CN114993639A - 口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种口盖锁的工作寿命评估口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备，用于评估系统，评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统；所述方法包括：测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作，并且，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力，若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。采用本方法能够节约人力。

Description

口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备

技术领域

本申请涉及口盖锁技术领域，特别是涉及一种口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备。

背景技术

触发式口盖锁不需要借助任何工具就能实现开锁和闭锁，因此被广泛应用于各种场景。例如，将触发式口盖锁安装于飞机机体需要频繁开启与闭合的维护口盖上。

触发式口盖锁的工作寿命是评价其质量可靠性水平的一项重要指标，因此，需要对触发式口盖锁进行反复的开闭锁试验，从而评估触发式口盖锁的工作寿命。

然而，目前对触发式口盖锁的开闭锁试验仍以人工操作为主。因此，目前触发式口盖锁的工作寿命评估方法存在着耗费人力的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够节约人力的口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备。

第一方面，本申请提供了一种口盖锁的工作寿命评估方法，用于评估系统，该评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统。该方法包括：

该测评系统向该试验装置发送第一驱动指令，其中，该第一驱动指令用于指示该试验装置控制该待测口盖锁进行开闭锁动作；

该测评系统接收该试验装置发送的该开闭锁动作对应的开闭锁力；

若该开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则该测评系统根据满足该开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估该待测口盖锁的工作寿命。

在其中一个实施例中，该待测口盖锁的个数为多个，该测评系统根据满足该开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估该待测口盖锁的工作寿命，包括：

该测评系统确定满足该开闭锁动作停止条件之前，各该待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，该第一目标值为根据该待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值；

该测评系统将该比值作为该待测口盖锁的工作寿命。

在其中一个实施例中，该试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器，该测评系统向该试验装置发送第一驱动指令，包括：

该测评系统向该电机发送该第一驱动指令，以控制该电机顺时针转动第一预设角度时该待测口盖锁进行开锁动作，并在该电机逆时针转动第二预设角度时该待测口盖锁进行闭锁动作；

该测评系统接收该试验装置发送的该开闭锁动作对应的开闭锁力，包括：

该测评系统接收该第一传感器发送的该待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收该第二传感器发送的该待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

在其中一个实施例中，该试验装置还包括旋转架、第一按压杆、第二按压杆、第一按压头和第二按压头；

该第一按压杆的一端与该第一按压头之间螺纹连接，该第一按压杆的另一端穿过该旋转架与该第一传感器的第一端连接；该第一按压头用于在该电机顺时针转动时按压该待测口盖锁的开锁部件，以使该待测口盖锁进行开锁动作；

该第二按压杆的一端与该第二按压头之间螺纹连接，该第二按压杆的另一端穿过该旋转架与该第二传感器的第一端连接；该第二按压头用于在该电机逆时针转动时按压该待测口盖锁的闭锁部件，以使该待测口盖锁进行闭锁动作。

在其中一个实施例中，该试验装置还包括U型架、第一调节组件和第二调节组件，该U型架固定连接在该旋转架之上，该第一传感器的第二端与该第一调节组件连接，该第二传感器的第二端与该第二调节组件连接。

在其中一个实施例中，该试验装置还包括第三传感器和传感器柱；该传感器柱的第一端与该第三传感器的第一端连接，且在该待测口盖锁处于闭锁状态时，该传感器柱的第二端与该待测口盖锁的锁紧螺钉接触；该第三传感器用于向该测评系统发送该传感器柱与该待测口盖锁接触时产生的接触力。

在其中一个实施例中，该试验装置还包括第一夹具和第二夹具，该第一夹具为U型结构，该第三传感器的第二端与该第一夹具连接；

该第一夹具固定于该第二夹具之上，该锁紧螺钉穿过该第二夹具的顶板后与该传感器柱的第二端接触。

在其中一个实施例中，该试验装置还包括第一转轴、第二转轴、第一轴承座、第二轴承座和联轴器；该旋转架的两端分别连接该第一转轴和第二转轴，该第一转轴与该第一轴承座连接，该第二转轴与该第二轴承座连接；

该第一转轴或该第二转轴通过该联轴器与该电机连接。

第二方面，本申请还提供了一种口盖锁的工作寿命评估装置。该装置包括：

发送模块，用于测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，该第一驱动指令用于指示该试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作；

接收模块，用于该测评系统接收该试验装置发送的该开闭锁动作对应的开闭锁力；

评估模块，用于若该开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则该测评系统根据满足该开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估该待测口盖锁的工作寿命。

第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一方法的步骤。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法的步骤。

第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法的步骤。

上述口盖锁的工作寿命评估口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备，用于评估系统，该评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统。该测评系统向该试验装置发送第一驱动指令，其中，该第一驱动指令用于指示该试验装置控制该待测口盖锁进行开闭锁动作，并且，该测评系统接收该试验装置发送的该开闭锁动作对应的开闭锁力，若该开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则该测评系统根据满足该开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估该待测口盖锁的工作寿命。由于本实施例提供的方法无需再通过人工操作，通过测评系统和试验装置即可评估待测口盖锁的工作寿命，从而解决了目前口盖锁的工作寿命评估方法存在的耗费人力的问题，节约了人力。

附图说明

图1为本申请实施例中评估系统的示意图；

图2为本申请实施例中口盖锁的工作寿命评估方法的流程示意图；

图3为本申请实施例中一种确定工作寿命的流程示意图；

图4为待测口盖锁处于开锁状态的示意图；

图5为待测口盖锁处于闭锁状态的示意图；

图6为本申请中试验装置的结构示意图；

图7为本申请中试验装置的半剖视图；

图8为本申请中试验装置的主视图；

图9为本申请提供的评估系统的整体示意图；

图10为本申请实施例中口盖锁的工作寿命评估装置的结构框图；

图11本申请实施例中计算机设备的内部结构图。

附图标记说明：

1-旋转架，2-螺钉，3-U型架，4-第一缓冲弹簧，5-第一调节柱，6-第一传感器，7-螺母，8-传感器柱，9-第一按压头，10-第一垫片，11-轴承，12-孔用挡圈，13-紧定螺钉，14-套筒，15-第一轴承座，16-联轴器，17-电机座，18-电机，19-第一转轴，20-第一夹具，21-第二夹具，22-待测口盖锁，221-锁紧螺钉，222-闭锁部件，223-开锁部件，224-销轴，23-第二转轴，24-底座，25-第二缓冲弹簧，26-第二调节柱，27-第二传感器，28-第三传感器，29-第二轴承座，30-缓冲弹簧，31-调节柱，32-传感器，33-传感器垫片，34-按压杆，35-按压头。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

图1为本申请实施例中评估系统的示意图，本申请实施例提供的口盖锁的工作寿命评估方法，可以应用于如图1所示的评估系统中。评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统。其中，待测口盖锁放置于试验装置中，待测口盖锁是触发式口盖锁。测评系统和试验装置能够进行通信。

测评系统包括模数转换电路、放大电路和电机驱动电路等等，可以通过专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，ASIC)、晶体管逻辑器件、分立硬件组件中的至少一种方式实现。测评系统还可以包括中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件，本实施例不做限制。

当然，评估系统中还可以包括终端。其中，终端通过网络与测评系统进行通信。终端可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑、工控机和便携式可穿戴设备，便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。

图2为本申请实施例中口盖锁的工作寿命评估方法的流程示意图，该方法可以应用于图1所示的评估系统中，在一个实施例中，如图2所示，包括以下步骤：

S201，测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作。

在本实施例中，测评系统向试验装置发送第一驱动指令，第一驱动指令中包括试验装置对待测口盖锁的试验频率。例如，试验频率为5次/分钟，则表示需要试验装置每分钟控制待测口盖锁进行5次开闭锁动作。可以理解的是，待测口盖锁进行一次开锁动作和一次闭锁动作后才算一次开闭锁动作。第一驱动指令可以是测评系统自动生成的，也可以是用户通过测评系统设置的，本实施例不做限制。

进一步地，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作。一种可以实现的方式是，测评系统向试验装置发送第一驱动指令，试验装置根据第一驱动指令中的试验频率控制待测口盖锁进行开闭锁动作。例如试验频率为5次/分钟，则试验装置每12秒控制待测口盖锁进行一次开锁动作和一次闭锁动作。

S202，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力。

待测口盖锁的开闭锁力是有规定的要求和标准的，故而还需要对开闭锁动作中的开闭锁力进行监测。因此，在本实施例中，测评系统还会接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力。可以理解的是，开闭锁动作一般会持续一定的时间。例如，开锁动作持续1秒后待测口盖锁才会被打开。试验装置可以在进行开闭锁动作的过程中周期性地向测评系统发送对应的开闭锁力。例如，在待测口盖锁进行开锁动作时(假设持续了1秒)，试验装置每秒获取5个开锁动作对应的开锁力，并将获取到的5个开锁力发送给测评系统。闭锁力同理，此处不再赘述。需要说明的是，测评系统可以从开闭锁力中确定每次开闭锁动作对应的最大开锁力、最小开锁力、平均开锁力和平均闭锁力，本实施例均不做限制。

S203，若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。

在本实施例中，预设的开闭锁动作停止条件可以是：开锁力小于预设阈值(例如预设阈值为零)或者闭锁力小于(例如预设阈值为零)。一种可以实现的方式是，当测评系统接收到的开锁力或者闭锁力为零时，开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据此前进行的开闭锁动作的总次数评估出待测口盖锁的工作寿命。

此处以试验频率为5次/分钟进行说明。试验装置接收到第一驱动指令后，以5次/分钟的频率控制待测口盖锁进行开闭锁动作，即试验装置每12秒控制待测口盖锁进行一次开锁动作和一次闭锁动作。待测口盖锁每进行一次开锁动作和闭锁动作，开闭锁动作的总次数就会增加一次。若一段时间后，待测口盖锁已经进行了99次开闭锁动作，此时待测口盖锁在进行第100次的开锁动作时，试验装置获取到开锁力为零，则开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，此时待测口盖锁开闭锁动作的总次数就是99次。测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，即99次，评估待测口盖锁的工作寿命。一种可以实现的方式是，测评系统将满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数(即99次)直接作为待测口盖锁的工作寿命，可以理解的是，待测口盖锁的工作寿命是一个评估值。也就是说，待测口盖锁的工作寿命包括待测口盖锁能够进行开闭锁动作的总次数。

本实施例提供的口盖锁的工作寿命评估方法，通过测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作，进而，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力，从而若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。由于本实施例提供的方法无需再通过人工操作，通过测评系统和试验装置即可评估待测口盖锁的工作寿命，从而解决了目前口盖锁的工作寿命评估方法存在的耗费人力的问题，节约了人力。

更进一步地，本实施例提供的口盖锁的工作寿命评估方法也避免了人工操作导致的开锁力和闭锁力大小不一致的情况，从而解决了由于人工操作引起的最终评估的工作寿命不够准确的问题。

图3为本申请实施例中一种评估工作寿命的流程示意图，参照图3，本实施例涉及的是如何确定待测口盖锁的工作寿命的一种可选的实现方式。在上述实施例的基础上，上述的S203包括如下步骤：

S301，测评系统确定满足开闭锁动作停止条件之前，各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，第一目标值为根据待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值。

在本实施例中，待测口盖锁的个数为多个。例如，取相同型号相同批次的n个待测口盖锁，每一个待测口盖锁重复S201～S203的步骤，得到各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数K_i。其中，i为大于等于1小于等于n的整数，K_i表示第i个待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数。例如，n＝10，待测口盖锁包括待测口盖锁1、待测口盖锁2、……、待测口盖锁10。K₁表示这10个待测口盖锁中待测口盖锁1在满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数。

第一目标值是根据待测口盖锁的个数n与预设分散系数M的乘积结果确定的数值。例如，第一目标值为n*M。其中，预设分散系数M是一个工程经验值，一般为大于等于1小于等于3的数。

具体地，测评系统确定满足开闭锁动作停止条件之前，各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数K_i之和与第一目标值的比值，即

S302，测评系统将比值作为待测口盖锁的工作寿命。

在本实施例中，测评系统将上述S301确定的比值作为待测口盖锁的工作寿命T。待测口盖锁的工作寿命可以表示为如下式(1)。

式(1)中，n是待测口盖锁的个数，i是大于等于1小于等于n的整数，K_i是各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数，M是预设分散系数，取值为大于等于1小于等于3的数。

可以理解的是，一般情况下，单次的试验虽然也会确定出一个待测口盖锁的工作寿命，但是为了最终确定出真实可靠的工作寿命，需要取同批次同型号的多个待测口盖锁控制变量，确保其他条件相同后进行试验。进而最终根据式(1)评估该批次该型号的工作寿命，也即该批次该型号中任意一个待测口盖锁的工作寿命。需要说明的是，式(1)得到的待测口盖锁的工作寿命是一个评估值。

本实施例中测评系统确定满足开闭锁动作停止条件之前，各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，第一目标值为根据待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值，测评系统将比值作为待测口盖锁的工作寿命。因此本实施例中评估的待测口盖锁的工作寿命更准确。

可选的，试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器，上述的S201可以通过如下方式实现：

测评系统向电机发送第一驱动指令，以控制电机顺时针转动第一预设角度时待测口盖锁进行开锁动作，并在电机逆时针转动第二预设角度时待测口盖锁进行闭锁动作。

在本实施例中，试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器。测评系统与电机电连接。其中，电机可以是步进电机、伺服电机、气动马达或者液压马达，本实施例不做限制。

具体地，本实施例中采用步进电机，测评系统向试验装置中的步进电机发送第一驱动指令，从而步进电机顺时针转动第一预设角度时待测口盖锁进行开锁动作，步进电机逆时针转动第二预设角度时待测口盖锁进行闭锁动作。其中，第一预设角度和第二预设角度可以相等。例如，试验频率为5次/分钟，则测评系统每12秒控制步进电机顺时针转动第一预设角度以及逆时针转动第二预设角度。一种可以实现的方式是，步进电机旋转的初始位置为A位置，测评系统每12秒控制步进电机顺时针旋转30度至B位置，步进电机顺时针旋转的过程中待测口盖锁进行开锁动作；然后步进电机逆时针旋转30度又回到A位置，步进电机逆时针旋转的过程中待测口盖锁进行闭锁动作。当步进电机再次逆时针旋转回到A位置后，测评系统自动计数，将开闭锁动作的总次数增加一次。

可选的，上述的S202可以通过如下方式实现：

测评系统接收第一传感器发送的待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收第二传感器发送的待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

在本实施例中，试验装置还包括第一传感器和第二传感器。试验装置中的第一传感器和第二传感器获取开闭锁动作对应的开闭锁力，并在进行开闭锁动作的过程中周期性地向测评系统发送对应的开闭锁力。具体地，第一传感器获取开锁动作对应的开锁力，第二传感器获取闭锁动作对应的闭锁力。

例如，在待测口盖锁进行开锁动作时(假设持续了1秒)，第一传感器每秒获取5个开锁动作分别对应的开锁力，并将获取到的5个开锁力发送给测评系统。闭锁力同理，此处不再赘述。

进一步地，测评系统接收到试验装置发送的开闭锁力。测评系统不仅能够根据开闭锁力是否满足预设的开闭锁动作停止条件，评估待测口盖锁的工作寿命，测评系统还可以存储试验过程中的开闭锁力，以后续进行进一步地分析。

本实施例中试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器，测评系统向电机发送第一驱动指令，以控制电机顺时针转动第一预设角度时待测口盖锁进行开锁动作，并在电机逆时针转动第二预设角度时待测口盖锁进行闭锁动作，并且测评系统接收第一传感器发送的待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收第二传感器发送的待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。由于开闭锁力均是由传感器获取的，并且开闭锁动作都是统一由试验装置控制，因此，本实施例最终评估的工作寿命更加准确，并且节省了人力。

可选的，试验装置还包括旋转架、第一按压杆、第二按压杆，第一按压头和第二按压头；第一按压杆的一端与第一按压头之间螺纹连接，第一按压杆的另一端穿过旋转架与第一传感器的第一端连接；第一按压头用于在电机顺时针转动时按压待测口盖锁的开锁部件，以使待测口盖锁进行开锁动作；第二按压杆的一端与第二按压头之间螺纹连接，第二按压杆的另一端穿过旋转架与第二传感器的第一端连接；第二按压头用于在电机逆时针转动时按压待测口盖锁的闭锁部件，以使待测口盖锁进行闭锁动作。

为了更清楚地对本实施例中的试验装置进行解释，在此结合图4～图6进行说明。待测口盖锁为触发式口盖锁。图4为待测口盖锁处于开锁状态的示意图，图5为待测口盖锁处于闭锁状态的示意图。请参考图4和图5，待测口盖锁的结构包括锁紧螺钉221、闭锁部件222、开锁部件223和销轴224。

当待测口盖锁处于闭锁状态时，按压待测口盖锁的开锁部件223，待测口盖锁会进行开锁动作，进而完成开锁后处于开锁状态；当待测口盖锁处于开锁状态时，按压待测口盖锁的闭锁部件222，待测口盖锁会进行闭锁动作，进而完成闭锁后处于闭锁状态。

图6为本申请中试验装置的结构示意图，图7为本申请中试验装置的半剖视图。请结合图6和图7，调节柱31、传感器32、传感器垫片33、按压杆34和按压头35均是一对。图7中的缓冲弹簧30可以是第一缓冲弹簧4，也可以是第二缓冲弹簧25。同理，图7中的调节柱31可以是第一调节柱5或第二调节柱26；图7中的传感器32可以是第一传感器6或第二传感器27；图7中的传感器垫片33可以是第一垫片10或第二垫片；图7中的按压杆34可以是第一按压杆或第二按压杆；图7中的按压头35可以是第一按压头9或第二按压头。第二垫片、第一按压杆、第二按压杆和第二按压头未在图中标出。

请参考图6和图7，在本实施例中，试验装置还包括旋转架1、第一按压杆、第二按压杆、第一按压头9和第二按压头。待测口盖锁22放置于试验装置中。

其中，第一按压杆的一端与第一按压头9之间螺纹连接，第一按压杆的另一端穿过旋转架1与第一传感器6的第一端连接。同理，第二按压杆的一端与第二按压头之间螺纹连接，第二按压杆的另一端穿过旋转架1与第二传感器27的第一端连接。

其中，旋转架1和电机18连接，在电机18进行顺时针转动或逆时针转动时，相应地，旋转架1也会进行顺时针转动或逆时针转动。进一步地，当电机18顺时针转动第一预设角度时，旋转架1也会相应转动，从而第一按压头9在电机18顺时针转动时按压待测口盖锁的开锁部件223，以使待测口盖锁22进行开锁动作。同理，第二按压头在电机18逆时针转动时，按压待测口盖锁的闭锁部件222，以使待测口盖锁22进行闭锁动作。

进一步地，第一按压头9和第二按压头可以设计成半圆球形，即第一按压圆头和第二按压圆头，进而能够减小因接触摩擦对闭锁部件222和开锁部件223表面的损伤。更进一步地，第一按压头9和第二按压头可以采用聚四氟乙烯的材料，该材料相比金属材料，具有自润滑功能，因此试验装置对待测口盖锁表面的损伤更小，进而提高了试验装置的耐用性和稳定性，也提高了最终评估的工作寿命的准确性。

在本实施例中，试验装置还包括旋转架、第一按压杆、第二按压杆，第一按压头和第二按压头；第一按压杆的一端与第一按压头之间螺纹连接，第一按压杆的另一端穿过旋转架与第一传感器的第一端连接；第一按压头用于在电机顺时针转动时按压待测口盖锁的开锁部件，以使待测口盖锁进行开锁动作；第二按压杆的一端与第二按压头之间螺纹连接，第二按压杆的另一端穿过旋转架与第二传感器的第一端连接；第二按压头用于在电机逆时针转动时按压待测口盖锁的闭锁部件，以使待测口盖锁进行闭锁动作。进一步地，本申请中利用电机旋转，从而控制第一按压头和第二按压头，进而对待测口盖锁进行开闭锁，节省了人力。

可选的，试验装置还包括U型架、第一调节组件和第二调节组件，U型架固定连接在旋转架之上，第一传感器的第二端与第一调节组件连接，第二传感器的第二端与第二调节组件连接。

在本实施例中，试验装置还包括U型架3、第一调节组件和第二调节组件，U型架3固定连接在旋转架1之上，第一传感器6的第二端与第一调节组件连接，第二传感器27的第二端与第二调节组件连接。第一调节组件用于调整第一传感器6、第一按压杆和第一按压头9之间的作用力，第二调节组件用于调整第二传感器27、第二按压杆和第二按压头之间的作用力。具体地，第一调节组件包括第一缓冲弹簧4和第一调节柱5，第二调节组件包括第二缓冲弹簧25和第二调节柱26。

一种可以实现的方式是，第一传感器6的第二端上安装第一垫片10，进而第一垫片10上安装第一缓冲弹簧4，第一缓冲弹簧4上再安装第一调节柱5。第二传感器27同理，第二传感器27的第二端上安装第二垫片，进而第二垫片上安装第二缓冲弹簧25，第二缓冲弹簧25上再安装第二调节柱26。

在安装和使用试验装置的过程中，可以通过旋拧第一调节柱5和第二调节柱26，进而对应地调节第一缓冲弹簧4和第二缓冲弹簧25的伸缩量，从而能够对应地调整第一传感器6、第一按压杆和第一按压头9之间的作用力，以及第二传感器27、第二按压杆和第二按压头之间的作用力。

本实施例中试验装置还包括U型架、第一调节组件和第二调节组件，U型架固定连接在旋转架之上，第一传感器的第二端与第一调节组件连接，第二传感器的第二端与第二调节组件连接。由于能够本实施例的试验装置中好包括第一调节组件和第二调节组件，因此在安装和使用试验装置时能够对试验装置进行调整，从而提高了试验装置的稳定性。

可选的，试验装置还包括第三传感器和传感器柱；传感器柱的第一端与第三传感器的第一端连接，且在待测口盖锁处于闭锁状态时，传感器柱的第二端与待测口盖锁的锁紧螺钉接触；第三传感器用于向测评系统发送与待测口盖锁接触时产生的接触力。

在本实施例中，试验装置还包括第三传感器和传感器柱。图8为本申请中试验装置的主视图。请参考图6和图8，传感器柱8的第一端与第三传感器28的第一端连接，且在待测口盖锁22处于闭锁状态时，传感器柱8的第二端与待测口盖锁22的锁紧螺钉221接触；第三传感器28用于向测评系统发送传感器柱8与待测口盖锁22接触时产生的接触力。

一种可以实现的方式是，在试验开始前，就将闭锁的待测口盖锁22放置于试验装置中，待测口盖锁22的锁紧螺钉221和传感器柱8的第二端接触。进而由于第三传感器9的第一端与第三传感器28的第一端连接，因此，第三传感器28能够周期性地获取传感器柱8与待测口盖锁22的锁紧螺钉221接触时产生的接触力，并将接触力发送给测评系统。

在开始试验后，第三传感器28仍然需要对该接触力进行实时的监测。测评系统通过监测接触力的变化来判断待测口盖锁工作性能是否退化。例如，正常情况下，待测口盖锁22在闭锁状态时，待测口盖锁22的锁紧螺钉221与传感器柱8的接触力应该在10牛顿左右，若待测口盖锁进行50次开闭锁动作后，接触力下降为5牛顿，则表示待测口盖锁工作性能存在退化或锁紧螺钉221存在松动。

在本实施例中试验装置还包括第三传感器和传感器柱；传感器柱的第一端与第三传感器的第一端连接，且在待测口盖锁处于闭锁状态时，传感器柱的第二端与待测口盖锁的锁紧螺钉接触；第三传感器用于向测评系统发送与待测口盖锁接触时产生的接触力。因此，本实施例中还能确定待测口盖锁的接触力，进而能够评估待测口盖锁的性能。

可选的，试验装置还包括第一夹具和第二夹具，第一夹具为U型结构，第三传感器的第二端与第一夹具连接；

第一夹具固定于第二夹具之上，锁紧螺钉穿过第二夹具的顶板后与传感器柱的第二端接触。

在本实施例中，请继续参考图6和图8。试验装置还包括第一夹具20和第二夹具21，第一夹具20为U型结构，第三传感器28的第二端与第一夹具20连接。第一夹具20固定于第二夹具21之上，锁紧螺钉221穿过第二夹具21的顶板后与传感器柱8的第二端接触。需要说明的是，第一夹具20和第二夹具21均是固定在底座24上，因此不会随着电机18的转动而转动。第一夹具20和第二夹具21为一个整体的结构。

本实施例中试验装置还包括第一夹具和第二夹具，第一夹具为U型结构，第三传感器的第二端与第一夹具连接；第一夹具固定于第二夹具之上，锁紧螺钉穿过第二夹具的顶板后与传感器柱的第二端接触。因此，本实施例能够确定传感器柱与待测口盖锁接触时产生的接触力，进而评估待测口盖锁的性能。

可选的，试验装置还包括第一转轴、第二转轴、第一轴承座、第二轴承座和联轴器；旋转架的两端分别连接第一转轴和第二转轴，第一转轴与第一轴承座连接，第二转轴与第二轴承座连接；第一转轴或第二转轴通过联轴器与电机连接。

请继续参考图6～图8，在本实施例中，试验装置还包括第一转轴19、第二转轴23、第一轴承座15、第二轴承座29和联轴器16。旋转架1的两端分别连接第一转轴30和第二转轴23，第一转轴19与第一轴承座15连接，第二转轴23与第二轴承座29连接。第一转轴19或第二转轴23通过联轴器16与电机18连接。具体地，本实施例中是第一转轴19通过联轴器16与电机18连接。

需要说明的是，待测口盖锁22的销轴224需要与第二转轴23在同一轴线上，从而保证第一按压头9始终与口盖锁的开锁控件223的表面垂直接触，第二按压头始终与口盖锁的闭锁控件222的表面垂直接触。

本实施例中试验装置还包括第一转轴、第二转轴、第一轴承座、第二轴承座和联轴器；旋转架的两端分别连接第一转轴和第二转轴，第一转轴与第一轴承座连接，第二转轴与第二轴承座连接；第一转轴或第二转轴通过联轴器与电机连接。因此，基于本实施例提供的试验装置，电机顺时针转动第一预设角度时待测口盖锁进行开锁动作，电机逆时针转动第二预设角度时待测口盖锁进行闭锁动作，从而评估待测口盖锁的工作寿命。

图9为本申请提供的评估系统的整体示意图，如图9所示。本申请提供的评估系统包括试验装置、测评系统和终端，终端使用工控机。测评系统包括模数转换电路、放大电路和电机驱动电路。

试验装置包括旋转架1、螺钉2、U型架3、第一缓冲弹簧4、第一调节柱5、第一传感器6、第一按压杆、螺母7、传感器柱8、第一按压头9、第一垫片10、轴承11、孔用挡圈12、紧定螺钉13、套筒14、第一轴承座15、联轴器16、电机座17、电机18、第一转轴19、第一夹具20、第二夹具21、待测口盖锁22、第二转轴23、底座24、第二缓冲弹簧25、第二调节柱26、第二传感器27、第二垫片、第二按压杆、第二按压头、第三传感器28、第二轴承座29。需要说明的是，试验装置中U型架3和旋转架1的结构可以采用其他结构形式，本实施例不做限制。

其中，第一传感器6、第二传感器27和第三传感器28均是力传感器，第一传感器6、第二传感器27、第三传感器28和电机18与测评系统电连接，测评系统和工控机电连接。

具体地，工控机用于图形界面的显示，便于人为控制。测控系统中的电机驱动电路用于根据工控机的指令控制、驱动电机，测控系统中的放大电路和模数转换电路用于接收3个力传感器(第一传感器6、第二传感器27和第三传感器28)采集的开闭锁力和接触力，并对采集到的开闭锁力和接触力进行放大处理和模数转换处理。

在安装试验装置时，第一按压杆与第一按压头9通过螺纹相连，然后第一按压杆的另一端穿过旋转架1的孔与第一传感器6通过螺纹相连。第一传感器6的另一端安装第一垫片10，第一垫片10上面安装第一缓冲弹簧4，第一缓冲弹簧4上继续安装第一调节柱5。同理安装第二传感器27，此处不再赘述。

进一步地，U型架3与旋转架1通过螺钉2相连。旋转架1的左右两端分别通过螺钉安装第一转轴19和第二转轴23。第一转轴19和第二转轴23分别通过轴承11、孔用挡圈12、紧定螺钉13、套筒14等零部件安装在第一轴承座15和第二轴承座29上。第一转轴19通过联轴器16与电机18相连。具体地，电机18为步进电机。

第三传感器28的一端安装传感器柱8，另一端通过螺母7与第一夹具20相连。第二夹具通过螺钉安装在底座24上。

安装好试验装置后，闭锁的待测口盖锁22通过螺钉安装在第二夹具21上。同时，可以人为调节待测口盖锁22的锁紧螺钉221，使锁紧螺钉221与传感器柱8之间存在一定的接触力，进而第三传感器28获取锁紧螺钉221与传感器柱8之间的接触力，并将接触力传至测控系统。例如，第三传感器28可以每秒获取10个接触力并将该10个接触力传至测控系统。

进一步，可以在工控机上设置待测口盖锁的试验频率，例如5次/min，并正式开始试验。测控系统接收到该试验频率后向试验装置发送第一驱动指令，进而电机18顺时针转动第一预设角度，待测口盖锁22的开锁部件223被按下，待测口盖锁22进行开锁动作。在此过程中，第一传感器6记录开锁动作中的开锁力，并实时发送给测控系统。

然后，电机18逆时针转动第二预设角度，待测口盖锁22的闭锁部件222被按下，待测口盖锁22进行闭锁动作。在此过程中，第二传感器27记录闭锁动作中的闭锁力，并实时发送给测控系统。

电机18顺时针和逆时针转动1次，算1次工作循环，测控系统会自动计数，并将待测口盖锁的开闭锁动作的总次数加一。

若第一传感器6或第二传感器27获取到的开闭锁力接近零时，则说明待测口盖锁弹簧断裂或出现故障，从而电机18会停止转动，待测口盖锁22的试验停止。

其中，工控机与测控系统进行通信，进而工控机上能够显示开闭锁动作的总次数及开闭锁力的最大值、最小值、平均值以及锁紧螺钉221与传感器柱8间的接触力变化情况。

更进一步的，对相同型号相同批次的n个待测口盖锁重复以上操作，能够对这一型号这一批次的待测口盖锁的工作寿命有一个更准确地评估。具体地，n个待测口盖锁中任意一个待测口盖锁的工作寿命可以通过式(1)计算进行评估。

目前对触发式口盖锁的开闭锁试验仍以人工操作为主，一些场景也正在尝试使用机器进行半自动操作，从而评估待测口盖锁的工作寿命。

然而目前的评估方法中，人工操作耗费人力，并且无法对待测口盖锁的开闭锁力进行准确地量化。半自动操作中，机器还需要在使用过程中加润滑油，然而润滑油会影响试验结果。并且，半自动操作中的试验参数也并不齐全，例如目前并未考虑到开闭锁力和接触力的监测。而本实施例提供的方法能够对待测口盖锁进行量化试验，并监测开闭锁动作过程中的开闭锁力，例如最大最小开锁力、最大最小闭锁力等等，具有广大的社会意义与经济价值。

应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的口盖锁的工作寿命评估方法的口盖锁的工作寿命评估装置。该口盖锁的工作寿命评估装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个口盖锁的工作寿命评估装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于口盖锁的工作寿命评估方法的限定，在此不再赘述。

图10为本申请实施例中口盖锁的工作寿命评估装置的结构框图，在本申请实施例中，如图10所示，提供了一种口盖锁的工作寿命评估装置，包括：发送模块1001、接收模块1002和评估模块1003，其中：

发送模块1001，用于测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制所述待测口盖锁进行开闭锁动作；

接收模块1002，用于所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

评估模块1003，用于若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

本实施例提供的口盖锁的工作寿命评估装置，通过测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作，进而，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力，从而若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。由于本实施例提供的方法无需再通过人工操作，通过测评系统和试验装置即可评估待测口盖锁的工作寿命，从而解决了目前口盖锁的工作寿命评估方法存在的耗费人力的问题，节约了人力。

更进一步地，本实施例提供的口盖锁的工作寿命评估方法也避免了人工操作导致的开锁力和闭锁力大小不一致的情况，从而解决了由于人工操作引起的最终的工作寿命不够准确的问题。

可选的，待测口盖锁的个数为多个，评估模块1003还包括：

第一确定单元，用于测评系统确定满足开闭锁动作停止条件之前，各待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，第一目标值为根据待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值。

第二确定单元，用于测评系统将比值作为待测口盖锁的工作寿命。

可选的，试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器，发送模块1001，具体用于测评系统向电机发送第一驱动指令，以控制电机顺时针转动第一预设角度时待测口盖锁进行开锁动作，并在电机逆时针转动第二预设角度时待测口盖锁进行闭锁动作。

可选的，接收模块1002，具体用于测评系统接收第一传感器发送的待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收第二传感器发送的待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

可选的，试验装置还包括旋转架、第一按压杆、第二按压杆、第一按压头和第二按压头；第一按压杆的一端与第一按压头之间螺纹连接，第一按压杆的另一端穿过旋转架与第一传感器的第一端连接；第一按压头用于在电机顺时针转动时按压待测口盖锁的开锁部件，以使待测口盖锁进行开锁动作；第二按压杆的一端与第二按压头之间螺纹连接，第二按压杆的另一端穿过旋转架与第二传感器的第一端连接；第二按压头用于在电机逆时针转动时按压待测口盖锁的闭锁部件，以使待测口盖锁进行闭锁动作。

可选的，试验装置还包括U型架、第一调节组件和第二调节组件，U型架固定连接在旋转架之上，第一传感器的第二端与第一调节组件连接，第二传感器的第二端与第二调节组件连接。

可选的，试验装置还包括第三传感器和传感器柱；传感器柱的第一端与第三传感器的第一端连接，且在待测口盖锁处于闭锁状态时，传感器柱的第二端与待测口盖锁的锁紧螺钉接触；第三传感器用于向测评系统发送传感器柱与待测口盖锁接触时产生的接触力。

可选的，试验装置还包括第一夹具和第二夹具，第一夹具为U型结构，第三传感器的第二端与第一夹具连接；第一夹具固定于第二夹具之上，锁紧螺钉穿过第二夹具的顶板后与传感器柱的第二端接触。

可选的，试验装置还包括第一转轴、第二转轴、第一轴承座、第二轴承座和联轴器；旋转架的两端分别连接第一转轴和第二转轴，第一转轴与第一轴承座连接，第二转轴与第二轴承座连接；第一转轴或第二转轴通过联轴器与电机连接。

上述口盖锁的工作寿命评估装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

图11本申请实施例中计算机设备的内部结构图，在本申请实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图11所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种口盖锁的工作寿命评估方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图11中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

所述测评系统向所述试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制所述待测口盖锁进行开闭锁动作；

所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

所述测评系统确定满足所述开闭锁动作停止条件之前，各所述待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，所述第一目标值为根据所述待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值；

所述测评系统将所述比值作为所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

所述测评系统向所述电机发送所述第一驱动指令，以控制所述电机顺时针转动第一预设角度时所述待测口盖锁进行开锁动作，并在所述电机逆时针转动第二预设角度时所述待测口盖锁进行闭锁动作。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

所述测评系统接收所述第一传感器发送的所述待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收所述第二传感器发送的所述待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

所述测评系统向所述试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制所述待测口盖锁进行开闭锁动作；

所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统确定满足所述开闭锁动作停止条件之前，各所述待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，所述第一目标值为根据所述待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值；

所述测评系统将所述比值作为所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统向所述电机发送所述第一驱动指令，以控制所述电机顺时针转动第一预设角度时所述待测口盖锁进行开锁动作，并在所述电机逆时针转动第二预设角度时所述待测口盖锁进行闭锁动作。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统接收所述第一传感器发送的所述待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收所述第二传感器发送的所述待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

所述测评系统向所述试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制所述待测口盖锁进行开闭锁动作；

所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统确定满足所述开闭锁动作停止条件之前，各所述待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，所述第一目标值为根据所述待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值；

所述测评系统将所述比值作为所述待测口盖锁的工作寿命。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统向所述电机发送所述第一驱动指令，以控制所述电机顺时针转动第一预设角度时所述待测口盖锁进行开锁动作，并在所述电机逆时针转动第二预设角度时所述待测口盖锁进行闭锁动作。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

所述测评系统接收所述第一传感器发送的所述待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收所述第二传感器发送的所述待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

需要说明的是，本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (12)

1.一种口盖锁的工作寿命评估方法，其特征在于，用于评估系统，所述评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统；所述方法包括：

所述测评系统向所述试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制所述待测口盖锁进行开闭锁动作；

所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测口盖锁的个数为多个；所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命，包括：

所述测评系统确定满足所述开闭锁动作停止条件之前，各所述待测口盖锁进行的开闭锁动作的总次数之和与第一目标值的比值，其中，所述第一目标值为根据所述待测口盖锁的个数与预设分散系数的乘积结果确定的数值；

所述测评系统将所述比值作为所述待测口盖锁的工作寿命。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试验装置包括电机、第一传感器和第二传感器，所述测评系统向所述试验装置发送第一驱动指令，包括：

所述测评系统向所述电机发送所述第一驱动指令，以控制所述电机顺时针转动第一预设角度时所述待测口盖锁进行开锁动作，并在所述电机逆时针转动第二预设角度时所述待测口盖锁进行闭锁动作；

所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力，包括：

所述测评系统接收所述第一传感器发送的所述待测口盖锁进行开锁动作时对应的开锁力，并接收所述第二传感器发送的所述待测口盖锁进行闭锁动作时对应的闭锁力。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述试验装置还包括旋转架、第一按压杆、第二按压杆、第一按压头和第二按压头；

所述第一按压杆的一端与所述第一按压头之间螺纹连接，所述第一按压杆的另一端穿过所述旋转架与所述第一传感器的第一端连接；所述第一按压头用于在所述电机顺时针转动时按压所述待测口盖锁的开锁部件，以使所述待测口盖锁进行开锁动作；

所述第二按压杆的一端与所述第二按压头之间螺纹连接，所述第二按压杆的另一端穿过所述旋转架与所述第二传感器的第一端连接；所述第二按压头用于在所述电机逆时针转动时按压所述待测口盖锁的闭锁部件，以使所述待测口盖锁进行闭锁动作。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述试验装置还包括U型架、第一调节组件和第二调节组件，所述U型架固定连接在所述旋转架之上，所述第一传感器的第二端与所述第一调节组件连接，所述第二传感器的第二端与所述第二调节组件连接。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述试验装置还包括第三传感器和传感器柱；所述传感器柱的第一端与所述第三传感器的第一端连接，且在所述待测口盖锁处于闭锁状态时，所述传感器柱的第二端与所述待测口盖锁的锁紧螺钉接触；所述第三传感器用于向所述测评系统发送所述传感器柱与所述待测口盖锁接触时产生的接触力。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述试验装置还包括第一夹具和第二夹具，所述第一夹具为U型结构，所述第三传感器的第二端与所述第一夹具连接；

所述第一夹具固定于所述第二夹具之上，所述锁紧螺钉穿过所述第二夹具的顶板后与所述传感器柱的第二端接触。

8.根据权利要求4-7任一项所述的方法，其特征在于，所述试验装置还包括第一转轴、第二转轴、第一轴承座、第二轴承座和联轴器；所述旋转架的两端分别连接所述第一转轴和第二转轴，所述第一转轴与所述第一轴承座连接，所述第二转轴与所述第二轴承座连接；

所述第一转轴或所述第二转轴通过所述联轴器与所述电机连接。

9.一种口盖锁的工作寿命评估装置，其特征在于，所述装置包括：

发送模块，用于测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，所述第一驱动指令用于指示所述试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作；

接收模块，用于所述测评系统接收所述试验装置发送的所述开闭锁动作对应的开闭锁力；

评估模块，用于若所述开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则所述测评系统根据满足所述开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估所述待测口盖锁的工作寿命。

10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

12.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

Images