CN115015724A - 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品 - Google Patents

损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品 Download PDF

Info

Publication number
CN115015724A
CN115015724A CN202210506720.XA CN202210506720A CN115015724A CN 115015724 A CN115015724 A CN 115015724A CN 202210506720 A CN202210506720 A CN 202210506720A CN 115015724 A CN115015724 A CN 115015724A
Authority
CN
China
Prior art keywords
loss
bridge arm
determining
target
current value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210506720.XA
Other languages
English (en)
Inventor
彭光强
黄之笛
武霁阳
何竞松
陈礼昕
毛炽祖
国建宝
杨育丰
王海军
陈欢
李士杰
谢惠藩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maintenance and Test Center of Extra High Voltage Power Transmission Co
Original Assignee
Maintenance and Test Center of Extra High Voltage Power Transmission Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Maintenance and Test Center of Extra High Voltage Power Transmission Co filed Critical Maintenance and Test Center of Extra High Voltage Power Transmission Co
Priority to CN202210506720.XA priority Critical patent/CN115015724A/zh
Publication of CN115015724A publication Critical patent/CN115015724A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2608—Circuits therefor for testing bipolar transistors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2608—Circuits therefor for testing bipolar transistors
    • G01R31/2617—Circuits therefor for testing bipolar transistors for measuring switching properties thereof
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2633—Circuits therefor for testing diodes for measuring switching properties thereof
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/60—Arrangements for transfer of electric power between AC networks or generators via a high voltage DC link [HVCD]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Rectifiers (AREA)

Abstract

本申请涉及一种损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。该损耗确定方法由于采用了有限次采样的方式获取桥臂电流，使得确定的柔性直流换流阀的损耗准确性较高。

Description

损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品
技术领域
本申请涉及电气技术领域，特别是涉及一种损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品。
背景技术
随着电气产业的发展，基于模块化多电平换流器(modular multi-levelconverter，MMC)的柔直换流阀凭借着优秀的输出特性和较低的开关损耗等优势，得到了广泛的关注与研究。
在电能的输送和分配过程中，电网各个元件都要产生一定数量的有功功率损耗和电能损耗。在柔性直流输电系统中，对损耗的评估也尤为重要，因此，对柔性直流换流阀进行损耗分析是换流阀设计中的一个重要环节。现有技术中，通常采用解析算法评估柔性直流换流阀的损耗，例如，获取柔性直流换流阀中的桥臂电流的平均值，采用桥臂电流的平均值来评估柔性直流换流阀的损耗。
但是，目前采用上述损耗计算方式，存在损耗评估结果准确性较低的问题。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高损耗评估结果准确性的损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品。
第一方面，本申请提供了一种损耗确定方法。所述方法包括：
在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在其中一个实施例中，根据所述在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，包括：
获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值，包括：
判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；
若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；
若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值，包括：
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，所述当前运行工况信息包括所述柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值，包括：
针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；
根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；
根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，所述柔性直流换流阀中的元器件包括绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor，IGBT)和二极管；所述根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗，包括：
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
其中一个实施例中，所述开关损耗包括开通损耗和关断损耗；根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗，包括：
根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关断损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、所述挂断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
其中一个实施例中，根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，包括：
根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；
