CN114858273A - 一种显示模组空间位置的光学色差测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及LED显示屏技术领域，尤其是一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，将拼接后的显示模组发光，且确保各个显示模组发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备，采集显示模组发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组之间的间距及平整度；本发明所得到的一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，能简单方便的对显示模组之间的间距、平整度进行检测，且转换为调整机构对显示模组进行调节的依据，提升LED显示屏中显示模组的拼接精度。
Description
技术领域
本发明涉及LED显示屏技术领域，尤其是一种显示模组空间位置的光学色差测量方法。
背景技术
LED显示屏的平整度和像素间距误差对显示的效果有直接的影响，主要表现为不同角度观看有亮线和暗线，目前主要靠加工精度来保证，最终的平整度及像素距离精度主要靠目测，由于显示屏比较大，目前没有比较好的测量手段。
如中国发明专利申请，2021101794925，一种小间距LED显示屏拼接工艺的制作方法中，其技术方案涉及：所述LED显示屏拼接组件的拼接前通过测量装置用于获取待安装显示屏的墙体的轮廓，并根据所述墙体的轮廓确定参考平面和位置信息。所述测量装置为全站仪，全站仪扫描待安装的墙体的轮廓，并基于墙体的轮廓确定一个参考平面。所述测量装置为激光跟踪仪。
上述方案中仅可以为拼接组件的安装提供参考平面和位置信息，无法确定拼接后的相邻两个拼接组件之间的间隙，所以无法实现对拼接组件之间的间距及平整度进行测量。同时其仅提供参考平面，会造成拼接组件的加工误差会与安装误差进行叠加，造成误差增大，影响LED显示屏质量。
发明内容
本发明为了解决上述技术不足而提供一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，能精确实时测量显示模组之间的间距和平整度。
本发明公开了一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，将拼接后的显示模组发光，且确保各个显示模组发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备，采集显示模组发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组之间的间距及平整度；具体分析判断如下：
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏亮，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏小；
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏暗，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏大；
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度不相同，其中一个显示模组偏亮，另一个显示模组偏暗，则表示偏亮的显示模组位置较高，偏暗的显示模组位置较低。
所述光学信号采集设备的数量为两个以上，每个光学信号采集设备的采集角度不同。
所有光学信号采集设备所采集的光学信号取平均值作为显示模组的光学色差分析判断依据。
采用多个光学信号采集设备进行光学信号采集，并取平均值作为光学色差分析判断依据，可以消除因LED在贴片时产生误差而引起光学信号采集不准确的问题。
上述测量方法中涉及偏大、偏小为相邻两个显示模组之间的间隙与其他相邻显示模组之间的间隙相比较而言，其中涉及偏亮、偏暗是指LED显示屏上两个显示模组之间的亮度比较，其中涉及较高、较低是指两个显示模组的相对位置高度的比较。
拼接后的显示模组发光，其发光包括但不限于可见光、红外光、激光等。要求每个显示模组发出的光的亮度相同，选择所有显示模组发出的光的颜色相同，光学信号采集设备采集光学信号后由分析终端进行分析时精度更高。
上述测量方法可以对调整过程中的显示模组进行实时测量，根据测量结果驱动对每个显示模组或者局部的显示模组进行位置调节，即通过亮度检测判断显示模组的拼接误差，并将其转化为调整机构的动作依据，循环往复直至调整到误差允许范围内，所有显示模组之间的间距和平整度均位于误差允许范围内。
本发明所得到的一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，能简单方便的对显示模组之间的间距、平整度进行检测，且转换为调整机构对显示模组进行调节的依据，提升LED显示屏中显示模组的拼接精度。
附图说明
图1为本发明的测量状态示意图；
图2为图1中A处的局部放大示意图；
图3为图1中B处的局部放大示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为实现预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
实施例1：
如图1所示，本发明公开了一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，将拼接后的显示模组1发光，且确保各个显示模组1发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备2，采集显示模组1发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组1之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备2将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组1之间的间距及平整度；具体分析判断如下：
拼缝处相邻两个显示模组1之间的亮度相同，但相对于其他显示模组1而言偏亮，则表示这两个显示模组1之间的拼缝偏小；
拼缝处相邻两个显示模组1之间的亮度相同，但相对于其他显示模组1而言偏暗，则表示这两个显示模组1之间的拼缝偏大；
拼缝处相邻两个显示模组1之间的亮度不相同，其中一个显示模组1偏亮，另一个显示模组1偏暗，则表示偏亮的显示模组1位置较高，偏暗的显示模组1位置较低。
所述光学信号采集设备2的数量为两个以上，每个光学信号采集设备2的采集角度不同。本实施例中采用两台光学信号采集设备2，在其他实施例中，光学信号采集设备2的数量可以为三台，四台甚至更多。
所有光学信号采集设备2所采集的光学信号取平均值作为显示模组1的光学色差分析判断依据。
采用多个光学信号采集设备2进行光学信号采集，并取平均值作为光学色差分析判断依据，可以消除因LED在贴片时产生误差而引起光学信号采集不准确的问题。
其中光学信号采集设备2可以为摄像机或照相机，所述分析终端可以为计算机等。
上述测量方法中涉及偏大、偏小为相邻两个显示模组1之间的间隙与其他相邻显示模组1之间的间隙相比较而言，其中涉及偏亮、偏暗是指LED显示屏上两个显示模组1之间的亮度比较，其中涉及较高、较低是指两个显示模组1的相对位置高度的比较。
拼接后的显示模组1发光，其发光包括但不限于可见光、红外光、激光等。要求每个显示模组1发出的光的亮度相同，选择所有显示模组1发出的光的颜色相同，光学信号采集设备2采集光学信号后由分析终端进行分析时精度更高。
上述测量方法可以对调整过程中的显示模组1进行实时测量，根据测量结果驱动对每个显示模组1或者局部的显示模组1进行位置调节，即通过亮度检测判断显示模组1的拼接误差，并将其转化为调整机构的动作依据，循环往复直至调整到误差允许范围内，所有显示模组1之间的间距和平整度均位于误差允许范围内。
如图2所示，相邻两个显示模组1之间的间距、平整度标准时，显示模组1上的LED灯的位置准确，其准确位置灯间距逐渐变化则亮度等比例变化，观察不到亮度的跳变。
如图3所示，相邻两个显示模组1之间的间距、平整度不标准时，相邻两个显示模组1上的LED灯位置有误差，间距有明显跳变，左边测量亮度降低，右边测量亮度增加，这也是导致观察到亮暗线的原因，此时光学信号采集设备2能捕捉到两个位置的亮度变化，则可以判断其间距不标准或者平整度不标准。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简化修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (3)
1.一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，其特征是：将拼接后的显示模组发光，且确保各个显示模组发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备，采集显示模组发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组之间的间距及平整度；具体分析判断如下：
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏亮，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏小；
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏暗，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏大；
拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度不相同，其中一个显示模组偏亮，另一个显示模组偏暗，则表示偏亮的显示模组位置较高，偏暗的显示模组位置较低。
2.根据权利要求1所述的一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，其特征是：所述光学信号采集设备的数量为两个以上，每个光学信号采集设备的采集角度不同。
3.根据权利要求2所述的一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，其特征是：所有光学信号采集设备所采集的光学信号取平均值作为显示模组的光学色差分析判断依据。
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