CN114863852A - 显示面板、电子设备和电子设备的显示校准方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板、电子设备和电子设备的显示校准方法，所述显示面板，包括：芯片、第一信号传输线、检测线、薄膜晶体管和控制线，所述芯片的信号输出端与所述第一信号传输线的输入端电连接，所述第一信号传输线的输出端与所述薄膜晶体管的第一端电连接，所述芯片通过所述控制线与所述薄膜晶体管的控制端电连接，所述薄膜晶体管的第二端通过所述检测线与所述芯片的信号接收端电连接。

Description

显示面板、电子设备和电子设备的显示校准方法

技术领域

本申请涉及电子产品技术领域，具体涉及一种显示面板、电子设备和电子设备的显示校准方法。

背景技术

针对现有的一些电子设备，随着使用时长的增长，可能出现显示失真的问题，例如，针对折叠屏电子设备而言，随着折叠次数的增加，折叠位置的导电线的阻抗将偏高，进而导致显示失真的问题。可见，现有的电子设备存在显示失真的问题。

发明内容

本申请提供的一种显示面板、电子设备和电子设备的显示校准方法，可以缓解现有的电子设备存在显示失真的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，包括：芯片、第一信号传输线、检测线、薄膜晶体管和控制线，所述芯片的信号输出端与所述第一信号传输线的输入端电连接，所述第一信号传输线的输出端与所述薄膜晶体管的第一端电连接，所述芯片通过所述控制线与所述薄膜晶体管的控制端电连接，所述薄膜晶体管的第二端通过所述检测线与所述芯片的信号接收端电连接。

第二方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：上述第一方面所述的显示面板。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备的显示校准方法，应用于上述第二方面所述的电子设备，包括：

基于所述芯片的信号输出端向所述第一信号传输线发送测试信号；

基于所述芯片的信号接收端接收所述检测线输入的第一回馈信号；

基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数；

将所述显示面板的校准参数更新为所述目标校准参数。

本申请实施例中，当显示面板存在显示失真的问题时，显示面板中的芯片可以通过控制线对薄膜晶体管的控制端进行控制，以使所述薄膜晶体管导通第一信号传输线的输出端与检测线。这样，第一信号传输线的输出端输出的信号可以通过检测线回传至芯片的信号接收端，如此，芯片可以根据信号输出端输出的信号与所述信号接收端接收到的回传信号，确定信号在第一信号传输线中传输的损耗值，进而可以根据所述损耗值对信号输出端输出的信号进行补偿，从而避免因显示信号在信号传输信号中存在损耗，而导致的显示面板显示失真的问题。

附图说明

图1是本申请实施例提供的显示面板的结构示意图之一；

图2是本申请实施例提供中显示面板的局部放大图之一；

图3是本申请实施例提供中显示面板的局部放大图之二；

图4是本申请实施例提供的显示面板的结构示意图之二；

图5是本申请实施例提供中显示面板的局部放大图之三；

图6是图5中A-A截面的剖视图；

图7是图5中B-B截面的剖视图；

图8是本申请实施例提供中显示面板的局部放大图之四；

图9是图8中C-C截面的剖视图；

图10是图8中D-D截面的剖视图；

图11是本申请实施例提供的显示面板的结构示意图之三；

图12是图11中E处的局部放大图；

图13是本申请实施例提供中像素单元与第一信号传输线的连接示意图；

图14是本申请实施例提供的电子设备的显示校准方法的流程图；

图15是本申请实施例提供中显示面板的显示端面所显示的像素点的示意图之一；

图16是本申请实施例提供中显示面板的显示端面所显示的像素点的示意图之二；

图17是本申请实施例提供中显示面板的显示端面所显示的像素点的示意图之三。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的显示面板、电子设备和显示方法进行详细地说明。

请参见图1至图13，为本申请实施例提供的一种显示面板，包括：芯片110、第一信号传输线120、检测线130、薄膜晶体管140和控制线150，所述芯片110的信号输出端与所述第一信号传输线120的输入端电连接，所述第一信号传输线120的输出端与所述薄膜晶体管140的第一端电连接，所述芯片110通过所述控制线150与所述薄膜晶体管140的控制端电连接，所述薄膜晶体管140的第二端通过所述检测线130与所述芯片110的信号接收端电连接。

