CN115016763A - 随机数生成器 - Google Patents

Abstract

本公开涉及随机数生成器。本公开涉及一种用于测试随机数生成器的电路，该随机数生成器适于传递一系列随机位并且包括至少一个测试单元，该测试单元被配置为检测一系列随机位中的缺陷，测试电路适于在由测试单元检测到第一缺陷之后验证由随机数生成器生成而没有由所述单元测试检测到第二缺陷的随机位的数目是否小于第一阈值。

Description

随机数生成器

技术领域

本公开一般涉及随机数生成，并且更具体地，涉及随机数生成器。随机数生成器通常包括验证随机数生成器的操作的测试电路。本公开涉及一种随机数生成器测试电路。

背景技术

随机数生成器(TRNG，真随机数生成器)是能够生成数字序列的装置，对于该数字序列，在一个数字与其(多个)前任数字之间不存在确定性链接。

随机数生成器用于各种领域，特别是计算机安全领域。在数据加密中通常使用随机数来生成加密和/或解密密钥。

随机数的生成可以基于例如物理现象，模拟信号处理操作和/或数字信号处理操作来执行。

随机数生成器的特征在于其熵。随机数生成器可以包括能够检测和/或估计其熵的演变或变化(在大多数情况下是下降)的一个或多个测试电路。

发明内容

需要更高性能的随机数生成器。

需要具有更高熵的随机数生成器。

需要更高性能的随机数生成器测试电路。

一个实施例可以有助于解决已知随机数生成器的全部或部分缺点。

一个实施例可以有助于解决已知随机数生成器测试电路的全部或部分缺点。

一个实施例提供了一种用于测试随机数生成器的电路，该随机数生成器适于传递一系列随机位并且包括至少一个测试单元，该测试单元被配置为检测该系列随机位中的缺陷，所述测试电路适于在由测试单元检测到第一缺陷之后，验证在没有通过所述单元测试检测到第二缺陷的情况下由随机数生成器生成的随机位的数目是否小于第一阈值。

根据一个实施例，第一阈值等于所述缺陷出现概率的倒数。

根据一个实施例，所述缺陷是全部具有相同值的一系列N个连续位。

根据一个实施例，缺陷是全部等于“1”的一系列N个连续位。

根据一个实施例，缺陷是全部等于“0”的一系列N个连续位。

根据一个实施例，N等于34。

根据一个实施例，缺陷是具有大于第二阈值的总和的一系列M个连续位。

根据一个实施例，M等于1024，并且第二阈值等于628。

根据一个实施例，随机数生成器包括被布置为并行的至少两个测试单元。

根据一个实施例，所述至少两个测试单元寻找不同的缺陷。

另一个实施例提供了一种随机数生成器，包括本文公开的测试电路。

根据实施例，随机数生成器包括能够生成一系列随机位的源。

根据一个实施例，源包括噪声源和数字化级。

根据一个实施例，随机数生成器包括适于对一系列随机位应用数学处理的处理单元。

在一个实施例中，一种装置包括：输入，其在操作中接收对检测到随机位序列中的第一类型缺陷的指示；缺陷测试电路装置，其耦合到输入，其中缺陷测试电路装置在操作中生成是否在随机位序列的阈值位数目内重复检测到第一类型缺陷的指示。

在一个实施例中，一种系统，包括：多个随机序列错误检测电路，其在操作中检测随机位序列中的错误；以及缺陷测试电路装置，其耦合到多个随机序列错误检测电路，其中缺陷测试电路装置在操作中生成多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路是否在随机位序列的阈值位数目内的随机位序列中检测到两个错误的指示。

在一个实施例中，一种方法包括：检测随机位序列中的第一类型缺陷；以及基于对第一类型缺陷的检测，生成是否在随机位序列的阈值位数目内重复检测到第一类型缺陷的指示。

在一个实施例中，一种非暂态计算机可读介质的内容使得处理电路装置执行方法，方法包括：检测随机位序列中的第一类型缺陷；以及基于对第一类型缺陷的检测，生成是否在随机位序列的阈值位数目内重复检测到第一类型缺陷的指示。

附图说明

前述特征和优点以及其他特征和优点将在以下具体实施例的描述中参考附图以说明而非限制的方式给出，在附图中：

图1以框的形式示意性地示出了随机数生成器的实施例；

图2以框的形式示意性地示出了用于测试图1的随机数生成器的电路的实施例；

图3示出了图示图1的随机数生成器的性能的曲线图，该曲线图表示随机数生成器的熵的缺陷出现概率函数；以及

图4以框的形式示意性地示出了包括随机数生成器和用于测试随机数生成器的电路的系统的实施例。

具体实施方式

除非上下文另有说明，在各个附图中相同的特征由相同的附图标记表示。特别地，在各个实施例中共同的结构和/或功能特征可以具有相同的附图标记并且可以设置相同的结构，尺寸和材料特性。

为了清楚起见，仅示出和详细描述了对理解本文所述的实施例有用的步骤和元件。特别地，数字随机位源，意味着数字随机位的源，在下文中不再描述。所描述的实施例与通常的数字随机位源兼容。

除非另有说明，当提及连接在一起的两个元件时，这表示除了导体之外没有任何中间元件的直接连接，并且当提及耦合在一起的两个元件时，这表示这两个元件可以被连接或者它们可以经由一个或多个其它元件被耦合。

在以下公开中，除非另有说明，当提及绝对位置限定词时，例如术语“前”，“后”，“顶”，“底”，“左”，“右”等，或提及相对位置限定词时，例如术语“上方”，“下方”，“上部”，“下部”等，或提及取向限定词时，例如“水平”，“竖直”等，是指图中所示的取向。

此外，在描述中，当涉及随机位的熵时，它涉及香农(Shannon)熵。

除非另有说明，否则表述“约”，“大约”，“基本上”和“以…量级”表示在10％以内和在5％以内。

在以下描述中，参考具有两个可能值“1”(一)或“0”(零)的位的二进制值。实际上，位可以由在两个电平之间振荡的电压来表示，高电平表示“1”(一)，并且低电平表示“0”(零)。

图1以框的形式示意性地示出了随机数生成器100的实施例。

如前所述，随机数生成器(TRNG，真随机数生成器)是适于传递数字序列(例如位)的装置，对于该数字序列，在一个数字与前任数字之间不存在确定性链接。这种类型的生成器通常甚至在更完整的电子系统中使用。

随机数生成器100包括随机位源101(噪声源)。源101包括数字或模拟噪声源，以及噪声源的噪声的数字化级(图1中未示出)。源101传递一系列随机位RawRandomBit。根据一个示例，源101可以包括一个或多个环形振荡器，和/或一个或多个锁相环(PLL)。

随机数生成器100包括用于处理一系列随机位RawRandomBits的分支102，以及用于测试源101的分支103。

处理分支102能够使一系列随机位RawRandomBit可访问，并且可选地对其应用数学处理。根据一个示例，分支102包括：

输入寄存器1021(原始位)；

处理单元1022(后处理)；以及

输出寄存器1023(输出)。

一旦由源101生成，一系列随机位RawRandomBit的位在其处理之前被存储在输入寄存器1021中。寄存器1021将位StoredRandomBits传递到处理单元1022。

处理单元1022将数学处理应用于由输入寄存器1021存储的位StoredRandomBits。处理单元1022在其输出处将经处理的位ProcessedRandomBits传递到输出寄存器1023。处理单元能够增加随机字符，从而增加由源101传递的一系列随机位的可靠性。换句话说，使处理单元按位StoredRandomBits中的位来累加熵，以便位ProcessedRandomBits的每个位具有1的熵。根据示例，处理单元1022实现加密算法，例如AES(高级加密标准)，散列函数或能够增加一系列随机位的熵的任何其他函数。处理单元1022是可选的。实际上，如果认为源101具有足够的性能，则处理单元不是必需的，但实际上很少是这种情况。

输出寄存器1023存储经处理的位ProcessedRandomBits，并使其能够由需要随机位的电子装置(例如，处理器(见图4的处理器402))存取。

测试分支103包括测试系统1031(测试)和错误寄存器1032(错误)的实施例。测试分支103沿着源101的操作验证它是否传递一系列“足够随机”的位。更具体地，测试分支103检查由源101传递的一系列随机位RawRandomBit，并且通过使用不同的测试来确定在位与其先前位之间是否存在确定性链接。为此，可以在一系列随机位中寻找缺陷。

此外，随机数生成器可以被提交给不同的方法，使得能够证明它们的可靠性，即，随机数的随机字符的充分性，例如，由位传递的随机数的充分性。这些方法例如是SP800－90B方法，或AIS31方法。这些标准向随机数生成器强加了对随机位执行测试以及对这些位应用诸如由处理单元1022执行的数学处理的处理。

测试系统1031接收一系列随机位RawRandomBits作为输入，并检查该系列随机位。结合图2进一步详细描述测试系统1031。测试系统1031输出错误位ErrorBit。

错误寄存器1032存储错误位ErrorBit，并且使其对于需要验证源101的可靠性以及随机数生成器100的可靠性的电子装置是可访问的。根据一个示例，错误寄存器1032可以通过允许其读取，或通过每当错误位ErrorBit的值指示已检测到错误时生成中断来使错误位ErrorBit可访问。

图2以框的形式示意性地示出了结合图1描述的测试系统1031类型的测试系统200的实施例。

测试系统200适于接收关于图1描述的一系列随机位RawRandomBits类型的一系列随机位Random，并且适于传递关于图1描述的错误位ErrorBit类型的错误位Error。随机位序列Random由结合图1描述的源101类型的源(图2中未示出)生成。

测试系统200由两个不同的部分形成。测试系统200的第一部分适于验证由源传递的一系列随机位Random，更具体地，适于查找该系列位Random中的不同缺陷。系统200的第二部分适于分析这些缺陷，更具体地，适于确定检测到的缺陷是真缺陷还是“假阳性”。

测试系统200的第一部分包括一个或多个测试单元或电路201(TEST1，…，TESTN)。每个测试单元201接收一系列随机位Random作为输入，并且输出缺陷位Defect1，…，DefectN。每个测试单元201能够在一系列随机位Random中寻找一个或多个缺陷。如果测试单元201检测到缺陷，则其缺陷位Defect1，…，DefectN可被设置为“1”(一)，或相应地被设置为“0”(零)。可以考虑不同类型缺陷。以下，详细说明至少两个示例。本领域的技术人员将理解，可以实现其它测试，诸如，例如，特定于生成一系列随机位Random的源的类型的测试。

根据一个示例，一系列随机位Random中全部等于“1”(1)或相应地等于“0”(0)的N位序列被认为是该随机位序列的缺陷。根据一个示例，N可以等于34。该测试称为重复测试。因此，测试单元201可以验证一系列随机位Random是否包括一系列N个元素，例如34个元素，全部等于“1”(1)，或者相应地等于“0”(0)。根据一个示例，单元201可以检验等于“1”(一)的N位序列的存在，并且另一测试单元201可以检验等于“0”(零)的N位序列的存在。

根据另一示例，对于M个连续位之总和大于阈值SUM可以被认为是缺陷。根据一个示例，缺陷可以是1024个连续位的总和大于628。该测试称为“单一位(monobit)”测试。因此，测试单元201可以计算一系列位的连续位的总和，并且验证该总和是否大于阈值SUM。

测试系统200的第二部分包括测试电路202(缺陷测试)。测试电路202接收测试单元201的缺陷位Defect1，…，DefectN作为输入，并且输出错误位Error。测试电路202适于验证由测试单元201检测到的缺陷的出现频率。更具体地，每个缺陷都有出现概率(虽然很低)测试电路202适于验证出现频率不超过其出现概率。根据一个示例，如果缺陷具有1％的出现概率，并且在生成一百个随机位期间，缺陷出现五次，则随机位的源出现故障。

此外，测试电路202能够检验由测试单元201检测的缺陷是真缺陷还是“假阳性”。实际上，缺陷可能是“假阳性”，即，存在针对一系列随机位的缺陷，然而这并不意味着生成这些位的源的故障。

具有“假阳性”缺陷是正常的。例如，如果缺陷对应于特定的位序列，诸如由重复测试类型的测试所寻找的位序列，则该特定序列仍然可能被随机生成。更一般地，如果缺陷具有发生概率，这意味着当生成足够大数目的位时，该缺陷有发生的风险，而这不是源201的缺陷。这个足够大的数特别对应于缺陷出现概率的倒数。作为说明，如果缺陷的发生概率为1％，则在100个随机位的生成期间有100个的机会发生该缺陷。

根据实施例，测试电路202适于在测试单元201检测到缺陷之后枚举在测试单元201没有检测到另一缺陷的情况下生成的随机位的数目。如果随机位的数目大于阈值TH，则测试电路202认为源正确工作。然后将错误位设置为不表示错误的值，例如“0”(零)。否则，测试电路202认为源发生故障。然后将错误位设置为表示错误的值，例如“1”(一)。

阈值TH可以被限定为由测试单元201搜索的缺陷的概率P的倒数。

如图2所示，测试电路适于从多个测试单元201接收缺陷位。测试电路202然后可以适于分别处理每个缺陷位Defect1，…，DefectN。

图3示出了将两种类型的随机数生成器的性能与理想随机数生成器的性能进行比较的曲线图。

图3的曲线图包括两条曲线，示出了针对随机数生成器的测试分支根据一系列随机位的香农熵H检测一系列随机位上的缺陷的概率P的变化。一系列随机位的熵H能够量化该系列位的“无序性”，即，该系列位的随机特征。熵越高，位序列越是“随机的”，因此对于随机数生成器来说，位序列越是令人满意。

曲线C1示出了关于图1描述的生成器100类型的随机数生成器的理想情况。曲线C1具有递减步长的形状。对于包括在0和熵H1之间的熵，概率P是1，而对于超过H1的熵，概率P是0。该曲线表示，对于提供具有超过熵H1的熵的随机位的源，缺陷的出现是不可能的。

例如，通过考虑随机数生成器中使用的随机位源的类型，随机数生成器的使用等，根据经验定义熵H1的值。

曲线C2示出了关于图1描述的生成器100类型的随机数生成器的情况，但是其不包括关于图2描述的电路202类型的测试电路。曲线C2的生成器指示每当由测试单元201检测到缺陷时它检测到错误。曲线C2示出，在没有测试电路202的情况下，缺陷检测的概率P根据熵强烈地降低。换句话说，熵越高，检测缺陷就越困难。

曲线C3示出了关于图1描述的随机数生成器100类型的随机数生成器的情况，因此包括关于图2描述的电路202类型的测试电路。曲线C3更拟合曲线C1。曲线C3示出了测试电路202的添加使得检测概率P仅从大于0的熵值H1减小，例如以0.7J.K^－1的量级。

使用测试电路202的优点在于，其便于基于所生成的随机位中的缺陷的出现来检测熵的变化。

已经描述了各种实施例和变型。本领域技术人员将理解，这些各种实施例和变型的某些特征可以组合，并且本领域技术人员将想到其它变型。

最后，基于以上给出的功能指示，所描述的实施例和变型的实际实现在本领域技术人员的能力范围内。

图4是可以应用已经描述的实施例的类型的电子装置或系统400的实施例的功能框图。系统400包括一个或多个处理核心或电路402。处理核心402可以包括例如一个或多个处理器、状态机、微处理器、MCU、DSP、可编程逻辑电路、离散电路、逻辑门、寄存器等及其各种组合。处理核心402可以控制系统400的整体操作，由系统400执行的应用程序，由系统400执行的安全操作等。

系统400包括一个或多个存储器404，诸如一个或多个非易失性存储器和一个或多个易失性存储器，其可以存储例如与系统400的控制、由系统400执行的应用和操作等相关的全部或部分指令和数据。

系统400包括随机数生成器或电路410。随机数生成器410包括噪声源电路412，随机位序列处理电路装置414和随机序列测试电路装置416。噪声源412可以例如使用上面参考图1描述的噪声源101来实现。随机位处理电路装置414可以例如使用上面参考图1描述的处理分支102来实现。

如图所示，随机序列测试电路416包括多个随机序列测试电路1到N 418以及缺陷测试电路装置420。例如，可以使用图2的测试电路201来实现随机序列测试电路418。缺陷测试电路装置420可以例如使用如上参考图2所述的缺陷测试电路装置202来实现。

系统400可以包括一个或多个其他处理电路装置406，其可以包括天线、电源、传感器(例如、图像传感器、音频传感器、加速度计、压力传感器、温度传感器、编码器等)、控制器、安全电路(例如、加密处理器等)等，以及主总线系统470。主总线系统470可以包括耦合到系统400的各个组件的一个或多个数据、地址、功率和/或控制总线。系统400还可以包括诸如总线系统472的附加总线系统，其将噪声源412通信地耦合到随机位序列处理电路装置414和随机序列测试电路416。

在操作中，随机位处理电路装置414可以向由随机位处理电路装置414生成的处理电路装置(例如，处理核心402或其它处理电路装置406)提供随机数序列，并且可以提供由随机序列测试电路416生成的随机数生成器的可靠性的指示(例如，用信号通知噪声源412的故障的中断)。

图4的系统400的实施例可以包括比所示出的更多的组件，可以包括比所示出的更少的组件，可以组合所示出的组件或拆分所示出的组件，可以以各种方式将组件耦合在一起，以及它们的各种组合。例如，随机数生成器或电路410可以集成到处理核心中，或者集成到其它处理电路装置406中(例如，集成到安全电路中)。随机序列测试电路416可以接收随机位序列处理电路装置414的输出，而不是直接从噪声源电路412等接收位序列。系统400可以包括片上系统(SoC)，耦合在一起的分立芯片等，或其各种组合。

在一个实施例中，一种用于测试随机数生成器(100)的电路(202)，所述随机数生成器(100)适于传递一系列随机位(RawRandomBits；Random)并且可以被概括为包括至少一个测试单元(201)，其被配置为检测所述一系列随机位(RawRandomBits；Random)中的缺陷，所述测试电路(202)适于在由测试单元(201)检测到第一缺陷之后，验证由随机数生成器(100)在没有由所述单元测试(201)检测到第二缺陷的情况下生成的随机位的数目是否小于第一阈值(TH)。第一阈值(TH)可以等于所述缺陷出现的概率(P)的倒数。缺陷可以是全部具有相同值的一系列N个连续位。缺陷可以是全部等于“1”(一)的一系列N个连续的位。缺陷可以是全部等于“0”(零)的一系列N个连续位。N可以等于34。缺陷可以是具有大于第二阈值(SUM)的总和的一系列M个连续位。连续位系列M可以等于1024，第二阈值(SUM)可以等于628。随机数生成器(100)可以包括至少两个并行布置的测试单元(201)。所述至少两个测试单元(201)可以寻找不同的缺陷。随机数生成器(100)可以被概括为包括测试电路。生成器可以包括能够生成一系列随机位(RawRandomBits；Random)的源。源(101)可以包括噪声源和数字化级。所述生成器可以包括处理单元(1022)，其适于对所述一系列随机位(RawRandomBits；Random)应用数学处理。

在一个实施例中，一种装置包括：输入，其在操作中接收对检测到随机位序列中的第一类型缺陷的指示；缺陷测试电路装置，其耦合到所述输入，其中所述缺陷测试电路装置在操作中生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到第一类型缺陷的指示。在一个实施例中，阈值位数目等于第一类型缺陷出现概率的倒数。在一个实施例中，第一类型缺陷是具有相同值的一系列N个连续位。在一个实施例中，相同的值是1。在一个实施例中，相同的值是0。在一个实施例中，N等于34。在一个实施例中，第一类型缺陷是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。在一个实施例中，M等于1024，阈值总和等于628。在一个实施例中，该装置包括：第二输入，其在操作中接收检测所述随机位序列中的第二类型缺陷的指示，其中所述缺陷测试电路装置耦合到所述第二输入，并且所述缺陷测试电路装置在操作中生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到第二类型缺陷的指示。

在一个实施例中，一种系统，包括：多个随机序列错误检测电路，其在操作中检测随机位序列中的错误；以及缺陷测试电路装置，其耦合到所述多个随机序列错误检测电路，其中所述缺陷测试电路装置在操作中生成所述多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路是否在随机位序列的阈值位数目内检测到在所述随机位序列中的两个错误的指示。在一个实施例中，多个随机序列错误检测电路在操作中检测在随机位序列中的相应类型的错误。在一个实施例中，所述系统包括：耦合到所述多个随机序列错误检测电路的随机数生成器，其中所述随机数生成器在操作中生成所述随机位序列。在一个实施例中，随机数生成器包括噪声源和数字化电路装置。在一个实施例中，所述系统包括：耦合到所述随机数生成器的位序列处理电路装置，其中所述位序列处理电路装置在操作中对所述随机位序列应用数字信号处理，从而生成随机数。在一个实施例中，阈值位数目等于由多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测到的缺陷类型的出现概率的倒数。在一个实施例中，由多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测的缺陷类型是具有相同值的一系列N个连续位。在一个实施例中，N等于34。在一个实施例中，由多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测到的缺陷类型是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。在一个实施例中，M等于1024，阈值总和等于628。在一个实施例中，多个随机序列错误检测电路在操作中检测随机位序列中的不同类型的错误；以及缺陷测试电路装置，生成多个随机序列错误检测电路是否在随机位序列的相应阈值位数目内检测到随机位序列中的两个错误的相应指示。

在一个实施例中，一种方法包括：检测随机位序列中的第一类型缺陷；以及基于对所述第一类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到所述第一类型缺陷的指示。在一个实施例中，阈值位数目等于第一类型缺陷出现概率的倒数。在一个实施例中，第一类型缺陷是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。在一个实施例中，M等于1024，阈值总和等于628。在一个实施例中，所述方法包括：检测在所述随机位序列中的第二类型缺陷；以及基于对所述第二类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到所述第二类型缺陷的指示。

在一个实施例中，一种非暂态计算机可读介质的内容使得处理电路装置执行一种方法，该方法包括：检测随机位序列中的第一类型缺陷；以及基于对所述第一类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到所述第一类型缺陷的指示。在一个实施例中，阈值位数目等于第一类型缺陷出现概率的倒数。在实施例中，该方法包括：检测所述随机位序列中的第二类型缺陷；以及基于对所述第二类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到所述第二类型缺陷的指示。在一个实施例中，所述内容包括由处理电路装置执行的指令。

一些实施例可以采用计算机程序产品的形式或包括计算机程序产品。例如，根据一个实施例，提供了一种计算机可读介质，其包括适于执行上述方法或功能中的一个或多个的计算机程序。该介质可以是物理存储介质，例如只读存储器(ROM)芯片，或盘，例如数字多功能盘(DVD－ROM)，光盘(CD－ROM)，硬盘，存储器，网络，或将由适当的驱动器或经由适当的连接读取的便携式介质制品，包括编码在存储在一个或多个这样的计算机可读介质上并可由适当的读取器装置读取的一个或多个条形码或其他相关代码。

此外，在一些实施例中，这些方法和/或功能中的一些或全部可以以其他方式来实现或提供，例如至少部分地以固件和/或硬件来实现或提供，这些固件和/或硬件包括但不限于一个或多个专用集成电路(ASIC)，数字信号处理器，分立电路，逻辑门，标准集成电路，控制器(例如，通过执行适当的指令，并且包括微控制器和/或嵌入式控制器)，现场可编程门阵列(FPGA)，复杂可编程逻辑器件(CPLD)等，以及采用RFID技术的器件及其各种组合。

上述各种实施例可以组合以提供另外的实施例。如果需要，可以修改实施例的各方面以采用各种专利，申请和出版物的概念来提供另外的实施例。

根据上述详细描述，可以对实施例进行这些和其它改变。通常，在下面的权利要求中，所使用的术语不应该被解释为将权利要求限制到在说明书和权利要求中公开的特定实施例，而是应该被解释为包括所有可能的实施例以及这些权利要求被授权的等同物的全部范围。因此，权利要求不受本公开的限制。

Claims (29)

1.一种装置，包括：

输入，其在操作中接收对检测到在随机位序列中的第一类型缺陷的指示；

缺陷测试电路装置，其耦合到所述输入，其中所述缺陷测试电路装置在操作中生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到所述第一类型缺陷的指示。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述阈值位数目等于所述第一类型缺陷的出现概率的倒数。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一类型缺陷是具有相同值的一系列N个连续位。

4.根据权利要求3所述的装置，其中所述相同值是1。

5.根据权利要求3所述的装置，其中所述相同值是0。

6.根据权利要求3所述的装置，其中N等于34。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一类型缺陷是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。

8.根据权利要求7所述的装置，其中M等于1024，并且所述阈值总和等于628。

9.根据权利要求1所述的装置，包括：

第二输入，其在操作中接收检测到在所述随机位序列中的第二类型缺陷的指示，其中所述缺陷测试电路装置耦合到所述第二输入，并且所述缺陷测试电路装置在操作中生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到所述第二类型缺陷的指示。

10.一种系统，包括：

多个随机序列错误检测电路，其在操作中检测在随机位序列中的错误；以及

缺陷测试电路装置，其耦合到所述多个随机序列错误检测电路，其中所述缺陷测试电路装置在操作中生成所述多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路是否在所述随机位序列的阈值位数目内检测到所述随机位序列中的两个错误的指示。

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述多个随机序列错误检测电路在操作中检测在所述随机位序列中的相应类型的错误。

12.根据权利要求10所述的系统，包括：

随机数生成器，耦合到所述多个随机序列错误检测电路，其中所述随机数生成器在操作中生成所述随机位序列。

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述随机数生成器包括噪声源和数字化电路装置。

14.根据权利要求12所述的系统，包括：

位序列处理电路装置，耦合到所述随机数生成器，其中所述位序列处理电路装置在操作中对所述随机位序列应用数字信号处理，从而生成随机数。

15.根据权利要求10所述的系统，其中所述阈值位数目等于由所述多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测到的缺陷类型的出现概率的倒数。

16.根据权利要求15所述的系统，其中由所述多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测到的所述缺陷类型是具有相同值的一系列N个连续位。

17.根据权利要求16所述的系统，其中N等于34。

18.根据权利要求15所述的系统，其中由所述多个随机序列错误检测电路中的一个随机序列错误检测电路检测到的所述缺陷类型是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。

19.根据权利要求18所述的系统，其中M等于1024，并且所述阈值总和等于628。

20.根据权利要求10所述的系统，其中，

所述多个随机序列错误检测电路在操作中检测在所述随机位序列中的不同类型的错误；以及

所述缺陷测试电路装置生成所述多个随机序列错误检测电路是否在所述随机位序列的相应阈值位数目内检测到所述随机位序列中的两个错误的相应指示。

21.一种方法，包括：

检测随机位序列中的第一类型缺陷；以及

基于对所述第一类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到所述第一类型缺陷的指示。

22.根据权利要求21所述的方法，其中所述阈值位数目等于所述第一类型缺陷的出现概率的倒数。

23.根据权利要求21所述的方法，其中所述第一类型缺陷是具有大于阈值总和的总和的一系列M个连续位。

24.根据权利要求23所述的方法，其中M等于1024，并且所述阈值总和等于628。

25.根据权利要求21所述的方法，包括：

检测在所述随机位序列中的第二类型缺陷；以及

基于对所述第二类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到所述第二类型缺陷的指示。

26.一种非暂态计算机可读介质，具有使处理电路装置执行方法的内容，所述方法包括：

检测在随机位序列中的第一类型缺陷；以及

基于对所述第一类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的阈值位数目内重复检测到所述第一类型缺陷的指示。

27.根据权利要求26所述的非暂态计算机可读介质，其中所述阈值位数目等于所述第一类型缺陷的发生概率的倒数。

28.根据权利要求26所述的非暂态计算机可读介质，其中所述方法包括：

检测在所述随机位序列中的第二类型缺陷；以及

基于对所述第二类型缺陷的检测，生成是否在所述随机位序列的第二阈值位数目内重复检测到所述第二类型缺陷的指示。

29.根据权利要求26所述的非暂态计算机可读介质，其中所述内容包括由所述处理电路装置执行的指令。

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