CN114994564A - 用于驱动器输出的预启动故障控制的设备和方法 - Google Patents

用于驱动器输出的预启动故障控制的设备和方法 Download PDF

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Abstract

本公开涉及用于驱动器输出的预启动故障控制的设备和方法。示例实现还包括具有激光器输出设备和预启动故障监视器设备以及通电复位控制器的系统，所述预启动故障监视器设备操作地耦合到激光器输出设备，并且可操作用于响应于接收到第一功率而激活、将故障状况设置为无故障状态、确定输出驱动器的第一阻抗是否满足阻抗阈值以及响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值来向激光器输出设备施加第二功率，通电复位控制器操作地耦合到预启动故障监视器并且可操作用于响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值而去激活预启动故障监视器。示例实现还包括激光器二极管驱动器输出的预启动故障监视的方法。

Description

用于驱动器输出的预启动故障控制的设备和方法
技术领域
本发明总体上涉及电子电路驱动器，更具体地涉及驱动器输出的预启动故障控制。
背景技术
电子设备越来越多地包括在不受控制的环境中执行日益复杂操作的输出设备。例如，在没有故障状况确定的情况下，将包括输出设备的电子设备通电，可能会导致输出设备的不受控制的激活。不受控制的操作可能导致眼睛、皮肤和其它安全方面的危险，特别是对于高功率输出装置。
发明内容
出于安全原因，包括输出设备的电子系统包括安全系统是有利的，该安全系统监视驱动器输出的短路状况并且在故障状况的情况下执行关断。在驱动输出设备的驱动器输出处的短路可能是高度危险的故障状况，因为关断该设备可能是困难的或不可能的，除非用于该设备的功率供应被关断。因此，需要一种用于这种驱动器输出的预启动故障的技术解决方案。
示例实现包括一种通过以下处理实现驱动器输出的预启动故障控制的方法：向预启动故障监视器设备施加第一功率，将预启动故障控制设备处的故障状况设置为无故障状态，初始化预启动故障监视器设备，确定输出驱动器的第一阻抗是否满足阻抗阈值，以及响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值、向输出设备施加第二功率。
示例实现还包括具有预启动故障监视器设备的设备，该预启动故障监视器设备操作地耦合到输出设备，并且可操作用于：响应于接收到第一功率而激活，将故障状况设置为无故障状态，确定输出驱动器的第一阻抗是否满足阻抗阈值，以及响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值，向输出设备施加第二功率。
示例实现还包括一种系统，其具有：输出设备；比较器，可操作用于确定输出设备的第一阻抗是否满足阻抗阈值；预启动故障监视器设备，操作地耦合到输出设备并且可操作用于响应于接收到第一功率而激活、将故障状况设置为无故障状态、确定输出驱动器的第一阻抗是否满足阻抗阈值以及响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值来将第二功率施加到输出设备；以及通电复位控制器，其操作地耦合到预启动故障监视器，且可操作用于响应于确定第一阻抗满足阻抗阈值而去激活预启动故障监视器。
附图说明
在结合附图阅读以下具体实施方式的描述后，本领域普通技术人员将清楚本发明的这些和其他方面和特征。
图1示出了根据本发明的示例系统。
图2示出了根据本发明的示例设备。
图3示出了根据本发明的用于无故障状态下的驱动器输出的预启动故障控制的示例时序图。
图4示出了根据本发明的用于在故障状态下驱动器输出的预启动故障控制的示例时序图。
图5示出了根据本发明的驱动器输出的预启动故障控制的示例方法。
图6进一步示出了图5的示例方法的驱动器输出的预启动故障监视器的示例方法。
具体实施方式
现在将参考附图详细描述本发明，提供附图作为本发明的说明性示例，以使得本领域技术人员能够实现本发明并且本发明及其替换实现对于本领域技术人员是清楚的。值得注意的是，下面的附图和示例并不意味着将本发明的范围限制为单个实现方式，相反通过互换所描述或示出的元件中的一些或全部，其他实现方式也是可能的。此外，在可以使用已知组件部分地或完全地实现本发明的某些元件的情况下，将仅描述这些已知组件中对于理解本发明所必需的那些部分，并且将省略这些已知组件的其他部分的详细描述，以便不模糊本发明。被描述为在软件中实现的实施方式不应限于此，而是可以包括在硬件中实现的实施方式，或者软件和硬件的组合，反之亦然，这对于本领域技术人员来说是显而易见的，除非在此另外指定。在本说明书中，示出单个组件的实现不应被认为是限制性的；相反，本公开旨在涵盖包括多个相同组件的其他实现，反之亦然，除非在此另外明确说明。此外，申请人不打算将说明书或权利要求书中的任何术语赋予不寻常的或特殊的含义，除非明确地这样阐述。此外，本发明包括本文中作为说明提及的已知组件的当前和未来的已知等同物。
本发明针对用于输出设备的安全特征，以防止其中的不受控电流。在一些实现中，输出设备包括由激光器二极管驱动器(LDD)驱动的激光器二极管。LDD可以是或包括低侧或高侧电流数模转换器(DAC)，其驱动具有短电流脉冲和高电流脉冲的激光(通过受激辐射发射的光放大)二极管或VCSEL(垂直腔表面发射激光器)。脉冲可以是大约几纳秒，并且高电流可以大于1A。有利地结合LDD设备的应用可以包括飞行时间、3D成像和面部识别等。通过测量驱动器输出阻抗以检查短路，即使在激光器及其LDD电源被激活之前，示例实现也可以检查短路状况。在一些实现中，其中短路检查是在给激光器通电之前完成的，使用串联开关是可选的。
示例实现至少展示了以下优点，包括：增强的系统级安全性，独立于激光器电阻的故障检测，改进的短路检测精度以及通过在芯片级集成预启动故障检测设备而降低成本。在LASER通电前，可检查驱动器输出的短路状况。此外，在向输出设备供电之前比较驱动器输出管脚处的阻抗允许独立于LASER/VCSEL电阻的短路检测。最后，通过使用可微调的内部参考电阻器提高测量精度。
图1示出了根据本发明的示例系统。如图1中的示例所示，示例系统100包括功率输入102、系统处理器104、输出设备106和输出设备驱动器110。
功率输入102包括用于向系统100提供功率的电功率源、电压源、电流源等中的至少一个。在一些实现中，第一输入102和第二输入104包括但不限于经调节的120V AC功率、经调节的220V AC功率、5VDC功率、12V DC功率等。在一些实现中，功率输入102可操作用于生成具有独立电压、电流等的一个或多个输入功率信号。在一些实现中，功率输入102包括或操作地耦合到一个或多个功率生成设备，所述功率生成设备包括但不限于DC-DC转换器等。在一些实现中，功率输入102包括有线功率连接、无线直接接触功率连接、无线和非接触式功率连接等。在一些实现中，功率输入102包括一个或多个USB端子或端口(例如，USB-C、USB-PD)。
系统处理器104可操作用于执行与来自输出设备驱动器110的输入相关联的一个或一个以上指令。在一些实现中，系统处理器104是电子处理器、集成电路等，其包括数字逻辑、模拟逻辑、数字传感器、模拟传感器、通信总线、易失性存储器、非易失性存储器等中的一个或多个。在一些实现中，系统处理器104包括但不限于至少一个微控制器单元(MCU)、微处理器单元(MPU)、中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、物理处理单元(PPU)、嵌入式控制器(EC)等。在一些实现中，系统处理器104包括可操作用于存储或储存了一个或多个指令的的存储器，一个或多个指令用于操作系统处理器104的组件以及用于操作可操作地耦合到系统处理器104的操作组件。在一些实现中，一个或多个指令包括固件、软件、硬件、操作系统、嵌入式操作系统等中的至少一个。应当理解，系统处理器104或系统100通常可以包括至少一个通信总线控制器，以实现系统处理器104和系统100的其它元件之间的通信。在一些实现中，系统处理器104可操作用于控制功率输入102的一个或多个功率输送输出的激活、去激活等。
输出设备106包括用于从功率输入接收功率、电压、电流等以执行一个或多个动作的一个或多个电气设备或系统、电子设备或系统、机电设备或系统、电化学设备或系统等。在一些实现中，输出设备106包括至少一个发光二极管(LED)、高电流消耗设备、激光器二极管、垂直腔表面发射激光器(VCSEL)等。作为一个示例，高电流消耗设备可以包括能够可操作地接收至少0.1A的任何电子设备。在一些实现中，输出设备106包括与系统100部分或完全分离的一个或多个设备。在一些实现中，输出设备106包括部分或全部集成或可集成到系统100中或可与系统100分离的一个或多个设备。
输出设备驱动器110可操作用于与系统处理器104协调地控制、监视输出设备106等。在一些实现中，输出设备驱动器110包括集成在其中或与其集成在一起的一个或多个电子设备、电气设备、机电设备等。在一些实现中，输出设备驱动器110可操作用于接收来自功率输入102的一个或多个功率信号和来自系统处理器104的一个或多个控制信号。在一些实现中，输出设备驱动器110可操作用于监视与输出设备106或输出设备驱动器110相关联的故障状况，包括但不限于短路状况，如果被供电则该短路状况可导致通过输出设备的过电流状况。在一些实现中，输出设备驱动器110包括输出设备开关120、预启动故障监视器130、活动模式故障监视器140和电流DAC150。在一些实现中，输出设备驱动器110包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。
输出设备开关120是或包括集成到输出设备驱动器110中或与输出设备驱动器110集成的电子开关。在一些实现中，输出设备开关120操作地耦合到功率输入102和输出设备106，并且当闭合时产生电压降、电流降、功率特性改变等，以将功率从功率输入102提供到输出设备106。在一些实现中，输出设备开关120被旁路，并且功率输入操作地直接耦合到输出设备106。在一些实现中，输出设备开关120包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与输出设备开关120相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与输出设备驱动器110或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
预启动故障监视器130可操作用于在将供应功率施加到输出设备之前，检测输出设备106或输出设备驱动器110处的故障状况，且在检测到故障状况时防止、阻止将功率施加到输出设备等。在一些实现中，预启动故障监视器130包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与预启动故障监视器130相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与输出设备驱动器110或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
活动模式故障监视器140可操作用于在向输出设备施加供应功率期间检测输出设备处的故障状况，并且在检测到故障状况时防止、阻止向高输出功率设备施加功率等。在一些实现中，活动模式故障监视器140包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与活动模式故障监视器140相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与输出设备驱动器110或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
电流DAC 150可操作用于响应于由系统处理器104接收的控制信号而激活输出设备。在一些实现中，电流DAC 150是数模转换器(DAC)。
图2示出了根据本发明的示例设备。如图2中的示例所示，示例设备200包括功率输入102、系统处理器104、输出设备驱动器110、输出设备开关120、输出设备106、电流DAC150、预启动故障监视器控制器210、通电复位控制器220和活动模式故障监视器电路240。在一些实现中，输出设备驱动器110包括系统功率(VSUPP)节点250、通信电压(VCOMM)节点252、串行通信使能(SEN)节点212、串行通信时钟(SCLK)节点214、串行通信数据(SDA)节点216、故障(FLT)节点218、第一低电压差分摆动(LVDS1)节点232、第二低电压差分摆动(LVDS2)节点、输出设备开关(OUTSW)节点260和输出驱动器(OUT)节点262。应当理解，一个或多个上述节点可以是操作地耦合到外部电子设备的集成电路引脚。在一些实现中，功率输入102通过连接256操作地耦合到输出设备106。在一些实现中，连接256是或包括迹线、线等。
预启动故障监视器控制器210可操作用于通过确定输出设备驱动器110在OUT262处的阻抗是否满足指示无故障状况的阻抗阈值，来识别故障状况。在一些实现中，预启动故障监视器控制器210通过SEN212、SCLK214、SDA216中的一个或多个，从系统处理器104接收输入。在一些实现中，预启动故障监视器控制器210将输出通过FLT218发送到系统处理器104。在一些实现中，预启动故障监视器控制器210从VCOMM 252接收功率，并在故障监视器使能(FMEN)节点222处从通电复位控制器220接收输入。在一些实现中，预启动故障监视器控制器210在输出阻抗节点(ZOUT)204处从OUT262接收输出阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器控制器210包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与预启动故障监视器控制器210相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与预启动故障监视器130或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
通电复位控制器220可操作用于检测VSUPP 250的激活并产生指示VSUPP 250被激活的输出信号。在一些实现中，通电复位控制器220可操作用于向FMEN222发送输出。在一些实现中，通电复位控制器220包括一个或多个逻辑或电子设备，包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与通电复位控制器220相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与预启动故障监视器130或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
电流DAC150可操作用于响应于由系统处理器接收的控制信号而激活输出设备。在一些实现中，电流DAC150是数模转换器(DAC)，其可操作用于接收数字控制信号LVDS1和LVDS2，并将模拟电控制信号输出到OUT262。在一些实现中，电流DAC150产生电压并将其供应到处于特定电平的OUT262，以在输出设备106上感应电流降，从而激活输出设备106。在一些实现中，电流DAC 150包括一个或多个逻辑或电子设备，一个或多个逻辑或电子设备包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与电流DAC150相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与输出设备驱动器110或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
活动模式故障监视器电路240可对应于活动模式故障监视器140而操作。在一些实现中，活动模式故障监视器电路240是或包括比较器，该比较器具有操作地耦合到OUT262的第一输入和操作地耦合到内部参考ZREF的第二输入206。在一些实现中，内部参考ZREF是集成在输出设备驱动器110内或与输出设备驱动器110相关联的电阻器等。在一些实现中，比较器包括耦合到外部控制逻辑或系统处理器104的输出，并且指示对应于可由驱动器110检测到的故障状况的故障状况。在一些实现中，活动模式故障监视器电路240包括一个或多个逻辑或电子设备，一个或多个逻辑或电子设备包括但不限于集成电路、逻辑门、触发器、门阵列、可编程门阵列等。应当理解，与活动模式故障监视器电路240相关联的任何电气设备或组件、电子设备或组件等也可以与活动模式故障监视器140或其任何组件相关联、相集成、可与其集成、被其代替、被其补充、被其填补等。
图3示出了根据本实施例的用于无故障状态下的激光器二极管驱动器输出的预启动故障监视的示例时序图。如图3中的示例所示，示例时序图300包括VCOMM波形310、VSUPP或OUTSW波形320、FLT波形330和SCLK或SEN波形340。在一些实现中，所有信号的低电平基本上为0V。
在时间t0 302之前，预启动序列通过激活VCOMM 252而开始，VCOMM 252向VCOMM高电平上升。在一些实现中，VCOMM高电平是1.8V。VSUPP和OUTSW保持在它们的低电平并且不被激活。FLT 218向其高电平上升并达到其高电平。在一些实现中，FLT高电平是1.8V。SCLK214或SEN212保持在它们的低电平。在时间t0 302，VCOMM 252已经稳定到VCOMM高电平。在至少一微秒到一或多个毫秒的延迟之后，FLT218达到其高电平。SCLK214或SEN212激活并达到其高电平，使预启动故障监视器激活。在一些实现中，FLT218在预启动故障监视器被激活之后由于内部稳定等而下降到其低电平，并且在至少一微秒的时段332之后返回到其高电平。在一些实现中，SCLK214或SEN212高电平为1.8V。在一些实现中，至少一微秒的延迟时段334在时间t0302开始。
在时间t2 306，延迟时段334结束，并且预启动故障监视器控制器210或其组件确定在OUT262处不存在故障状况，并且通过将其保持在高电平而将该确定结果通过FLT218传送给系统处理器104。在时间t3 308，预启动序列结束并且SCLK214或SEN212下降到其低电平。在时间t4 312，系统处理器104响应于确定无故障状况存在而开始启动序列，并且VSUPP260或OUTSW262开始上升到它们的高电平。在一些实现中，VSUPP260或OUTSW262高电平是3.3V。在时间t5 314，FLT218下降到其低电平，以指示输出设备驱动器110的启动序列的开始。在时间t6 316，FLT218返回到其高电平以指示输出设备驱动器110的启动序列的结束。
图4示出了根据本发明的用于故障状态下的激光器输出的预启动故障监视的示例时序图。如图4中的示例所示，示例时序图400包括VCOMM波形310、VSUPP或OUTSW波形410、FLT波形420和SCLK或SEN波形340。在一些实现中，所有信号的低电平基本上为0V。
在时间t0 402之前，预启动序列通过激活VCOMM 252而开始，VCOMM 252向VCOMM高电平上升。VSUPP和OUTSW保持在它们的低电平并且不被激活。FLT218向其高电平上升并达到其高电平。SCLK214或SEN212保持在它们的低电平。在时间t0 302，VCOMM252已经稳定到VCOMM高电平。在延迟至少一微秒到一个或多个毫秒之后，FLT218达到其高电平。SCLK214或SEN212激活并达到其高电平，使预启动故障监视器激活。在一些实现中，FLT218在预启动故障监视器被激活之后由于内部稳定等而下降到其低电平，并且在至少一微秒的时段332之后返回到其高电平。在一些实现中，至少一微秒的延迟时段334在时间t0 402开始。
在时间t2 306，延迟时段334结束，并且预启动故障监视器130或其组件确定在OUT262处存在故障状况，并通过将其拉到低电平来将该确定结果通过FLT218传送到系统处理器104。在时间t3 408，预启动序列结束，并且SCLK214或SEN212下降到其低电平，该低电平结束预启动故障监视序列。响应于确定存在故障状况，系统处理器对启动序列进行防止、阻止、放弃等，并且系统保持在故障状况中。在一些实现中，故障状况导致故障安全模式，在该模式中，系统不能进一步启动，但是防止输出设备106进入潜在的过流状态。
图5示出了根据本发明的激光器输出的预启动故障控制的示例方法。在一些实现中，示例系统100和示例设备200中的至少一个执行根据本发明的方法500。在一些实现中，方法500开始于步骤510。
在步骤510，示例系统将来自通信功率供应的通信功率(VCOMM)施加到预启动故障监视器。在一些实现中，系统处理器将功率施加到预启动故障监视器。在一些实现中，施加到预启动故障监视器的VCOMM功率具有小于系统功率电压和输出设备电压中的至少一个的电压。方法500然后继续到步骤520。
在步骤520，示例系统将故障状况设置为无故障状态。在一些实现中，预启动故障监视器在其存储器、寄存器等或与其相关联部件处设置故障状况。应当理解，示例系统可以在激活预启动故障监视器之前放弃设置故障状况，并且可以响应于一个或多个后续确定来设置故障状况。还应当理解，示例系统可以在激活预启动故障监视器之后设置故障状况。方法500然后继续到步骤530。
在步骤530，示例系统激活预启动故障监视器。在一些实现中，步骤530包括步骤532和534中的至少一个。在一些实现中，在步骤532，示例系统通过将到预启动故障监视器的系统时钟输入(SCLK)电平设置为预定的高电平或低电平来激活预启动故障监视器。在步骤534，示例系统通过在预定高电平或低电平下将系统使能(SEN)电平设置到预启动故障监视器，来激活预启动故障监视器。方法500然后继续到步骤540。
在步骤540，示例系统检测输出节点的接地阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器通过操作地耦合到输出节点和预启动故障监视器的公共接地来检测输出节点的阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器通过向输出节点施加VCOMM来检测阻抗，并检测响应于施加到输出节点的VCOMM而产生的电流。方法500然后继续到步骤550。
在步骤550，示例系统检测接地的参考阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器通过将VCOMM应用于参考电阻器的第一节点或与之相关联的第一节点等，并检测通过参考电阻器从第一节点到操作地耦合到地的参考电阻器的第二节点生成的电流，来检测参考阻抗。方法500然后继续到步骤602。
图6进一步示出了图5的示例方法的激光器输出的预启动故障控制的示例方法。在一些实现中，示例系统100和示例设备200中的至少一个执行根据本发明的方法600。在一些实现中，方法600开始于步骤602。然后方法从602继续到步骤610。
在步骤610，示例系统确定输出节点处的阻抗是否大于预启动故障监视器处的参考阻抗。在一些实现中，比较器确定输出节点处的阻抗是否满足对应于、等于或类似于参考阻抗的阈值。在一些实现中，该确定包括确定输出节点处的阻抗是否满足对应于或等于参考阻抗的阻抗阈值。在一些实现中，确定结果是确定输出节点处的阻抗大于参考阻抗。在一些实现中，确定结果是在输出节点处的阻抗大于或等于参考阻抗。根据在输出节点处的阻抗大于预启动故障监视器处的参考阻抗的确定结果，方法600继续到步骤630。或者，根据在输出节点处的阻抗小于或等于预启动故障监视器处的参考阻抗的确定结果，方法600继续到步骤620。
在步骤620，示例系统将故障状况设置为故障状态。在一些实现中，预启动故障监视器将故障状况设置为故障状态。在一些实现中，预启动故障监视器通过将故障节点设置为高或低电压电平，来向系统处理器报告故障状态。作为响应，系统处理器可以通过防止输出设备和任何相关电子设备的启动，来防止、阻止高电流或高电压电源施加到输出设备。在一些实现中，方法600在步骤620结束。
在步骤630，示例系统应用故障检测延迟。在一些实现中，预启动故障监视器通过其中的或与其相关联的延迟定时器来应用故障检测延迟。在一些实现中，延迟定时器被不可改变地预编程有延迟。在一些实现中，延迟对应于预启动过渡状态并且比预启动过渡状态长，在预启动过渡状态中，故障节点在预启动期间被拉入故障状态。然后方法600继续到步骤640。
在步骤640，示例系统确定在延迟已经过去之后在输出节点处的阻抗是否大于参考阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器确定在延迟已经过去之后在输出节点处的阻抗是否大于参考阻抗。在一些实现中，预启动故障监视器确定在延迟之后在输出节点处的阻抗是否满足对应于参考阻抗的阈值。根据在延迟过去之后在输出节点处的阻抗大于参考阻抗的确定结果，方法600继续到步骤650。可替选地，在一些实现中，根据在延迟已经过去之后在输出节点处的阻抗小于或等于参考阻抗的确定结果，方法600继续到步骤620。
在步骤650，示例系统向一个或多个系统和输出设备施加功率。在一些实现中，系统处理器向一个或多个系统和输出设备施加功率。在一些实现中，系统处理器向输出设备驱动器施加系统功率，并向输出设备施加输出功率。然后方法600继续到步骤650。
在步骤660，示例系统去激活预启动故障监视器。在一些实现中，系统处理器通过提供向输出设备驱动器施加系统功率的指令，去激活预启动故障监视器。在一些实现中，步骤660包括步骤662。在步骤662，示例系统通过通电复位控制器去激活预启动故障监视器。在一些实现中，通电复位控制器与输出设备驱动器集成或相关联。在一些实现中，通电复位控制器生成相应的高电平或低电平的复位信号，并将该复位信号提供给预启动故障监视器。作为响应，预启动故障监视器去激活。然后方法600继续到步骤670。
在步骤670，示例系统激活活动模式故障监视器。在一些实现中，活动模式故障监视器。在一些实现中，方法600在步骤670结束。
本文描述的主题有时示出了包含在不同的其它组件内或与不同的其它组件连接的不同组件。应当理解，所描述的这种体系结构是说明性的，并且实际上可以实施可以实现相同功能的许多其它体系结构。在概念意义上，实现相同功能的组件的任何布置被有效地“关联”，使得实现期望的功能。因此，本文中被组合以实现特定功能的任何两个组件可被视为彼此“相关联”，使得实现所需功能，而与体系结构或中间组件无关。同样地，如此关联的任何两个组件也可视为彼此“可操作地连接”或“可操作地耦合”以实现所需功能，且能够如此关联的任何两个组件也可视为彼此“操作地可耦合”以实现所需功能。可操作耦合的具体示例包括但不限于物理上可匹配的和/或物理上交互的组件和/或无线地可交互的和/或无线地交互的组件和/或逻辑上交互的和/或逻辑上可交互的组件。
关于本文中复数和/或单数术语的使用，本领域技术人员可根据上下文和/或应用、适当地从复数转化为单数和/或从单数转化为复数。为清楚起见，本文中明确阐述各种单数/复数排列。
本领域技术人员将理解，一般而言，本文所用的术语，特别是所附权利要求书(例如，所附权利要求书的正文)中的术语通常旨在作为“开放式”术语(例如，术语“包括”应解释为“包括但不限于”，术语“具有”应解释为“至少具有”，术语“包括”应解释为“包括但不限于”等)。
尽管附图和描述可以说明方法步骤的特定顺序，但是这些步骤的顺序可以不同于所描绘和描述的顺序，除非上文有不同的规定。同样，两个或多个步骤可以同时或部分同时执行，除非上文有不同的规定。这种变化可以取决于例如所选择的软件和硬件系统以及设计者的选择。所有这些变化都在本发明的范围内。同样，所描述的方法的软件实现可以通过具有基于规则的逻辑和其它逻辑的标准编程技术来实现，以实现各种连接步骤、处理步骤、比较步骤和判定步骤。
本领域技术人员将进一步理解，如果所引入的权利要求列举的具体数量是意图的，则这样的意图将在权利要求中明确地列举，并且在没有这样的列举的情况下，不存在这样的意图。例如，为了帮助理解，以下所附权利要求可以包含使用介绍性短语“至少一个”和“一个或多个”来引入权利要求表述。然而，这些短语的使用不应被解释为暗示由“一”或“一个”引入的权利要求表述将包含这些引入的权利要求表述的任何特定权利要求限制为仅包含一个这样的表述，即使当同一权利要求包括引言短语“一个或多个”或“至少一个”和诸如“一”或“一个”时(例如，“一”和/或“一个”通常应被解释为意指“至少一个”或“一个或多个”)；这同样适用于用于引入权利要求表述的明确内容。此外，即使明确地列举了特定数量的权利要求表述，本领域技术人员将认识到，这样的列举通常应被解释为意指至少所列举的数目(例如，没有其他修饰词的“两个列举”的直接列举通常意指至少两个列举，或两个或更多个列举)。
此外，在使用类似于“A、B和C等中的至少一个”的惯常表述的情况下，通常本领域技术人员将理解为使用了这种约定(例如，“具有A、B和C中的至少一个的系统”将包括但不限于系统具有单独的A、单独的B、单独的C、A和B一起、A和C一起、B和C一起、和/或A、B和C一起等)。在使用类似于“A、B或C等中的至少一个”的惯常表述的情况下，通常本领域技术人员将理解为使用了这种约定(例如，“具有A、B或C中的至少一个的系统”将包括但不限于系统具有单独的A、单独的B、单独的C、A和B一起、A和C、B和C一起和/或A、B和C一起等)。本领域的技术人员将进一步理解，无论在说明书、权利要求书还是附图中，实际上呈现两个或更多个替代术语的任何析取性词语和/或短语应被理解为可以涵盖包括这些术语中的一个、这些术语中的任一个或全部术语。例如，短语“A或B”将被理解为可以包括“A”或“B”或“A和B”。
此外，除非另有说明，词语“近似”、“约”、“大约”、“基本上”等的使用意指加或减百分之十。
已经出于说明和描述的目的呈现了对说明性实施例的以上描述。其并非旨在穷举或限制所公开的精确形式，而是可以根据上述教导进行修改和变化，或者可以从所公开的实施例的实现中获得修改和变化。本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (20)

1.一种激光器二极管驱动器输出的预启动故障控制的方法，所述方法包括：
向预启动故障监视器设备施加第一功率；
将所述预启动故障监视器设备处的故障状况设置为无故障状态；
启动所述预启动故障监视器设备；
确定输出驱动器的第一阻抗是否满足阻抗阈值；以及
响应于确定所述第一阻抗满足所述阻抗阈值，向所述输出设备施加第二功率。
2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
在操作地耦合到所述输出设备的输出节点处检测所述第一阻抗。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述阻抗阈值包括第二阻抗。
4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
在所述预启动故障监视器设备处检测所述第二阻抗。
5.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一阻抗是否满足所述阻抗阈值包括：确定所述第一阻抗是否大于所述阻抗阈值。
6.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一阻抗是否满足所述阻抗阈值包括：确定所述第一阻抗是否大于所述阻抗阈值。
7.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
响应于所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定，去激活所述预启动故障监视器。
8.根据权利要求7所述的方法，其中去激活所述预启动故障监视器进一步包括：通过通电复位控制器去激活所述预启动故障监视器。
9.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
响应于所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定，激活活动模式故障监视器。
10.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定还包括：确定在预定延迟之后所述第一阻抗满足所述阻抗阈值。
11.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
响应于确定所述第一阻抗不满足所述阻抗阈值，将所述故障状况设置为故障状态。
12.一种设备，包括：
预启动故障监视器设备，操作地耦合到激光器输出设备，并且可操作用于：响应于接收到第一功率而激活，将故障状况设置为无故障状态，确定激光器输出设备的第一阻抗是否满足阻抗阈值，以及响应于确定所述第一阻抗满足所述阻抗阈值，将第二功率施加到所述激光器输出设备。
13.根据权利要求12所述的设备，其中所述预启动故障监视器设备进一步可操作用于：在操作地耦合到所述输出设备的输出节点处检测到地的所述第一阻抗。
14.根据权利要求12所述的设备，其中所述阻抗阈值包括第二阻抗。
15.根据权利要求12所述的设备，其中所述预启动故障监视器设备进一步可操作用于：通过到地的内部参考阻抗来检测所述第二阻抗。
16.根据权利要求12所述的设备，进一步包括：
系统处理器，操作地耦合到所述预启动故障监视器，并且可操作用于：响应于所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定，去激活所述预启动故障监视器。
17.根据权利要求16所述的方法，其中所述系统处理器进一步可操作用于：响应于所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定，激活活动模式故障监视器。
18.根据权利要求12所述的设备，进一步包括：
通电复位控制器，操作地耦合到所述系统处理器和所述预启动故障监视器，并且可操作用于去激活所述预启动故障监视器。
19.根据权利要求12所述的方法，其中所述通电复位控制器进一步可操作用于：确定在预定延迟之后所述第一阻抗满足所述阻抗阈值。
20.一种系统，包括：
激光器输出设备；
预启动故障监视器设备，操作地耦合到所述激光器输出设备，并且可操作用于：响应于接收到第一功率而激活，将故障状况设定为无故障状态，确定所述驱动器输出的第一阻抗是否满足阻抗阈值，以及响应于确定所述第一阻抗满足所述阻抗阈值而将第二功率施加到所述激光器输出设备；以及
通电复位控制器，操作地耦合到所述预启动故障监视器，并且可操作用于：响应于所述第一阻抗满足所述阻抗阈值的所述确定，而去激活所述预启动故障监视器。
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Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5504432A (en) * 1993-08-31 1996-04-02 Hewlett-Packard Company System and method for detecting short, opens and connected pins on a printed circuit board using automatic test equipment
US7085659B2 (en) * 2004-10-15 2006-08-01 Abb Technology Ag Dynamic energy threshold calculation for high impedance fault detection
WO2008069979A1 (en) * 2006-12-01 2008-06-12 Abb Technology Ag An improved method and apparatus for detecting the high impedance fault during close-in-to fault and auto-reclose situations
WO2008069988A2 (en) * 2006-12-01 2008-06-12 Abb Technology Ag Method and apparatus for detecting high impedance fault
GB2504991B (en) * 2012-08-17 2015-09-23 Ultra Electronics Ltd Proximity sensor monitor
WO2014040620A1 (en) * 2012-09-12 2014-03-20 Siemens Aktiengesellschaft Detection of high impedance faults
US10365961B2 (en) * 2016-09-09 2019-07-30 Dell Products L.P. Information handling system pre-boot fault management
US10496509B2 (en) * 2017-02-27 2019-12-03 Dell Products L.P. Systems and methods for event tracking and health assessment of battery-powered information handling systems

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