可以理解的是，上述第一信号传输线120在接收到显示信号之后，可以将显示信号传输至显示面板各个显示位置的像素单元160，并通过像素单元160显示所述显示信号所指示的内容。其中，所述第一信号传输线120可以是显示面板中的Vdata走线，所述Vdata走线为各像素的数据信号导线。

上述检测线130可以将从所述第一信号传输线120中流出的显示信号作为第一回馈信号，并将所述第一回馈信号回传至所述芯片110。由于所述第一回馈信号为所述显示信号流经第一信号传输线120之后的信号，因此，当所述第一信号传输线120中的阻抗较大时，所述显示信号在流经所述第一信号传输线120之后，将存在较大幅度的衰减。如此，通过将所述第一回馈信号回传至所述芯片110，以便于芯片110计算显示信号与第一回馈信号之间的差值，从而确定显示信号在第一信号传输线120中的损耗值，并根据损耗值对后续的显示信号进行补偿，以避免因显示信号在所第一信号传输线120中存在损耗，而导致显示失真的问题。

在本申请一个实施例中，所述芯片110可以在向所述第一信号传输线120传输显示信号的过程中，获取所述第一信号传输线120的输入端的电压A，然后，通过所述检测线130获取所述第一信号传输线120的输出端的电压B，其中，A-B即为所述第一信号传输线120中的损耗电压C。芯片110可以将损耗电压C与原厂各通道校准值D进行算法叠加补偿，产生新校准数据E，并将新校准数据E更新写入校准器中，后续芯片110根据新校准数据E进行信号显示。

当所述显示面板应用于折叠屏电子设备时，由于显示面板的显示区的各个位置均需要布置像素单元160，因此，传递显示信号第一信号传输线120需要间隔布置于整个显示区。由于在电子设备折叠过程中，经过折叠位置的第一信号传输线120也将随之折叠，因此，随之电子设备折叠次数的增大，所述第一信号传输线120的阻抗将不断增大，进而导致显示信号在第一信号传输线120中的损耗将不断增大，从而可能导致显示面板显示失真的问题。

基于此，本申请实施例通过计算显示信号在第一信号传输线120中的损耗值，并根据损耗值对后续的显示信号进行补偿，以避免因显示信号在所第一信号传输线120中存在损耗，而导致显示失真的问题。

可以理解的是，上述显示面板出现所述显示失真的问题可以是因所述第一信号传输线120的阻抗增大导致的显示失真。其中，所述第一信号传输线120阻抗增大的原因可以是所述第一信号传输线120弯折次数过多导致的，此外，也可以是其他原因导致的阻抗增大，例如，可以是因所述第一信号传输线120的线路老化而导致的阻抗增大。

上述显示面板可以在显示过程中实时计算所述损耗值，并基于上一时刻计算得到的损耗值，对下一时间显示的信号进行补偿。此外，所述显示面板也可以根据用户输入的校准指令计算所述损耗值，并基于计算得到的损耗值生成信号的校准数据，并将新的校准数据更新写入校准器。

该实施方式中，当显示面板存在显示失真的问题时，显示面板中的芯片110可以通过控制线150对薄膜晶体管140的控制端进行控制，以使所述薄膜晶体管140导通第一信号传输线120的输出端与检测线130。这样，第一信号传输线120的输出端输出的信号可以通过检测线130回传至芯片110的信号接收端，如此，芯片110可以根据信号输出端输出的信号与所述信号接收端接收到的回传信号，确定信号在第一信号传输线120中传输的损耗值，进而可以根据所述损耗值对信号输出端输出的信号进行补偿，从而避免因显示信号在信号传输信号中存在损耗，而导致的显示面板显示失真的问题。

可选地，请参见图1，所述薄膜晶体管140和所述芯片110分别靠近所述显示面板的相对两端，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述第一信号传输线120位于所述显示区，所述检测线130、所述薄膜晶体管140和所述控制线150位于所述非显示区。

该实施方式中，通过使所述薄膜晶体管140和所述芯片110分别靠近所述显示面板的相对两端，并使所述第一信号传输线120位于所述显示区，所述检测线130、所述薄膜晶体管140和所述控制线150位于所述非显示区。所述第一信号传输线120中的信号在经过整个显示区之后再进入检测线130，如此，所述芯片110在接收到所述第一信号传输线120输入的回馈信号之后，可以基于所述回馈信号确定所述第一信号传输线120在整个显示区的信号损耗，进而可以基于所述信号损耗对显示区各个显示位置的信号进行补偿，从而有利于提高信号补偿的效果。将检测线130、薄膜晶体管140和控制线150设置在非显示区还有利于减少对显示区的空间占用，提升显示区的透光率。

可选地，所述显示面板为可弯折显示面板，所述显示面板包括弯折区，所述第一信号传输线120穿过所述弯折区，所述薄膜晶体管140和所述芯片110分别位于所述弯折区的相对两侧。

该实施方式中，由于所述薄膜晶体管140和所述芯片110分别位于所述弯折区的相对两侧，因此，所述第一信号传输线120中的信号在经过弯折区之后再进入检测线130，如此，所述芯片110在接收到所述第一信号传输线120输入的回馈信号之后，可以基于所述回馈信号确定所述第一信号传输线120处的信号损耗，进而可以基于所述信号损耗对弯折区的信号进行补偿，从而有利于提高信号补偿的效果。

可选地，所述芯片110用于在检测模式时通过所述信号输出端向所述第一信号传输线120发送测试信号，并通过所述信号接收端接收所述检测线130输入的第一回馈信号；所述芯片110还用于在显示模式时基于所述第一回馈信号对所述信号输出端输出的显示信号进行校准。

其中，所述显示面板可以包括检测模式和显示模式，在检测模式时，所述薄膜晶体管140处于闭合状态，以导通所述第一信号传输线120的输出端与所述检测线130，此时，所述第一信号传输线120的输出端的信号可以通过所述薄膜晶体管140进入所述检测线130。在所述显示模式时，薄膜晶体管140处于断开状态，此时，所述第一信号传输线120的输出端与所述检测线130相对断开，所述第一信号传输线120的输出端的信号无法进入所述检测线130。

具体地，在所述显示面板的显示效果较差时，例如，存在明显的显示失真时，可以控制所述显示面板进入检测模式，此时，所述芯片110向所述第一信号传输线120发送所述测试信号，所述测试信号流经所述第一信号传输线120之后，通过所述第一信号传输线120的输出端进入所述检测线130，进而流入所述芯片110的信号接收端。其中，可以将从所述第一信号传输线120的输出端流出的信号作为所述第一回馈信号。这样，信号可以通过比较所述测试信号与所述第一回馈信号的相对大小，以确定所述测试信号在所述第一回馈信号中的损耗。并在所述显示面板处于所述显示模式时，基于所述损耗对所述信号输出端输出的显示信号进行校准。

可选地，所述显示面板还包括二极管310，所述薄膜晶体管140的第二端与所述二极管310的阳极电连接，所述二极管310的阴极与所述检测线130电连接。

请参见图1，所述显示面板可以包括n个第一信号传输线120，所述第一信号传输线120沿所述显示面板的显示端面的长度方向布置，且所述n个第一信号传输线120沿所述显示端面等间距排列布置。

可以理解的是，所述芯片110的输出端分别与所述多个第一信号传输线120的输入端电连接，每个第一信号传输线120通过一个薄膜晶体管140与所述检测线130电连接。

其中，所述二极管310可以采用薄膜二极管，且所述薄膜二极管仅单向导通，由于所述薄膜晶体管140的第二端与所述二极管310的阳极电连接，所述二极管310的阴极与所述检测线130电连接，信号可以从薄膜晶体管140传递至所述检测线130，而无法从所述检测线130传递至所述薄膜晶体管140。

该实施方式中，通过在所述薄膜晶体管140与检测线130之间设置二极管310，如此，当所述薄膜晶体管140为非单向导通结构时，传递至检测线130的第一回馈信号回传至某一第一信号传输电路。

可选地，请参见图6，所述显示面板包括基板以及设置在所述基板上的半导体层250、第一金属层和第二金属层，所述第一金属层和所述第二金属层之间设有绝缘层；

所述薄膜晶体管140的控制端位于所述第一金属层，所述控制线150位于所述第一金属层；

所述薄膜晶体管140的第一端为源极，位于所述第二金属层；

所述薄膜晶体管140的第二端为漏极，位于所述第二金属层；所述薄膜晶体管140的第一端和第二端分别与所述半导体层250连接；

所述第一信号传输线120和所述检测线130位于所述第二金属层。

该实施方式中，由于所述第一信号传输线120和所述检测线130分别位于所述第二金属层，即所述第一信号传输线120与所述检测线130共用同一金属层，相对于为所述第一信号传输线120与所述检测线130分别设置金属层而言，有利于减小显示面板整体的体积。

可选地，所述第一信号传输线120包括至少两个输出端，所述至少两个输出端沿所述第一信号传输线120的长度方向间隔布置；

所述显示面板还包括至少两个所述检测线130和至少两个薄膜晶体管140，每一所述检测线130通过一个所述薄膜晶体管140与所述第一信号传输线120的输出端连接，每一所述第一信号传输线120的输出端通过所述薄膜晶体管140、所述检测线130与所述信号接收端电连接。

请参见图11，该实施方式中，通过使所述第一信号传输线120包括至少两个输出端，并使每个输出端分别通过所述薄膜晶体管140、所述检测线130与所述信号接收端电连接。如此，在检测模式下，所述芯片110可以基于不同的检测线130获取所述第一信号传输线120不同位置的输出端的第一回馈信号，进而可以根据不同位置的第一回馈信号，对所述第一信号传输线120不同位置的输出端所输出的显示信号进行补偿，如此，有利于进一步提高对显示信号的补偿效果。

可选地，所述显示面板包括沿行方向设置的多条扫描线和沿列方向设置的多条第一信号传输线120，所述多条扫描线和所述多条第一信号传输线120交叉形成多个像素单元160；

至少两个所述像素单元160内设置有所述第一信号传输线120的输出端、所述薄膜晶体管140和所述检测线130。

请参见图11，所述显示面板包括多个像素单元160，一个所述像素单元160对应一个所述输出端，所述像素单元160的输入端与对应的输出端电连接。

可以理解的是，第一信号传输线120的任意一个输出端输出的显示信号既可以传递至与所述对应的像素单元160，还可以传递至对应的检测线130，如此，既可以确保所述输出端输出的显示信号可以通过所述像素单元160进行显示，同时，还可以确保在检测模式下，所述输出端输出的显示信号可以通过对应的检测线130回传至所述芯片110。

该实施方式中，所述芯片110可以逐行或逐列获取各个检测线130回传的第一回馈信号，并基于所获取的各个检测线130所回传的第一回馈信号，计算各行或各列的补偿值，并基于所计算得到的补偿值，分别对各行或各列的显示信号进行补偿，如此，可以根据屏幕不同区域的损耗量有针对性的设置对应的补偿值，从而进一步提高对显示信号的补偿效果。

可选地，在检测模式时，所述检测线130向所述信号接收端输入第一回馈信号；在显示模式时，所述检测线130为所述像素单元160提供的初始化电压；

和/或，所述薄膜晶体管140的控制端与扫描驱动芯片或扫描驱动电路151电连接。

具体地，请参见图11-图12，所述像素单元160包括初始化电压线路Vinit，所述初始化电压线路Vinit在检测模式下复用为所述检测线130。在所述检测模式下，所述薄膜晶体管140闭合，且所述薄膜晶体管140导通初始化电压线路Vinit与所述输出端。此时，所述输出端输出的信号可以通过所述薄膜晶体管140进入所述初始化电压线路Vinit，进入所述初始化电压线路Vinit的信号作为所述第一回馈信号回传至所述芯片110，以便于所述芯片110对对应输出端输出的显示信号进行校准。

相应地，在所述显示模式下，所述薄膜晶体管140断开，此时，所述检测线130为所述像素单元160提供的初始化电压，以便于所述像素单元160正常显示所接收到的显示信号。