根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
其中一个实施例中，根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，包括：
根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
其中一个实施例中，根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗，包括：
根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
第二方面，本申请还提供了一种损耗确定装置。所述装置包括：
第一获取模块，用于在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
第二获取模块，用于根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
第三获取模块，用于根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
确定模块，用于根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面的任一实施例所述的损耗确定方法。
第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面的任一实施例所述的损耗确定方法。
第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面的任一实施例所述的损耗确定方法。
上述损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品，在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，根据目标桥臂电流值，获取柔性直流换流阀中各元器件的损耗，根据各元器件的损耗，获取柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，根据半桥子模块的损耗，确定柔性直流换流阀的目标损耗。本申请实施例中，由于是在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内获取多个目标桥臂电流值，采用有限采样的方式在桥臂电流的采样周期获取到多个桥臂电流值，根据分布在采样周期的不同时刻的多个桥臂电流值计算元器件的损耗，最终得到柔性直流换流阀的目标损耗，相较于现有技术采用平均电流值这一个电流值而言，本申请的损耗确定方法中考虑了采样周期的多个桥臂电流值，更加符合柔性直流换流阀的运行情况，因此，得到的柔性直流换流阀的损耗更加准确。
附图说明
图1为一个实施例中损耗确定方法的应用环境图；
图2为一个实施例中损耗确定方法的流程示意图；
图3为一个实施例中获取预设数量目标桥臂电流值的流程示意图；
图4为另一个实施例中确定预设数量目标桥臂电流值的流程示意图；
图5为一个实施例中确定目标桥臂电流值的流程示意图；
图6为另一个实施例中获取目标桥臂电流值的流程示意图；
图7为一个实施例中获取各元器件损耗的方法流程示意图；
图8为一个实施例中确定IGBT损耗的方法流程示意图；
图9为一个实施例中IGBT的输出特性曲线示意图；
图10为一个实施例中IGBT的输出特性拟合曲线示意图；
图11为一个实施例中IGBT的开通/关断损耗曲线示意图；
图12为一个实施例中IGBT的开通/关断损耗拟合曲线示意图；
图13为一个实施例中确定二极管损耗的方法流程示意图；
图14为一个实施例中确定半桥子模块的损耗的方法流程示意图；
图15为一个实施例中确定目标损耗的方法流程示意图；
图16为一个实施例中损耗确定方法的主要组成模块和结构示意图；
图17为一个实施例中损耗确定方法的流程示意图；
图18为一个实施例中损耗确定装置的结构图；
图19为另一个实施例中损耗确定装置的结构图；
图20为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
随着采用IGBT构成电压源换流器的高压直流输电(voltage sourced converterhigh voltage direct current，VSC-HVDC)系统的发展，换流阀不断出现不同的形态与调制方式。MMC的柔性直流换流阀凭借着优秀的输出特性，较低的开关损耗等优势，得到了广泛的关注与研究。在电能的输送和分配过程中，电网各个元件都要产生一定数量的有功功率损耗和电能损耗，例如发热，导致用电原件寿命缩短，安全系数降低，造成经济的损失和能源的浪费。在柔性直流输电系统中，换流阀是柔性直流输电的关键设备之一，对柔性直流换流阀进行准确的损耗分析可以指导效率优化、元器件选型和散热器设计，是换流阀设计中的一个重要环节。
然而，由于换流阀内部结构封闭且受限于测量设备的精度，直接测量换流阀损耗较为困难。目前普遍采用的解析算法虽然具有计算过程简便和计算耗时较短的特点，但是由于采用桥臂电流的平均值作为输入值计算阀损耗，计算结果的准确性较低，且无法在保证精确度的情况下进行长时段、不同运行工况下的损耗计算。
本申请实施例提供的损耗确定方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。图1提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图1所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储损耗确定方法中涉及的数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种损耗确定方法。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种损耗确定方法，以该方法应用于图1中的计算机设备为例进行说明，包括以下步骤：
S201、在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值。
其中，桥臂电流可以为柔性直流换流阀中单向桥臂电流，采样周期可以为桥臂电流的正弦周期。预设数量可以是根据实际需求来确定的，例如，预设数量可以为100、150、200等，本申请实施例中不加以限制。目标桥臂电流值可以是实际测量得到的电流值，也可以是根据柔性直流换流阀的器件参数计算得到的电流值。
在本实施例中，在柔性直流换流阀的运行过程中，可以在桥臂电流的采样周期内进行有限次采样，得到预设数量的目标桥臂电流值。例如，可以在柔性直流换流阀的运行过程中对桥臂电流进行实际检测，得到多个目标桥臂电流值；或者，也可以是在柔性直流换流阀的运行过程中，获取桥臂的电压和电阻，根据电压和电阻计算目标桥臂电流值；或者，当柔性直流换流阀的当前运行工况和历史运行工况一致时，还可以从柔性直流换流阀的历史运行工况对应的录波数据中确定目标桥臂电流值。
S202、根据目标桥臂电流值，获取柔性直流换流阀中各元器件的损耗。
其中，柔性直流换流阀中各元器件可以包括IGBT、二极管等，元器件的损耗指的是IGBT、二极管在柔性直流换流阀运行过程中产生的损耗。可选地，IGBT的损耗可以包括IGBT的通态损耗、开关损耗等，二极管的损耗可以包括二极管的通态损耗、反相恢复损耗等。
在本实施例中，可以根据目标桥臂电流值计算各元器件的损耗。例如，对于IGBT的损耗，可以根据IGBT的输出特性曲线和目标桥臂电流值确定IGBT的电压，根据目标桥臂电流值和IGBT的电压计算IGBT的损耗；或者，还可以根据IGBT的开关损耗曲线和目标桥臂电流值确定IGBT的损耗；或者，对于二极管，可以根据二极管的输出特性曲线和目标桥臂电流值确定二极管的电压，根据目标桥臂电流值和二极管的电压计算二极管的损耗；或者，还可以根据二极管的损耗曲线和目标桥臂电流值确定二极管的导通损耗功率和反向恢复损耗能量，根据二极管的导通损耗功率和反向恢复损耗能量计算二极管的损耗，本申请实施例中不加以限制。
S203、根据各元器件的损耗，获取柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗。
其中，MMC由多个结构相同的子模块(Sub-module,SM)级联构成，子模块的结构可以分为半H桥型、全H桥型和双箝位型子模块型三种，半桥子模块指的是由MMC中的子模块构成的半桥。
在本实施例中，获取到上述各个元器件的损耗之后，由于每个子模块是由一个或多个元器件构成的，因此，根据各个元器件的损耗可以计算每个子模块损耗，例如，将构成子模块的各元器件的损耗相加得到子模块损耗，或者，将构成子模块的各元器件的损耗乘以一定的比例系数之后再相加，得到子模块损耗。进一步地，计算得到每个子模块的损耗之后，可以根据构成半桥的子模块的损耗确定得到半桥子模块的损耗。
S204、根据半桥子模块的损耗，确定柔性直流换流阀的目标损耗。
