CN115078868B - 一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 9
- 208000032750 Device leakage Diseases 0.000 claims description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及可靠性测试技术,公开了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置;包括烘箱和表征器件;热学参数测试的方法包括:环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。本发明采用的测试方法进行表征器件的热学参数检测,其准确性高、成本低,效率快,同时能够在老化过程中,实时计算与判断热学参数。
Description
技术领域
本发明涉及可靠性测试技术,尤其涉及了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置。
背景技术
在进行可靠性老化实验中,需要对表征器件的热学参数进行实时的监控;现有技术中针对热学参数的监控复杂,尤其是因为在可靠性老化试验中,如何准确获取器件的壳温是个难题,器件在烘箱内受到风场风速的影响会导致采集得到的壳温不准确,从而根据结壳热阻计算得到的结温也不准确。
发明内容
本发明针对现有技术中对于表征器件热学参数的检测,不能进行实时的监控,而且检测的壳温不准确的问题,提供了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置。
为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:
一种老化试验中器件热学参数的测试方法,其包括烘箱和表征器件;热学参数测试的方法包括:
环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。
作为优选,
步骤1:将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta1;
步骤2:表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值;
步骤3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度,且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
步骤4:获取表征器件温度敏感参数vce1;
步骤5:对步骤4获取的温度点的实际温度Ta1及表征器件温度敏感参数vce1进行线性拟合,获得Ta1与vce1的关系,即Ta1=F(vce1);
步骤6:热学参数R1的获取,R1=Ta1=F(vce1)。
作为优选,热学参数R2包括结到环境热阻Rthj-a和结温参数Tj。
作为优选,对于结温参数Tj获取方法包括:
S1:将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta2;
S2:将表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值,同时对表征器件进行加载高压电压;
S3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta2;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
S4:采集每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2;
S5:对上述s4获取的每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2进行计算,根据R1与vce2的关系计算得到结温参数Tj1,即Tj1=F(vce2);
同时根据公式Tj=Ta2+Rthj-c*V2*Ir2,其中,Rthj-c为表征器件的结壳热阻,得到结温参数Tj;
S6:对步骤S5得到的结温参数Tj和结温参数Tj1进行对比,当Tj-Tj1的绝对值小于阈值A时,该表征器件测试数据满足要求执行步骤S7;否则返回至S1;
S7:在不同温度点下采集得到的结温参数Tj与Ir2数据进行分段线性拟合或者对数拟合以得到结温参数Tj与Ir2的关系,即Tj=Q(Ir2)。
作为优选,对于结到环境热阻Rthj-a获取方法包括:
(1):将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta3;
(2):将表征器件内NTC引脚通过n mA电流,同时对表征器件进行加载高压电压;
(3):按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta3;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
(4):采集每个温度点下的表征器件漏电流Ir3、器件电压V3和器件敏感参数vce3;
(5):对步骤(4)获取的数据进行计算,依据结温参数Tj与vce3的关系计算得到结温参数Tj,其中,Tj=F(vce3)=Ta3 +Rthj-a*V3*Ir3;
计算得到结到环境热阻Rthj-a,Rthj-a=[F(vce3)-Ta3]/ V3/Ir3;
(6):在不同温度下计算得到结到环境热阻Rthj-a后,对结到环境热阻Rthj-a进行平均计算即得到表征器件的结到环境热阻Rthj-a。