上述扫描驱动芯片可以是所述扫描线的驱动芯片110，且所述扫描驱动芯片分别于所述多条扫描线电连接。在本申请一个实施例中，可以使薄膜晶体管140的控制端与扫描驱动芯片电连接，以基于所述扫描驱动芯片控制所述薄膜晶体管140的导通状态。

此外，请参见图12，在本公另一实施例中，所述薄膜晶体管140的控制端与扫描驱动电路151电连接，这样，可以通过所述扫描驱动电路151控制所述薄膜晶体管140的导通状态。其中，所述扫描驱动电路151可以与上述芯片110电连接，这样，可以通过所述芯片110输出控制信号，并经所述扫描驱动电路151进行驱动，以对所述薄膜晶体管140的导通状态进行控制。

可选地，如图3所示，所述显示面板还包括第二信号传输线170，所述显示面板沿一弯折线弯折，所述第一信号传输线120的延伸方向与所述弯折线的延伸方向交叉，所述第二信号传输线170的两端分别与所述第一信号传输线120电连接，且所述第二信号传输线170的两端分别位于所述弯折线的两侧。

其中，所述第一信号传输线120可以包括第一连接点和第二连接点，所述第二信号传输线170的输入端与所述第一连接点电连接，所述第二信号传输线170的输出端与所述第二连接点电连接。当所述显示面板应用于折叠屏电子设备时，随着电子设备折叠次数的增加第一信号传输线120的弯折位置可能存在断裂风险，当第一信号传输线120发生断裂时，断裂位置至第一信号传输线120的输出端之间将无法正常接收显示信号，进而导致该部分无法正常显示。

基于此，本申请实施例中，通过使所述第二信号传输线170的两端分别连接所述第一连接点和第二连接点。由于所述第一信号传输线120的弯折位置位于所述第一连接点与第二连接点之间，因此，当所述第一信号传输线120的弯折位置断裂时，第一信号传输线120的输入端与所述弯折位置之间的线路可以正常接收到显示信号，同时，当显示信号传递至地第一连接点时，可以通过第二信号传输线170传递至第二连接点，这样，传递至第二连接点的显示信号可以传递至所述弯折位置与第一信号传输线120的输出端之间的各个位置。如此，可以确保在所述第一信号传输线120的弯折位置断裂时，所述显示面板仍可以正常显示。

可以理解的是，可以使每根横跨弯折线的第一信号传输线120分别连接一根第二信号传输线170。且当所述第一信号传输线120包括至少两个弯折位置时，可以使所述第一信号传输线120的每个弯折位置对应连接一根第二信号传输线170。例如，请参见图1，由于显示面板所属电子设备具有两条折叠线，此时，所述第一信号传输线120包括两个弯折位置，因此，可以在第一信号传输线120的两个弯折位置各连接一根第二信号传输线170。

该实施方式中，所述第二信号传输线170形成所述第一信号传输线120的双走线。除了可以为所述信号传输线设置双走线之外，还可以为电子设备中的其他线路设置双走线，例如，可以为触屏走线、驱动电路走线等其他线路设置双走线。例如，请参见图4，所述显示面板还包括第一目标线路190和第二目标线路200，所述第二目标线路200形成所述第一目标线路190的双走线，所述第一目标线路190可以是触屏走线、驱动电路走线、信号传输线中的任意一者。

请参见图6，在本申请一个实施例中，所述显示面板还包括屏幕盖板210、光学胶层220、触控层230、封装层240、发光层180和第三金属层。所述第二信号传输线170位于所述第三金属层。即所述第一信号传输线与所述第二信号传输线分别具有不同的导电层。

图10，在本申请另一个实施例中，所述第二信号传输线170包括第一分段172和第二分段171，第二分段171位于所述第一金属层，所述第一分段172位于所述第二金属层。即所述第二信号传输线170的第一分段172与所述第一信号传输线共用金属层，所述第二信号传输线170的第二分段171与所述控制线150共用金属层，如此，无需单独设置所述第二信号传输线的第三金属层，有利于减小显示面板整体的体积。

可选地，所述第一信号传输线120位于第一平面，所述第二信号传输位于第二平面，所述第一平面和所述第二平面分别与所述显示面板的显示端面平行，且所述第一平面与所述第二平面为不同平面，所述第一信号传输线120在所述第二平面内的正投影与所述第二信号传输线170的位置相对错开。

请参见图3，所述第二信号传输线170与其所对应的第一信号传输线120，在平行于显示端面所在平面的方向的位置相对错开，同时，所述第二信号传输线170与其所对应的第一信号传输线120，垂直于所述显示端面的方向的位置也相对错开。如此，在电子设备折叠过程中，所述第一信号传输线120和第二信号传输线170的受力状态不同，从而可以避免所述第一信号传输线120与第二信号传输线170同时发生断裂的问题。

此外，上述第一信号传输线120作为薄膜晶体管140的源极，其材质可以为各种金属或金属氧化物等导电材料，如钛Ti、铝Al、钼Mo等金属；金属氧化物如氧化铟锡In2O3、SnO2等。所述控制线150和所述检测线130分别采用导电材料。

本申请另一实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括上述实施例所述的显示面板。

该实施方式中，由于所述电子设备包括所述显示面板，因此，所述电子设备能够实现所述显示面板的全部有益效果，为避免重复，在此不再予以赘述。

请参见图14，本申请另一实施例提供了电子设备的显示校准方法，应用于上述实施例所述的电子设备，包括：

步骤S1401、基于所述芯片110的信号输出端向所述第一信号传输线120发送测试信号；

步骤S1402、基于所述芯片110的信号接收端接收所述检测线130输入的第一回馈信号；

步骤S1403、基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数；

步骤S1404、将所述显示面板的校准参数更新为所述目标校准参数。

该实施方式提供的显示校准方法为与上述实施例中的显示面板相对应的方法，其具体实现方式与上述实施例相同，且具有相同的有益效果，为避免重复，在此不再予以赘述。

该实施方式中，通过基于芯片110的信号输出端向第一信号传输线120发送测试信号，并基于信号接收端接收检测线130输入的第一回馈信号，然后，利用基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数，并将所述显示面板的校准参数更新为所述目标校准参数，这样，所述显示面板后续可以基于所述目标校准参数对所输出的显示信号进行校准。

可选地，所述基于所述芯片110的信号输出端向所述第一信号传输线120发送测试信号之前，所述方法还包括：

在接收到校准信号的情况下，基于所述芯片110的控制端向所述薄膜晶体管140发送第一控制信号，其中，所述第一控制信号用于控制所述薄膜晶体管140闭合。

具体地，用户可以在所述电子设备显示异常时，输入所述校准信号。所述电子设备在接收到所述校准信号时，基于所述芯片110的控制端向所述薄膜晶体管140发送第一控制信号，以控制所述薄膜晶体管140闭合。然后，可以基于所述芯片110执行上述步骤S1401至S1404以完成对显示信号的校准过程。

可选地，所述测试信号包括所述第一信号传输线120的输入端的电压，所述第一回馈信号包括所述第一信号传输线120的输出端的电压，所述基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数，包括：

计算所述输入端的电压与所述输出端的电压之间的差值；

基于所述差值对所述显示面板的初始校准参数进行补偿，得到所述目标校准参数。

可以理解的是，在所述显示模式下，所述芯片110可以利用所述目标校准参数对所需输出的显示信号进行补偿，例如，可以将所需输出的显示信号的强度放大一定值，其中，所放大的值与所述目标校准参数的参数值相同。

该实施方式中，通过计算测试信号在所述第一信号传输线120传输过程中的损耗电压，并基于所述损耗电压确定所述目标校准参数，以便于后续基于所述目标校准参数对所输出的显示信号进行补偿。

可选地，所述显示面板包括相邻设置的第一像素单元290和第二像素单元300，所述第一像素单元290和所述第二像素单元300均包括第一子像素330、第二子像素340和第三子像素350，所述第一子像素330、所述第二子像素340和所述第三子像素350的颜色互不相同，所述第一子像素330、所述第二子像素340和所述第三子像素350内均设有所述第一信号传输线120的输出端、所述薄膜晶体管140和所述检测线130以分别调整所述第一子像素330、所述第二子像素340和所述第三子像素350各自的目标校准参数；

所述方法还包括：

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元300中的第一子像素330对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第一子像素330的显示亮度；

和/或

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度；

和/或

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度。

其中，上述第一子像素330、所述第二子像素340和所述第三子像素350可以分别为R、G、B三个子像素。即每个像素单元160由R、G、B三个子像素合成。

请参见图15，可以通过合理的线路布置，使得每个像素单元160均包括一组相邻的第一子像素330、第二子像素340和第三子像素350。

请参见图16至图17，在本申请一个实施例中，当所述第一像素单元290的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元300中的第一子像素330对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第一子像素330的显示亮度，此时，第二像素单元300中的第一子像素330、第一像素单元290中的第二子像素340和第三子像素350点合成所述第一像素单元290所需输出的图像，以确保在所述第一像素单元290中存在异常的子像素的情况下，也能够正常显示。

在本申请另一实施例中，所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，还可以通过调整所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度。该实施方式中，通过增大与第一像素单元290相邻的第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度，以弥补所述第一像素单元290中亮度不足的第一子像素330，从而确保在所述第一像素单元290中存在异常的子像素的情况下，也能够正常显示。

在本申请另一实施例中，所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度。该实施方式中，通过增大所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度以弥补所述第一像素单元290中亮度不足的第一子像素330，从而确保在所述第一像素单元290中存在异常的子像素的情况下，也能够正常显示。

可以理解的是，上述第一子像素330可以是R、G、B三个子像素中的任意一个子像素。

可选地，所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元300中的第一子像素330对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第一子像素330的显示亮度，包括：

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第二像素单元300中的第一子像素330对应的目标校准参数，以增大所述第二像素单元300中的第一子像素330的显示亮度；

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度，包括：

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数，以增大所述第二像素单元300中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度；

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数来增大所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度，包括：

所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350所对应的目标校准参数，以增大所述第一像素单元290中的第二子像素340和/或第三子像素350的显示亮度；

其中，第二回馈信号为所述第一像素单元290中的第一子像素330中的检测线130向所述芯片110的信号接收端发送的回馈信号。

具体地，由于所述第一像素单元290中的第一子像素330处于暗态的异常显示状态的原因可能是：第一像素单元290所连接的第一信号传输线120阻抗增大或发生断裂。而不同大小的阻抗或不同断裂程度，可能导致所述第一像素单元290中的第一子像素330具有不同的显示亮度。

基于此，本申请实施例中，可以通过判断所述第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，以确定所述第一信号传输线120中的阻抗的大小，或者，确定所述第一信号传输线120的断裂程度。进而可以根据不同的阻抗大小或者不同的断裂程度，确定对与处于异常显示状态第一子像素330相邻的子像素的亮度的增强程度。

例如，当所述第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值越小时，则说明断裂程度越明显，或者，说明阻抗值越大，此时，可以增大所述目标校准参数。相应地，相应地，当所述第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值越大时，则说明断裂程度越轻微，或者，阻抗值越小，此时，可以减小所述目标校准参数。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。

Claims (16)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：芯片、第一信号传输线、检测线、薄膜晶体管和控制线，所述芯片的信号输出端与所述第一信号传输线的输入端电连接，所述第一信号传输线的输出端与所述薄膜晶体管的第一端电连接，所述芯片通过所述控制线与所述薄膜晶体管的控制端电连接，所述薄膜晶体管的第二端通过所述检测线与所述芯片的信号接收端电连接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述薄膜晶体管和所述芯片分别靠近所述显示面板的相对两端，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述第一信号传输线位于所述显示区，所述检测线、所述薄膜晶体管和所述控制线位于所述非显示区。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为可弯折显示面板，所述显示面板包括弯折区，所述第一信号传输线穿过所述弯折区，所述薄膜晶体管和所述芯片分别位于所述弯折区的相对两侧。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述芯片用于在检测模式时通过所述信号输出端向所述第一信号传输线发送测试信号，并通过所述信号接收端接收所述检测线输入的第一回馈信号；所述芯片还用于在显示模式时基于所述第一回馈信号对所述信号输出端输出的显示信号进行校准。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括二极管，所述薄膜晶体管的第二端与所述二极管的阳极电连接，所述二极管的阴极与所述检测线电连接。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括基板以及设置在所述基板上的半导体层、第一金属层和第二金属层，所述第一金属层和所述第二金属层之间设有绝缘层；

所述薄膜晶体管的控制端位于所述第一金属层，所述控制线位于所述第一金属层；

所述薄膜晶体管的第一端为源极，位于所述第二金属层；

所述薄膜晶体管的第二端为漏极，位于所述第二金属层；所述薄膜晶体管的第一端和第二端分别与所述半导体层连接；

所述第一信号传输线和所述检测线位于所述第二金属层。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一信号传输线包括至少两个输出端，所述至少两个输出端沿所述第一信号传输线的长度方向间隔布置；

所述显示面板还包括至少两个所述检测线和至少两个薄膜晶体管，每一所述检测线通过一个所述薄膜晶体管与所述第一信号传输线的输出端连接，每一所述第一信号传输线的输出端通过所述薄膜晶体管、所述检测线与所述信号接收端电连接。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，包括沿行方向设置的多条扫描线和沿列方向设置的多条第一信号传输线，所述多条扫描线和所述多条第一信号传输线交叉形成多个像素单元；

至少两个所述像素单元内设置有所述第一信号传输线的输出端、所述薄膜晶体管和所述检测线。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

在检测模式时，所述检测线向所述信号接收端输入第一回馈信号；在显示模式时，所述检测线为所述像素单元提供的初始化电压；

和/或

所述薄膜晶体管的控制端与扫描驱动芯片或扫描驱动电路电连接。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第二信号传输线，所述显示面板沿一弯折线弯折，所述第一信号传输线的延伸方向与所述弯折线的延伸方向交叉，所述第二信号传输线的两端分别与所述第一信号传输线电连接，且所述第二信号传输线的两端分别位于所述弯折线的两侧。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：权利要求1至10中任一项所述的显示面板。

12.一种电子设备的显示校准方法，应用于权利要求11所述的电子设备，其特征在于，包括：

基于所述芯片的信号输出端向所述第一信号传输线发送测试信号；

基于所述芯片的信号接收端接收所述检测线输入的第一回馈信号；

基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数；

将所述显示面板的校准参数更新为所述目标校准参数。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述基于所述芯片的信号输出端向所述第一信号传输线发送测试信号之前，所述方法还包括：

在接收到校准信号的情况下，基于所述芯片的控制端向所述薄膜晶体管发送第一控制信号，其中，所述第一控制信号用于控制所述薄膜晶体管闭合。

14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述测试信号包括所述第一信号传输线的输入端的电压，所述第一回馈信号包括所述第一信号传输线的输出端的电压，所述基于所述测试信号和所述第一回馈信号生成目标校准参数，包括：

计算所述输入端的电压与所述输出端的电压之间的差值；

基于所述差值对所述显示面板的初始校准参数进行补偿，得到所述目标校准参数。

15.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述显示面板包括相邻设置的第一像素单元和第二像素单元，所述第一像素单元和所述第二像素单元均包括第一子像素、第二子像素和第三子像素，所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素的颜色互不相同，所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素内均设有所述第一信号传输线的输出端、所述薄膜晶体管和所述检测线以分别调整所述第一子像素、所述第二子像素和所述第三子像素各自的目标校准参数；

所述方法还包括：

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元中的第一子像素对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元中的第一子像素的显示亮度；

和/或

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度；

和/或

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数来增大所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元中的第一子像素对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元中的第一子像素的显示亮度，包括：

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第二像素单元中的第一子像素对应的目标校准参数，以增大所述第二像素单元中的第一子像素的显示亮度；

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数来增大所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度，包括：

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数，以增大所述第二像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度；

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，通过调整所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数来增大所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度，包括：

所述第一像素单元中的第一子像素处于暗态的异常显示状态时，基于第二回馈信号的强度值与所述测试信号的强度值的比值，调整所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素所对应的目标校准参数，以增大所述第一像素单元中的第二子像素和/或第三子像素的显示亮度；

其中，第二回馈信号为所述第一像素单元中的第一子像素中的检测线向所述芯片的信号接收端发送的回馈信号。

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