CN114873340A - 用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例涉及核径迹技术领域，尤其涉及一种用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。适用于但不仅限于沿预定方向连续不间断传送的核孔膜的测量，可测量核孔膜的物理参数。设备包括：夹持系统，用于夹持核孔膜以将核孔膜的待测部分稳定地保持在测量位置；测量系统，用于在夹持系统将待测部分稳定地保持在测量位置时，测量核孔膜待测部分的物理参数；传送系统，当待测部分保持在测量位置时，用于使位于设备上游和下游的核孔膜沿原定方向继续传送。设备能够对处于传送状态的核孔膜进行测量，即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送，也无需裁剪核孔膜，是一种无损测量设备。

Description

用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法

技术领域

本发明的实施例涉及核径迹技术领域，尤其涉及一种系统用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。

背景技术

核孔膜是应用核技术生产的一种优质微孔膜，其微孔为近似圆柱形的直通孔且孔径大小均匀一致。它是一种精密过滤和筛分粒子的理想滤膜，过滤机理为筛分过滤，可重复使用，承压能力强，耐高温消毒，化学及生物稳定性好，是目前最好的一种精密过滤材料，可广泛应用于电子、化工、食品加工、生物制药、医学、环境监测等领域，应用前景非常广阔。

微孔孔径、微孔密度以及孔隙率是核孔膜的重要产品规格参数，在研制和生产核孔膜过程中需要经常测量这些参数。相关技术中，通常会在需要检测的大片核孔膜上裁取小片样品，对裁取到的小片样品进行测量，以得到样品的微孔孔径、微孔密度以及孔隙率，进而得到大片核孔膜的微孔孔径、微孔密度以及孔隙率。

然而，在大片核孔膜上裁取小片样品的方法会对核孔膜产品进行破坏，损坏核孔膜产品的原有形状和使用性能，是一种有损检测。

发明内容

本发明实施方式提供一种用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。

本发明实施方式的一种用于测量核孔膜的物理参数的设备，核孔膜沿预定方向传送，用于测量核孔膜的物理参数的设备包括：夹持系统，用于夹持核孔膜以将核孔膜的待测部分保持在测量位置；测量系统，用于在夹持系统将待测部分保持在测量位置时，测量待测部分的物理参数；传送系统，当待测部分保持在测量位置时，传送系统用于使位于设备上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送。

本发明实施方式的一种用于测量核孔膜的物理参数的方法，包括以下步骤：控制核孔膜的待测部分向靠近测量位置的方向传送；控制待测部分保持在测量位置，位于设备上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送；测量保持在测量位置的核孔膜的待测部分的物理参数；在测量核孔膜的物理参数后，控制待测部分向远离测量位置的方向传送。

本发明实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备中，采用夹持系统将连续移动的核孔膜上待检测的待测部分在一定时间内稳定停留在测量位置，测量系统可以测量出待测部分的物理参数，保证核孔膜的测量部分在测量位置的稳定性。随后解除核孔膜的待测部分的停留，使得核孔膜的待测部分继续移动，经过预定时间后，设备恢复到将待测部分保持在测量位置之前的状态，并为进行下一个待测部分的测量做好准备。设备能够对处于传送状态的核孔膜进行测量，即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送，也无需裁剪核孔膜的待测部分，是一种无损测量设备。

本发明实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分保持在测量位置时的结构性示意图；

图2是本发明实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分向测量位置移动时的结构性示意图；

图3是本发明实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分离开测量位置移动时的结构性示意图；

图4是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分向测量位置移动时的结构性示意图；

图5是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分保持在测量位置时的结构性示意图；

图6是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜的物理参数的设备在核孔膜的待测部分离开测量位置移动时的结构性示意图。

主要元件符号说明：

10、设备；20、核孔膜；

100、夹持系统；110、固定压板；120、移动压板；130、滑台；

200、测量系统；210、光束源；220、拍摄组件；221、显微物镜；222、摄像头；

300、传送系统；320、移动导辊；321、第一动导辊；322、第二动导辊；330、导辊架；340、导辊架滑轨；

400、计算机；

500、转向系统；510、固定导辊；511、第一定导辊；512、第二定导辊。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件/元件或具有相同或类似功能的部件/元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

图1是本发明实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分保持在测量位置时的结构性示意图。参见图1，核孔膜20能够沿预定方向传送，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10包括夹持系统100、测量系统200和传送系统300。夹持系统100用于夹持核孔膜20以将核孔膜的待测部分保持在测量位置。测量系统200用于在夹持系统100将待测部分保持在测量位置时，测量待测部分的物理参数。当待测部分保持在测量位置时，传送系统300用于使位于设备10上游和下游的核孔膜20沿预定方向继续传送。

在一些实施例中，物理参数可以为微孔孔径和/或微孔密度和/或孔隙率。即可以利用本实施例中的设备10测量卷装核孔膜的微孔孔径和/或微孔密度和/或孔隙率。在另一些实施例中，可以利用本实施例中的设备10测量核孔膜生产线上的核孔膜产品，用于核孔膜产品质量的在线监测。在其他实施例中，可以利用本实施例中的设备10测量核孔膜复卷检测设备10上的核孔膜产品，用于核孔膜产品质量的检验。

进一步地，可以控制待测部分位于测量位置的时间以实现连续定时测量，测量间隔时间可具体进行设定，也可手动通过计算机400发出指令进行单次测量。

本实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10中，采用夹持系统100将连续移动的核孔膜20上待检测的待测部分在一定时间内稳定停留在测量位置，测量系统200可以测量出待测部分的物理参数，保证核孔膜20的测量部分在测量位置的稳定性。随后解除核孔膜20的待测部分的停留，使得核孔膜20的待测部分继续移动，并可以将下一段待测部分停在测量位置。本实施例进行测量时，利用传送系统300可以继续传送位于设备10上游和下游的核孔膜，进而可以补偿核孔膜20的待测部分在一段时间内稳定停留对于位于设备10上游和下游的核孔膜走膜的影响，本设备10能够对处于传送状态的核孔膜20进行测量，即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送，也无需裁剪核孔膜的待测部分，是一种无损测量设备。

参见图1至图3，传送系统300能够在第一运动位置和第二运动位置之间移动。

图2是本发明实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分向测量位置移动时的结构性示意图。参见图2，当待测部分向靠近测量位置的方向传送时，传送系统300可以位于第一运动位置。

参见图1，当待测部分保持在测量位置时，传送系统300能够沿预定方向自第一运动位置向第二运动位置移动，以使位于设备上游的核孔膜进入设备以及位于待测部分下游的部分核孔膜离开设备。

图3是本发明实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分离开测量位置移动时的结构性示意图。参见图3，当待测部分向远离测量位置的方向传送时，传送系统300能够沿与预定方向相反的方向自第二运动位置向第一运动位置移动。

参见图1至图3，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括转向系统500。转向系统500可以用于改变待测部分靠近测量以及远离测量位置的传送方向。其中，转向系统500可以包括工作状态和非工作状态。

参见图2，当转向系统500处于工作状态时，转向系统500能够改变待测部分靠近测量位置的传送方向，以将待测部分向靠近测量位置的方向传送。

参见图3，转向系统500处于工作状态时，转向系统500能够改变待测部分远离测量位置的传送方向，以将待测部分向远离测量位置的方向传送。

参见图1，当转向系统500处于非工作状态时，待测部分保持在测量位置。

转向系统500可以包括固定导辊510，核孔膜20可以设置于固定导辊510。

在一些实施例中，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括安装台，固定导辊510可以设置于安装台。

参见图2和图3，当转向系统500处于工作状态时，固定导辊510能够转动以传送核孔膜20；参见图1，当转向系统500处于非工作状态时，固定导辊510停止转动以使待测部分保持在测量位置。

参见图1至图3，固定导辊510可以包括第一定导辊511和第二定导辊512。第二定导辊512、夹持系统100和第一定导辊511可以沿待测部分的传送方向依次设置。

在一些实施例中，第一定导辊511和第二定导辊512可以选用转动阻力和转动惯量小的带精密轴承的轻型导辊，以提高对拉伸强度小的核孔膜20的实用性。

参见图1至图3，传送系统300可以包括导辊架330和移动导辊320。导辊架330能够在第一运动位置和第二运动位置之间移动。核孔膜20可以设置于移动导辊320，移动导辊320能够转动以传送核孔膜20。其中，移动导辊320可以设置于导辊架330，移动导辊320能够随着导辊架330的移动而移动；参见图2，当待测部分向靠近测量位置的方向传送时，导辊架330可以位于第一运动位置；参见图1，当待测部分保持在测量位置时，导辊架330能够沿预定方向自第一运动位置向第二运动位置移动；参见图3，当待测部分向远离测量位置的方向传送时，导辊架330能够沿与预定方向相反的方向自第二运动位置向第一运动位置移动。

参见图1至图3，移动导辊320可以包括第一动导辊321和第二动导辊322。第二动导辊322、固定导辊510和第一动导辊321可以沿待测部分的传送方向依次设置。

在一些实施例中，第一动导辊321和第二动导辊322可以选用转动阻力和转动惯量小的带精密轴承的轻型导辊，以提高对拉伸强度小的核孔膜20的实用性。

参见图1至图3，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括导辊架滑轨340。导辊架330可以设置于导辊架滑轨340，导辊架330能够在导辊架滑轨340移动。

在一些实施例中，设备10还可以包括安装台，导辊架滑轨340可以设置于安装台。

在一些实施例中，导辊架滑轨340可以选择使用低阻力滑轨，导辊架330可以选择使用轻质刚性材料，以降低导辊架330滑动时的惯性，减少核孔膜20的张紧力。

参见图1至图3，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括耦合至导辊架330的计算机400。计算机400可以被布置用于控制导辊架330的移动。

进一步地，导辊架330装配在导辊架滑轨340的滑块上，导辊架330由连接到计算机400的直线运动私服电机驱动，导辊架330在计算机400控制下可以在导辊架滑轨340上水平移动。

参见图1至图3，夹持系统100可以包括固定压板110和移动压板120。移动压板120可以与固定压板110相对设置，移动压板120与固定压板110之间形成有间隙，移动压板120能够向靠近固定压板110的方向移动，并与固定压板110配合，使得核孔膜的待测部分保持在测量位置。其中，夹持系统100具有夹持状态和非夹持状态；参见图1，当夹持系统100处于夹持状态时，移动压板120与固定压板110配合，以夹持核孔膜20。参见图2和图3，当夹持系统100处于非夹持状态时，核孔膜20能够从间隙通过。

在一些实施例中，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括安装台，固定压板110可以设置于安装台。

夹持系统100还包括驱动部。驱动部用于驱动移动压板120向靠近固定压板110的方向和远离固定压板110的方向移动。

在一些实施例中，驱动部可以采用气缸、旋臂、丝杠等多种结构，以驱动移动压板120的移动。

参见图1至图3，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括耦合到移动压板120的计算机400。计算机400可以被布置用于控制移动压板120的移动。

参见图1至图3，夹持系统100还可以包括滑台130。滑台130连接于移动压板120。

进一步地，移动压板120装配在滑台130上，可由滑台130带动竖直向上或向下移动。移动压板120在计算机400指令控制下沿竖直方向移动，并能够与固定压板110配合，以压住通过移动压板120和固定压板110之间间隙的核孔膜20，使得核孔膜20的待测部分在测量位置停留预定时间。

参见图1至图3，测量系统200可以包括光束源210、拍摄组件220和计算机。光束源210用于产生光束以照亮位于测量位置的待测部分。拍摄组件220用于拍摄位于测量位置待测部分，以得到包括核孔膜的待测部分的图像。计算机400用于接收图像并识别图像中的核孔膜的待测部分，以得到位于测量位置的核孔膜20的待测部分的物理参数。

在一些实施例中，用于测量核孔膜20的物理参数的设备10还可以包括安装台，光束源210可以设置于安装台，拍摄组件220可以设置于安装台。

在一些实施例中，拍摄组件220与光束源210相对设置。在另一些实施例中，拍摄组件220与光束源210同侧设置。在其他实施例中，在光束源210相对位置和同侧位置均可以设置拍摄组件220。

进一步地，光束用于对核孔膜20的待测部分进行照明，以使核孔膜20的待测部分满足照明要求，使得摄像头222采集的图像更加清楚。

进一步地，摄像头222得到图像后，可以通过软件自动测量，以得到位于测量位置的核孔膜的待测部分的物理参数。在另一些实施例中，可以在计算机400的显示装置上显示摄像头222拍摄到的图像，在显示装置上直接测量拍摄到的图像的物理参数度，进而得到待测部分的物理参数。在其他实施例中，可以将摄像头222拍摄的图像直接显示在具有尺寸刻度标定的显示器上，供检验人员肉眼观测。

参见图1至图3，拍摄组件220可以包括显微物镜221和摄像头222。显微物镜221用于放大位于测量位置的待测部分。摄像头222设置于显微物镜221，摄像头222用于拍摄位于显微物镜221的图像。

进一步地，显微物镜221能够用于放大核孔膜20的待测部分，以使得核孔膜20上的微孔可以被识别和测量。

进一步地，夹持系统100将连续移动的核孔膜20上待检测的待测部分在短时间内稳定停留在显微物镜221下，待测部分经过显微物镜221，待测部分在摄像头222上成像并有摄像头222拍摄核孔膜20的显微图像，然后经由显微图像处理软件测量出待测段的物理参数。随后解除核孔膜20停留，使核孔膜20继续移动，并将下一段待测段停在显微物镜221下。

在一些实施例中，显微物镜可选择使用放大倍数为2X至100X物镜，在能够满足测量精度要求的情况下，选择使用放大倍数较小一些的显微物镜。

进一步地，摄像头222通过数据线连接到计算机400，根据计算机400的控制指令采集位于测量位置的核孔膜20的测量部分的显微图像。

在一些实施例中，显微物镜221和摄像头222可以一体成型。

拍摄组件220还可以包括调光件。调光件用于调节照向待测部分的光束的亮度。

进一步地，从光束源210产生的光束，能够先从调光件射出，再从位于测量位置的待测部分射出。

在一些实施例中，调光件可以设置为光阑和/或聚光镜，以调节光束的亮度，进而满足核孔膜20的待测部分的照明要求。

在一些实施例中，当预设方向为水平向右时，即核孔膜20自左向右传送，第一定导辊511和第二定导辊512的转动中心位于同一水平线，第一动导辊321和第二动导辊322的转动中心位于同一水平线，且第一定导辊511的水平线高于第一动导辊321的水平线。

参见图2，当待测部分需要向测量位置移动时，核孔膜20的可以从移动压板120和固定压板110之间的间隙匀速通过。

参见图1，当待测部分需要保持在测量位置时，计算机400向移动压板120发出控制指令，移动压板120接收该控制指令并根据该控制指令向上移动，移动至能够固定压板110配合夹持待测部分的位置，使得待测部分保持在测量位置，经过一段时间的延时后，可以由拍摄组件220得到待测部分的显微图像，并将该显微图像发送至计算机400，以测量得到待测部分的物理参数。与此同时，当移动压板120与固定压板110夹持核孔膜20时，计算机400向导辊架330发送控制指令，导辊架330接收该控制指令并向右移动，由于第一定导辊511和第一动导辊321之间交错设置，且第一动导辊321位于第一定导辊511的左侧，因此核孔膜20上位于测量部分右侧存在部分核孔膜20位于第一动导辊321位于第一定导辊511之间，当第一定导辊511停止转动，但是位于设备10上游和下游的核孔膜20需要继续向右传送，可以利用导辊架330带着第一动导辊321向右移动，以使位于第一动导辊321位于第一定导辊511之间的部分核孔膜20逐渐减少，进而补偿待测部分停留对于位于设备10上游和下游的核孔膜继续沿原定方向传送的影响。

参见图3，当待测部分需要离开测量位置时，计算机400向移动压板120发出控制指令，移动压板120接收该控制指令并根据该控制指令向下移动，移动至能与固定压板110形成供待测部分通过的间隙的位置，使得待测部分可以离开待测位置。与此同时，当间隙形成后，计算机400向导辊架330发送控制指令，导辊架330接收该控制指令并向左移动，导辊架330移动至最左侧的位置。

在另一些实施例中，当预设方向为水平向左时，即核孔膜20自右向左传送，第一定导辊511和第二定导辊512的转动中心位于同一水平线，第一动导辊321和第二动导辊322的转动中心位于同一水平线，且第一定导辊511的水平线高于第一动导辊321的水平线。

图4是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分向测量位置移动时的结构性示意图。参见图4，当待测部分需要向测量位置移动时，核孔膜20的可以从移动压板120和固定压板110之间的间隙匀速通过。

图5是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分保持在测量位置时的结构性示意图。参见图5，当待测部分需要保持在测量位置时，计算机400向移动压板120发出控制指令，移动压板120接收该控制指令并根据该控制指令向上移动，移动至能够固定压板110配合夹持待测部分的位置，使得待测部分保持在测量位置，经过一段时间的延时后，可以由拍摄组件220得到待测部分的显微图像，并将该显微图像发送至计算机400，以测量得到待测部分的物理参数。与此同时，当移动压板120与固定压板110夹持核孔膜20时，计算机400向导辊架330发送控制指令，导辊架330接收该控制指令并向左移动，由于第一定导辊511和第一动导辊321之间交错设置，且第一动导辊321位于第一定导辊511的右侧，因此核孔膜20上位于测量部分左侧存在部分核孔膜20位于第一动导辊321位于第一定导辊511之间，当第一定导辊511停止转动，但是位于设备10上游和下游的核孔膜20需要继续向左传送，可以利用导辊架330带着第一动导辊321向左移动，以使位于第一动导辊321位于第一定导辊511之间的部分核孔膜20逐渐减少，进而补偿待测部分停留对于位于设备10上游和下游的核孔膜20继续沿原定方向传送的影响。

图6是本发明另一种实施方式的用于测量核孔膜20的物理参数的设备10在核孔膜20的待测部分离开测量位置移动时的结构性示意图。参见图6，当待测部分需要离开测量位置时，计算机400向移动压板120发出控制指令，移动压板120接收该控制指令并根据该控制指令向下移动，移动至能与固定压板110形成供待测部分通过的间隙的位置，使得待测部分可以离开待测位置。与此同时，当间隙形成后，计算机400向导辊架330发送控制指令，导辊架330接收该控制指令并向右移动，导辊架330移动至最左侧的位置。

用于测量核孔膜20物理参数的方法，包括以下步骤S1001至步骤S4001。

步骤S1001：控制核孔膜20的待测部分向靠近测量位置的方向传送.

步骤S2001：控制核孔膜的待测部分保持在测量位置，位于设备10上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送。

步骤S3001：测量保持在测量位置的核孔膜20的待测部分的物理参数。

步骤S4001：在测量核孔膜20的物理参数后，控制待测部分向远离测量位置的方向传送。

控制核孔膜20的待测部分向靠近测量位置的方向传送，包括以下步骤S1011至步骤S1013。

步骤S1011：控制移动压板120与固定压板110之间存在供核孔膜20通过的间隙。

步骤S1012：第一定导辊511和第二定导辊512绕第一转动方向转动，第一动导辊321和第二动导辊322绕与第一转动方向相反的方向转动，以向靠近测量位置的方向传送待测部分。

步骤S1013：控制导辊架330位于第一运动位置。

控制待测部分保持在测量位置，位于设备10上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送，包括以下步骤S2011至步骤S2013。

步骤S2011：控制移动压板120向靠近固定压板110的方向移动，并与固定压板110配合，以夹持待测部分。

步骤S2012：第一定导辊511和第二定导辊512停止转动，使得待测部分保持在测量位置。

步骤S2013：控制导辊架330自第一运动位置向第二运动位置移动。

测量保持在测量位置的核孔膜20的待测部分的物理参数，包括以下步骤S3011至步骤S3013。

步骤S3011：向核孔膜20的表面发射光束，该光束穿过被保持在测量位置的待测部分。

步骤S3012：拍摄保持在测量位置的待测部分的图像.

步骤S3013根据待测部分的图像得到待测部分的物理参数。

在测量核孔膜20的物理参数后，控制待测部分向远离测量位置的方向传送，包括以下步骤S4011至步骤S4013。

步骤S4011：控制移动压板120向远离固定压板110的方向移动，以与固定压板110之间形成有间隙，待测部分能够从间隙通过。

步骤S4012：第一定导辊511和第二定导辊512绕第一转动方向转动，以向远离测量位置的方向传送待测部分。

步骤S4013：控制导辊架330自第二运动位置向第一运动位置移动。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施方式”、“某些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施方式，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (20)

1.一种用于测量核孔膜的物理参数的设备，其特征在于，所述核孔膜能够沿预定方向传送，所述设备包括：

夹持系统，所述夹持系统用于夹持所述核孔膜以将所述核孔膜的待测部分保持在测量位置；

测量系统，所述测量系统用于在所述夹持系统将所述待测部分保持在所述测量位置时，测量所述待测部分的物理参数；

传送系统，当所述待测部分保持在所述测量位置时，所述传送系统用于使位于所述设备上游和下游的核孔膜沿所述预定方向继续传送。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述传送系统能够在第一运动位置和第二运动位置之间移动；

其中，当所述待测部分向靠近所述测量位置的方向传送时，所述传送系统位于所述第一运动位置；

当所述待测部分保持在所述测量位置时，所述传送系统能够沿所述预定方向自所述第一运动位置向所述第二运动位置移动，以使位于所述设备上游的核孔膜进入所述设备以及位于所述待测部分下游的部分核孔膜离开所述设备；

当所述待测部分向远离所述测量位置的方向传送时，所述传送系统能够沿与所述预定方向相反的方向自所述第二运动位置向所述第一运动位置移动。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：

转向系统，所述转向系统用于改变所述待测部分靠近所述测量以及远离所述测量位置的传送方向；

其中，所述转向系统包括工作状态和非工作状态；

当所述转向系统处于所述工作状态时，所述转向系统能够改变所述待测部分靠近所述测量位置的传送方向，以将所述待测部分向靠近所述测量位置的方向传送，以及能够改变所述待测部分远离所述测量位置的传送方向，以将所述待测部分向远离所述测量位置的方向传送；

当所述转向系统处于所述非工作状态时，所述待测部分保持在所述测量位置。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述转向系统包括：

固定导辊，所述核孔膜设置于所述固定导辊；

其中，当所述转向系统处于所述工作状态时，所述固定导辊能够转动以传送所述核孔膜；

当所述转向系统处于所述非工作状态时，所述固定导辊停止转动以使所述待测部分保持在所述测量位置。

5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述固定导辊包括第一定导辊和第二定导辊，所述第二定导辊、所述夹持系统和所述第一定导辊沿所述待测部分的传送方向依次设置。

6.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述传送系统包括：

导辊架，所述导辊架能够在第一运动位置和第二运动位置之间移动；

移动导辊，所述核孔膜设置于所述移动导辊，所述移动导辊能够转动以传送所述核孔膜；

其中，所述移动导辊设置于所述导辊架，所述移动导辊能够随着所述导辊架的移动而移动；

当所述待测部分向靠近所述测量位置的方向传送时，所述导辊架位于所述第一运动位置；

当所述待测部分保持在所述测量位置时，所述导辊架能够沿所述预定方向自所述第一运动位置向所述第二运动位置移动；

当所述待测部分向远离所述测量位置的方向传送时，所述导辊架能够沿与所述预定方向相反的方向自所述第二运动位置向所述第一运动位置移动。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述移动导辊包括第一动导辊和第二动导辊，所述第二动导辊、所述固定导辊和所述第一动导辊沿所述待测部分的传送方向依次设置。

8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：

导辊架滑轨，所述导辊架设置于所述导辊架滑轨，所述导辊架能够在所述导辊架滑轨移动。

9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：

耦合至所述导辊架的计算机，所述计算机被布置用于控制所述导辊架的移动。

10.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述夹持系统包括：

固定压板；

移动压板，所述移动压板与所述固定压板相对设置，所述移动压板与所述固定压板之间形成有间隙，所述移动压板能够向靠近所述固定压板的方向移动，并与所述固定压板配合，使得所述核孔膜的待测部分保持在所述测量位置；

其中，所述夹持系统具有夹持状态和非夹持状态；

当所述夹持系统处于所述夹持状态时，所述移动压板与所述固定压板配合，以夹持所述核孔膜；

当所述夹持系统处于所述非夹持状态时，所述核孔膜能够从所述间隙通过。

11.根据权利要求10所述的设备，其特征在于，所述夹持系统还包括：

驱动部，所述驱动部用于驱动所述移动压板向靠近所述固定压板的方向和远离所述固定压板的方向移动。

12.根据权利要求10所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：

耦合到所述移动压板的计算机，所述计算机被布置用于控制所述移动压板的移动。

13.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测量系统包括：

光束源，所述光束源用于产生光束以照亮位于所述测量位置的所述待测部分；

拍摄组件，所述拍摄组件用于拍摄位于所述测量位置的所述待测部分，以得到包括所述核孔膜的待测部分的图像；

计算机，所述计算机用于接收所述图像并识别所述图像中的所述核孔膜的待测部分，以得到位于所述测量位置的所述核孔膜的待测部分的物理参数。

14.根据权利要求13所述的设备，其特征在于，所述拍摄组件包括：

显微物镜，所述显微物镜用于放大位于所述测量位置的待测部分；

摄像头，所述摄像头设置于所述显微物镜，所述摄像头用于拍摄位于所述显微物镜的图像。

15.根据权利要求14所述的设备，其特征在于，所述拍摄组件还包括：

调光件，所述调光件用于调节照亮所述待测部分的光束的亮度。

16.一种用于测量核孔膜的物理参数的方法，其特征在于，包括以下步骤：

控制所述核孔膜的待测部分向靠近测量位置的方向传送；

控制所述待测部分保持在所述测量位置，位于用于测量核孔膜的物理参数的设备的上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送；

测量保持在所述测量位置的所述核孔膜的待测部分的物理参数；

在测量所述核孔膜的物理参数后，控制所述待测部分向远离所述测量位置的方向传送。

17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述控制所述核孔膜的待测部分向靠近测量位置的方向传送，包括以下步骤：

控制移动压板与固定压板之间存在供所述核孔膜通过的间隙；

第一定导辊和第二定导辊绕第一转动方向转动，第一动导辊和第二动导辊绕与所述第一转动方向相反的方向转动，以向靠近测量位置的方向传送所述待测部分；

控制导辊架位于第一运动位置。

18.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述控制所述待测部分保持在所述测量位置，位于所述设备上游和下游的核孔膜沿预定方向继续传送，包括以下步骤：

控制移动压板向靠近固定压板的方向移动，并与所述固定压板配合，以夹持所述待测部分；

第一定导辊和第二定导辊停止转动，使得所述待测部分保持在所述测量位置；

控制导辊架自第一运动位置向第二运动位置移动。

19.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述测量保持在所述测量位置的所述核孔膜的待测部分的物理参数，包括以下步骤：

向所述核孔膜的表面发射光束，该光束穿过被保持在所述测量位置的所述待测部分；

拍摄保持在所述测量位置的所述待测部分的图像；

根据所述待测部分的图像得到所述待测部分的物理参数。

20.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述在测量所述核孔膜的物理参数后，控制所述待测部分向远离所述测量位置的方向传送，包括以下步骤：

控制移动压板向远离固定压板的方向移动，以与所述固定压板之间形成有间隙，所述待测部分能够从所述间隙通过；

第一定导辊和第二定导辊绕第一转动方向转动，以向远离所述测量位置的方向传送所述待测部分；

控制导辊架自第二运动位置向第一运动位置移动。

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