为了解决上述技术问题,本发明还提供了一种老化试验中器件热学参数的测试装置,其包括烘箱和表征器件; 还包括环境参数的采集模块,热学参数R1的获取模块和热学参数R2的获取模块;
环境参数的采集模块,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取模块,在固定条件下,热学参数R1的获取模块通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取模块,通过对表征器件加载电压,热学参数R2的获取模块依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。
本发明由于采用了以上技术方案,具有显著的技术效果:
本发明对表征器件的热参数检测,其准确性高、成本低,效率快,同时能够在老化过程中,实时计算与判断。
附图说明
图1是本发明的流程图;
图2是本发明的热学参数R1的测试流程图;
图3是本发明的热学参数R2的测试流程图;
图4是本发明的R2=Tj与Ir的示意图。
具体实施方式
下面结合附图与实施例对本发明作进一步详细描述。
实施例1
一种老化试验中器件热学参数的测试方法,包括烘箱和表征器件;其热学参数测试的方法包括:
环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。
在特定条件下的结温参数Tj与vce的关系,将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta1与器件温度敏感参数vce1;
将器件通过n mA电流(n:任意数值电流,电流视不同器件选择不同电流,只需要满足该电流不会对器件结温参数Tj产生重要影响即可);
设置烘箱温度,按照梯度上升的方式阶梯升温,如50°、75°、100°、125°、150°,并且使得每个温度设置后保持30分钟以上以使器件达到热稳定状态;
当温度保持30分钟后以及下个温度设置前采集获取每个温度点的实际温度Ta1以及实际的器件vce1;
对上述步骤获取的数据点进行线性拟合,获得Ta1与vce1的关系,即Ta1=F(vce1);
由于通过器件的电流很小以及热平衡了很长时间,可以近似认为烘箱温度Ta与器件结温结温参数Tj相等,所以得到在特定条件下的结温参数Tj=Ta1=F(vce1)。
给被试器件加载高电压,在不同环境温度条件下测试得到结温参数Tj与Ir2的关系。
将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta2、器件漏电流Ir2、器件电压V2与器件温度敏感参数vce2;
将器件通过n mA电流(n:任意数值电流,电流视不同器件选择不同电流,只需要满足该电流不会对器件结温参数Tj产生重要影响即可),同时对器件进行加载高压电压,如600V;
设置烘箱温度,按照梯度上升的方式阶梯升温,如50°、75°、100°、125°、150°,并且使得每个温度设置后保持30分钟以上以使器件达到热稳定状态;
当温度保持30分钟后以及下个温度设置前采集采集每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2;
对上述步骤获取的数据进行计算,根据步骤中的结温参数Tj与vce2的关系计算得到结温参数Tj1,同时根据公式结温参数Tj=Ta2 + Rthj-c *V2*Ir2计算得到结温参数Tj,其中Rthj-c为该器件的结壳热阻;
对上述步骤得到的结温参数Tj1和结温参数Tj2进行对比, Tj-Tj2的绝对值小于阈值时,认为该器件测试数据满足要求,否则认为测试数据不满足要求;
满足要求时,对在不同温度点下采集得到的结温参数Tj1与Ir2数据进行分段线性拟合或者对数拟合以得到结温参数Tj与Ir2的关系,即结温参数Tj=Q(Ir2),当不满足要求那么重复上述步骤。
实施例2
在实施例1基础上,本实施例基于热阻参数为器件的结到环境热阻Rthj-a,在特定条件下的结温参数Tj与vce3的关系,
将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta3与器件温度敏感参数vce3;
将器件内部NTC引脚通过1 mA电流;
设置烘箱温度,按照梯度上升的方式阶梯升温,这里设置50°、75°、100°、125°、150°,并且使得每个温度设置后保持30分钟以上以使器件达到热稳定状态;
当温度保持30分钟后以及下个温度设置前采集获取每个温度点的实际温度Ta1以及实际的器件vce1;
对上述步骤获取的数据点进行线性拟合,获得Ta3与vce3的关系,即Ta1=F(vce1);
由于通过器件的电流很小以及热平衡了很长时间,近似认为烘箱温度Ta与器件结温结温参数Tj相等,所以得到在特定条件下的Tj=Ta1=F(vce1)。
对被试器件加载高电压,在不同环境温度条件下测试得到结温参数Tj与Ir3的关系。
将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta3、器件漏电流Ir3、器件电压V3与器件温度敏感参数vce3;
将器件内NTC引脚通过1mA电流,同时对器件进行加载高压电压,例如600V;
设置烘箱温度,按照梯度上升的方式阶梯升温,比如50°、75°、100°、125°、150°,并且使得每个温度设置后保持30分钟以上以使器件达到热稳定状态;
当温度保持30分钟后以及下个温度设置前采集采集每个温度点下的器件漏电流Ir、器件电压V以及器件敏感参数vce3;
对上述步骤获取的数据进行计算,根据结温参数Tj与vce3的关系计算得到结温参数Tj,同时根据公式Tj=F(vce3)=Ta3 +Rthj-a*V3*Ir3,计算得到结到环境热阻Rthj-a,Rthj-a=[F(vce3)-Ta3]/V3/Ir3;其中,Rthj-a为该器件的结到环境热阻;
