发光二极管单元和第三基色微发光二极管单元的过程中,对所述转移基板进行加热加压处理,使得所述转移基板软化流动而包裹所述第一基色微发光二极管单元、所述第二基色微发光二极管单元和所述第三基色微发光二极管单元。
5.根据权利要求1所述的微LED的转移方法,其特征在于:所述第一沟槽、所述第二沟槽和所述第三沟槽三者的尺寸相同。
6.根据权利要求3所述的微LED的转移方法,其特征在于:所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元的上表面均具有凹陷结构,在将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底的过程中,使得所述第一、第二、第三像素电路构件的各凸起结构嵌入到相应的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元的各凹陷结构中。
7.根据权利要求6所述的微LED的转移方法,其特征在于:将所述转移基板上的所述第一、第二、第三基色微发光二极管单元转移至所述基底之前,在所述第一、第二、第三凹槽中设置导电胶。
8.一种微LED显示基板,其特征在于,采用权利要求1-7任一项所述的转移方法形成的。
CN202210855835.XA 2022-07-21 2022-07-21 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板 Active CN115084336B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210855835.XA CN115084336B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210855835.XA CN115084336B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN115084336A CN115084336A (zh) 2022-09-20
CN115084336B true CN115084336B (zh) 2022-11-04

Family

ID=83260302

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210855835.XA Active CN115084336B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115084336B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116110899B (zh) * 2023-04-14 2023-06-20 罗化芯显示科技开发(江苏)有限公司 一种Micro-LED芯片的巨量转移方法以及一种Micro-LED显示基板

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109326549A (zh) * 2018-09-19 2019-02-12 京东方科技集团股份有限公司 一种微发光二极管的转移方法、显示面板及其制备方法
CN109449260A (zh) * 2018-11-13 2019-03-08 京东方科技集团股份有限公司 微发光二极管转移基板及转移方法、显示面板及制备方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3742477A1 (en) * 2019-05-21 2020-11-25 Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO Light induced selective transfer of components using a jet of melted adhesive
KR20220013739A (ko) * 2020-07-27 2022-02-04 삼성전자주식회사 마이크로 발광 소자 전사 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109326549A (zh) * 2018-09-19 2019-02-12 京东方科技集团股份有限公司 一种微发光二极管的转移方法、显示面板及其制备方法
CN109449260A (zh) * 2018-11-13 2019-03-08 京东方科技集团股份有限公司 微发光二极管转移基板及转移方法、显示面板及制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN115084336A (zh) 2022-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7928458B2 (en) Light-emitting diode device and method for fabricating the same
US7928655B2 (en) Light-emitting diode device and method for fabricating the same
US7807484B2 (en) Light-emitting diode device and method for fabricating the same
US10741608B2 (en) Manufacturing method of micro light-emitting diode display panel
US7932529B2 (en) Light-emitting diode device and method for fabricating the same
CN110504282B (zh) 一种显示基板及其制作方法、显示装置
US9461213B2 (en) LED sub-mount and method for manufacturing light emitting device using the sub-mount
CN208014702U (zh) 微发光二极管模块
CN108022945A (zh) 显示装置及其形成方法
CN115084336B (zh) 一种微led的转移方法以及一种微led显示基板
TWI550825B (zh) 發光元件的封裝結構
CN110391252A (zh) 电子装置
KR101253183B1 (ko) 인쇄회로기판, 이를 포함하는 발광 장치 및 그 제조 방법
US20210036196A1 (en) Backplane, Preparation Method Thereof, Backlight Module and Display Device
CN104465973A (zh) 一种半导体器件的圆片级封装方法
TWI662594B (zh) 軟性基板及線路結構及其製造方法
TWI759839B (zh) 微型發光二極體顯示元件與其製造方法
CN114864759A (zh) 一种微发光二极管显示基板及其制造方法
EP4002466A1 (en) Display substrate and preparation method therefor
TWI646679B (zh) 像素結構及製造像素結構的方法
CN112968021A (zh) 一种键合方法和显示装置
TW202133386A (zh) 發光二極體封裝結構及其製造方法
TWI771986B (zh) 電子裝置的製造方法
US20230253376A1 (en) Micro light-emitting component, micro light-emitting component matrix, and method for manufacturing the micro light-emitting component matrix
CN116190408A (zh) 一种显示面板及其制备方法、显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant