CN114895129A - 一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质，涉及电子电气产品的技术领域，其方法包括以下步骤：获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。本申请具有有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力的效果。

Description

一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质

技术领域

本申请涉及电子电气产品的技术领域，尤其是涉及一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质。

背景技术

保护装置是防止主电源线路因过载导致保护器损坏而加装的过载保护设备。一般来讲，保护装置包括有过温保护装置、过流保护装置、过压保护装置等。

在对电子电气产品进行质量检测时，保护装置的测试必不可少，现有技术中对保护装置的测试是将产品置于单一的模拟过载环境下，检测产品是否能够实现过载保护，输出保护装置有效/无效的测试结果。

针对上述中的相关技术，发明人认为将保护装置置于单一的模拟过载环境下进行过载检测，由于一些产品内部设置有多种保护装置，不能判断其中某一个保护装置是否可靠，同时测试结果较为单调，不能准确的评估产品的过载保护能力。

发明内容

为了有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力，本申请提供一种保护装置过载智能测试方法、系统、终端及存储介质。

第一方面，本申请提供一种保护装置过载智能测试方法，采用如下的技术方案：

一种保护装置过载智能测试方法，包括以下步骤：

获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；

基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；

基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；

基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；

基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。

通过采用上述技术方案，获取保护装置信息来确定测试样品中包括的保护装置，针对不同的保护装置构建不同的测试方案，根据不同的测试方案采用不用的测试环境来对保护装置进行过载测试，能够针对性地对每个保护装置进行测试，较为全面；在得到测试结果之后，根据测试结果评估测试样品的过载保护等级，能够从过载保护等级上直观体现出测试样品中保护装置的过载保护能力；最终形成检测报告，方便查看保护装置的测试过程和测试结果。相较于现有技术中较为单调的测试方法，本申请能够有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力。

可选的，所述保护装置信息包括保护装置种类和保护装置数量，所述获取所述测试样品的保护装置信息包括以下步骤：

获取所述测试样品的原始信息；

获取所述测试样品的实物信息；

基于所述原始信息和所述实物信息确定所述测试样品的保护装置种类和保护装置数量。

通过采用上述技术方案，根据实物信息对原始信息进行核对，能够确定测试样品中的保护装置信息，

可选的，所述基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果包括以下步骤：

基于所述测试方案获取第i保护装置；

基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境；

基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果；

其中，i为大于等于1的整数。

通过采用上述技术方案，针对不同的保护装置构建对应的测试环境，提高了过载测试的准确性。

可选的，当i大于1时，所述基于所述第i保护装置构建第i测试环境包括以下步骤：

获取已经完成过载测试的保护装置；

将所述已经完成过载测试的保护装置从所述测试样品中移除；

基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境。

通过采用上述技术方案，减少了不同保护装置之间的影响，进一步提高了过载测试的准确性。

可选的，所述基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果包括以下步骤：

基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试；

测试所述第i保护装置是否起到保护作用；

若起到保护作用，则得到所述第i保护装置有效的第i测试结果；

若未起到保护作用，则得到所述第i保护装置无效的第i测试结果。

可选的，所述基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级包括以下步骤：

获取初始过载保护等级j；

获取所述第i测试结果；

若得到所述第i保护装置无效的第i测试结果，则不做任何处理；

若得到所述第i保护装置有效的第i测试结果，则更新所述初始过载保护等级j=j+1；

直至所有所述保护装置测试完成，将更新完成的初始过载保护等级作为所述测试样品的过载保护等级。

通过采用上述技术方案，根据测试结果获取过载保护等级，通过过载保护等级能够直观的表现出测试样品的过载保护能力，十分方便。

第二方面，本申请还提供一种保护装置过载智能测试系统，采用如下的技术方案：

一种保护装置过载智能测试系统，其特征在于，包括获取模块、构建模块、测试模块、评级模块以及输出模块；

所述获取模块，用于获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；

所述构建模块，用于基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；

所述测试模块，用于基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；

所述评级模块，用于基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；

所述输出模块，用于基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。

通过采用上述技术方案，获取模块获取保护装置信息来确定测试样品中包括的保护装置，构建模块针对不同的保护装置构建不同的测试方案，测试模块根据不同的测试方案采用不用的测试环境来对保护装置进行过载测试，能够针对性地对每个保护装置进行测试，较为全面；在得到测试结果之后，评级模块根据测试结果评估测试样品的过载保护等级，能够从过载保护等级上直观体现出测试样品中保护装置的过载保护能力；最终输出模块形成检测报告，方便查看保护装置的测试过程和测试结果。相较于现有技术中较为单调的测试方法，本申请能够有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力。

第三方面，本申请提供一种终端设备，采用如下的技术方案：

一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在存储器中并能够在处理器上运行的计算机程序，所述处理器加载并执行计算机程序时，采用了上述的一种保护装置过载智能测试方法。

通过采用上述技术方案，通过将上述的一种保护装置过载智能测试方法生成计算机程序，并存储于存储器中，以被处理器加载并执行，从而，根据存储器及处理器制作终端设备，方便使用。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，采用了上述的一种保护装置过载智能测试方法。

通过采用上述技术方案，通过将上述的一种保护装置过载智能测试方法生成计算机程序，并存储于计算机可读存储介质中，以被处理器加载并执行，通过计算机可读存储介质，方便计算机程序的可读及存储。

附图说明

图1是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法的整体流程示意图。

图2是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中步骤S201-步骤S203的流程示意图。

图3是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中检测系统的连接示意图。

图4是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中步骤S301-步骤S303的流程示意图。

图5是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中步骤S401-步骤S403的流程示意图。

图6是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中步骤S501-步骤S503的流程示意图。

图7是本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法中步骤S601-步骤S605的流程示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种保护装置过载智能测试方法，参照图1，包括以下步骤：

S101、获取测试样品和测试样品的保护装置信息；

S102、基于保护装置信息确定保护装置，并确定与保护装置对应的测试方案；

S103、基于测试方案对测试样品执行过载测试，得到所有保护装置的测试结果；

S104、基于测试结果获取测试样品的过载保护等级；

S105、基于保护装置信息和过载保护等级生成检测报告。

其中，步骤S101，获取测试样品，确定测试样品的型号，根据测试样品的型号获取测试样品的保护装置信息。保护装置有多种类型，例如过温保护装置、过压/欠压保护装置、过流保护装置、电路保护装置、软件保护装置等。在本实施例中，保护装置信息包括保护装置种类和保护装置数量，可以通过保护装置信息来确定测试样品中的保护装置。参照图2，获取保护装置信息包括以下步骤：

S201、获取测试样品的原始信息；

S202、获取测试样品的实物信息；

S203、基于原始信息和实物信息确定测试样品的保护装置种类和保护装置数量。

具体地，原始信息为厂家标注的测试样品中包括的保护装置信息，测试样品的原始信息可以通过产品使用说明书以及产品电路设计图来获得。

例如，测试样品为快充适配器，使用说明书或者产品电路设计图中，厂家标注快充适配器包括过温保护装置和过流保护装置。

具体地，实物信息是工作人员通过产品实物来获得的保护装置信息，工作人员可以对测试样品进行拆解处理，以确定测试样品中的保护装置与厂家标注的保护装置种类和保护装置数量是否一致。

同样以快充适配器为例，通过对快充适配器进行拆解，根据产品电路设计图在快充适配器内找到NTC热敏电阻器和电流保险丝，即可确定快充适配器内保护装置种类分别为过温保护装置（NTC热敏电阻器）和过流保护装置（电流保险丝），保护装置数量分别为一个。

步骤S102，根据保护装置种类和保护装置数量即可确定测试样品中的具体保护装置，同时根据保护装置来确定针对保护装置的测试方案。例如，快充适配器内包括过温保护装置和过流保护装置，则测试方案设置有三个，分别为针对过温保护装置的第一测试方案，针对过流保护装置的第二测试方案以及去除掉过温保护装置和过流保护装置的第三测试方案。设计第三测试方案的目的是，将所有标注的保护装置全部移除之后，确定是否还存在其他保护装置能够在过载测试中对测试样品进行保护，一般来讲，存在其他保护装置的这种可能性较小。

在本实施例中，预设有检测系统，根据测试方案以及检测系统来构建测试样品中的保护装置的测试环境。参照图3，检测系统包括直流/交流电源、漏电保护开关插座、高精度功率计测试仪、防爆箱、故障实施开关以及AC/DC电子负载。

其中，直流/交流电源用于为不同供电类型的测试样品进行供电，并且可以调整针对测试样品最严酷的电压、频率等条件；漏电保护开关插座用于对整个测试系统进行保护；高精度功率计测试仪用于实时监测测试样品的工作状态，工作人员可以通过获取的电流、电压等数据了解测试样品的工作情况；防爆箱用于放置测试样品，减少测试样品在过载测试过程中的危险性，同时在防爆箱的一侧设置有防爆玻璃作为观察面，方便工作人员观察测试情况；故障实施开关用于根据测试方案对保护装置进行故障短路或者开路操作；AC/DC电子负载可以调整，从而与直流/交流电源配合构建过载测试环境。

步骤S103中，根据不同的测试方案来调整检测系统，构建对应的测试环境，在构建的测试环境中进行过载测试，以得到每个保护装置的测试结果。参照图4，包括以下步骤：

S301、基于测试方案获取第i保护装置；

S302、基于第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境；

S303、基于第i测试环境对测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果；

其中，i为大于等于1的整数。

例如，首先是针对快充适配器的过温保护装置的过载测试，将过温保护装置作为第一保护装置，第一测试方案是将快充适配器放置在防爆箱内，将快充适配器连接在检测系统构建的电路中，控制电路导通，同时将防爆箱内的温度升高到预设的温度阈值，来构建第一测试环境，对测试样品进行过载测试，得到过温保护装置的第一测试结果。

当需要对快充适配器的过流保护装置进行过载测试时，将过流保护装置作为第二保护装置，第二测试方案为将快充适配器放置在防爆箱内，将快充适配器连接在检测系统构建的电路中，控制电路导通，通过调整直流电压和DC电子负载，为快充适配器提供高电流，构建第二测试环境，对测试样品进行过载测试，得到过流保护装置的第二测试结果。

值得一提的是，在本实施例的另一实施方式中，为了获得更加准确的测试结果，i大于1时，即测试样品的保护装置种类大于等于2，对第一保护装置的过载测试完成后，将已经测试完成的第一保护装置从测试样品中移除，再针对剩余的保护装置进行过载测试。参照图，具体包括以下步骤：

S401、获取已经完成过载测试的保护装置；

S402、将已经完成过载测试的保护装置从测试样品中移除；

S403、基于第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境。

例如，若首先对过温保护装置进行过载测试，则在过载测试完成以后，移除快充适配器中的NTC热敏电阻器，再针对过流保护装置构建测试环境，进行过载测试；或者，若首先对过流保护装置进行过载测试，则在过载测试完成之后，通过故障实施开关控制快充适配器的电流保险丝为开路，再针对过温保护装置构建测试环境，进行过载测试。这样能够一定程度上减少各个保护装置之间的影响，提高测试的准确性。

步骤S303中，对保护装置进行过载测试，确定保护装置在过载测试中是否真正起到保护作用，得到测试结果，以此来获取测试样品的过载保护等级。参照图，具体包括以下步骤：

S501、基于第i测试环境对测试样品进行过载测试；

S502、测试第i保护装置是否起到保护作用；

S503、若起到保护作用，则得到第i保护装置有效的第i测试结果；

S504、若未起到保护作用，则得到第i保护装置无效的第i测试结果。

具体地，在针对不同的保护装置构建对应的测试环境之后，对测试样品进行过载测试，测试保护装置是否起到保护作用。例如，将过温保护装置作为第一保护装置，将快充适配器置于防爆箱内后，并连接在检测系统的电路中，使快充适配器正常工作，升高防爆箱内的温度至预设的温度阈值，构建测试环境。之后检测快充适配器的过温保护装置是否起到保护作用，根据高精度功率计测试仪测得的电压和电流数据来判断，若此时过温保护装置控制快充适配器停止工作，则确定过温保护装置起到保护作用；若防爆箱内部的温度已经超出预设的温度阈值，且快充适配器在一定时间后，仍未停止工作，则确定过温保护装置未起到保护作用。

当过温保护装置起到保护作用，则得到过温保护装置有效的第一测试结果，当过温保护装置未起到保护作用，则得到过温保护装置无效的第一测试结果。

过流保护装置的过载测试过程与过温保护装置的过载测试过程一致，只不过将过温保护装置从测试样品中移除之后，再进行过流保护装置的过载测试，在此不再赘述。

步骤S104，在获取到保护装置的测试结果后，根据测试结果来对测试样品的过载保护等级。参照图，具体包括以下步骤：

S601、获取初始过载保护等级j；

S602、获取第i测试结果；

S603、若得到第i保护装置无效的第i测试结果，则不做任何处理；

S604、若得到第i保护装置有效的第i测试结果，则更新初始过载保护等级j=j+1；

S605、直至所有保护装置测试完成，将更新完成的初始过载保护等级作为测试样品的过载保护等级。

具体地，首先预设初始过载保护等级j=0，并根据获取到的每一项保护装置的测试结果来对初始过载保护等级进行更新。例如，当快充适配器的过温保护装置的第一测试结果为有效，则对初始过载保护等级进行更新，此时j=j+1=0+1=1，即过载保护等级为1；当过流保护装置的第二测试结果同样为有效，此时j=j+1=1+1=2，即过载保护等级为2。若过温保护装置为有效，过流保护装置为无效，则过载保护等级为1。当获取所有的测试结果之后，更新之后的过载保护等级即为最终的过载保护等级。

从另外一个角度讲，所有保护装置中，若检测到有j个有效的保护装置，则该测试样品的过载保护等级即为2。当然，文中的j为代词，实际输出的过载保护等级也可以用其他字母或者单词代替，例如PT，测试样品的过载保护等级为PT2，即可得知在该测试样品中，存在2个有效的或者是可靠的保护装置。

步骤S105中，在获得测试样品的过载保护等级之后，根据保护装置信息、过载保护等级、测试情况以及测试结果生成检测报告，以直观展示测试样品中保护装置的保护效果。在本实施例中，检测报告的内容包括：测试样品的产品电路设计图、外观照片、产品的基本描述、样品编号、保护装置信息、测量过程、测量过程中的电压/电流等数据以及测量过程中的现场照片等，以此来详细展示此次测试样品的过载保护能力。

本申请实施例一种保护装置过载智能测试方法的实施原理为：获取保护装置信息来确定测试样品中包括的保护装置，针对不同的保护装置构建不同的测试方案，根据不同的测试方案采用不用的测试环境来对保护装置进行过载测试，能够针对性地对每个保护装置进行测试，较为全面；在得到测试结果之后，根据测试结果评估测试样品的过载保护等级，能够从过载保护等级上直观体现出测试样品中保护装置的过载保护能力；最终形成检测报告，方便查看保护装置的测试过程和测试结果。相较于现有技术中较为单调的测试方法，本申请能够有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力。

本实施例还公开一种保护装置过载智能测试系统，参照图，包括获取模块、构建模块、测试模块、评级模块以及输出模块，其中获取模块用于获取测试样品和测试样品的保护装置信息；构建模块用于基于保护装置信息确定保护装置，并确定与保护装置对应的测试方案；测试模块用于基于测试方案对测试样品执行过载测试，得到所有保护装置的测试结果；评级模块用于基于测试结果获取测试样品的过载保护等级；输出模块用于基于保护装置信息和过载保护等级生成检测报告。

具体地，获取模块获取保护装置信息来确定测试样品中包括的保护装置，构建模块针对不同的保护装置构建不同的测试方案，测试模块根据不同的测试方案采用不用的测试环境来对保护装置进行过载测试，能够针对性地对每个保护装置进行测试，较为全面；在得到测试结果之后，评级模块根据测试结果评估测试样品的过载保护等级，能够从过载保护等级上直观体现出测试样品中保护装置的过载保护能力；最终输出模块形成检测报告，方便查看保护装置的测试过程和测试结果。相较于现有技术中较为单调的测试方法，本申请能够有效并准确地评估保护装置在过载情况下降低产品风险的保护能力。

本申请实施例还公开一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并能够在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行计算机程序时，采用了上述实施例中的一种保护装置过载智能测试方法。

其中，终端设备可以采用台式电脑、笔记本电脑或者云端服务器等计算机设备，并且，终端设备包括但不限于处理器以及存储器，例如，终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备以及总线等。

其中，处理器可以采用中央处理单元（CPU），当然，根据实际的使用情况，也可以采用其他通用处理器、数字信号处理器（DSP）、专用集成电路（ASIC）、现成可编程门阵列（FPGA）或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等，通用处理器可以采用微处理器或者任何常规的处理器等，本申请对此不做限制。

其中，存储器可以为终端设备的内部存储单元，例如，终端设备的硬盘或者内存，也可以为终端设备的外部存储设备，例如，终端设备上配备的插接式硬盘、智能存储卡（SMC）、安全数字卡（SD）或者闪存卡（FC）等，并且，存储器还可以为终端设备的内部存储单元与外部存储设备的组合，存储器用于存储计算机程序以及终端设备所需的其他程序和数据，存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据，本申请对此不做限制。

其中，通过本终端设备，将上述实施例中的一种保护装置过载智能测试方法存储于终端设备的存储器中，并且，被加载并执行于终端设备的处理器上，方便使用。

本申请实施例还公开一种计算机可读存储介质，并且，计算机可读存储介质存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器执行时，采用了上述实施例中的一种保护装置过载智能测试方法。

其中，计算机程序可以存储于计算机可读介质中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间件形式等，计算机可读介质包括能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（ROM）、随机存取存储器（RAM）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等，需要说明的是，计算机可读介质包括但不限于上述元器件。

其中，通过本计算机可读存储介质，将上述实施例中的一种保护装置过载智能测试方法存储于计算机可读存储介质中，并且，被加载并执行于处理器上，以方便上述方法的存储及应用。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；

基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；

基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；

基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；

基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。

2.根据权利要求1所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述保护装置信息包括保护装置种类和保护装置数量，所述获取所述测试样品的保护装置信息包括以下步骤：

获取所述测试样品的原始信息；

获取所述测试样品的实物信息；

基于所述原始信息和所述实物信息确定所述测试样品的保护装置种类和保护装置数量。

3.根据权利要求1所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果包括以下步骤：

基于所述测试方案获取第i保护装置；

基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境；

基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果；

其中，i为大于等于1的整数。

4.根据权利要求3所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，当i大于1时，所述基于所述第i保护装置构建第i测试环境包括以下步骤：

获取已经完成过载测试的保护装置；

将所述已经完成过载测试的保护装置从所述测试样品中移除；

基于所述第i保护装置以及预设的检测系统构建第i测试环境。

5.根据权利要求3所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试，得到第i保护装置的第i测试结果包括以下步骤：

基于所述第i测试环境对所述测试样品进行过载测试；

测试所述第i保护装置是否起到保护作用；

若起到保护作用，则得到所述第i保护装置有效的第i测试结果；

若未起到保护作用，则得到所述第i保护装置无效的第i测试结果。

6.根据权利要求5所述的一种保护装置过载智能测试方法，其特征在于，所述基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级包括以下步骤：

获取初始过载保护等级j；

获取所述第i测试结果；

若得到所述第i保护装置无效的第i测试结果，则不做任何处理；

若得到所述第i保护装置有效的第i测试结果，则更新所述初始过载保护等级j=j+1；

直至所有所述保护装置测试完成，将更新完成的初始过载保护等级作为所述测试样品的过载保护等级。

7.一种保护装置过载智能测试系统，其特征在于，包括获取模块、构建模块、测试模块、评级模块以及输出模块；

所述获取模块，用于获取测试样品和所述测试样品的保护装置信息；

所述构建模块，用于基于所述保护装置信息确定保护装置，并确定与所述保护装置对应的测试方案；

所述测试模块，用于基于所述测试方案对所述测试样品执行过载测试，得到所有所述保护装置的测试结果；

所述评级模块，用于基于所述测试结果获取所述测试样品的过载保护等级；

所述输出模块，用于基于所述保护装置信息和所述过载保护等级生成检测报告。

8.一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在存储器中并能够在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器加载并执行计算机程序时，采用了权利要求1-6中任一项所述的方法。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器加载并执行时，采用了权利要求1-6中任一项所述的方法。

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