在不同温度下计算得到结到环境热阻Rthj-a后,对结到环境热阻Rthj-a进行平均计算即得到表征器件的结到环境热阻Rthj-a。
实施例3
在上述实施例基础上,本实施例为一种老化试验中器件热学参数的测试装置,其包括烘箱和表征器件;还包括环境参数的采集模块,热学参数R1的获取模块和热学参数R2的获取模块;
环境参数的采集模块,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取模块,在固定条件下,热学参数R1的获取模块通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取模块,热学参数R2的获取模块通过对表征器件加载电压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。
Claims (3)
1.一种老化试验中器件热学参数的测试方法,包括烘箱和表征器件;其特征在于,热学参数测试的方法包括:
环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2;热学参数R2包括结到环境热阻Rthj-a和结温参数Tj;
热学参数R2包括结到环境热阻Rthj-a和结温参数Tj;
对于结温参数Tj获取方法包括:
S1:将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta2;
S2:将表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值,同时对表征器件进行加载高压电压;
S3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta2;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
S4:采集每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2;
S5:对上述s4获取的每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2进行计算,根据R1与vce2的关系计算得到结温参数Tj1,即Tj1=F(vce2);
同时根据公式Tj=Ta2+Rthj-c*V2*Ir2,其中,Rthj-c为表征器件的结壳热阻,得到结温参数Tj;
S6:对步骤S5得到的结温参数Tj和结温参数Tj1进行对比,当Tj-Tj1的绝对值小于阈值A时,该表征器件测试数据满足要求执行步骤S7;否则返回至S1;
S7:在不同温度点下采集得到的结温参数Tj与Ir2数据进行分段线性拟合或者对数拟合以得到结温参数Tj与Ir2的关系,即Tj=Q(Ir2);
对于结到环境热阻Rthj-a获取方法包括:
(1):将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta3;
(2):将表征器件内NTC引脚通过n mA电流,同时对表征器件进行加载高压电压;
(3):按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta3;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
(4):采集每个温度点下的表征器件漏电流Ir3、器件电压V3和器件敏感参数vce3;
(5):对步骤(4)获取的数据进行计算,依据结温参数Tj与vce3的关系计算得到结温参数Tj,其中,Tj=F(vce3)=Ta3+Rthj-a*V3*Ir3;
计算得到结到环境热阻Rthj-a,Rthj-a=[F(vce3)-Ta3]/V3/Ir3;
(6):在不同温度下计算得到结到环境热阻Rthj-a后,对结到环境热阻Rthj-a进行平均计算即得到表征器件的结到环境热阻Rthj-a。
2.根据权利要求1所述的一种老化试验中器件热学参数的测试方法,其特征在于,热学参数R1的获取方法包括:
步骤1:将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta1;
步骤2:表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值;
步骤3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度,且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
步骤4:获取表征器件温度敏感参数vce1;
步骤5:对步骤4获取的温度点的实际温度Ta1及表征器件温度敏感参数vce1进行线性拟合,获得Ta1与vce1的关系,即Ta1=F(vce1);
步骤6:热学参数R1的获取,R1=Ta1=F(vce1)。
3.一种老化试验中器件热学参数的测试装置,包括烘箱和表征器件;其特征在于,还包括环境参数的采集模块,热学参数R1的获取模块和热学参数R2的获取模块;
环境参数的采集模块,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取模块,在固定条件下,热学参数R1的获取模块通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取模块,热学参数R2的获取模块通过对表征器件加载电压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2;热学参数R2包括结到环境热阻Rthj-a和结温参数Tj;
对于结温参数Tj获取方法包括:
S1:将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta2;
S2:将表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值,同时对表征器件进行加载高压电压;
S3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta2;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
S4:采集每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2;
S5:对上述s4获取的每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2进行计算,根据R1与vce2的关系计算得到结温参数Tj1,即Tj1=F(vce2);
同时根据公式Tj=Ta2+Rthj-c*V2*Ir2,其中,Rthj-c为表征器件的结壳热阻,得到结温参数Tj;
S6:对步骤S5得到的结温参数Tj和结温参数Tj1进行对比,当Tj-Tj1的绝对值小于阈值A时,该表征器件测试数据满足要求执行步骤S7;否则返回至S1;
S7:在不同温度点下采集得到的结温参数Tj与Ir2数据进行分段线性拟合或者对数拟合以得到结温参数Tj与Ir2的关系,即Tj=Q(Ir2);
对于结到环境热阻Rthj-a获取方法包括:
(1):将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta3;
(2):将表征器件内NTC引脚通过n mA电流,同时对表征器件进行加载高压电压;
(3):按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta3;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
(4):采集每个温度点下的表征器件漏电流Ir3、器件电压V3和器件敏感参数vce3;
(5):对步骤(4)获取的数据进行计算,依据结温参数Tj与vce3的关系计算得到结温参数Tj,其中,Tj=F(vce3)=Ta3+Rthj-a*V3*Ir3;
计算得到结到环境热阻Rthj-a,Rthj-a=[F(vce3)-Ta3]/V3/Ir3;
(6):在不同温度下计算得到结到环境热阻Rthj-a后,对结到环境热阻Rthj-a进行平均计算即得到表征器件的结到环境热阻Rthj-a。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103970961A (zh) * | 2014-05-23 | 2014-08-06 | 重庆大学 | 一种无温度传感器的led结温的预测和控制方法 |
CN106443400A (zh) * | 2016-09-14 | 2017-02-22 | 河北工业大学 | 一种igbt模块的电‑热‑老化结温计算模型建立方法 |
CN111649831A (zh) * | 2020-05-20 | 2020-09-11 | 无锡物联网创新中心有限公司 | 热敏mems阵列器件热学参数测试方法及测试电路 |
CN111693840A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-09-22 | 山东宝乘电子有限公司 | 一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法 |
CN113447787A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-09-28 | 上海大学 | 一种功率半导体器件老化在线诊断方法 |
CN113791297A (zh) * | 2021-09-18 | 2021-12-14 | 深圳市中科源电子有限公司 | 一种具有热应力测试的多功能测试设备及其测试方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103970961A (zh) * | 2014-05-23 | 2014-08-06 | 重庆大学 | 一种无温度传感器的led结温的预测和控制方法 |
CN106443400A (zh) * | 2016-09-14 | 2017-02-22 | 河北工业大学 | 一种igbt模块的电‑热‑老化结温计算模型建立方法 |
CN111649831A (zh) * | 2020-05-20 | 2020-09-11 | 无锡物联网创新中心有限公司 | 热敏mems阵列器件热学参数测试方法及测试电路 |
CN111693840A (zh) * | 2020-06-18 | 2020-09-22 | 山东宝乘电子有限公司 | 一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法 |
CN113447787A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-09-28 | 上海大学 | 一种功率半导体器件老化在线诊断方法 |
CN113791297A (zh) * | 2021-09-18 | 2021-12-14 | 深圳市中科源电子有限公司 | 一种具有热应力测试的多功能测试设备及其测试方法 |
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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