CN114959967B - 一种光电器件的电气设计参数校准方法及相关装置 - Google Patents

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CN114959967B CN202210461589.XA CN202210461589A CN114959967B CN 114959967 B CN114959967 B CN 114959967B CN 202210461589 A CN202210461589 A CN 202210461589A CN 114959967 B CN114959967 B CN 114959967B
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Abstract

本申请公开了一种光电器件的电气设计参数校准方法，涉及细纱机单锭检测技术领域，该电气设计参数校准方法通过综合分析参考锭速、测量锭速与光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否需要调整发射光强，并在需要调整发射光强时，自动进行发射光强调整，以此实现光电器件的电气设计参数的自动校准，克服光电器件特性参数离散性大的问题，提高光电器件用于测速时的检测准确率。本申请还公开了一种光电器件的电气设计参数校准装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。

Description

一种光电器件的电气设计参数校准方法及相关装置
技术领域
本申请涉及细纱机单锭检测技术领域，特别涉及一种光电器件的电气设计参数校准方法；还涉及一种光电器件的电气设计参数校准装置、设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
细纱机单锭在线检测系统主要通过安装在每个锭子上的磁性传感器或者光电传感器来检测环锭纺中钢丝圈的运转速度，评估细纱机各个锭子的运转情况，进而判断纱线是否存在断线、弱捻、不良锭子等，并当存在时予以示警。由于一些红外线光电器件技术参数的一致性较差，以及电磁干扰、室内光照、钢丝圈新旧程度、钢领环大小、钢领板宽度等扰动因素的存在，导致一些光电式细纱机单锭检测系统的误报率较高，给工程化应用带来了技术难度。
有鉴于此，如何提高检测准确率已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种光电器件的电气设计参数校准方法，能够光电器件用于测速时的检测准确率。本申请的另一个目的是提供一种光电器件的电气设计参数校准装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
为解决上述技术问题，本申请提供了一种光电器件的电气设计参数校准方法，包括：
获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
采集锭子转速，得到量测锭速；
根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；
若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
可选的，所述根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识包括：
对所述参考锭速与所述量测锭速进行双总体t校验，得到t校验统计量；
比较所述t校验统计量的绝对值与临界值的大小；
若所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值，且所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值的次数超出预设次数，则激活所述器件参数存疑标识。
可选的，所述根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强包括：
选取所述电平的中位数；
判断所述中位数是否位于预设区间内；
若所述中位数位于所述预设区间内，则保持所述发射器件的发射光强不变；
若所述中位数位于所述预设区间外，则调整所述发射器件的发射光强。
可选的，所述根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强包括：
根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强。
可选的，所述根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强包括：
当所述接收器件为光敏三极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈正相关；
当所述接收器件为光敏二极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈负相关。
可选的，所述获取前罗拉脉冲数包括：
获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数；
比较所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数；
若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于预设偏差区间内，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的均值作为所述前罗拉脉冲数；
若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于所述预设偏差区间外，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数中的最大值作为所述前罗拉脉冲数。
可选的，所述获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数包括：
连续测量左前罗拉，得到I个左前罗拉脉冲数值；I为正整数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况满足第一预设条件，则以I个所述左前罗拉脉冲数值的均值作为所述左前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第一预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述左前罗拉脉冲数；
连续测量右前罗拉，得到J个右前罗拉脉冲数值；J为正整数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况满足第二预设条件，则以J个所述右前罗拉脉冲数值的均值作为所述右前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第二预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述右前罗拉脉冲数。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种光电器件的电气设计参数校准装置，包括：
参考锭速获取模块，用于获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
量测锭速获取模块，用于采集锭子转速，得到量测锭速；
第一判断模块，用于根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；
第二判断模块，用于若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
调整模块，用于若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种光电器件的电气设计参数校准设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的光电器件的电气设计参数校准方法的步骤。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述的光电器件的电气设计参数校准方法的步骤。
本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准方法，包括：获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；采集锭子转速，得到量测锭速；根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识：若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
可见，本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准方法，通过分析参考锭速、测量锭速与光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否需要调整发射光强，并在需要调整发射光强时，自动进行发射光强调整，以此实现光电器件的电气设计参数的自动校准，克服光电器件特性参数离散性大的问题，提高光电器件用于测速时的检测准确率。并且，本申请首先对参考锭速、测量锭速进行分析，并在激活器件参数存疑标识的前提下，以采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据，判断是否需要调整发射光强，较之单一以光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据的判别方式，本申请可以有效减少误判率。
本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准装置、设备以及计算机可读存储介质均具有上述技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准方法的流程示意图；
图2为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准流程图；
图3为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准装置的示意图；
图4为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准设备的示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种光电器件的电气设计参数校准方法，能够光电器件用于测速时的检测准确率。本申请的另一个核心是提供一种光电器件的电气设计参数校准装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准方法的流程示意图，参考图1所示，该方法主要包括：
S101：获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
针对红外光电器件的特性参数(例如，光辐射强度)的一致性较差的问题，本实施例基于STM32、GD32等微控制器，提供了一种用于红外光电测速的光电器件的电气设计参数校准方法，通过自动校准电气设计参数，克服光电器件特性参数离散性大的问题，提高光电器件用于测速时的检测准确率。
前罗拉脉冲数是指前罗拉转动过程中单位时间内产生的脉冲数。在获得前罗拉脉冲数的基础上，根据公式nref＝Fr×60×Tw×Dr×3.14/Kinch2mm/Nr估计锭速，得到参考锭速。上式中，nref为参考锭速，单位为rpm；Fr为前罗拉脉冲数，单位为Hz；Tw为设计捻度，单位为T/inch；Dr为左侧或右侧前罗拉直径，单位为mm；常数Kinch2mm＝25.4，(1英寸＝25.4毫米)；Nr为左侧或右侧前罗拉测速齿数。
在一些实施例中，所述获取前罗拉脉冲数的方式为：获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数；比较所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数；若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于预设偏差区间内，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的均值作为所述前罗拉脉冲数；若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于所述预设偏差区间外，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数中的最大值作为所述前罗拉脉冲数。
具体而言，可分别通过传感器测量左前罗拉得到左前罗拉脉冲数，测量右前罗拉得到右前罗拉脉冲数。在此基础上，采用交叉验证的方式，确定前罗拉脉冲数。假设左前罗拉与右前罗拉的测速齿数一致。如果左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数相近，那么以左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数的均值作为前罗拉脉冲数。如果左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数相差较大，那么取二者中的较大值作为前罗拉脉冲数。同时，在左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数相差较大时，还可进行示警，以便排查传感器安装位置、传感器损坏等因素。
其中，所述获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数的方式可以为：
连续测量左前罗拉，得到I个左前罗拉脉冲数值；I为正整数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况满足第一预设条件，则以I个所述左前罗拉脉冲数值的均值作为所述左前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第一预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述左前罗拉脉冲数；
连续测量右前罗拉，得到J个右前罗拉脉冲数值；J为正整数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况满足第二预设条件，则以J个所述右前罗拉脉冲数值的均值作为所述右前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第二预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述右前罗拉脉冲数。
具体而言，本实施例采取连续多次测量、比较的方式进行消抖，以确保左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数的准确性。对于连续测量得到的I个左前罗拉脉冲数值，如果I个主轴脉冲数值的波动较小，则以I个所述左前罗拉脉冲数值的均值作为所述左前罗拉脉冲数。如果I个左前罗拉脉冲数值的波动较大，则以上一次测量的波动较小的I个左前罗拉脉冲数值的均值作为本次测量的左前罗拉脉冲数。
其中，确定I个左前罗拉脉冲数值的波动情况的方式可以为计算I个左前罗拉脉冲数值的方差，以此方差来反映I个左前罗拉脉冲数值的波动情况。第一预设条件可以为I个主轴脉冲数值的方差位于预设的某个区间内。
对于连续测量得到的J个右前罗拉脉冲数值，如果J个主轴脉冲数值的波动较小，则以J个所述右前罗拉脉冲数值的均值作为所述右前罗拉脉冲数。如果J个右前罗拉脉冲数值的波动较大，则以上一次测量的波动较小的J个右前罗拉脉冲数值的均值作为本次测量的右前罗拉脉冲数。
同样，确定J个右前罗拉脉冲数值的波动情况的方式可以为计算J个右前罗拉脉冲数值的方差，以此方差来反映J个右前罗拉脉冲数值的波动情况。相应的，第二预设条件可以为J个主轴脉冲数值的方差位于预设的某个区间内。
S102：采集锭子转速，得到量测锭速；
S103：根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识：
采集锭子转速的方式，本申请不做赘述，可以参考现有的任意一种锭子转速的采集方式。在得到参考锭速与量测锭速的基础上，进一步对所述参考锭速与所述量测锭速进行统计分析，判断是否激活器件参数存疑标识。
在一些实施例中，所述根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识的方式为：对所述参考锭速与所述量测锭速进行双总体t校验，得到t校验统计量；比较所述t校验统计量的绝对值与临界值的大小；若所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值，且所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值的次数超出预设次数(图2中所示M)，则激活所述器件参数存疑标识。
具体而言，假设参考锭速与量测锭速两个总体分别服从
Figure BDA0003622354120000071
Figure BDA0003622354120000072
参考锭速与量测锭速的样本序列长度分别为n1，n2。
本实施例采用点估计对总体参数进行估计，即H0假设(样本均值与总体均值相等)成立。计算样本偏离样本均值的标准差以衡量样本序列的离散程度。
样本均值分别为：
Figure BDA0003622354120000081
样本标准差分别为：
Figure BDA0003622354120000082
采用双总体t检验方案，根据样本序列计算t校验统计量的绝对值：
Figure BDA0003622354120000083
如果
Figure BDA0003622354120000084
Figure BDA0003622354120000085
为临界值，α为检测水平，那么判定为离群，且当连续判定为离群的次数超过预设次数时，激活器件参数存疑标识。反之，样本序列滚动一步，并重复上述操作。
S104：若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
S105：若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
器件参数存疑标识是调整发射器件的发射光强的重要前提。若仅以采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据，判断是否需要调整发射器件的发射光强，可能在存在外部扰动时，引起误调，影响光电式单锭检测系统的可靠性与稳定性。为此，本实施例首先对参考锭速与所述量测锭速进行统计分析，然后在激活器件参数存疑标识的基础上，根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否需要调整所述光电器件中发射器件的发射光强，并在需要调整所述光电器件中发射器件的发射光强时，根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。如果器件参数存疑标识没有激活，则保持当前的发射光强不变。
其中，根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强的方式可以为：
选取所述电平的中位数；
判断所述中位数是否位于预设区间内；
若所述中位数位于所述预设区间内，则保持所述发射器件的发射光强不变；
若所述中位数位于所述预设区间外，则调整所述发射器件的发射光强。
具体而言，结合图2所示，通过ADC模拟数字转换器对接收器件的输入引脚电平进行采样，得到L个电压样本。对L个电压样本进行冒泡排序。当L为偶数时，中位数为第L/2-1个样本与第L/2个样本的平均值；当L为奇数时，中位数为第(L+1)/2个样本的电压。
在激活器件参数存疑标识的情况下，如果所选取的中位数位于预设区间内，则保持当前的发射光强不变；如果所选取的中位数位于预设区间外，则调整发射器件的发射光强。
另外，所述根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强的方式可以为：根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强。
在一些实施例中，根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强的方式为：
当所述接收器件为光敏三极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈正相关；
当所述接收器件为光敏二极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈负相关。
具体而言，当光电器件的接收管采用光敏三极管时，如果中位数偏大，则逐步增加DAC的模拟输出值，从而逐步提高发射管的发射光强。如果中位数偏小，则逐步减少DAC的模拟输出值，从而逐步降低发射管的发射光强。当光电器件的接收管采用光敏二极管时，如果中位数偏大，则逐步减少DAC的模拟输出值，以逐步降低发射管的发射光强。如果中位数偏小，则逐步增加DAC的模拟输出值，从而逐步提高发射管的发射光强。
综上所述，本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准方法，通过分析参考锭速、测量锭速与光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否需要调整发射光强，并在需要调整发射光强时，自动进行发射光强调整，以此实现光电器件的电气设计参数的自动校准，克服光电器件特性参数离散性大的问题，提高光电器件用于测速时的检测准确率。并且，本申请首先对参考锭速、测量锭速进行分析，并在激活器件参数存疑标识的前提下，以采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据，判断是否需要调整发射光强，较之单一以光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据的判别方式，本申请可以有效减少误判率。
本申请还提供了一种光电器件的电气设计参数校准装置，下文描述的该装置可以与上文描述的方法相互对应参照。请参考图3，图3为本申请实施例所提供的一种光电器件的电气设计参数校准装置的示意图，结合图3所示，该装置包括：
参考锭速获取模块10，用于获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
量测锭速获取模块20，用于采集锭子转速，得到量测锭速；
第一判断模块30，用于根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；
第二判断模块40，用于若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
调整模块50，用于若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，第一判断模块30包括：
统计分析单元，用于对所述参考锭速与所述量测锭速进行双总体t校验，得到t校验统计量；
比较单元，用于比较所述t校验统计量的绝对值与临界值的大小；
激活单元，用于若所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值，且所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值的次数超出预设次数，则激活所述器件参数存疑标识。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，第二判断模块40包括：
选取单元，用于选取所述电平的中位数；
判断单元，用于判断所述中位数是否位于预设区间内；
确定单元，用于若所述中位数位于所述预设区间内，则保持所述发射器件的发射光强不变；若所述中位数位于所述预设区间外，则调整所述发射器件的发射光强。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，调整模块50具体用于：
根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，调整模块50包括：
第一调整单元，用于当所述接收器件为光敏三极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈正相关；
第二调整单元，用于当所述接收器件为光敏二极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈负相关。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，参考锭速获取模块10包括：
前罗拉脉冲数获取单元，用于获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数；
前罗拉脉冲数比较单元，用于比较所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数；
前罗拉脉冲数确定单元，用于若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于预设偏差区间内，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的均值作为所述前罗拉脉冲数；若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于所述预设偏差区间外，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数中的最大值作为所述前罗拉脉冲数。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，前罗拉脉冲数获取单元包括：
第一测量子单元，用于连续测量左前罗拉，得到I个左前罗拉脉冲数值；I为正整数；
第一分析子单元，用于若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况满足第一预设条件，则以I个所述左前罗拉脉冲数值的均值作为所述左前罗拉脉冲数；若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第一预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述左前罗拉脉冲数；
第二测量子单元，用于连续测量右前罗拉，得到J个右前罗拉脉冲数值；J为正整数；
第二分析子单元，用于若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况满足第二预设条件，则以J个所述右前罗拉脉冲数值的均值作为所述右前罗拉脉冲数；若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第二预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述右前罗拉脉冲数。
本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准装置，通过分析参考锭速、测量锭速与光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否需要调整发射光强，并在需要调整发射光强时，自动进行发射光强调整，以此实现光电器件的电气设计参数的自动校准，克服光电器件特性参数离散性大的问题，提高光电器件用于测速时的检测准确率。并且，本申请首先对参考锭速、测量锭速进行分析，并在激活器件参数存疑标识的前提下，以采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据，判断是否需要调整发射光强，较之单一以光电器件中接收器件的输入引脚的电平为依据的判别方式，本申请可以有效减少误判率。
本申请还提供了一种光电器件的电气设计参数校准设备，参考图4所示，该设备包括存储器1和处理器2。
存储器1，用于存储计算机程序；
处理器2，用于执行计算机程序实现如下的步骤：
获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；采集锭子转速，得到量测锭速；根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
对于本申请所提供的设备的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。
本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下的步骤：
获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；采集锭子转速，得到量测锭速；根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强。
该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
对于本申请所提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备以及计算机可读存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本申请所提供的光电器件的电气设计参数校准方法、装置、设备以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种光电器件的电气设计参数校准方法，其特征在于，包括：
获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
采集锭子转速，得到量测锭速；
根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；
若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
所述根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识包括：
对所述参考锭速与所述量测锭速进行双总体t校验，得到t校验统计量；
比较所述t校验统计量的绝对值与临界值的大小；
若所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值，且所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值的次数超出预设次数，则激活所述器件参数存疑标识；
所述根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强包括：
选取所述电平的中位数；
判断所述中位数是否位于预设区间内；
若所述中位数位于所述预设区间内，则保持所述发射器件的发射光强不变；
若所述中位数位于所述预设区间外，则调整所述发射器件的发射光强；
所述根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强包括：
根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强。
2.根据权利要求1所述的电气设计参数校准方法，其特征在于，所述根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强包括：
当所述接收器件为光敏三极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈正相关；
当所述接收器件为光敏二极管时，根据所述中位数的大小调整所述发射器件的发射光强；所述发射器件的发射光强与所述中位数呈负相关。
3.根据权利要求1所述的电气设计参数校准方法，其特征在于，所述获取前罗拉脉冲数包括：
获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数；
比较所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数；
若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于预设偏差区间内，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的均值作为所述前罗拉脉冲数；
若所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数的偏差位于所述预设偏差区间外，则以所述左前罗拉脉冲数与所述右前罗拉脉冲数中的最大值作为所述前罗拉脉冲数。
4.根据权利要求3所述的电气设计参数校准方法，其特征在于，所述获取左前罗拉脉冲数与右前罗拉脉冲数包括：
连续测量左前罗拉，得到I个左前罗拉脉冲数值；I为正整数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况满足第一预设条件，则以I个所述左前罗拉脉冲数值的均值作为所述左前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的I个所述左前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第一预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述左前罗拉脉冲数；
连续测量右前罗拉，得到J个右前罗拉脉冲数值；J为正整数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况满足第二预设条件，则以J个所述右前罗拉脉冲数值的均值作为所述右前罗拉脉冲数；
若连续测量得到的J个所述右前罗拉脉冲数值的波动情况不满足所述第二预设条件，则以上一次计算得到的所述均值作为所述右前罗拉脉冲数。
5.一种光电器件的电气设计参数校准装置，其特征在于，包括：
参考锭速获取模块，用于获取前罗拉脉冲数，并根据所述前罗拉脉冲数计算得到参考锭速；
量测锭速获取模块，用于采集锭子转速，得到量测锭速；
第一判断模块，用于根据所述参考锭速与所述量测锭速，判断是否激活器件参数存疑标识；
第二判断模块，用于若激活所述器件参数存疑标识，则根据采集的光电器件中接收器件的输入引脚的电平，判断是否调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
调整模块，用于若调整所述光电器件中发射器件的发射光强，则根据光电器件中接收器件的输入引脚的电平，调整所述光电器件中发射器件的发射光强；
第一判断模块包括：
统计分析单元，用于对所述参考锭速与所述量测锭速进行双总体t校验，得到t校验统计量；
比较单元，用于比较所述t校验统计量的绝对值与临界值的大小；
激活单元，用于若所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值，且所述t校验统计量的绝对值大于所述临界值的次数超出预设次数，则激活所述器件参数存疑标识；
第二判断模块包括：
选取单元，用于选取所述电平的中位数；
判断单元，用于判断所述中位数是否位于预设区间内；
确定单元，用于若所述中位数位于所述预设区间内，则保持所述发射器件的发射光强不变；若所述中位数位于所述预设区间外，则调整所述发射器件的发射光强；
调整模块具体用于：
根据所述接收器件的类型与所述中位数的大小，调整所述发射器件的发射光强。
6.一种光电器件的电气设计参数校准设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的光电器件的电气设计参数校准方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的光电器件的电气设计参数校准方法的步骤。
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