CN114994643B - 一种激光测距中apd偏压调节方法及电路 - Google Patents

一种激光测距中apd偏压调节方法及电路 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种激光测距中APD偏压调节方法及电路，属于激光测距技术领域，APD偏压调节方法通过APD偏压调节电路实现。APD偏压调节电路包括：温度转换电路通过第一AD转换电路将APD光电探测器的温度转换为第一数字电平；APD光电探测器、自动增益放大电路和第二AD转换电路，将电脉冲信号转换为第二数字电平；FPGA控制电路通过第一DA转换电路将第一数字电平转换为第三模拟电平，使高压电源电路输出APD偏压，还通过第二DA转换电路将第二数字电平转换为第四模拟电平，使自动增益放大电路输出放大信号。本发明解决了不同背景光造成的信噪比降低，信号过饱和导致信号失真的问题，从而提升测距距离及精度。

Description

一种激光测距中APD偏压调节方法及电路
技术领域
本发明涉及激光测距技术领域，具体涉及一种激光测距中APD偏压调节方法及电路。
背景技术
激光测距电路中，提升信噪比以及防止信号因过饱和引起的信号失真对提升测距距离与精度具有重要意义。
目前，在不同太阳辐射下背景光噪声会造成电路信噪比下降，以及高反射回波能量容易造成信号过饱和，导致信号失真，前沿提取时间数据不准确，从而会降低测距精度，进而会降低激光测距性能；因此，有必要提供一种激光测距中APD偏压调节方法及电路。
发明内容
本发明提供了一种激光测距中APD偏压调节方法及电路，解决了不同背景光、不同温度和高反射能量地物造成的信噪比降低，以及信号过饱和导致信号失真的问题，从而提升测距距离及精度。
本说明书实施例的一方面公开了一种激光测距中APD偏压调节方法，包括如下步骤：
S101.获取APD光电探测器内的温度二极管的温度信息电压，并结合所述APD光电探测器的器件参数计算得到最优倍增增益电压VH1；
S102.获取背景光噪声电压；
S103.判断所述背景光噪声电压是否大于或等于背景光噪声的预设电压阈值：若是，则减小所述APD光电探测器的APD偏压，以补偿背景光噪声，并将减小后的所述APD偏压与所述最优倍增增益电压VH1相比较，得到两者的差值ΔV；若否，则直接进入步骤S105；
S104.获取所述温度二极管的温度信息电压，并结合所述APD光电探测器的器件参数计算得到最优倍增增益电压VH2，并将所述APD偏压调至V1，V1=VH2-ΔV；
S105.通过激光器发射激光脉冲，获取回波脉冲信号并通过自动增益放大电路进行放大，得到放大信号；
S106.对所述放大信号进行峰值采样提取；
S107.基于采样提取的峰值，通过FPGA控制电路调控所述自动增益放大电路的增益控制电压；
S108.判断所述放大信号是否饱和：若是，则进入S109；若否，则返回S104；
S109.判断所述自动增益放大电路的增益控制电压是否为最小增益控制电压：若是，则进入S110；若否，则减小所述自动增益放大电路的增益控制电压，并返回S104；
S110.判断调至V1后的所述APD偏压是否为最小偏压值：若是，则减小所述激光器的峰值功率，并返回S104；若否，则减小所述APD偏压，并返回S104。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S101中，所述APD光电探测器内部带有跨阻放大器，使光电转换后直接输出温度信息电压，同时其内部的温度二极管通过输入恒流源，使所述温度信息电压与温度成反比。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S101中，通过温度转换电路将APD光电探测器内的温度二极管的温度信息转换为第一电平数据，并送至FPGA控制电路，基于所述第一电平数据和所述APD光电探测器的器件参数得到最优倍增增益电压VH1。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S102中，通过所述APD光电探测器接收背景光并转换为背景光噪声电压，并将自动增益放大电路的增益控制电压调至最大。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S103中，将所述温度信息电压通过AD转换后传输到FPGA控制电路，所述FPGA控制电路基于AD转换后的所述温度信息电压控制高压电源电路输出电压，所述高压电源电路的输出电压作为所述APD偏压。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S104中，通过温度转换电路获取第二电平数据，并送至FPGA控制电路，基于所述第二电平数据和所述APD光电探测器的器件参数得到实时温度下的最优倍增增益电压VH2，并将所述APD偏压调至VH2-ΔV的值。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S105中，通过FPGA控制电路控制激光器发射激光脉冲，激光脉冲经目标物体后反射回的激光回波脉冲被所述APD光电探测器接收并转换为电脉冲信号，通过所述自动增益放大电路将所述电脉冲信号转换为放大信号。
本说明书公开的一个实施例中，步骤S106中，采用并行多路复用ADC采样的方式，对所述放大信号进行峰值采样提取。
本说明书实施例的另一方面公开了一种激光测距中APD偏压调节电路，用于执行上述中任一项所述的激光测距中APD偏压调节方法；所述激光测距中APD偏压调节电路包括：APD光电探测器，用于将回波脉冲信号转换为电脉冲信号；温度转换电路，用于将所述APD光电探测器内的温度二极管的温度转换为第一模拟电平；第一AD转换电路，用于将第一模拟电平转换为第一数字电平；自动增益放大电路，用于将所述电脉冲信号转换为作为第二模拟电平的放大信号；第二AD转换电路，用于将所述放大信号转换为第二数字电平；FPGA控制电路，用于将所述第一数字电平转换为调节APD偏压的第三数字电平，以及将所述第二数字电平转换为调节增益控制电压的第四数字电平；第一DA转换电路，用于将所述第三数字电平转换为第三模拟电平；高压电源电路，用于基于所述第三模拟电平输出电压，该输出电压作为所述APD光电探测器的APD偏压；第二DA转换电路，用于将所述第四数字电平转换为第四模拟电平；其中，所述自动增益放大电路基于所述第四模拟电平调节其输出的所述放大信号。
本说明书公开的一个实施例中，所述温度转换电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、稳压二极管D1、温度二极管D2、三极管Q1、三极管Q2和放大器U1，所述电阻R1的一端和所述电阻R2的一端连接后外接电压V0，所述电阻R1的另一端均与所述放大器U1的反相端和所述三极管Q1的发射极连接，所述电阻R2的另一端通过接地的所述稳压二极管D1与所述放大器U1的同相端连接，所述放大器U1的输出端与所述电阻R3的一端连接，所述电阻R3的另一端与所述三极管Q2的基极连接，所述三极管Q1的基极与所述三极管Q2的发射极连接，所述温度二极管D2的负极接地，所述三极管Q2的集电极、所述三极管Q1的集电极与所述温度二极管D2的正极相连后输出电压VT。
本说明书实施例至少可以实现以下有益效果：
1、本发明通过调节APD偏压，使背景光通过APD光电探测器转换的电压低于背景光噪声的预设电压阈值，补偿了背景光噪声，同时通过温度补偿的方式使APD光电探测器的APD偏压调节至最优倍增增益电压，从而提升信噪比。
2、本发明通过外部供恒流源的方式获取APD光电探测器内部的温度二极管的温度信息，与传统的APD温度补偿相比，温度补偿更准确。
3、本发明通过APD偏压、增益控制电压以及峰值功率之间的联动闭环调节，能够使信号不饱和。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一些实施例中所涉及的激光测距中APD偏压调节方法的流程示意图。
图2为本发明一些实施例中所涉及的激光测距中APD偏压调节电路的应用示意图。
图3为本发明一些实施例中所涉及的温度转换电路的电路示意图。
具体实施方式
在在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是本发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
此外，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
如图1所示，本说明书实施例的一方面公开了一种激光测距中APD偏压调节方法，包括如下步骤：
S101.测距前，通过温度转换电路将APD光电探测器内的温度二极管的温度信息转换为第一电平数据，并送至FPGA控制电路，基于第一电平数据和APD光电探测器的器件参数计算得到最优倍增增益电压VH1，FPGA控制电路产生高压电源电路的控制电压，高压电源电路的输出电压作为APD偏压。
该步骤中，先开机，各组件进入初始状态，此时APD偏压为初始值，即为厂家提供的推荐电压。APD光电探测器的温度二极管温度每升高1度，需要对高压补偿2.2V；高压电源电路的输出电压与控制电压成线性比例关系。最优倍增增益电压的计算为现有技术，在此不再叙述说明。
S102.通过APD光电探测器接收背景光并转换为背景光噪声电压，并将自动增益放大电路的增益控制电压调至最大。
S103.可以通过比较器判断背景光噪声电压是否大于或等于背景光噪声的预设电压阈值：若是，则减小APD光电探测器的APD偏压，直至背景光噪声电压小于预设电压阈值，并将减小后的APD偏压与最优倍增增益电压VH1相比较，得到两者的差值ΔV，进入步骤S104；若否，则直接进入步骤S105。
该步骤中，通过减小APD偏压来补偿背景光噪声，从而提高信噪比；APD光电探测器的APD雪崩增益随光功率增大而减弱，因此，随着背景光变大，为提高输出信噪比，APD偏压要减小。预先设定的背景光噪声的预设电压阈值可以根据实际情况进行设定，如实际中，一般将背景光噪声电压控制在50mV以下，那么背景光噪声的预设电压阈值可以设定为50mV或50mV以下的数值。
S104.开始测距过程的APD偏压设定，通过温度转换电路获取第二电平数据，并送至FPGA控制电路，基于第二电平数据和APD光电探测器的器件参数得到实时温度下的最优倍增增益电压VH2，并将APD偏压调至V1，V1=VH2-ΔV。
S105.通过FPGA控制电路控制激光器发射激光脉冲，激光脉冲经目标物体后反射回的激光回波脉冲被APD光电探测器接收并转换为电脉冲信号，通过自动增益放大电路将电脉冲信号转换为放大信号。
S106.采用并行多路复用ADC采样的方式，对放大信号进行峰值采样提取。
该步骤中，并行多路复用ADC采样为现有技术，在此不再叙述说明。
S107.基于采样提取的峰值，通过FPGA控制电路调控自动增益放大电路的增益控制电压。
该步骤中，根据峰值设置增益控制电压，将峰值分为多个区间，每个区间对应一个增益控制电压，实现区间调节；其中最大峰值对应最小增益控制电压，最小峰值对应最大增益控制电压。自动增益放大电路的放大器带宽可以选择为200MHz，确保信号在不饱和的情况下，信号不失真。
S108.判断放大信号是否饱和：若是，则进入S109；若否，则返回S104。
该步骤中，当放大信号大于或等于1V，即为饱和。
S109.判断自动增益放大电路的增益控制电压是否为最小增益控制电压：若是，则进入S110；若否，则减小自动增益放大电路的增益控制电压，并返回S104；
该步骤中，减小自动增益放大电路的增益控制电压，可以使放大信号从饱和状态转变为不饱和状态。
S110.判断调至V1后的APD偏压是否为最小偏压值：若是，则减小激光器的峰值功率，并返回S104；若否，则减小APD偏压，并返回S104。
该步骤中，减小激光器的峰值功率，可以减弱反射回的激光回波脉冲（回波脉冲信号）；减小APD偏压，可以提高信噪比。
在一些实施例中，步骤S101中，APD光电探测器内部带有跨阻放大器，使光电转换后直接输出温度信息电压，同时其内部的温度二极管通过输入恒流源，使温度信息电压与温度成反比。
在一些实施例中，步骤S103中，将温度信息电压通过AD转换后传输到FPGA控制电路，FPGA控制电路基于AD转换后的温度信息电压控制高压电源电路输出电压，高压电源电路的输出电压作为APD偏压。
如图2所示，本说明书实施例的另一方面公开了一种激光测距中APD偏压调节电路，用于执行上述中任一项的激光测距中APD偏压调节方法；激光测距中APD偏压调节电路包括：APD光电探测器，用于将回波脉冲信号转换为电脉冲信号；温度转换电路，用于将APD光电探测器内的温度二极管的温度转换为第一模拟电平；第一AD转换电路，用于将第一模拟电平转换为第一数字电平；自动增益放大电路，用于将电脉冲信号转换为作为第二模拟电平的放大信号；第二AD转换电路，用于将放大信号转换为第二数字电平；FPGA控制电路，用于将第一数字电平转换为调节APD偏压的第三数字电平，以及将第二数字电平转换为调节增益控制电压的第四数字电平；第一DA转换电路，用于将第三数字电平转换为第三模拟电平；高压电源电路，用于基于第三模拟电平输出电压，该输出电压作为APD光电探测器的APD偏压；第二DA转换电路，用于将第四数字电平转换为第四模拟电平；其中，自动增益放大电路基于第四模拟电平调节其输出的放大信号。
应当理解的是，APD光电探测器分别与温度转换电路和自动增益放大电路连接，温度转换电路通过第一AD转换电路与FPGA控制电路连接，自动增益放大电路通过第二AD转换电路与FPGA控制电路连接，FPGA控制电路分别与第一DA转换电路和第二DA转换电路连接，第一DA转换电路通过高压电源电路与APD光电探测器连接，第二DA转换电路与自动增益放大电路连接，FPGA控制电路还与激光器连接，以实现本发明所描述的功能，解决本发明所提出的技术问题。
激光测距中APD偏压调节电路的具体工作内容（工作过程）如下：
温度转换电路将APD光电探测器内的温度二极管的温度转换为第一模拟电平，如上述提到的“第一电平数据”和“第二电平数据”；第一AD转换电路将第一模拟电平转换为第一数字电平并输入到FPGA控制电路，FPGA控制电路基于第一数字电平，可以计算得到APD光电探测器的最优倍增增益电压，并控制第一DA转换电路产生高压电源电路的控制电压，高压电源电路基于控制电压输出电压，该输出电压为APD偏压。此为温度补偿，也为APD偏压的闭环调节。FPGA控制电路还基于APD偏压调节激光器峰值功率。
目标物体前设置有收发光路，激光器发射的激光脉冲通过收发光路射中目标物体后，激光脉冲经目标物体表面漫反射返回回波脉冲信号，回波脉冲信号通过收发光路被APD光电探测器接收并转换为电脉冲信号，电脉冲信号进入自动增益放大电路进行增益放大处理后得到放大信号，通过第二AD转换电路将放大信号转换为第二数字电平并输入到FPGA控制电路，FPGA控制电路通过AD采样提取峰值，并基于峰值控制第二DA转换电路产生增益控制电压。此为增益控制电压的闭环调节。
清楚的是，本实施例的重点在于通过APD光电探测器、温度转换电路、第一AD转换电路、自动增益放大电路、第二AD转换电路、FPGA控制电路、第一DA转换电路、高压电源电路和第二DA转换电路组成激光测距中APD偏压调节电路后，解决了不同背景光、不同温度和高反射能量地物造成的信噪比降低，以及信号失真的问题，从而提升测距距离及精度；APD光电探测器、温度转换电路、第一AD转换电路、自动增益放大电路、第二AD转换电路、FPGA控制电路、第一DA转换电路、高压电源电路和第二DA转换电路可以选用具有上述功能的现有电路，温度转换电路可以采用下述实施例的方案。即本实施例的重点简述为：利用具有上述功能的现有电路（现有设备）组成激光测距中APD偏压调节电路；具体的器件选用以及器件参数设置可直接参照现有技术或通过有限次实验即可得到，由于不是本实施例的重点，在此不再叙述说明，当然也可以参考其他实施例的技术方案。
在一些实施例中，APD光电探测器可以选用型号为C30659-1060-R8BH的雪崩光电二极管。
在一些实施例中，自动增益放大电路可以选用型号为AD8367的可变增益放大器。
在一些实施例中，第一AD转换电路可以选用型号为LTC2309IF#PBF的模数转换器。
在一些实施例中，第二AD转换电路可以选用型号为AD9286BCPZ-500的模数转换器。
在一些实施例中，第一DA转换电路可以选用型号为AD5691RBRMZ的数模转换器。
在一些实施例中，第二DA转换电路可以选用型号为THS5651AIPW的数模转换器。
在一些实施例中，高压电源电路可以选用型号为LT3482EUD的高压电源。
在一些实施例中，FPGA控制电路可以选用型号为ALTERAEP3C40F484的FPGA现场可编程逻辑器件。
在一些实施例中，激光器可以选用频率可调、脉宽可调、峰值功率可调的激光发射设备。
在一些实施例中，如图3所示，温度转换电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、稳压二极管D1、温度二极管D2、三极管Q1、三极管Q2和放大器U1，电阻R1的一端和电阻R2的一端连接后外接电压V0，电阻R1的另一端均与放大器U1的反相端和三极管Q1的发射极连接，电阻R2的另一端通过接地的稳压二极管D1与放大器U1的同相端连接，放大器U1的输出端与电阻R3的一端连接，电阻R3的另一端与三极管Q2的基极连接，三极管Q1的基极与三极管Q2的发射极连接，温度二极管D2的负极接地，三极管Q2的集电极、三极管Q1的集电极与温度二极管D2的正极相连后输出电压VT。
其中，放大器U1的型号为ADA4528-1ARMZ，三极管Q1和三极管Q2均为PNP型，直流放大系数分别为β1和β2，当输入电压为电压V0时，恒流源的电流大小为：
Figure 613044DEST_PATH_IMAGE001
；
可知，恒流源的电流大小近似为恒定值，电源送入温度二级管D2后，电压VT与温度成线性反比。
综上所述，本发明的原理如下：
通过选取APD光电探测器的最优倍增增益电压，在不同背景光条件下，获得较高的信噪比，同时为防止信号因过饱和，造成信号失真，从而降低测距精度，采用FPGA控制电路联动控制APD偏压、增益控制电压以及激光器峰值功率的方式，降低电路的复杂度，提高电路信噪比，提高信号幅度的稳定性及质量，能大幅度改善测距性能。
综上所述，公开了本发明的多个具体实施例，在不自相矛盾的情况下，各个实施例可以自由组合形成新的实施例，也即属于替换方案的实施例之间可以自由替换，但不能相互组合；不属于替换方案的实施例之间可以相互组合，这些新的实施例也属于本发明的实质性内容。
以上实施例描述了本发明的多个具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，在不背离本发明原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，包括如下步骤：
S101.获取APD光电探测器内的温度二极管的温度信息电压，并结合所述APD光电探测器的器件参数计算得到最优倍增增益电压VH1；
S102.获取背景光噪声电压；
S103.判断所述背景光噪声电压是否大于或等于背景光噪声的预设电压阈值：若是，则减小所述APD光电探测器的APD偏压，以补偿背景光噪声，并将减小后的所述APD偏压与所述最优倍增增益电压VH1相比较，得到两者的差值ΔV；若否，则直接进入步骤S105；
S104.获取所述温度二极管的温度信息电压，并结合所述APD光电探测器的器件参数计算得到最优倍增增益电压VH2，并将所述APD偏压调至V1，V1=VH2-ΔV；
S105.通过激光器发射激光脉冲，获取回波脉冲信号并通过自动增益放大电路进行放大，得到放大信号；
S106.对所述放大信号进行峰值采样提取；
S107.基于采样提取的峰值，通过FPGA控制电路调控所述自动增益放大电路的增益控制电压；
S108.判断所述放大信号是否饱和：若是，则进入S109；若否，则返回S104；
S109.判断所述自动增益放大电路的增益控制电压是否为最小增益控制电压：若是，则进入S110；若否，则减小所述自动增益放大电路的增益控制电压，并返回S104；
S110.判断调至V1后的所述APD偏压是否为最小偏压值：若是，则减小所述激光器的峰值功率，并返回S104；若否，则减小所述APD偏压，并返回S104。
2.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S101中，所述APD光电探测器内部带有跨阻放大器，使光电转换后直接输出温度信息电压，同时其内部的温度二极管通过输入恒流源，使所述温度信息电压与温度成反比。
3.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S101中，通过温度转换电路将APD光电探测器内的温度二极管的温度信息转换为第一电平数据，并送至FPGA控制电路，基于所述第一电平数据和所述APD光电探测器的器件参数得到最优倍增增益电压VH1。
4.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S102中，通过所述APD光电探测器接收背景光并转换为背景光噪声电压，并将自动增益放大电路的增益控制电压调至最大。
5.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S103中，将所述温度信息电压通过AD转换后传输到FPGA控制电路，所述FPGA控制电路基于AD转换后的所述温度信息电压控制高压电源电路输出电压，所述高压电源电路的输出电压作为所述APD偏压。
6.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S104中，通过温度转换电路获取第二电平数据，并送至FPGA控制电路，基于所述第二电平数据和所述APD光电探测器的器件参数得到实时温度下的最优倍增增益电压VH2，并将所述APD偏压调至V1，V1=VH2-ΔV。
7.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S105中，通过FPGA控制电路控制激光器发射激光脉冲，激光脉冲经目标物体后反射回的激光回波脉冲被所述APD光电探测器接收并转换为电脉冲信号，通过所述自动增益放大电路将所述电脉冲信号转换为放大信号。
8.根据权利要求1所述的激光测距中APD偏压调节方法，其特征在于，步骤S106中，采用并行多路复用ADC采样的方式，对所述放大信号进行峰值采样提取。
9.一种激光测距中APD偏压调节电路，其特征在于，用于执行权利要求1～8中任一项所述的激光测距中APD偏压调节方法；
所述激光测距中APD偏压调节电路包括：
APD光电探测器，用于将回波脉冲信号转换为电脉冲信号；
温度转换电路，用于将所述APD光电探测器内的温度二极管的温度转换为第一模拟电平；
第一AD转换电路，用于将所述第一模拟电平转换为第一数字电平；
自动增益放大电路，用于将所述电脉冲信号转换为作为第二模拟电平的放大信号；
第二AD转换电路，用于将所述放大信号转换为第二数字电平；
FPGA控制电路，用于将所述第一数字电平转换为调节APD偏压的第三数字电平，以及将所述第二数字电平转换为调节增益控制电压的第四数字电平；
第一DA转换电路，用于将所述第三数字电平转换为第三模拟电平；
高压电源电路，用于基于所述第三模拟电平输出电压，该输出电压作为所述APD光电探测器的APD偏压；
第二DA转换电路，用于将所述第四数字电平转换为第四模拟电平；
其中，所述自动增益放大电路基于所述第四模拟电平调节其输出的放大信号。
10.根据权利要求9所述的激光测距中APD偏压调节电路，其特征在于，所述温度转换电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、稳压二极管D1、温度二极管D2、三极管Q1、三极管Q2和放大器U1，所述电阻R1的一端和所述电阻R2的一端连接后外接电压V0，所述电阻R1的另一端均与所述放大器U1的反相端和所述三极管Q1的发射极连接，所述电阻R2的另一端通过接地的所述稳压二极管D1与所述放大器U1的同相端连接，所述放大器U1的输出端与所述电阻R3的一端连接，所述电阻R3的另一端与所述三极管Q2的基极连接，所述三极管Q1的基极与所述三极管Q2的发射极连接，所述温度二极管D2的负极接地，所述三极管Q2的集电极、所述三极管Q1的集电极与所述温度二极管D2的正极相连后输出电压VT。
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