CN114884490B - 一种检测机用调制波的读取方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种检测机用调制波的读取方法，包括S1：获取激励波信号的传输周期和测试设备的基准周期，依据传输周期和基准周期获取循环值和补偿时间；S2：测试设备间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时；S3：判断总延时是否小于基准周期时，是，跳转至S2步骤；否，测试设备间隔循环值+1个基准周期和延迟补偿时间后读取一次信号，总延时减去一个基准周期并叠加补偿时间后生成新的总延时，跳转至S2步骤。本发明能够读取任意频率的激励波信号的同时，提高了数据读取的准确性，以保证芯片的测试效率和准确性。

Description

一种检测机用调制波的读取方法

技术领域

本发明涉及数据读取技术领域，具体涉及一种检测机用调制波的读取方法。

背景技术

测试芯片功能的检测机包括有主模块和副模块，待测试的芯片安装在副模块上，主模块通过通信端口与副模块数据互通，用于传输激励信号，当芯片测试不同功能时，依据接收的激励信号给待测芯片配置不同的测试环境和测试激励，并接收反馈。由于不同类型的测试芯片功能的不同，使用的到的通信端口频率不完全相同，副模块需精准的读取不同频率的激励信号，当激励信号通过上升沿或下降沿进行数据传输时，由于上升沿或下降沿的变化时间短，当激励波信号频率过大时，容易出现漏读取的情况，影响检测机读取信息的准确性。

发明内容

有鉴于此，本发明要解决的问题是提供一种检测机用调制波的读取方法，能够读取任意频率的激励波信号的同时，提高了数据读取的准确性，以保证芯片的测试效率和准确性。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种检测机用调制波的读取方法，包括S1：获取激励波信号的传输周期和测试设备的基准周期，依据传输周期和基准周期获取循环值和补偿时间；S2：测试设备间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时；S3：判断总延时是否小于基准周期时，是，跳转至S2步骤；否，测试设备间隔循环值+1个基准周期和延迟补偿时间后读取一次信号，总延时减去一个基准周期并叠加补偿时间后生成新的总延时，跳转至S2步骤。

进一步的，所述测试设备内包括有用于计算补偿时间和总延时的延时模块，所述延时模块对应有延时晶振周期，所述延时晶振周期小于基准周期设置。

进一步的，所述延时晶振周期为1/12微秒，以使测试设备的读取误差在0~1/24微秒范围内变动。

进一步的，所述测试设备内包括有用于读取激励波信号内数据的读取单元，所述读取单元对应有一个晶振周期，所述晶振周期为基准周期。

进一步的，所述S2之前包括有跳转步骤：读取到激励波信号上的跳转指令后，自动跳转至激励波信号对应位置并连续读取数据。

进一步的，所述激励波信号为高频方波信号，且通过上升沿和下降沿传输数据，所述跳转指令通过上升沿或下降沿触发。

进一步的，所述激励波信号的传输周期除以基准周期获得的商值和余数值，分别为该激励波信号的循环值和补偿时间。

本发明具有的优点和积极效果是：通过以副模块的基准周期为最小时间单元，获取传输周期除以基准周期的余数和商，余数为读取一个数据的补偿时间，商为读取一个数据的循环值。读取激励波信号时，每间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次数据，同时叠加延时的补偿时间生成总延时，当总延时超过一个基准周期时，间隔商+1个基准周期，总延时减去一个基准周期在延迟补偿时间后读取一次数据，保证总延时始终在一个基准周期范围内波动，不同的频率的激励波信号对应有不同的补偿时间和循环值，便于读取任意频率的激励波信号。总延时减去标准的基准周期过程中可抵消部分因为延时时间不准确产生的延时误差，提高了数据读取的准确性，以保证芯片的测试效率和准确性。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：图1是本发明的一种检测机用调制波的读取方法的整体流程图；图2是本发明的一种检测机用调制波的读取方法的波形示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、 “ 水平的”、“ 左”、“ 右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

本发明提供一种检测机用调制波的读取方法，如图2所示，以激励波信号为高频信号为例，激励波信号通过上升沿和下降沿传输数据，由于上升沿和下降沿持续时间较短，为了能够精准快速的读取激励波信号的数据，需确定每个周期内用于传输数据的上升沿或下降沿所在位置（确定上升沿或下降沿位置对应的时间），直接读取激励波信号上沿所对应时刻的数据即可。

如图1所示，包括S1步骤：获取激励波信号的传输周期和检测机的基准周期，计算传输周期除以基准周期并获取余数和商，定义余数为读取激励波信号的补偿时间，商定义为读取激励波信号的循环值。

实际使用时，会依据激励波信号的频率配备对应的通信端口，检测机通过获取通信端口的型号，以获得激励波信号的传输周期。如图2所示，激励波信号的传输周期为2微秒。因为激励波信号的频率已知（检测芯片功能时，会提供一个检测用的手册，手册内记录有激励波信号的频率值），可直接将激励波信号的传输周期输入至检测机。

检测机内包括有读取单元，读取单元用于读取激励波信号内数据，读取单元内配备有一个晶振模块，晶振模块对应有一个晶振周期，该晶振周期为读取单元的最小时间单元，因此传输周期必定大于该晶振周期。将该晶振周期定义为基准周期，应此基准周期是固定且已知的，使用基准周期粗步计算激励波信号的周期来快速读取数据。如图2所示，基准周期为1.4微秒，传输周期为2微秒（循环值为1），可间隔一个基准周期后读取数据，此时误差为0.6微秒，0.6微秒为延时时间。

经基准周期计算后传输周期的误差范围在一个基准周期范围内，当读取的激励波信号高频率越高，数据读取的准确性越低。因此为进一步缩小误差范围，测试设备内设置有延时模块，延时模块用于计算补偿时间和总延时，延时模块对应有延时晶振周期，延时晶振周期远小于基准周期，通过延时晶振周期计算延时时间，可将读取数据的误差减小到一个延时晶振周期的范围内。优选的，延时晶振周期为1/12微秒，以使测试设备的读取误差在0~1/12微秒（83频秒）范围内变动。

读取数据时，使用晶振周期和延时晶振周期共同计算激励波信号内上升沿或下降沿所对应的时刻，直接读取对应时刻处的上升沿或下降沿数据即可，加快数据读取的速度。因为晶振周期为读取单元工作过程中使用到的最小时间单元，激励波信号的传输周期不可能小于晶振周期，应此可使用基准周期和延时晶振周期共同读取任意频率的激励波信号。

传输周期除以基准周期获得余数和商，商表示传输周期内包含有多少个完整的基准周期基准周期，余数表示传输周期内去除商个完整的基准周期后余下的时间，且该延时时间必然少于一个基准周期。应此将余数定义为读取激励波信号信号的补偿时间。

S2步骤：间隔商个基准周期并延迟补偿时间读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时，总延时小于基准周期，循环S2步骤。

图2中包含信息的上升沿和下降沿位于周期的末端（两个用于传输数据的沿之间间隔一个周期的时间）。读取激励波信号内第一个周期内的数据时，读取单元以d0时刻为起始时刻，间隔1个基准周期，在间隔由延时模块计算的0.6微秒的延时后（延时模块记录延时的总延时：S总=0.6微秒）读取数据，使得读取单元实际读取的是激励波信号在1.4+0.6=2微秒时刻的上升沿。

进入S3步骤，延时模块判断S总是否大于基准周期，0.6<1.4，跳转至S2步骤。

使用S2步骤继续读取激励波信号内第二个周期内的数据：读取单元继续间隔1（循环值）个基准周期（读取单元实际读了两个基准周期），在间隔延时模块计算的0.6微秒的延时后（经过了两次延时，延时模块记录延时的总延时：S总=1.2微秒）读取数据，使得读取单元实际读取的是激励波信号内1.4×2+1.2=4微秒时刻的上升沿。

进入S3步骤，延时模块判断S总是否大于基准周期，1.2<1.4，跳转至S2步骤。

使用S2步骤继续读取激励波信号内第三个周期内的数据：读取单元继续间隔1（循环值）个基准周期（读取单元实际读了三个基准周期），在间隔延时模块计算的0.6微秒的延时后（经过了三次延时，延时模块记录延时的总延时：S总=1.8微秒）读取数据，使得读取单元实际读取的是激励波信号内1.4×3+1.8=6微秒时刻的下降沿。

进入S3步骤，延时模块判断S总是否大于基准周期，1.8>1.4，总延时补偿一个基准周期后，在间隔商个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，跳转至S2步骤。

使用S3步骤继续读取激励波信号内第四个周期内的数据：总延时补偿一个基准周期，延时模块补偿后的总延时：S总=1.8-1.4=0.4微秒，读取单元读取2（循环值+1）个基准周期来补偿延时间，在间隔延时模块计算的0.6微秒的延时后（延时模块记录的实际延迟的总延时：S总=0.4+0.6=1微秒）读取数据，读取单元实际读取的是激励波信号内1.4×5+1=8微秒时刻的上升沿。

补偿时间和总延时均由延时模块计算，延时模块单独连接有一个延时晶振用于计算0.6微秒的补偿时间和1.4微秒的基准周期。由于补偿时间不一定在延时模块的晶振周期的整倍数内，使得延时模块每一次计算的延时均存在有误差，若不断叠加延时时间，会导致延时误差越来越大，导致读取单元无法准确的读取数据（会漏掉部分数据或读错数据）。

由于读取单元记录的始终是完整的晶振周期，应此记录的时间不存在误差，读取数据的过程中出现的误差由延时模块产生，应此当延时模块记录的延时超过一个基准周期后，延时模块补偿一个基准周期（延时模块记录的时间减去一个基准周期），可抵消补偿时间产生的误差，使数据读取的误差在延时模块的一个晶振周期范围内波动。

例如：延时模块的晶振周期为0.5微秒（实际不会这么大），记录第一个0.6微秒的个延时，读取单元实际延时0.5微秒（误差0.1微秒），记录第二个0.6微秒的个延时，读取单元实际延时1微秒（误差0.2微秒），记录第三个0.6微秒的个延时，读取单元实际延时1.5微秒（误差0.3微秒），记录第四个0.6微秒的个延时，读取单元实际延时0.5微秒（误差0.1微秒）。整个程中，延时的误差在延时模块的晶振周期范围内（读取数据的时间误差也在延时模块的晶振周期范围内），有效的保证了数据读取的准确性。

为使检测机输出不同频率的激励波信号，激励波信号为调制波，即对输出波的波形进行二次调整，通过改变输出波的外形来改变其频率，使输出的激励波信号与不同频率的通信端口相匹配。由于激励波信号为调制波，调制的起始时刻不一定是准确的零时刻，激励波信号的实际零时刻与理论的零时刻存在移动的误差。

应此在S2步骤之前设定有一个跳转信号，当读取单元接收到跳转信号后，读取单元自动跳转至激励波信号的对应时刻处，并读取波段上的数据。

优选的，跳转信号可为上升沿或下降沿触发，及读取单元持续读取激励波信号的信息，当读取到第一个上升沿或下降沿后，直接跳转至图2中的d0时刻处，自动间隔读取后续周期内数据（直接跳转到上升沿或下降沿所在时刻，读取上升沿和下降沿信息）。可有效的缩短数据读取时间，加快芯片的检测速度。

以上对本发明的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。

Claims (6)

1.一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，S1：获取激励波信号的传输周期和测试设备的基准周期，依据传输周期和基准周期获取循环值和补偿时间，所述激励波信号的传输周期除以基准周期获得的商值和余数值，分别为该激励波信号的循环值和补偿时间；S2：测试设备间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时；S3：判断总延时是否小于基准周期时，是，跳转至S2步骤；否，测试设备间隔循环值+1个基准周期和延迟补偿时间后读取一次信号，总延时减去一个基准周期并叠加补偿时间后生成新的总延时，跳转至S2步骤。

2.根据权利要求1所述的一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，所述测试设备内包括有用于计算补偿时间和总延时的延时模块，所述延时模块对应有延时晶振周期，所述延时晶振周期小于基准周期设置。

3.根据权利要求2所述的一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，所述延时晶振周期为1/12微秒，以使测试设备的读取误差在0~1/12微秒范围内变动。

4.根据权利要求1所述的一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，所述测试设备内包括有用于读取激励波信号内数据的读取单元，所述读取单元对应有一个晶振周期，所述晶振周期为基准周期。

5.根据权利要求1所述的一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，所述S2之前包括有跳转步骤：读取到激励波信号上的跳转指令后，自动跳转至激励波信号对应位置并连续读取数据。

6.根据权利要求5所述的一种检测机用调制波的读取方法，其特征在于，所述激励波信号为高频方波信号，且通过上升沿和下降沿传输数据，所述跳转指令通过上升沿或下降沿触发。

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