其中，目标损耗指的是柔性直流换流阀的总体损耗。
在本实施例中，柔性直流换流阀中包括全桥子模块和半桥子模块，通过分析全桥模块稳态运行通路分析，可得全桥子模块任意时刻运行时通路中的器件为半桥子模块的两倍，因此全桥结构的器件损耗为半桥结构损耗的两倍。因此，得到半桥子模块的损耗之后，可以将构成全桥的半桥子模块的损耗相加得到全桥子模块的损耗，进一步根据全桥子模块的损耗确定柔性直流换流阀的目标损耗；或者，如果全桥为对称结构，也即构成全桥的每个半桥的结构相同，则每个半桥子模块的损耗也相同，可以将半桥子模块的损耗乘以半桥子模块的数量得到全桥子模块的损耗，进一步根据全桥子模块的损耗确定柔性直流换流阀的目标损耗；或者，在得到全桥子模块的总损耗之后，还可以根据全桥子模块的损耗和半桥子模块的损耗得到目标损耗。
本申请实施例提供的损耗确定方法，在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，根据目标桥臂电流值，获取柔性直流换流阀中各元器件的损耗，根据各元器件的损耗，获取柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，根据半桥子模块的损耗，确定柔性直流换流阀的目标损耗。本申请实施例中，由于是在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内获取多个目标桥臂电流值，采用有限采样的方式在桥臂电流的采样周期获取到多个桥臂电流值，根据分布在采样周期的不同时刻的多个桥臂电流值计算元器件的损耗，以及最终得到柔性直流换流阀的目标损耗，相较于现有技术采用平均电流值这一个电流值而言，本申请的损耗确定方法中考虑了采样周期的多个桥臂电流值，更加符合柔性直流换流阀的运行情况，因此，得到的柔性直流换流阀的损耗更加准确。
进一步地，在图2所示实施例的基础上，可以根据运行工况确定目标桥臂电流值，如图3所示，步骤S201：“在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值”可以包括以下步骤：
S301、获取柔性直流换流阀的录波数据和录波数据对应的历史运行工况信息。
其中，录波数据可以为记录的柔性直流换流阀在历史运行工况下对应的电流、电阻、电压等信息，历史运行工况信息可以包括柔性直流换流阀在历史运行工况下对应的运行功率、直流电压、交流电压、开关元件频率、元器件结温等信息。
在本实施例中，柔性直流换流阀的录波数据可以根据实际工程中对运行过程所产生的各项数据的记录来获取，例如，可以通过录波器进行数据的记录和获取，或者，也可以通过电流传感器、电压传感器等获取。
S302、根据柔性直流换流阀的历史运行工况信息、当前运行工况信息和录波数据，确定预设数量的目标桥臂电流值。
其中，当前运行工况可以包括柔性直流换流阀在历史运行工况下对应的运行功率、直流电压、交流电压、开关元件频率、元器件结温等信息。
在本实施例中，可以将历史运行工况信息和当前运行工况信息进行对比，以判断历史运行工况和当前运行工况是否一致，如果历史运行工况和当前运行工况一致，则可以直接从历史运行工况下收集到录波数据的桥臂电流中确定预设数量的目标桥臂电流值；或者如果历史运行工况和当前运行工况不一致，则通过当前运行工况信息计算当前运行工况下的桥臂电流值来确定预设数量的目标桥臂电流值。
本申请实施例提供的根据运行工况确定目标桥臂电流值，获取柔性直流换流阀的录波数据和录波数据对应的历史运行工况信息，根据柔性直流换流阀的历史运行工况信息、当前运行工况信息和录波数据，确定预设数量的目标桥臂电流值。本申请实施例中，考虑了柔性直流换流阀的不同运行工况信息的桥臂电流值，所以确定的目标桥臂电流值的准确度更高。
可选地，如图4所示，步骤S302：“根据历史运行工况信息、柔性直流换流阀的当前运行工况信息和录波数据，确定预设数量的目标桥臂电流值”可以包括以下步骤：
S401、判断历史运行工况信息和当前运行工况信息是否一致；若历史运行工况信息和当前运行工况信息一致，则执行步骤S402，若历史运行工况信息和当前运行工况信息不一致，则执行步骤S403。
在本实施例中，判断信息是否一致可以通过对历史运行工况信息和当前运行工况信息进行一一对比，如果完全一致则认为一致；或者，也可以计算历史运行工况信息和当前运行工况信息之间的相似度，如果相似度大于相似度阈值，则认为一致，例如，相似度阈值为95％、90％等等。
S402、从柔性直流换流阀的录波数据中确定预设数量的目标桥臂电流值。
在本实施例中，如果历史运行工况信息和当前运行工况信息一致，则说明历史运行工况和当前运行工况相同，那么，历史运行工况下的桥臂电流值也可以认为与当前运行工况下的桥臂电流值相当，因此，可以把柔性直流换流阀的录波数据的桥臂电流值作为输入桥臂电流值，从而得到预设数量的目标桥臂电流值。
S403、基于柔性直流换流阀的录波数据计算历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据第一桥臂电流值和录波数据中的第二桥臂电流值，获取目标桥臂电流值。
在本实施例中，如果历史运行工况信息和当前运行工况信息不一致，则说明历史运行工况和当前运行工况不相同，那么，可以根据柔性直流换流阀的录波数据对应的历史运行工况信息和桥臂电流的计算方法计算第一桥臂电流值，将第一桥臂电流值和柔性直流换流阀录波数据中的第二桥臂电流值进行大小比较，根据比较结果来确定桥臂电流的计算方法是否准确；或者，也可以计算第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的电流差值，根据电流差值确定桥臂电流的计算方法是否准确，如果桥臂电流的计算方法不准确，还可以进一步对桥臂电流的计算方法进行校正，使得根据校正后的桥臂电流的计算方法计算得到的桥臂电流更加准确。
可选地，若第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取目标桥臂电流值；若第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于预设阈值，则根据电流差值确定校正系数，根据校正系数、当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取目标桥臂电流值。
其中，预设阈值可以根据柔性直流换流阀的精度要求来确定，例如，该预设阈值可以为10e-5。
在本实例中，若第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则说明第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的误差比较小，证明桥臂电流计算方法是准确的，可以直接根据桥臂电流计算方法计算桥臂电流值。若第一桥臂电流值和第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于预设阈值，说明该桥臂电流计算方法不准确，可以根据该电流差值对桥臂电流计算方法进行校正，再根据校正后的桥臂电流计算方法计算桥臂电流。
进一步地，如图5所示，确定目标桥臂电流值的方法可以包括以下步骤：
S501、输入历史运行工况信息、当前运行工况信息和历史运行工况信息下的录波数据。
S502、判断历史运行工况信息和当前运行工况信息是否一致；若历史运行工况信息和当前运行工况信息一致，则执行步骤S503；若历史运行工况信息和当前运行工况信息不一致，则执行步骤S504。
S503、将历史运行工况信息下的录波数据的第二桥臂电流值作为目标桥臂电流值，进行损耗计算。
S504、根据桥臂电流计算方法计算历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值。
S505、判断历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值与历史运行工况信息下的录波数据的第二桥臂电流值的电流差值是否小于预设误差阈值，若小于误差阈值，则执行步骤S506；若大于或等于误差阈值，则执行步骤S507。
S506、根据该桥臂电流计算方法计算当前运行工况下的桥臂电流值，把该桥臂电流值作为目标桥臂电流值，进行损耗计算。
S507、对该桥臂电流计算方法进行校核，再根据校核后的桥臂电流计算方法计算当前运行工况下的桥臂电流值，把该桥臂电流值作为目标桥臂电流值，进行损耗计算。
本申请实施例中，判断历史运行工况信息和当前运行工况信息是否一致，若一致，则从柔性直流换流阀的录波数据中确定预设数量的目标桥臂电流值；若不一致，则基于柔性直流换流阀的录波数据计算历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，再根据第一桥臂电流值和录波数据中的第二桥臂电流值，从而获取目标桥臂电流值。本申请实施例中，由于通过对历史运行工况下计算得到的第一桥臂电流值和历史运行工况下录波数据的第二桥臂电流值进行了对比和修正校核，所以后续计算中所需的预设数量的目标桥臂电流值的准确性得到进一步提升。
进一步地，当前运行工况信息包括柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；如图6所示，步骤“根据当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取目标桥臂电流值包括以下步骤：
S601、针对每个采样时刻根据视在功率和直流电压，确定桥臂电流的直流电流分量。
在本实施例中，可以根据公式(1)计算桥臂电流的直流电流分量。
Figure BDA0003637640280000071
式中，Idc是桥臂电流的直流电流分量，单位为A；Smmc是每一个子模块的视在功率；Udc_mmc是直流电压，单位为V。
S602、根据视在功率、直流电压和基频频率，确定子模块中每一相的交流电流。
在本实施例中，可以根据公式(2)计算子模块中每一相的交流电流。
Figure BDA0003637640280000072
式中，Ip_ac为子模块中每一相的交流电流，单位为A；Up_ac是每一相的交流电压，单位为V；fn为基频频率，单位为HZ；t是时间，单位为s。
S603、根据直流电流分量和交流电流，确定目标桥臂电流值。
在本实施例中，根据公式(3)计算目标桥臂电流值。
Figure BDA0003637640280000073
式中，Iarm是目标桥臂电流，单位为A。Iarm是单向桥臂电流，单位为A，该桥臂电流计算公式不含二倍频分量，如柔直控制中不进行环流抑制，可补充二倍频电流分量，本申请实施例中不加以限制。可选地，当桥臂电流计算方法不准确时，可以根据该电流差值对桥臂电流计算方法进行校正，确定校正系数a，则对应的桥臂电流计算方法可以为
Figure BDA0003637640280000074
本申请实施例中，针对每个采样时刻根据视在功率和直流电压，确定桥臂电流的直流电流分量，根据视在功率、直流电压和基频频率，确定子模块中每一相的交流电流，根据直流电流分量和交流电流，确定目标桥臂电流值，得到目标桥臂电流值准确度更高。
在一个实施例中，以柔性直流换流阀中包括的元器件IGBT和二极管为例，计算元器件的损耗可以包括计算IGBT的损耗和二极管的损耗，如图7所示，步骤S202“根据目标桥臂电流值，获取柔性直流换流阀中各元器件的损耗”，包括以下步骤：
S701、根据预设数量的目标桥臂电流值，确定IGBT的通态平均损耗和开关损耗。
其中，IGBT的通态平均损耗和开关损耗可以根据相应型号IGBT的特性曲线来读取与损耗相关的数据，例如，可以根据IGBT的实验数据中的电流和损耗之间的对应关系，利用最小二乘法进行拟合得出IGBT的损耗拟合曲线，IGBT的损耗拟合曲线可以包括IGBT的电流与通态平均损耗之间的对应关系，也可以包括IGBT的电流与开关损耗之间的对应关系，在确定了目标桥臂电流值时，可以根据损耗拟合曲线直接确定目标桥臂电流值对应的通态平均损耗和开关损耗。
可选地，如图8所示，步骤S701“根据预设数量的目标桥臂电流值，确定IGBT的通态平均损耗和开关损耗”，可以包括以下步骤：
S801、根据IGBT的输出特性曲线，确定各目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各目标桥臂电流值和对应的第一电压，确定IGBT在采样周期内的通态平均损耗。
其中，IGBT的输出特性曲线可以包括桥臂的电流与电压之间的对应关系，因此，可以根据IGBT的输出特性曲线确定各目标桥臂电流值对应的第一电压。如图9所示，以IGBT为例，IGBT的输出特性曲线包括柔性直流换流阀的电流与电压之间的对应关系，可以根据目标桥臂电流值确定第一电压。IGBT在采样周期内的通态平均损耗，可以通过IGBT输出特性拟合曲线读取各目标桥臂电流值对应的通态平均损耗。如图10所示，以IGBT为例，IGBT的输出特性拟合曲线包括柔性直流换流阀的通态电流和第一电压之间的对应关系，可以根据输出特性拟合曲线读取各目标桥臂电流值对应的通态平均损耗。
在本实施例中，可以根据公式(4)计算IGBT在采样周期内的通态平均损耗。
Figure BDA0003637640280000081
式中，Pigbt_onstate_ave是IGBT在采样周期内的通态平均损耗；m是采样的预设数量，m∈[1,100]；i(m)是预设数量的目标桥臂电流值，单位为A；
Figure BDA0003637640280000083
是每个目标桥臂电流值对应的第一电压，单位为V。
可选地，开关损耗包括开通损耗和关断损耗。如图8所示，可以根据预设数量的目标桥臂电流值，确定IGBT的开通损耗和关断损耗。
S802、根据IGBT的开关损耗曲线，确定各目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗和第一开关次数确定IGBT在采样周期内的开通损耗和关断损耗。
其中，IGBT的开关损耗曲线可以包括桥臂电流值与开通损耗、关断损耗之间的对应关系。因此，可以根据IGBT的开通/关断损耗曲线确定各目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗。如图11所示，以IGBT为例，IGBT的开通/关断损耗曲线包括柔性直流换流阀的电流与开通损耗、关断损耗之间的对应关系，可以根据目标桥臂电流值确定开通损耗、关断损耗。IGBT在采样周期内的开通损耗、关断损耗可以通过IGBT开通/关断损耗拟合曲线读取各目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗。如图12所示，以IGBT为例，IGBT的开通/关断损耗拟合曲线包括柔性直流换流阀的目标桥臂电流值和开通/关断损耗之间的对应关系，可以根据开通/关断拟合曲线读取各目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗。
在本实施例中，可以根据公式(5)计算IGBT在采样周期内的平均开通损耗。
Figure BDA0003637640280000082
式中，Eigbt_on_ave是IGBT在采样周期内的平均开通损耗，单位为J；
Figure BDA0003637640280000096
是IGBT在采样周期内各目标桥臂电流值对应的开通损耗，单位为J，可以由IGBT的开通损耗拟合曲线得到。
在本实施例中，可以根据公式(6)计算IGBT在采样周期内的平均关断损耗。
Figure BDA0003637640280000091
式中，Eigbt_off_ave是IGBT在采样周期内的平均关断损耗，单位为J；
Figure BDA0003637640280000097
是IGBT在采样周期内预设数量的目标桥臂电流值对应的关断损耗，单位为J，可以由IGBT的关断损耗拟合曲线得到。
在本实施例中，可以根据公式(7)计算IGBT在采样周期内的第一开关次数。
Ts＝fc/fn (7)；
式中，Ts是IGBT在采样周期内的第一开关次数；fc是开关器件的开关频率，单位为HZ。
在本实施例中，可以根据公式(8)计算IGBT在采样周期内的开通损耗。
Eon＝Ts×Eigbt_on_ave (8)；
式中，Eon是IGBT在采样周期内的开通损耗，单位为J。
在本实施例中，可以根据公式(9)计算IGBT在采样周期内的开通损耗与关断损耗。
Eoff＝Ts×Eigbt_on_ave (9)；
式中，Eoff是IGBT在采样周期内的关断损耗，单位为J。
S702、根据预设数量的目标桥臂电流值，确定二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
其中，二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗可以根据相应型号二极管的特性曲线来读取与损耗相关的数据，例如可以根据二极管的实验数据中的电流和损耗之间的对应关系，利用最小二乘法进行拟合得出二极管的损耗拟合曲线，二极管的损耗拟合曲线可以包括二极管的电流与通态平均损耗之间的对应关系，也可以包括二极管的电流与反向恢复损耗之间的对应关系，在确定了目标桥臂电流值时，可以根据损耗拟合曲线直接确定目标桥臂电流值对应的通态平均损耗和反向恢复损耗。
可选地，如图13所示，步骤S702“根据预设数量的目标桥臂电流值，确定二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗”，可以包括以下步骤：
S1301、根据二极管的输出特性曲线，确定各目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各目标桥臂电流值和对应的第二电压，确定二极管在采样周期内的通态平均损耗。
在本实施例中，可以根据公式(10)计算二极管在采样周期内的通态平均损耗。
Figure BDA0003637640280000092
式中，Pdiode_onstate_ave是二极管在采样周期内的通态平均损耗；m是采样的预设数量，m∈[1,100]；i(m)是预设数量的目标桥臂电流值，单位为A；
Figure BDA0003637640280000093
是每个目标桥臂电流值对应的第二电压，单位为V。。
S1302、根据二极管的反向恢复损耗曲线，确定各目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定二极管在采样周期内的反向恢复损耗。
在本实施例中，可以根据公式(11)计算二极管在采样周期内的反向恢复损耗。
Figure BDA0003637640280000094
式中，Ediode_rec_ave是二极管在采样周期内的反向恢复损耗，单位为J；
Figure BDA0003637640280000095
是二极管在采样周期内预设数量的目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，单位为J，可以由二极管的反向恢复损耗拟合曲线得到。
在本实施例中，可以根据公式(12)计算二极管在采样周期内的反向恢复损耗。
Erec＝Ts·Ediode_rec_ave (12)；
本式中，Erec是二极管在采样周期内的反向恢复损耗，单位为J。
本申请实施例中，根据预设数量的目标桥臂电流值，确定IGBT的通态平均损耗和开关损耗、二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。利用有限采样法对目标桥臂电流值进行计算取值后，充分考虑到桥臂电流取样的准确性，也提升了损耗结果的准确性。
在图8和图13实施例的基础上，可以根据柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗包括IGBT的损耗和二极管的损耗计算半桥子模块的损耗。如图14所示，步骤S203、“根据各元器件的损耗，获取柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗”，该方法包括以下步骤：
S1401、根据IGBT的通态平均损耗和二极管的通态平均损耗，确定柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗。
在本实施例中，可以根据公式(13)、(14)计算柔性直流换流阀中半桥子模块的通态平均损耗。
Figure BDA0003637640280000101
Wonstate_hb＝50％·T·(Pigbt_onstate_ave+Pdiode_onstate_ave) (14)；
式中，T是基于基频频率fn的周期；Wonstate_hb是半桥子模块的通态损耗；Pigbt_onstate_ave为IGBT在采样周期内的通态平均损耗；Pdiode_onstate_ave是二极管在采样周期内的通态平均损耗。
S1402、根据IGBT的开关损耗和二极管的反向恢复损耗，确定柔性直流换流阀中的半桥子模块的开关损耗。
在本实施例中，可以根据公式(15)计算半桥子模块的开关损耗。
Wswitch_hb＝Eon+Eoff+Erec (15)；
式中，Wswitch_hb是半桥子模块的开关损耗；Eon是IGBT在采样周期内的开通损耗，单位为J；Eoff是IGBT在采样周期内的关断损耗，单位为J；Erec是二极管在采样周期内的反向恢复损耗，单位为J。
本申请实施例提供的损耗确定方法，根据预设数量的目标桥臂电流值，确定IGBT的通态平均损耗和开关损耗，根据预设数量的目标桥臂电流值，确定二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，具体的，可以根据IGBT的输出特性曲线，确定各目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各目标桥臂电流值和对应的第一电压，确定IGBT在采样周期内的通态平均损耗，根据IGBT的开关损耗曲线，确定各目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗和第一开关次数确定IGBT在采样周期内的开通损耗和关断损耗，通过目标桥臂电流值可以精确的计算IGBT的损耗，进一步地，根据二极管的输出特性曲线，确定各目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各目标桥臂电流值和对应的第二电压，确定二极管在采样周期内的通态平均损耗，根据二极管的反向恢复损耗曲线，确定各目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定二极管在采样周期内的反向恢复损耗，也可以计算得到更加精确的极管的损耗。
进一步地，在图14所示实施例的基础上，可以根据半桥子模块的损耗计算全桥子模块的损耗，再根据全桥子模块的损耗计算柔性直流换流阀的目标损耗。如图15所示，步骤S204“根据半桥子模块的损耗，确定柔性直流换流阀的目标损耗”，可以包括以下步骤：
S1501、根据半桥子模块的通态平均损耗和半桥子模块的开关损耗，确定半桥子模块的总损耗。
在本实施例中，可以根据公式(16)计算半桥子模块的总损耗。
Wsm_hb＝Wonstate_hb+Wswitch_hb (16)；
式中，Wsm_hb是半桥子模块的总损耗；Wonstate_hb是半桥子模块的通态损耗；Wswitch_hb是半桥子模块的开关损耗。
S1502、根据半桥子模块的总损耗确定全桥子模块的总损耗。
其中，子模块损耗计算是指单个子模块内所有IGBT与二极管器件一个周期内导通与开关损耗之和。子模块在进入稳态模式后，有且仅有1个开关元件处于导通状态，其余3个都处于关断状态，所以在数学解析计算中假设IGBT与二极管开通时间在一个周期内所占比例相同。实际导通比例可通过仿真或实测脉冲波形进行修正。通过分析全桥模块稳态运行通路分析，可得全桥模块任意时刻运行时通路中的器件为半桥模块两倍，因此全桥结构的器件损耗为半桥结构损耗两倍。
在本实施例中，可以根据公式(17)计算全桥子模块的总损耗。
Wsm_fb＝Wsm_hb·2 (17)；
式中，Wsm_fb是全桥子模块的总损耗；Wsm_hb是半桥子模块的总损耗。
S1503、根据半桥子模块的总损耗、半桥子模块的数量、全桥子模块的总损耗、全桥子模块的数量，确定柔性直流换流阀的初始损耗。
在本实施例中，可以根据公式(18)、(19)计算柔性直流换流阀的初始损耗。
Ncell＝Ncell_fb+Ncell_hb (18)；
Wmmc＝Wsm_fb·Ncell_fb+Wsm_hb·Ncell_hb (19)；
式中，Ncell是子模块总数；Ncell_fb是全桥子模块的数量；Ncell_hb是半桥子模块的数量；Wsm_fb是全桥子模块的总损耗；Wsm_hb是半桥子模块的总损耗；Wmmc是初始损耗。
S1504、根据初始损耗和基频频率，确定柔性直流换流阀的目标损耗。
在本实施例中，可以根据公式(20)计算目标损耗。
Pmmc_loss＝Wmmc·fn (20)；
式中，Pmmc_loss柔性直流换流阀的目标损耗。
上述损耗确定方法中，根据半桥子模块的通态平均损耗和半桥子模块的开关损耗，确定半桥子模块的总损耗，根据半桥子模块的总损耗确定全桥子模块的总损耗，根据半桥子模块的总损耗、半桥子模块的数量、全桥子模块的总损耗、全桥子模块的数量，确定初始损耗，根据初始损耗和基频频率，确定柔性直流换流阀的目标损耗，在计算柔性直流换流阀的目标损耗过程中全面考虑了半桥子模块的损耗和全桥子模块的损耗，使得计算得到的计算柔性直流换流阀的目标损耗更加精确，也更加符合当前运行工况。
如图16所示，本申请所提出的一种损耗确定方法的主要组成模块和结构可以包括A、输入模块、B运算模块、C输出模块。其中，该A输入模块可以包括：A1设备参数输入、A2运行工况输入、A3录波数据输入。A输入模块，主要分为三个部分，设备参数输入包含变压器短路阻抗参数、变压器网侧/阀侧电压、基频频率、半桥及全桥子模块数量，各元器件的输出特性特性曲线和开/关损耗曲线；运行工况输入包含运行功率，直流电压、交流电压，开关元件的频率，元器件结温；录波数据输入包含桥臂电流值的录波数据，在后续计算中与计算的桥臂电流值进行对比。该B运算模块，包括B1桥臂电流计算与修正、B2各元件损耗计算。该C输出模块，包括C1各类型损耗结果、C2换流阀整体损耗、长时段损耗结果。
进一步地，以图16的场景为例，如图17所示，本申请实施例提供一种损耗确定方法，包括以下步骤：
S1701、参数输入。
其中，参数包含各设备基本参数、历史运行工况信息、当前运行工况信息及实际工程的录波数据。
S1702、桥臂电流计算与校核。
其中，进入计算流程的目标桥臂电流值将在该步骤中计算，并根据实际工程提供的录波数据进行准确校核。
S1703、各元器件输出特性特性和开通/关断损耗曲线拟合。
其中，可以根据参数输入中所应用各元器件的说明书，利用最小二乘法，得到各元器件的输出特性拟合曲线和开通/关断损耗拟合曲线。
S1704、IGBT损耗与二极管损耗计算。
具体包含IGBT通态损耗，IGBT开关损耗，二极管通态损耗和二极管反向恢复损耗。
S1705、子模块损耗计算。
该步骤将分别计算半桥子模块损耗和全桥子模块损耗。
S1706、MMC换流阀组总损耗计算。
其中，根据参数输入中半桥与全桥子模块数量进行换流阀组总损耗计算。
本申请实施例提供的损耗确定方法，可以包括如下有益效果：
1、现有技术对于柔性直流换流阀组损耗无法进行准确的测量，且常用的解析算法由于其计算中常用的电流平均值法导致损耗计算结果误差较大。本发明在解析算法的基础上进行优化，在桥臂电流的取值过程中考虑有限采样法提升了损耗结果的准确性。
2、现有技术为保证柔性直流换流阀损耗结果的准确性，通常会采用仿真计算法，但是该方法建模过程复杂且仿真耗时较长不利于复杂运行工况下的换流阀损耗计算。本发明中的优化解析算法在保证了损耗计算结果准确性的同时又克服了仿真算法耗时长的缺点，可进行长时段的损耗计算。
3、现有技术没有在损耗运算过程中对目标桥臂电流值进行二次校核的模块，在复杂运行工况下无法对结果的准确性进行最大限度的提升。本发明在算法初期的目标桥臂电流值计算模块中加入校核模块，将当前运行工况下的桥臂电流值与历史运行工况下录波数据的桥臂电流值进行校核并确定修正系数，对于后续计算中所需的目标桥臂电流值的准确性得到进一步提升。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的损耗确定方法的损耗确定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个损耗确定装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于损耗确定方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图18所示，提供了一种损耗确定装置，包括：
第一获取模块11，用于在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
第二获取模块12，用于根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
第三获取模块13，用于根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
确定模块14，用于根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在其中一个实施例中，如图19所示，第一获取模块11包括：
第一获取单元111，用于获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
第一确定单元112，用于根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，第一确定单元112，具体用于判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，第一确定单元112，具体用于若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，所述当前运行工况信息包括所述柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；第一确定单元112，具体用于针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
在其中一个实施例中，所述柔性直流换流阀中的元器件包括绝缘栅双极性晶体管IGBT和二极管，第二获取模块12，包括：
第二确定单元，用于根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
第三确定单元，用于根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
在其中一个实施例中，所述开关损耗包括开通损耗和关断损耗；第二确定单元，具体用于根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；根据所述IGBT的开关损耗曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
在其中一个实施例中，第三确定单元，具体用于根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
在其中一个实施例中，第三获取模块13，包括：
第四确定单元，用于根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
第五确定单元，用于根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
在其中一个实施例中，第一确定模块14，包括：
第六确定单元，用于根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
第七确定单元，用于根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
第八确定单元，用于根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
第九确定单元，用于根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
本申请实施例提供的损耗确定装置的实现原理和有益效果，可参照上述方法实施例提供的损耗确定方法的实现原理和有益效果，此处不再赘述。
上述损耗确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图20所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种损耗确定方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图20中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，包括：
获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值，包括：
判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；
若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；
若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值，包括：
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：所述当前运行工况信息包括所述柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值，包括：
针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；
根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；
根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：所述柔性直流换流阀中的元器件包括绝缘栅双极性晶体管IGBT和二极管；根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗，包括：
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：所述开关损耗包括开通损耗和关断损耗；根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗，包括：
根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开/关损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、所述挂断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，包括：
根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；
根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，包括：
根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗，包括：
根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，包括：
获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值，包括：
判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；
若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；
若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值，包括：
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：所述当前运行工况信息包括所述柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值，包括：
针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；
根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；
根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：所述柔性直流换流阀中的元器件包括绝缘栅双极性晶体管IGBT和二极管；根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗，包括：
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：所述开关损耗包括开通损耗和关断损耗；根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗，包括：
根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关断损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、所述挂断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，包括：
根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；
根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，包括：
根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗，包括：
根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，包括：
获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值，包括：
判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；
若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；
若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值，包括：
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值，包括：
针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；
根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；
根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗，包括：
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗，包括：
根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关断损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、所述挂断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，包括：
根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；
根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，包括：
根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗，包括：
根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
需要说明的是，本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (14)

1.一种损耗确定方法，其特征在于，所述方法包括：
在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值，包括：
获取所述柔性直流换流阀的录波数据和所述录波数据对应的历史运行工况信息；
根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述历史运行工况信息、所述柔性直流换流阀的当前运行工况信息和所述录波数据，确定所述预设数量的目标桥臂电流值，包括：
判断所述历史运行工况信息和所述当前运行工况信息是否一致；
若一致，则从所述录波数据中确定所述预设数量的目标桥臂电流值；
若不一致，则基于所述录波数据计算所述历史运行工况信息对应的第一桥臂电流值，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一桥臂电流值和所述录波数据中的第二桥臂电流值，获取所述目标桥臂电流值，包括：
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值小于预设阈值，则根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值；
若所述第一桥臂电流值和所述第二桥臂电流值之间的电流差值是大于或等于所述预设阈值，则根据所述电流差值确定校正系数，根据所述校正系数、所述当前运行工况信息和所述桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述当前运行工况信息包括所述柔性直流换流阀中每个子模块在每个采样时刻的视在功率、直流电压和基频频率；根据所述当前运行工况信息和桥臂电流计算方法，获取所述目标桥臂电流值，包括：
针对每个所述采样时刻根据所述视在功率和所述直流电压，确定所述桥臂电流的直流电流分量；
根据所述视在功率、所述直流电压和所述基频频率，确定所述子模块中每一相的交流电流；
根据所述直流电流分量和所述交流电流，确定所述目标桥臂电流值。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述柔性直流换流阀中的元器件包括绝缘栅双极性晶体管IGBT和二极管；根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗，包括：
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗；
根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述开关损耗包括开通损耗和关断损耗；根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述IGBT的通态平均损耗和开关损耗，包括：
根据所述IGBT的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第一电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第一电压，确定所述IGBT的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗和关断损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的开通损耗、关断损耗和第一开关次数确定所述IGBT在所述采样周期内的开通损耗和关断损耗。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述预设数量的目标桥臂电流值，确定所述二极管的通态平均损耗和反向恢复损耗，包括：
根据所述二极管的输出特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的第二电压，根据各所述目标桥臂电流值和对应的所述第二电压，确定所述二极管的通态平均损耗；
根据所述二极管的反向损耗特性曲线，确定各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗，根据各所述目标桥臂电流值对应的反向恢复损耗和第二开关次数确定所述二极管的反向恢复损耗。
9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗，包括：
根据所述IGBT的通态平均损耗和所述二极管的通态平均损耗，确定所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的通态平均损耗；
根据所述IGBT的开关损耗和所述二极管的反向恢复损耗，确定所述半桥子模块的开关损耗。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗，包括：
根据所述半桥子模块的通态平均损耗和所述半桥子模块的开关损耗，确定所述半桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗确定所述全桥子模块的总损耗；
根据所述半桥子模块的总损耗、所述半桥子模块的数量、所述全桥子模块的总损耗、所述全桥子模块的数量，确定初始损耗；
根据所述初始损耗和基频频率，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
11.一种损耗确定装置，其特征在于，所述装置包括：
第一获取模块，用于在柔性直流换流阀的桥臂电流的采样周期内，获取预设数量的目标桥臂电流值；
第二获取模块，用于根据所述目标桥臂电流值，获取所述柔性直流换流阀中各元器件的损耗；
第三获取模块，用于根据各所述元器件的损耗，获取所述柔性直流换流阀中的半桥子模块的损耗；
确定模块，用于根据所述半桥子模块的损耗，确定所述柔性直流换流阀的目标损耗。
12.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
13.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
14.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
CN202210506720.XA 2022-05-11 2022-05-11 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品 Pending CN115015724A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210506720.XA CN115015724A (zh) 2022-05-11 2022-05-11 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210506720.XA CN115015724A (zh) 2022-05-11 2022-05-11 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115015724A true CN115015724A (zh) 2022-09-06

Family

ID=83068718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210506720.XA Pending CN115015724A (zh) 2022-05-11 2022-05-11 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115015724A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116298652A (zh) * 2023-05-22 2023-06-23 广东电网有限责任公司阳江供电局 一种mmc换流阀功率模块剩余寿命评估方法和系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116298652A (zh) * 2023-05-22 2023-06-23 广东电网有限责任公司阳江供电局 一种mmc换流阀功率模块剩余寿命评估方法和系统
CN116298652B (zh) * 2023-05-22 2023-07-21 广东电网有限责任公司阳江供电局 一种mmc换流阀功率模块剩余寿命评估方法和系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Dong et al. Dynamic modeling of Li-ion batteries using an equivalent electrical circuit
Zulauf et al. ${C} _ {\textsf {OSS}} $ Measurements for Superjunction MOSFETs: Limitations and Opportunities
CN103487680B (zh) 一种换流阀换相失败判别方法
US11509231B2 (en) Matrix converter control using predicted output current
CN111239471B (zh) 换相失败保护方法、装置、计算机设备及存储介质
CN115015724A (zh) 损耗确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品
JP5117926B2 (ja) インバータシミュレーション装置およびインバータシミュレーションプログラム
Colak et al. Implementation of energy-efficient inverter for renewable energy sources
Wang et al. A novel dual time scale life prediction method for lithium‐ion batteries considering effects of temperature and state of charge
CN114460376A (zh) 回路阻抗检测方法、电路、计算机设备和存储介质
US11313889B2 (en) Methods and systems for evaluating and improving distribution-grid observability
CN112740052A (zh) 分析功率半导体器件的操作
Wu et al. Ambiguity group based location recognition for multiple power line outages in smart grids
CN113794220B (zh) 过压保护方法、装置、计算机设备和存储介质
Ortega et al. Bidirectional output stage matrix converter applied to a distributed generation system
JP2023516328A (ja) パワー半導体デバイスの動作の解析
Chang A matrix-based VaR model for risk identification in power supply networks
Mehrabadi et al. Sensitivity analysis of a modular multilevel converter
Ni Wide Band-Gap Semiconductor Based Power Converter Reliability and Topology Investigation
Cao et al. Novel techniques for continuation method to calculate the limit-induced bifurcation of the power flow equation
CN116995619A (zh) 电力变换装置的过温保护方法、电力变换装置、电子设备
Chen et al. Design of an energy-saving charge equalization system
Fan et al. State of charge prediction for lithium-ion batteries
Bensoussan How to quantify and predict long term multiple stress operation: Application to Normally-Off Power GaN transistor technologies
CN116500476A (zh) 电池阻抗测量方法、装置和计算机设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination