CN114994071A - 导光板检测方法和导光板检测治具 - Google Patents

导光板检测方法和导光板检测治具 Download PDF

Info

Publication number
CN114994071A
CN114994071A CN202110226245.6A CN202110226245A CN114994071A CN 114994071 A CN114994071 A CN 114994071A CN 202110226245 A CN202110226245 A CN 202110226245A CN 114994071 A CN114994071 A CN 114994071A
Authority
CN
China
Prior art keywords
guide plate
light guide
light
under
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110226245.6A
Other languages
English (en)
Inventor
贺永平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Radium Asia Electronics Suzhou Co ltd
Leia Inc
Original Assignee
Radium Asia Electronics Suzhou Co ltd
Leia Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Radium Asia Electronics Suzhou Co ltd, Leia Inc filed Critical Radium Asia Electronics Suzhou Co ltd
Priority to CN202110226245.6A priority Critical patent/CN114994071A/zh
Publication of CN114994071A publication Critical patent/CN114994071A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/0278—Detecting defects of the object to be tested, e.g. scratches or dust
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)

Abstract

本公开的实施例提供了一种导光板检测方法和导光板检测治具。导光板检测方法包括：提供导光板，所述导光板包括主表面和与所述主表面邻接的至少一个侧表面，其中，所述主表面的法线方向为第一方向；采用至少一个光源提供第一检测条件和第二检测条件，其中，所述导光板的至少一部分在所述第一检测条件下的第一亮度值大于在所述第二检测条件下的第二亮度值；在所述第一检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第一类型缺陷；以及在所述第二检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第二类型缺陷，其中，所述第一类型缺陷和所述第二类型缺陷在类型方面不同。

Description

导光板检测方法和导光板检测治具
技术领域
本发明实施例涉及一种导光板检测方法和导光板检测治具。
背景技术
导光板(也被称为片状光波导)被用于各种光学和光子应用中。例如可以在显示装置的背光模组中使用导光板。具体的，光导板可用于将光分布到显示装置的像素中。像素可以是例如三维显示器的三维像素或平面显示器的二维像素。
由于工艺、材料、运输等因素使得制造的导光板中难免存在有缺陷，例如，点缺陷、线缺陷、Mura缺陷。具有缺陷的不合格导光板将对采用其的显示装置的发光均匀性、图像清晰性、寿命等产生不利影响。因此，在导光板投入使用前，对其各项性能是否合格做检测是必要的。
发明内容
本发明的实施例提供一种导光板检测方法，包括：提供导光板，所述导光板包括主表面和与所述主表面邻接的至少一个侧表面，其中，所述主表面的法线方向为第一方向；采用至少一个光源提供第一检测条件和第二检测条件，其中，所述至少一个光源面对所述至少一个侧表面，所述至少一个光源在第二方向上发射光线经由所述至少一侧表面进入所述导光板，所述第一方向与所述第二方向相交，所述导光板的至少一部分在所述第一检测条件下的第一亮度值大于在所述第二检测条件下的第二亮度值；在所述第一检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第一类型缺陷；以及在所述第二检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第二类型缺陷，其中，所述第一类型缺陷和所述第二类型缺陷在类型方面不同。
在一个示例中，所述导光板的所述至少一部分在所述第一检测条件下的所述第一亮度值与在所述第二检测条件下的所述第二亮度值的比值大于等于2.5且小于等于8。
在一个示例中，所述导光板的所述至少一部分在所述第一检测条件下的所述第一亮度值与在所述第二检测条件下的所述第二亮度值的比值大于等于4.5且小于等于6。
在一个示例中，所述导光板的所述至少一部分在所述第二检测条件下的所述第二亮度值大于等于30cd/m2且小于等于100cd/m2。
在一个示例中，所述导光板的所述至少一部分在所述第二检测条件下的所述第二亮度值大于等于40cd/m2且小于等于70cd/m2。
在一个示例中，在所述第一检测条件下，所述至少一个光源与所述导光板的所述至少一个侧表面在所述第二方向上的距离为第一距离；在所述第二检测条件下，所述至少一个光源与所述导光板的所述至少一个侧表面在所述第二方向上的距离为第二距离，所述第二距离大于所述第一距离。
在一个示例中，所述第二距离大于等于4cm且小于等于8cm。
在一个示例中，所述第二距离大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。
在一个示例中，所述至少一个光源在所述第一检测条件下的发光亮度等于所述至少一个光源在所述第二检测条件下的发光亮度相同。
在一个示例中，所述第二类型缺陷包括Mura缺陷。
在一个示例中，所述第一类型缺陷包括坏点缺陷。
在一个示例中，在所述第一检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在所述第一类型缺陷之后，在所述第二检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在所述第二类型缺陷。
在一个示例中，所述导光板检测方法还包括：在所述导光板的相反于所述主表面的一侧提供黑色反光板，所述黑色反光板与所述导光板在所述第一方向上至少部分重叠。
在一个示例中，所述导光板是配置为采用衍射光场背光技术的三维导光板。
本发明的另一实施例提供一种导光板检测治具，包括：承载构件，提供承载平面用于承载导光板，其中所述承载平面的法线方向为第一方向；以及至少一个光源，构造为沿与所述第一方向相交的第二方向朝向检测区域发射光线，其中，在所述第一方向上，所述至少一个光源与所述检测区域不重叠。所述至少一个光源构造为提供第一检测条件和第二检测条件，其中，所述检测区域在所述第一检测条件下的第一照度大于在所述第二检测条件下的第二照度。
在一个示例中，所述至少一个光源活动安装在所述承载构件上，使得所述至少一个光源活与所述检测区域在所述第二方向上的距离是可调的。
在一个示例中，所述第一检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离与所述第二检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离的差值大于等于4cm且小于等于8cm。
在一个示例中，所述第一检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离与所述第二检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离的所述差值大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。
在一个示例中，所述承载构件为黑色反光板。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施方式。
图1示出本公开实施例提供的导光板检测方法的流程图；
图2示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第一检测条件下的导光板和至少一个光源的截面位置关系示意图；
图3示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第一检测条件下的导光板和至少一个光源的平面位置关系示意图；
图4示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第二检测条件下的导光板和至少一个光源的截面位置关系示意图；
图5示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第二检测条件下的导光板和至少一个光源的平面位置关系示意图；
图6示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第一检测条件时的截面结构示意图；
图7示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第一检测条件时的平面结构示意图；
图8示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第二检测条件时的截面结构示意图；以及
图9示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第二检测条件时的平面结构示意图。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
在导光板检测方式中，我们发现有一些缺陷(例如，Mura缺陷)容易被漏检，从而导致一些实际具有缺陷的导光板被错误当作合格导光板，进而可能导致采用该导光板的产品的性能受到不利影响。本公开提供一种导光板检测方法和导光板检测治具，能够有效地提高常规检测不易检出的Mura缺陷的检出率，从而避免不合格导光板流入下游产品的生产制造环节。
图1示出本公开实施例提供的导光板检测方法的流程图。图2示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第一检测条件下的导光板和至少一个光源的截面位置关系示意图；图3示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第一检测条件下的导光板和至少一个光源的平面位置关系示意图；图4示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第二检测条件下的导光板和至少一个光源的截面位置关系示意图；图5示出在本公开实施例提供的导光板检测方法中处于第二检测条件下的导光板和至少一个光源的平面位置关系示意图。
参见图1至图5，该导光板检测方法包括:
步骤S100：提供导光板，导光板包括主表面和与主表面邻接的至少一个侧表面，主表面的法线方向为第一方向。
例如，在本实施例中，导光板10在XZ平面内具有矩形形状。这里，并不限制导光板10的形状，在另外的示例中，导光板10在XZ平面内可具有圆形形状、三角形形状或不规则形状等。
例如，在本实施例中，主表面11例如为在XZ平面内延伸的表面。主表面11例如为导光板10的最大的平面表面。至少一个侧表面例如包括第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13、第四侧表面14。例如第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14的每个为在YZ平面内延伸的表面。也就是，第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14每个均垂直于主表面11。本公开的实施例并不限制主表面与各个侧表面的角度关系，在另外的示例中，主表面与各个侧表面可以不垂直。在本实施例中，主表面11为光出射表面，第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13、第四侧表面14为光入射表面。
步骤S200：采用至少一个光源提供第一检测条件和第二检测条件，至少一个光源在与第一方向相交的第二方向上发射光线经由侧表面进入导光板，使得导光板的至少一部分在第一检测条件下的第一亮度值大于在第二检测条件下的第二亮度值。
例如，在本实施例中，至少一个光源包括在X方向上位于导光板10的相反两侧的第一灯条21和第二灯条22，第一灯条21和第二灯条22的每个在Z方向上延伸；至少一个光源还包括在Z方向上位于导光板10的相反两侧的第三灯条23和第四灯条24，第三灯条23和第四灯条24的每个在X方向上延伸；然而，本公开的实施例并不限制至少一个光源的类型和数量。
在本实施例中，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24朝向各自面对的第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13、第四侧表面14发射光线而进入导光板10。第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24在±X方向和±Z方向上发射光线经由侧表面12进入导光板10。第二方向例如为±X方向或±Z方向。第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24还可以在不同于X方向和Z方向的方向上发射光线经由侧表面12进入导光板10。由至少一个光源发出的光线经由进入导光板11内部之后可以经历折射、反射和/或散射而从主表面11射出。
这里，导光板10的至少一部分例如是导光板10比较靠近其中心的部分也可以是比较靠近其边缘的部分。图2中给出了导光板10的至少一部分的示例，即两条虚线之间的部分S。然而本公开的实施例并不限制导光板10的至少一部分的具体位置。例如，导光板10的至少一部分也可以是导光板10整体。
在第一检测条件(即，较高照度模式)下，导光板10的至少一部分以较高的第一亮度发光；在第二检测条件(即，较低照度模式)下，导光板10的该至少一部分以较低的第二亮度发光。
在导光板10的主表面11上没有覆盖另外的光学膜层的情况下(也就是，光线从导光板10的主表面11出射后不穿过其他光学膜层而入射到人眼或者图像摄取装置的情况下)，参见图2，导光板10的至少一部分的亮度值是指该至少一部分S沿第一方向Y在主表面11的投影所覆盖的区域S1的亮度值。例如，通过亮度计直接接触导光板10的主表面11的该区域S1而检测得到的亮度值作为导光板10的该至少一部分的亮度值。
在导光板10的主表面11上覆盖有至少一层光学膜层的情况下(也就是，光线从导光板10的主表面11出射后还穿过该至少一层光学膜层而入射到人眼或者图像摄取装置的情况下)，导光板10的至少一部分的亮度值是指该至少一部分沿第一方向在该至少一层光学膜层的光出射表面上的投影所覆盖的区域的亮度值。例如，通过亮度计直接接触该至少一层光学膜层的光出射表面的该区域而检测得到的亮度值作为导光板10的该至少一部分的亮度值。
可以理解的是，本公开的实施例并不限制导光板10的至少一部分的亮度值的测量方式。
在第一检测条件(即，较高照度模式)下，导光板10的主表面11的至少一部分的第一亮度值例如在大于等于150cd/m2且小于等于250cd/m2的范围。
步骤S300：在第一检测条件下判断导光板中是否存在第一类型缺陷。
例如，第一类型缺陷包括污斑缺陷、坏点缺陷(例如，亮点、暗点)、外观缺陷(例如，毛刺、刮伤)等。
步骤S400：在第二检测条件下判断导光板中是否存在第二类型缺陷，其中，第一类型缺陷和第二类型缺陷在类型方面不同。
第二类型的缺陷例如包括显示亮度不均匀(Mura)缺陷。
Mura来源于日文单词，特指以基本恒定的照度被照亮时，导光板的被测区域的亮度不均匀缺陷。Mura缺陷种类众多、形状多样，并且对比度低、位置不固定、边缘轮廓不清晰，相比于其他光学类缺陷(例如，坏点缺陷等)，Mura缺陷较难检出。因此，许多具4有Mura缺陷的导光板在常规的检测方法中被误认为是合格的导光板，导致常规检测方法的缺陷检测准确率降较低。
本发明人发现：在导光板所处位置的照度较高，使得导光板的出光主表面的至少一部分以较高亮度发光的情况下，可有利于检测诸如亮点和暗点等的对比度较高且边缘轮廓较清晰的光学类缺陷以及外观缺陷和污斑缺陷等，但却不利于Mura缺陷的检出，因为亮度过高会降低存在Mura缺陷的部分与不存在Mura缺陷的部分之间的亮度差异模糊掉，从而降低Mura缺陷的对比度使得Mura缺陷难以被检出。在有意的降低导光板所处位置的照度，使得导光板的出光主表面的该至少一部分(即，与上述以较高亮度发光的至少一部分相同的部分)以较低亮度发光的情况下，存在Mura缺陷的部分与不存在Mura缺陷的部分之间的亮度差异被清晰化，也就是Mura缺陷的对比度更高，有助于被人眼或图像获取装置检出。
根据本公开的实施例提供的导光板的检测方法能够有效地检出导光板的各种缺陷从而提高导光板缺陷检测的准确率。
例如，为了有利于利于人眼识别出Mura缺陷，导光板10的主表面11的至少一部分在第一检测条件(即，较高照度模式)下的第一亮度值与导光板10的主表面11的该至少一部分在第二检测条件(即，较低照度模式)下的第二亮度值的比值大于等于2.5且小于等于8。
进一步的，导光板10的主表面11的至少一部分在第一检测条件(即，较高照度模式)下的第一亮度值与导光板10的主表面11的该至少一部分在第二检测条件(即，较低照度模式)下的第二亮度值的比值大于等于4.5且小于等于6。这样，可以进一步提高人眼对Mura缺陷的识别准确性。
例如，为了有利于利于人眼识别出Mura缺陷，导光板10的主表面11的至少一部分在第二检测条件(即，较低照度模式)下的第二亮度值大于等于30cd/m2且小于等于100cd/m2。
进一步的，导光板10的主表面11的至少一部分在第二检测条件(即，较低照度模式)下的第二亮度值大于等于40cd/m2且小于等于70cd/m2。这样，可以进一步提高人眼对Mura缺陷的识别准确性。
在本公开实施例提供的导光板检测方法中，可以采用多种方式来提供上述的第一检测条件和第二检测条件。
方式一：通过改变至少一个光源与其面对的侧表面在第二方向上彼此之间的距离来提供第一检测条件和第二检测条件。
例如，在第一检测条件下，第一灯条21与导光板10的第一侧表面12在X方向上的距离、第二灯条22与导光板10的第二侧表面13在X方向上的距离，第三灯条23与导光板10的第三侧表面13在Z方向上的距离、以及第四灯条24与导光板10的第四侧表面14在Z方向上的距离均为第一距离。参见图2和图3，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24分别与导光板10的第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14直接接触，也就是第一距离为零。在另一示例中，第一距离也可以大于零。在第二检测条件下，参见图4和图5，例如，第一灯条21与导光板10的第一侧表面12在X方向上的距离、第二灯条22与导光板10的第二侧表面13在X方向上的距离，第三灯条23与导光板10的第三侧表面13在Z方向上的距离、以及第四灯条24与导光板10的第四侧表面14在Z方向上的距离均为第二距离，第二距离大于第一距离。可以理解的是的，在另外的示例中，第一灯条21与导光板10的第一侧表面12在X方向上的距离、第二灯条22与导光板10的第二侧表面13在X方向上的距离，第三灯条23与导光板10的第三侧表面13在Z方向上的距离、以及第四灯条24与导光板10的第四侧表面14在Z方向上的距离可以不相同。
方式二：通过改变至少一个光源的发光强度提供第一检测条件和第二检测条件。例如，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24每个均采用发光亮度可调的LED灯条，且第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24与导光板10的相对位置固定(例如，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24与导光板10的第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14分别直接接触)。在第一检测条件，至少一个光源以较高的发光亮度照射导光板10；在第二检测条件，至少一个光源以较低的发光亮度照射导光板10。
方式三：通过是否设置减亮膜提供第一检测条件和第二检测条件。例如，在第一检测条件和第二检测条件下第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24的发光亮度相同且第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24每个与导光板10的相对位置固定(例如，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24与导光板10的第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14分别直接接触)。在第一检测条件下，导光板10上没有覆盖任何其他的光学膜层，光线从导光板10的主表面11出射后不穿过其他光学膜层而入射到人眼或者图像摄取装置；在第二检测条件下，导光板10上覆盖有一减亮膜，光线从导光板10的主表面11出射后还穿过该减亮膜而入射到人眼或者图像摄取装置。
方式四：通过改变处于发光状态的至少一个光源的数量提供第一检测条件和第二检测条件。例如，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24与导光板10的第一侧表面12、第二侧表面13、第三侧表面13和第四侧表面14分别直接接触。在第一检测条件下，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24全部处于发光状态；在第二检测条件下，第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24中的一部分处于发光状态另一部分处于不发光状态。
方式一和方式二相对于方式三和方式四是比较优选的。在方式三中，由于减亮膜本身也可能存在各种光学缺陷(例如颜色不均匀、密度不均匀)从而导致如果存在Mura缺陷的情况下不能准确判断是导光板的缺陷还是减亮膜的缺陷；在方式四中，由于第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24中的一部分处于发光状态另一部分处于不发光状态的情况下，整个导光板的不同部分的亮度差异可能太大进而干扰Mura缺陷的可识别性。
进一步的，方式一相对于方式二是更优选的。方式二中，由于至少一个光源与导光板的相对位置固定，因此在第一检测条件和第二检测条件下由相同的光源发射进入导光板2的光线的光路是基本相同的。然而，在方式一种，由于同一光源与对应侧表面之间在第二方向上的距离在第一检测条件和第二检测条件下是不同的，同一光源发射进入导光板的光线的光路在第一检测条件和第二检测条件下在相同的入光侧表面上的入射角和折射角不同，因此同一光源发射进入导光板的光线的光路在第一检测条件和第二检测条件下也不相同。这种光路的不同可有利于增加Mura缺陷的视觉可识别性。
例如，在方式一中，第二距离大于等于4cm且小于等于8cm。这样可有利于人眼识别出Mura缺陷。
又例如，在方式一中，第二距离大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。这样，可以进一步提高人眼对Mura缺陷的识别准确性。
可以理解的是，在上述方式一中，并不限制第一灯条21、第二灯条22和第三灯条23和第四灯条24每个在第一检测条件下和第二检测条件下的发光亮度是否相同。为了简化检测流程，可以将相同的光源在在第一检测条件下和第二检测条件下的发光亮度设置为相同。
此外，本公开实施例提供的导光板检测方法中，在第一检测条件下判断导光板的至少一部分中是否存在第一类型缺陷之后，在第二检测条件下判断导光板的至少一部分中是否存在第二类型缺陷。这样，以在先的导光板在较大的发光亮度状态为比较基础，人眼更容易识别出在后的导光板在较小的发光亮度状态下的Mura缺陷(如果存在的话)。
本公开实施例提供的导光板检测方法例如还包括：在导光板10的相反于主表面11的一侧提供黑色反光板，黑色反光板与导光板在第一方向上至少部分重叠。这样，可以有效避免位于导光板10的相反于主表面11的一侧的环境物体的干扰。
例如，本公开实施例中，导光板10是采用衍射光场背光技术(DiffractiveLightfield Backlighting，DLB)的三维导光板。这种三维导光板包括能够控制从导光板的出射的光线方向的纳米结构。这些纳米结构有助于提高第一检测条件和第二检测条件所提供的不同照度模式下导光板的Mura缺陷的可识别性。因此，相对于普通的导光板，本公开实施例提供的导光板检测方法能够更有效的提高三维导光板的Mura缺陷识别准确性。
图6示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第一检测条件时的截面结构示意图；图7示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第一检测条件时的平面结构示意图；图8示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第二检测条件时的截面结构示意图；图9示出本公开实施例提供的导光板检测治具提供第二检测条件时的平面结构示意图。
本公开实施例提供一种导光板检测治具，包括：承载构件30，提供承载平面31用于承载导光板，其中承载平面的法线方向为第一方向Y；以及至少一个光源，构造为沿与第一方向Y相交的第二方向X或Z朝向检测区域TS发射光线，其中，在第一方向上，至少一个光源与检测区域TS不重叠。至少一个光源构造为提供第一检测条件和第二检测条件，其中，检测区域TS在第一检测条件下的第一照度大于在第二检测条件下的第二照度。
采用本公开实施例提供的导光板检测治具，能够有效地检出导光板的各种缺陷从而提高导光板缺陷检测的准确率。
参见图6至图9，承载构件30例如为板状构件。在一个示例中，承载构件30为黑色反光板。黑色反光板30能够阻断光线在其厚度方向(第一方向Y)上穿透黑色反光板30。这样，当人眼或者图像摄取装置在承载构件30的一侧观察或摄取图像时可以有效避免位于承载构件30的相反另一侧的环境物体的干扰。黑色反光板30可以整体为黑色发光材料制成，也可以通过在基板上涂覆或者涂覆黑色反射膜层而制成。然而，可以理解的是，承载构件30并不限于是黑色反光板。
承载构件30的上表面31作为承载表面用于承载导光板。图6-9中没有示出导光板10而是以虚线矩形框T表示导光板10放置到承载构件30的上表面31之后所要占据的空间区域。
在本公开实施例提供一种导光板检测治具中，检测区域为要被导光板10占位或接触的区域的至少一部分。参见图6-9，检测区域TS为导光板10放置到承载构件30的上表面31之后所要占据的空间区域T的一部分。图6至图9中的检测区域TS例如对应于图2至图5中的导光板10的部分S要占位的空间。在另一示例中，检测区域可为承载构件30的上表面31的与导光板接触的平面区域的至少一部分。
这里，照度是指在任意给定点截取表面上每单位面积获得的光通量，单位为勒克斯。
至少一个光源包括在X方向上相对设置的第一灯条21和第二灯条22，第一灯条21和第二灯条22的每个在Z方向上延伸；至少一个光源还包括在Z方向上相对设置的第三灯条23和第四灯条24，第三灯条23和第四灯条24的每个在X方向上延伸；然而，本公开的实施例并不限制至少一个光源的类型和数量。
第一灯条21、第二灯条22、第三灯条23和第四灯条24例如分别通过支撑构件41、支撑构件42、支撑构件43和支撑构件44放置在承载构件30的上表面31上。第一灯条21、第二灯条22、第三灯条23和第四灯条24分别与支撑构件41、支撑构件42、支撑构件43和支撑构件44固定连接，例如通过粘接层。
支撑构件41通过牵引构件K1和限位构件M1活动连接在承载构件30的上表面31上；支撑构件42通过牵引构件K2和限位构件M2活动连接在承载构件30的上表面31上；支撑构件43通过牵引构件K3和限位构件M3活动连接在承载构件30的上表面31上；支撑构件44通过牵引构件K4和限位构件M4活动连接在承载构件30的上表面31上。限位构件M1、限位构件M2、限位构件M3和限位构件M4固定连接在承载构件30的上表面31上。
牵引构件K1的一端固定连接到支撑构件41，牵引构件K1的相反的另一端穿过限位构件M1中的限位孔；牵引构件K2的一端固定连接到支撑构件42，牵引构件K2的相反的另一端穿过限位构件M2中的限位孔；牵引构件K3的一端固定连接到支撑构件43，牵引构件K3的相反的另一端穿过限位构件M3中的限位孔；牵引构件K4的一端固定连接到支撑构件44，牵引构件K4的相反的另一端穿过限位构件M4中的限位孔。
牵引构件K1与限位构件M1中的限位孔的孔壁接触而产生足够静摩擦力维持牵引构件K1与限位构件M1的相对位置；牵引构件K2与限位构件M2中的限位孔的孔壁接触而产生足够静摩擦力维持牵引构件K2与限位构件M2的相对位置；牵引构件K3与限位构件M3中的限位孔的孔壁接触而产生足够静摩擦力维持牵引构件K3与限位构件M3的相对位置；牵引构件K4与限位构件M4中的限位孔的孔壁接触而产生足够静摩擦力维持牵引构件K4与限位构件M4的相对位置。
这样，可用通过外力改变各个牵引构件与对应的限位构件的相对位置而改变对应的灯条在承载构件30的上表面31上的位置。因此，本公开的实施例提供的导光板检测治具可以采用上述方式一来提供第一检测条件和第二检测条件。
需要说明的是，在本公开的实施例提供的导光板检测治具中，并不限制至少一个光源活动安装在承载构件30上的具体方式。
例如，第一灯条21、第二灯条22、第三灯条23和第四灯条24每个的发光亮度是可调的。这样，本公开的实施例提供的导光板检测治具还可以采用上述方式二来提供第一检测条件和第二检测条件。
在导光板10放置在预定区域T内的情况下，对应的导光板部分S位于监测区域TS内。对于相同的检测区域TS，第一检测条件下的第一照度大于第二检测条件下的第二照度，使得导光板部分S在第一检测条件下的第一亮度大于第二检测条件下的第二亮度。
参见图6至图9，至少一个光源灯条活动安装在承载构件30上，使得至少一个光源与检测区域TS在第二方向(X方向或Z方向)上的距离是可调的。例如，每个灯条活动安装在承载构件30的上表面31上，使得每个灯条与检测区域TS在第二方向(X方向或Z方向)上的距离是可调的。
在本公开的实施例提供的导光板检测治具中，并不限制活动安装在承载构件30的上表面31上的灯条的数量。在另一示例中，第一灯条21和第二灯条22中仅有一个活动安装在承载构件30的上表面31上，第三灯条23和第四灯条24中也仅有一个活动安装在承载构件30的上表面31上。这样，当调节完灯条在承载构件30的上表面31上的位置之后，可以调整导光板10在承载构件30的上表面31上的位置使得每个灯条与导光板10的对应侧表面的距离相等。
例如，第一检测条件下至少一个光源与检测区域在第二方向上的距离与第二检测条件下至少一个光源与检测区域在第二方向上的距离的差值大于等于4cm且小于等于8cm。这样，可有利于人眼识别出Mura缺陷。
进一步的，第一检测条件下至少一个光源与检测区域在第二方向上的距离与第二检测条件下至少一个光源与检测区域在第二方向上的距离的差值大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。这样，可以进一步提高人眼对Mura缺陷的识别准确性。
本文中，有以下几点需要说明：
(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见，在用于描述本公开的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。
(3)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上仅是本公开的示范性实施方式，而非用于限制本公开的保护范围，本公开的保护范围由所附的权利要求确定。

Claims (19)

1.一种导光板检测方法，包括：
提供导光板，所述导光板包括主表面和与所述主表面邻接的至少一个侧表面，其中，所述主表面的法线方向为第一方向；
采用至少一个光源提供第一检测条件和第二检测条件，其中，所述至少一个光源面对所述至少一个侧表面，所述至少一个光源在第二方向上发射光线经由所述至少一侧表面进入所述导光板，所述第一方向与所述第二方向相交，所述导光板的至少一部分在所述第一检测条件下的第一亮度值大于在所述第二检测条件下的第二亮度值；
在所述第一检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第一类型缺陷；以及
在所述第二检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在第二类型缺陷，其中，所述第一类型缺陷和所述第二类型缺陷在类型方面不同。
2.根据权利要求1所述的导光板检测方法，其中，所述导光板的所述至少一部分在所述第一检测条件下的所述第一亮度值与在所述第二检测条件下的所述第二亮度值的比值大于等于2.5且小于等于8。
3.根据权利要求2所述的导光板检测方法，其中，所述导光板的所述至少一部分在所述第一检测条件下的所述第一亮度值与在所述第二检测条件下的所述第二亮度值的比值大于等于4.5且小于等于6。
4.根据权利要求1所述的导光板检测方法，其中，所述导光板的所述至少一部分在所述第二检测条件下的所述第二亮度值大于等于30cd/m2且小于等于100cd/m2。
5.根据权利要求4所述的导光板检测方法，其中，所述导光板的所述至少一部分在所述第二检测条件下的所述第二亮度值大于等于40cd/m2且小于等于70cd/m2。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的导光板检测方法，其中，在所述第一检测条件下，所述至少一个光源与所述导光板的所述至少一个侧表面在所述第二方向上的距离为第一距离；
在所述第二检测条件下，所述至少一个光源与所述导光板的所述至少一个侧表面在所述第二方向上的距离为第二距离，所述第二距离大于所述第一距离。
7.根据权利要求6所述的导光板检测方法，其中，所述第二距离大于等于4cm且小于等于8cm。
8.根据权利要求7所述的导光板检测方法，其中，所述第二距离大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。
9.根据权利要求6所述的导光板检测方法，其中，所述至少一个光源在所述第一检测条件下的发光亮度等于所述至少一个光源在所述第二检测条件下的发光亮度相同。
10.根据权利要求1至5中任一项所述的导光板检测方法，其中，所述第二类型缺陷包括Mura缺陷。
11.根据权利要求10所述的导光板检测方法，其中，所述第一类型缺陷包括坏点缺陷。
12.根据权利要求1至5中任一项所述的导光板检测方法，其中，在所述第一检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在所述第一类型缺陷之后，在所述第二检测条件下判断所述导光板的所述至少一部分中是否存在所述第二类型缺陷。
13.根据权利要求1至5中任一项所述的导光板检测方法，还包括：在所述导光板的相反于所述主表面的一侧提供黑色反光板，所述黑色反光板与所述导光板在所述第一方向上至少部分重叠。
14.根据权利要求1至5中任一项所述的导光板检测方法，其中，所述导光板是采用衍射光场背光技术的三维导光板。
15.一种导光板检测治具，包括：
承载构件，提供承载平面用于承载导光板，其中所述承载平面的法线方向为第一方向；以及
至少一个光源，构造为沿与所述第一方向相交的第二方向朝向检测区域发射光线，其中，在所述第一方向上，所述至少一个光源与所述检测区域不重叠，
其中，所述至少一个光源构造为提供第一检测条件和第二检测条件，其中，所述检测区域在所述第一检测条件下的第一照度大于在所述第二检测条件下的第二照度。
16.根据权利要求15所述的导光板检测治具，其中，
所述至少一个光源活动安装在所述承载构件上，所述至少一个光源活与所述检测区域在所述第二方向上的距离是可调的。
17.根据权利要求16所述的导光板检测治具，其中，
所述第一检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离与所述第二检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离的差值大于等于4cm且小于等于8cm。
18.根据权利要求17所述的导光板检测治具，其中，
所述第一检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离与所述第二检测条件下所述至少一个光源与所述检测区域在所述第二方向上的距离的所述差值大于等于4.5cm且小于等于5.5cm。
19.根据权利要求15至18中任一项所述的导光板检测治具，其中，所述承载构件为黑色反光板。
CN202110226245.6A 2021-03-01 2021-03-01 导光板检测方法和导光板检测治具 Pending CN114994071A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110226245.6A CN114994071A (zh) 2021-03-01 2021-03-01 导光板检测方法和导光板检测治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110226245.6A CN114994071A (zh) 2021-03-01 2021-03-01 导光板检测方法和导光板检测治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114994071A true CN114994071A (zh) 2022-09-02

Family

ID=83017920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110226245.6A Pending CN114994071A (zh) 2021-03-01 2021-03-01 导光板检测方法和导光板检测治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114994071A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7862221B2 (en) Optical lens, optical package having the same, backlight assembly having the same and display device having the same
JP4655155B2 (ja) 発光装置および画像表示装置
CN101646961B (zh) 光学膜和具有该光学膜的背光单元
US20130121023A1 (en) Backlight unit and display apparatus thereof
CN1837925A (zh) 背光装置以及液晶显示装置
US20070085942A1 (en) Sine-wave-like diffusion plate utilized in direct type backlight module of liquid crystal display
US10352530B2 (en) Lens, light emitting apparatus including the lens, and backlight unit including the apparatus
US11022842B2 (en) Planar light source device and display device
JP4575202B2 (ja) 透明板状体の欠点検査方法及び欠点検査装置
JP2008514922A (ja) 調光フィルムの検査システム及び検査方法並びに調光フィルムの製造方法
JP2014220035A (ja) 光源装置及びその制御方法
CN109342443B (zh) 视觉检测背光源及其视觉检测装置
TWI475290B (zh) A light emitting device and a display device
KR101161435B1 (ko) 조명장치
CN110737133A (zh) 显示装置
KR20090126719A (ko) 광학 부재, 이를 포함하는 백라이트 어셈블리 및 표시장치
CN101076720B (zh) 检查背光单元的装置
US11420562B2 (en) Backlight unit
CN205103181U (zh) 一种透明片状产品外观缺陷成像系统
CN114994071A (zh) 导光板检测方法和导光板检测治具
KR102027364B1 (ko) 멀티 광학 디스플레이 검사 장치
US11467446B2 (en) Lens, light source device, backlight unit, and electronic device
CN209311346U (zh) 视觉检测背光源及其视觉检测装置
KR101379817B1 (ko) 백라이트 어셈블리 검사 장치 및 표시소자 검사 장치
KR102540780B1 (ko) 다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination